PL216050B1 - Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym oraz cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym - Google Patents
Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym oraz cienka warstwa z efektem termorezystancyjnymInfo
- Publication number
- PL216050B1 PL216050B1 PL384433A PL38443308A PL216050B1 PL 216050 B1 PL216050 B1 PL 216050B1 PL 384433 A PL384433 A PL 384433A PL 38443308 A PL38443308 A PL 38443308A PL 216050 B1 PL216050 B1 PL 216050B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- target
- thin layer
- niobium
- tantalum
- vanadium
- Prior art date
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym oraz cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym, z zastosowaniem próżniowej techniki nanoszenia, w szczególności rozpylania magnetronowego, przeznaczonej do stosowania w mikroelektronice i inżynierii materiałowej jako cienka warstwa o wysokiej zdolności, skokowej i odwracalnej zmiany rezystancji w określonej temperaturze. Warstwa może znaleźć powszechne zastosowanie w inteligentnych pokryciach (smart coatings), np. na szyby okienne i samochodowe.
Znane są z publikacji: P. Jin, K. Yoshimura, S. Tanemura, Dependence of microstructure and termichromism on substrate temperature for sputter-deposited VO2 epitaxial films, J. Vac. Sci. Techno. A 15(3) (1997), 1113-1117, cienkie warstwy tlenków na bazie VO2 o zdolności skokowej zmiany rezystancji w temperaturze około 68°C oraz z publikacji H. Miyazaki, I. Yasui, Effect of buffer layer on VOx film fabrication by reactive RF sputtering. Applied Surface Science 252 (2006) 8367-8370, G. Pu, A. Polity, N. Volbers, B. K. Meyer, Annealing effects on VO2 thin films deposited by reactive sputtering. Thin Solid Films, 515 (2006) 2519-2522, cienkie warstwy VO2 domieszkowane W, Ta, o zdolności skokowej zmiany rezystancji obniżonej, w porównaniu do niedomieszkowanego VO2, do temperatury około 38°C wytwarzanych metodami zol-żel oraz rozpylania magnetronowego.
Znane z publikacji przykłady, np. F. Beteille, R. Morineau, J. Livage, Switching proprties of V1-xTixO2 thin films deposited from alkolides, Materials Research Bulletin, 32, (1997), 1109-1117, pokazują, że domieszkowanie VO2 za pomocą Ti pogarsza zdolność do skokowej zmiany rezystancji pod wpływem zmiany temperatury.
Istota sposobu, według wynalazku polega na tym, że powierzchnię roboczą targetu tytanowego wraz z domieszkami wanadu, niobu i tantalu stanowiącego katodę uzdatniania się, po czym w procesie rozpylania magnetronowego targetu tytanowego z domieszkami w niskociśnieniowej plazmie tlenowej nanosi się na podłoża cienką warstwę dwutlenku tytanu domieszkowaną wanadem, niobem i tantalem, przy czym łączna ilość domieszek w targecie wynosi od 7 do 30% at.
Korzystnie, target tytanowy z domieszkami wanadu, niobu i tantalu formuje się w postaci klinów, które wycina się z arkuszy folii o grubości od 0,1 mm do 1 mm, po jednym klinie dla każdego rodzaju domieszki i rozkłada się na powierzchni targetu tytanowego wykonanego w postaci krążka o średnicy 100 mm i grubości 3 mm, albo stosuje się stopowy target tytanowy z domieszkami wanadu, niobu i tantalu.
Korzystnym jest, gdy powierzchnię roboczą targetu tytanowego z domieszkami wanadu, niobu i tantalu uzdatniania się poprzez rozpylanie targetu w reaktywnej niskociśnieniowej plazmie tlenowej w warunkach roboczych przez co najmniej 10 min, przy czy target z domieszkami podgrzewa się do temperatury nie mniejszej niż 773 K.
Korzystnie, powierzchnię roboczą targetu tytanowego z domieszkami rozpyla się w wyniku czego nanosi się warstwy na podłoża podgrzane do temperatury powyżej 370 K w reaktywnej atmosferze tlenu o ciśnieniu poniżej 10- Pa, a podłoża umieszcza się w odległości 45 -100 mm od targetu.
Korzystnie, target tytanowy z domieszkami rozpyla się w magnetronie zasilanym ujemnymi impulsami sinusoidalnymi o częstotliwości powyżej 10 kHz i o maksymalnej amplitudzie napięcia powyżej 1000 V.
