PL213771B1 - Interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych - Google Patents

Interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych

Info

Publication number
PL213771B1
PL213771B1 PL387343A PL38734309A PL213771B1 PL 213771 B1 PL213771 B1 PL 213771B1 PL 387343 A PL387343 A PL 387343A PL 38734309 A PL38734309 A PL 38734309A PL 213771 B1 PL213771 B1 PL 213771B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
interferometer
beams
photodetector
photoelements
linear
Prior art date
Application number
PL387343A
Other languages
English (en)
Other versions
PL387343A1 (pl
Inventor
Dobosz Marek
Zamiela Grzegorz
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL387343A priority Critical patent/PL213771B1/pl
Publication of PL387343A1 publication Critical patent/PL387343A1/pl
Publication of PL213771B1 publication Critical patent/PL213771B1/pl

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych.
Znany jest interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych, w którym źródło światła emituje wiązkę światła o wysokiej koherencji, która pada na element światłodzielący, rozdzielający tę wiązkę na dwie części o polaryzacji wzajemnie prostopadłej. Wiązki te biegną w kierunku reflektorów: referencyjnego i pomiarowego i odbijają się wstecznie od nich, a następnie są ponownie ze sobą połączone elementem światłodzielącym i nieznacznie odchylone względem siebie przy pomocy jednej z powierzchni odbijających światło lub przy pomocy specjalnego elementu dwójłomnego, Następnie, obie wiązki przechodzą przez polaryzator po uzyskaniu tego samego stanu polaryzacji interferują tworząc pole periodycznie naprzemiennych jasnych i ciemnych prążków interferencyjnych o ustalonym okresie. Ruch prążków interferencyjnych przetwarzany jest w fotodetektorze składającym się z co najmniej dwóch fotoelementów.
Okres prążków interferencyjnych ustalony jest ściśle przy pomocy kąta interferencji miedzy wiązkami tak, by stanowił odpowiednią wartość w stosunku do odległości pomiędzy elementami światłoczułymi fotodetektora, istnieje również zależność błędów interpolacji, a więc i pomiaru przemieszczenia, od niedopasowania okresu prążków do stałej fotodetektora. Niedopasowanie to bierze się z niedokładności adjustacji interferometru przez użytkownika, z niedokładności wykonania reflektorów interferometru oraz z niedokładności prowadzenia reflektora pomiarowego.
Celem wynalazku jest zmniejszenie czułości zmian okresu prążków w płaszczyźnie fotodetektora na zakłócające zmiany kąta interferencji miedzy wiązkami, a w rezultacie zmniejszenie błędów pomiaru przemieszczeń przy pomocy interferometru.
Istota rozwiązania według wynalazku polega na tym, że na drodze obu odchylonych względem siebie wiązek, między elementem światłoczułym i fotodetektorem, składającym się z co najmniej dwóch fotoelementów, znajduje się układ optyczny powiększający.
Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, który przedstawia schematycznie interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych.
Interferometr ten zawiera laser 2, laser He-Ne, który znajdujące się wewnątrz głowicy laserowej LH. Wiązka emitowana przez laser 2 rozdzielana jest na dwie wzajemnie koherentne wiązki 3 i 4 przy użyciu polaryzacyjnego elementu światłodzielącego 5. Wiązki 3 i 4 mają wzajemnie prostopadłe polaryzacje liniowe i biegną we wzajemnie prostopadłych kierunkach. Wiązka 3 odbijana jest równolegle do kierunku padania przez nieruchomy referencyjny reflektor 6, a wiązka 4 odbijana jest przez ruchomy reflektor pomiarowy 7, którego przemieszczenia są mierzone. Następnie, wiązki 3 i 4 są ponownie łączone ze sobą przy pomocy elementu światłodzielącego 5 i biegną w przybliżeniu współosiowo w kierunku głowicy LH. Obie powracające z układu pomiarowego wiązki po wejściu do głowicy laserowej LH przechodzą przez element odchylający wiązkę 8 w postaci klina optycznego wykonanego z materiału dwójłomnego, np. kalcytu, który odchyla je o kąt zależny od stanu polaryzacji światła, także w postaci pryzmatu Wollastona składającego się z odpowiednio ze sobą