Istota cienkiej warstwy, według wynalazku, polega na tym, ze cienka warstwa dwutlenku tytanu domieszkowana jest wanadem, niobem i tantalem, przy czym łączna ilość wprowadzonych domieszek wynosi od 7% do 30% at.
Korzystnym jest to, że ilość pierwiastkowego wanadu w warstwie wynosi 5-15% at., ilość pierwiastkowego niobu w warstwie wynosi 1 - 10% at., a ilość pierwiastkowego tantalu w warstwie wynosi 1 - 5 % at.
Zaletą nowej cienkiej warstwy z dwutlenku tytanu TiO2 domieszkowanej jednocześnie wanadem V, niobem Nb i tantalem Ta, jest jej zdolność do skokowej i odwracalnej zmiany rezystancji powierzchniowej Rs od powyżej 1 GQ/sq. do poniżej 40 MQ/sq., pod wpływem zmiany temperatury w zakresie 50°C - 60°C. Z literatury przedmiotu wynika, iż jak dotąd, nie były opisywane cienkie warstwy na bazie TiO2, w których obserwowano podobny efekt skokowej zmiany rezystancji pod wpływem temperatury.
Sposób, według wynalazku, pozwala na wytworzenie stabilnych cienkich warstw TiO2: (V, Nb, Ta) o powtarzalnej temperaturze Tc przełączania rezystancji równej 53°C ± 1°C przy podgrzewaniu warstwy oraz 51°C ± 1°C przy jej chłodzeniu. Dodatkową zaletą cienkiej warstwy jest fakt uzyskania
PL 216 050 B1 efektu przełączania w warstwie wytworzonej na bazie dwutlenku TiO2 w temperaturze o 14°C niższej w porównaniu ze znanymi cienkimi warstwami na bazie VO2.
Przedmiot wynalazku jest objaśniony w przykładach realizacji i na rysunku, który przedstawia temperaturowe charakterystyki rezystancyjne cienkiej warstwy z domieszkowanego dwutlenku tytanu naniesionej na podłoża szklane.
P r z y k ł a d 1
Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym, w którym powierzchnię roboczą targetu tytanowego wraz z domieszkami wanadu, niobu i tantalu stanowiącego katodę i podgrzanego do temperatury nie mniejszej niż 773 K, uzdatniania się poprzez jego rozpylanie w reaktywnej niskociśnieniowej plazmie tlenowej w warunkach roboczych przez 10 min. Po czym w procesie rozpylania magnetronowego targetu tytanowego z domieszkami wanadu, niobu i tantalu w magnetronie zasilanym ujemnymi impulsami sinusoidalnymi o częstotliwości powyżej 10 kHz i o amplitudzie napięcia 1000 V w niskociśnieniowej plazmie tlenowej nanosi się na podłoża cienką warstwę domieszkowanego dwutlenku tytanu. Target tytanowy o czystości 99,99% domieszkowany wanadem w ilości 7,44% at., niobem w ilości 5% at. i tantalem w ilości 4,8% at., uprzednio formuje się w postaci klinów wyciętych z arkuszy folii o grubości od 0,1 mm do 1 mm, po jednym klinie dla każdego rodzaju domieszki i rozłożonych na powierzchni targetu tytanowego wykonanego w postaci krążka o średnicy 100 mm i grubości 3 mm. Natomiast cienką warstwę nanosi się na podłoże szklane umieszczone w odległości 45 mm od targetu i podgrzane do temperatury powyżej 370 K w reaktywnej atmosferze -1 tlenu o ciśnieniu poniżej 10-1 Pa.
P r z y k ł a d 2
Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym, przebiega jak w przykładzie pierwszym z tą różnicą, że cienką warstwę nanosi się z wykorzystaniem tytanowego targetu stopowego domieszkowanego wanadem w ilości 10,5% at., niobem w ilości 8,5% at. i tantalem w ilości 2,8% at., a podłoża umieszcza się w odległości 100 mm od targetu. Ponadto wytworzone warstwy wygrzewa się w powietrzu, w temperaturze 100°C przez dwie godziny.
P r z y k ł a d 3
Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym przebiega, jak w przykładzie pierwszym, z tą różnicą, że cienka warstwa dwutlenku tytanu zawiera domieszki wanadu w ilości 5% at., niobu w ilości 1% at. i tantalu w ilości 1% at., przy czym target rozpyla się przy gęstości mocy czynnej na targecie nie mniejszej niż 23 W/cm.
P r z y k ł a d 4
Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym przebiega, jak w przykładzie pierwszym, z tą różnicą, że cienka warstwa zawiera domieszki wanadu w ilości 15% at., niobu w ilości 10% at. i tantalu w ilości 5% at., przy czym target rozpyla się przy gęstości mocy czynnej na targecie wynosi nie większej niż 18 W/cm.
P r z y k ł a d 5
Cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym, stanowi warstwę dwutlenku tytanu domieszkowanego wanadem, niobem i tantalem, przy czym warstwa zawiera wanad w ilości 7,44% at., niob w ilości 5% at. i tantal w ilości 4,8% at. Warstwa ta naniesiona na podłoża szklane jest stabilna w zakresie temperatur 20°C - 70°C i charakteryzuje się powtarzalną temperaturą przełączania rezystancji
Tc, przy czym dla rezystancji Rs równej 1011 Ω^. w temperaturze T mniejszej od 53°C przy podgrzewaniu, w temperaturze T równej 53°C następuje obniżenie wartości rezystancji Rs na równą 4x108 Ω^., która zachowuje swoją wartość również po podgrzaniu do temperatury T powyżej 53°C. Natomiast podczas chłodzenia dla rezystancji Rs równej 4 x 108 Ω^. w temperaturze T większej od 51°C, w temperaturze T równej 51°C następuje zwiększenie wartości rezystancji Rs na równą 1011 Ω^., która zachowuje swoją wartość również po ochłodzeniu do temperatury T poniżej 51°C.
P r z y k ł a d 6
Cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym, wykonana jak w przykładzie piątym, z tą różnicą, że zawiera wanad w ilości 10,5% at., niob w ilości 8,5% at. i tantal w ilości 2,8% at.
P r z y k ł a d 7
Cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym, wykonana jak w przykładzie piątym, z tą różnicą, że zawiera wanad w ilości 15% at., niob w ilości 10% at. i tantal w ilości 5% at.
P r z y k ł a d 8
Cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym, wykonana jak w przykładzie piątym, z tą różnicą, że zawiera wanad w ilości 5% at., niob w ilości 1% at. i tantal w ilości 1% at.
Claims (11)
1. Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym z wykorzystaniem rozpylania magnetronowego, znamienny tym, że powierzchnię roboczą targetu tytanowego wraz z domieszkami wanadu, niobu i tantalu stanowiącego katodę uzdatniania się, po czym w procesie rozpylania magnetronowego targetu tytanowego z domieszkami w niskociśnieniowej plazmie tlenowej nanosi się na podłoża cienką warstwę dwutlenku tytanu domieszkowaną wanadem, niobem i tantalem, przy czym łączna ilość domieszek w targecie wynosi od 7 do 30% at.
2. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że target tytanowy z domieszkami wanadu, niobu i tantalu formuje się w postaci klinów, które wycina się z arkuszy folii o grubości od 0,1 mm do 1 mm, po jednym klinie dla każdego rodzaju domieszki i rozkłada się na powierzchni targetu tytanowego wykonanego w postaci krążka o średnicy 100 mm i grubości 3 mm.
3. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że stosuje się stopowy target tytanowy z domieszkami wanadu, niobu i tantalu.
4. Sposób według zastrz. 1 albo 2, albo 3, znamienny tym, że powierzchnię roboczą targetu z domieszkami wanadu, niobu i tantalu uzdatniania się poprzez rozpylanie targetu w reaktywnej niskociśnieniowej plazmie tlenowej w warunkach roboczych przez co najmniej 10 min, przy czy target z domieszkami podgrzewa się do temperatury nie mniejszej niż 773 K.
5. Sposób według zastrz. 1 albo 2, albo 3, znamienny tym, że powierzchnię roboczą targetu z domieszkami rozpyla się w wyniku czego nanosi się warstwy na podłoża podgrzane do temperatury -1 powyżej 370 K w reaktywnej atmosferze tlenu o ciśnieniu poniżej 10-1 Pa.