sklejonych dwóch pryzmatów z materiału dwójłomnego. Możliwe jest również odchylenie wzajemne interferujących wiązek przy pomocy jednego z elementów optycznych układu pomiarowego interferometru zgodnie z opisem patentowym nr WO 023 432. Element 8 odchyla wiązki 3 i 4 o kąt zależny od stanu polaryzacji światła. W związku z tym, że obie wiązki 3 i 4 są spolaryzowane wzajemnie prostopadle, przy pomocy polaryzacyjnego elementu światłodzielącego 5, za elementem odchylającym wiązkę 8 obie te wiązki nie biegną już równolegle do siebie, lecz są wzajemnie odchylone o niewielki kąt. Następnie, obie te wiązki przechodzą przez polaryzator 9, który doprowadza ich polaryzacje do postaci wzajemnie równoległej umożliwiając interferencje tych wiązek. Ze względu na istniejący niezerowy kąt pomiędzy wiązkami 3 i 4 w płaszczyźnie fotodetektora 10 tworzą się biegnące do siebie równolegle periodyczne na przemian jasne i ciemne prążki interferencyjne. W trakcie przemieszczeń reflektora pomiarowego 7 prążki interferencyjne przemieszczają się w kierunku prostopadłym do ich osi.
Do przetwarzania ruchu prążków interferencyjnych stosowany jest fotodetektor 10 z trzynastoma fotoelementami, ale może być też fotodetektor zwany elektrosiatką (electrograting) przedstawiony w opisie patentowym nr EP 0 543 513 B1 lub fotodetektory zaproponowane w polskich opisach patentowych nr 153 557 oraz nr 165 797, w którym fotodetektor składa się z pięciu fotoelementów usytuowanych w szeregu w jednakowej odległości od siebie. Zasadniczo, fotodetektor 10 powinien składać się z co najmniej dwóch fotoelementów. Odległość między środkami kolejnych fotoelementów mierzona w kierunku największych zmian rozkładu intensywności pola prążkowego jest równa 1/4 stałej
PL 213 771 B1 prążka. W tym rozwiązaniu jeden z dwu niezbędnych do wykrycia kierunku ruchu sygnałów wyjściowych tworzy się przez odjęcie od sygnału fotoelementu środkowego sygnału będącego połową sumy sygnałów z fotoelementów skrajnych. Drugi sygnał utworzony jest z różnicy sygnałów fotoelementów usytuowanych po obu stronach fotoelementu środkowego. Oba sygnały wyjściowe opisanego fotodetektora są sygnałami sinusoidalnymi przesuniętymi nominalnie w fazie o ± 90°, przy czym znak przesunięcia informuje o kierunku przemieszczenia. Oba sygnały są wykorzystywane do zliczania przesuwających się w wyniku ruchu reflektora 7 prążków interferencyjnych oraz do interpolacji sygnału pozwalającej na wykrycie i zmierzenie przesuwu prążka o wartości znacznie mniejszej niż jego okres.
Okres prążków interferencyjnych ustalony jest ściśle przy pomocy kąta interferencji miedzy wiązkami 3 i 4 tak, by stanowił odpowiednią wartość w stosunku do odległości pomiędzy elementami światłoczułymi fotodetektora. W fotodetektorze istnieje zależność błędów interpolacji, a więc i pomiaru przemieszczenia od niedopasowania okresu prążków do stałej fotodetektora. Niedopasowanie to bierze się z niedokładności adjustacji interferometru przez użytkownika, z niedokładności wykonania reflektorów interferometru oraz z niedokładności prowadzenia reflektora pomiarowego. Pierwotny kąt między wiązkami 3, 4 jest zwiększony, korzystnie przez zmianę parametrów elementu odchylającego wiązkę 8, co generuje pierwotne prążki interferencyjne o istotnie mniejszym okresie niż wynika to z koniecznego dopasowania do struktury fotodetektora 8. Następnie, na drodze odchylonych względem siebie wiązek 3, 4 wprowadzony jest układ optyczny powiększający 11 w postaci soczewki, która powiększa okres prążków interferencyjnych dopasowując go ponownie do odległości pomiędzy elementami światłoczułymi fotodetektora. Tak powiększone prążki interferencyjne o okresie dopasowanym do tego samego fotodetektora 10 charakteryzują się tym, że ich okres jest znacznie mniej czuły na zmiany kąta między wiązkami 3, 4 niż okres prążków, który powstałby bezpośrednio z interferencji tych wiązek. W efekcie uzyskuje się mniejszą czułość interferometru na błędy wykonania, adjustacji i prowadzenia jego elementów i w rezultacie osiąga się zmniejszenie błędów pomiaru przemieszczeń.