6. Sposób według zastrz. 1 albo 2, albo 3, znamienny tym, że podłoża umieszcza się w odległości 45 + 100 mm od targetu.
7. Sposób według zastrz. 1 albo 2, albo 3, znamienny tym, że target z domieszkami rozpyla się w magnetronie zasilanym ujemnymi impulsami sinusoidalnymi o częstotliwości powyżej 10 kHz i o maksymalnej amplitudzie napięcia powyżej 1000 V.
8. Cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym, znamienna tym, że cienka warstwa dwutlenku tytanu domieszkowana jest wanadem, niobem i tantalem, przy czym łączna ilość wprowadzonych domieszek wynosi od 7% do 30% at.
9. Cienka warstwa, według zastrz. 8, znamienna tym, że ilość pierwiastkowego wanadu w warstwie wynosi 5 - 15% at.
10. Cienka warstwa, według zastrz. 8, znamienna tym, że ilość pierwiastkowego niobu w warstwie wynosi 1 - 10% at.
11. Cienka warstwa, według zastrz. 8, znamienna tym, że ilość pierwiastkowego tantalu w warstwie wynosi 1 - 5% at.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL384433A PL216050B1 (pl) | 2008-02-11 | 2008-02-11 | Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym oraz cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL384433A PL216050B1 (pl) | 2008-02-11 | 2008-02-11 | Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym oraz cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL384433A1 PL384433A1 (pl) | 2009-08-17 |
| PL216050B1 true PL216050B1 (pl) | 2014-02-28 |
Family
ID=42986893
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL384433A PL216050B1 (pl) | 2008-02-11 | 2008-02-11 | Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym oraz cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL216050B1 (pl) |
-
2008
- 2008-02-11 PL PL384433A patent/PL216050B1/pl not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL384433A1 (pl) | 2009-08-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6042752A (en) | Transparent conductive film, sputtering target and transparent conductive film-bonded substrate | |
| CN101978431B (zh) | 导电体及其制造方法 | |
| CN102792387B (zh) | 透明导电膜 | |
| CN110857463B (zh) | 一种二氧化钒多孔复合薄膜及其制备方法和应用 | |
| JP6044719B2 (ja) | 圧電薄膜素子及びその製造方法 | |
| KR20090120459A (ko) | 도전체의 제조 방법 | |
| CN105132877B (zh) | 一种二氧化钒薄膜低温沉积方法 | |
| CN110158034A (zh) | 一种多靶共溅射制备不同成分和掺杂比薄膜的方法 | |
| US12451461B2 (en) | Chemical bonding method and joined structure | |
| JP5516438B2 (ja) | サーモクロミック体及びその製造方法 | |
| PL216050B1 (pl) | Sposób wytwarzania cienkiej warstwy z efektem termorezystancyjnym oraz cienka warstwa z efektem termorezystancyjnym | |
| CN108018532B (zh) | 一种二氧化钒复合薄膜及其制备方法 | |
| CN108588661A (zh) | 一种采用低价钒种子层优化氧化钒薄膜性能的方法 | |
| KR102164629B1 (ko) | 복합체 투명 전극 | |
| Batista et al. | Structural and morphological characterization of magnetron sputtered nanocrystalline vanadium oxide films for thermochromic smart surfaces | |
| JP2005076105A (ja) | 酸窒化チタン膜の成膜方法 | |
| TWI719130B (zh) | 電壓非線性電阻元件及其製法 | |
| EP1004687B1 (en) | SUBSTRATE COATED WITH A TRANSPARENT CONDUCTIVE FILM and SPUTTERING TARGET FOR THE DEPOSITION OF SAID FILM | |
| CN110937925A (zh) | 一种高极化强度和大应变特性的铁酸铋基薄膜及其制备方法 | |
| KR101005973B1 (ko) | 도전 적층체 및 이의 제조방법 | |
| CN117418202A (zh) | 一种非晶衬底vo2单晶薄膜及其制备方法 | |
| JPH09234816A (ja) | 透明導電性積層体 | |
| CN114335439A (zh) | 等离子诱导生长高结晶薄膜电极及薄膜电池的制备方法 | |
| CN116377405A (zh) | 一种基于Ta元素掺杂的VO2薄膜的制备方法 | |
| Khalaf et al. | Multilayer coatings D/M/D for solar reflector applications prepared by DC magnetron sputtering |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Decisions on the lapse of the protection rights |
Effective date: 20110211 |