Claims (1)

  1. Interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych zawierający źródło światła o wysokiej koherencji, które pada na element światłodzielący, rozdzielający wiązkę na dwie części o polaryzacji wzajemnie prostopadłej, które dochodzą do reflektorów: referencyjnego i pomiarowego i dalej ma kolejno element odchylający wiązkę, polaryzator i fotodetektor składający się z co najmniej dwóch fotoelementów, znamienny tym, że na drodze obu odchylonych względem siebie wiązek (3, 4), między elementem światłoczułym (5) i fotodetektorem (10), składającym się z co najmniej dwóch fotoelementów, znajduje się układ optyczny powiększający (11).
PL387343A 2009-02-25 2009-02-25 Interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych PL213771B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL387343A PL213771B1 (pl) 2009-02-25 2009-02-25 Interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL387343A PL213771B1 (pl) 2009-02-25 2009-02-25 Interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL387343A1 PL387343A1 (pl) 2010-08-30
PL213771B1 true PL213771B1 (pl) 2013-04-30

Family

ID=42679633

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL387343A PL213771B1 (pl) 2009-02-25 2009-02-25 Interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL213771B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL387343A1 (pl) 2010-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5142502B2 (ja) 位置測定装置
JP5140301B2 (ja) 位相差検出器および位相差検出方法
KR101930777B1 (ko) 변위 검출 장치
CN102564317B (zh) 一种基于光纤复合干涉的高精度远程绝对位移测量系统
TWI452262B (zh) 同時量測位移及傾角之干涉儀系統
KR101959341B1 (ko) 위치 측정 장치와 복수의 위치 측정 장치를 구비하는 시스템
US9518816B2 (en) Dual beam splitter interferometer measuring 3 degrees of freedom, system and method of use
JP6329456B2 (ja) 光学式位置測定装置
US9410797B2 (en) Optical position-measuring device
US9733069B2 (en) Optical position-measuring device
JP2004144581A (ja) 変位検出装置
US9068811B2 (en) Device for determining distance interferometrically
JP5786270B2 (ja) 2色干渉計測装置
RU2601530C1 (ru) Устройство для измерения угловых перемещений объекта
CN109708569B (zh) 光学位置测量装置
ES2959246T3 (es) Sensor de posición interferométrico
JP3389799B2 (ja) 測長装置
JP2001033209A (ja) 距離計
WO2011004692A1 (ja) 光干渉計を用いた変位計測装置
JP6289609B2 (ja) 干渉式間隔測定装置
JP2007132727A (ja) 干渉測定装置
PL219676B1 (pl) Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej i interferometr do pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej
JP7843439B2 (ja) 測定装置及び方法
PL222888B1 (pl) Interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych
PL230512B1 (pl) Sposob pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej, zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Decisions on the lapse of the protection rights

Effective date: 20140225