PL241026B1 - Hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu - Google Patents

Hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu Download PDF

Info

Publication number
PL241026B1
PL241026B1 PL429066A PL42906619A PL241026B1 PL 241026 B1 PL241026 B1 PL 241026B1 PL 429066 A PL429066 A PL 429066A PL 42906619 A PL42906619 A PL 42906619A PL 241026 B1 PL241026 B1 PL 241026B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
substrate
layer
growth
cuo
copper
Prior art date
Application number
PL429066A
Other languages
English (en)
Other versions
PL429066A1 (pl
Inventor
Bartłomiej WITKOWSKI
Bartłomiej Witkowski
Marek GODLEWSKi
Marek Godlewski
Monika Ożga
Original Assignee
Inst Fizyki Polskiej Akademii Nauk
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Fizyki Polskiej Akademii Nauk filed Critical Inst Fizyki Polskiej Akademii Nauk
Priority to PL429066A priority Critical patent/PL241026B1/pl
Priority to EP20461511.6A priority patent/EP3703108A1/en
Publication of PL429066A1 publication Critical patent/PL429066A1/pl
Publication of PL241026B1 publication Critical patent/PL241026B1/pl

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P14/00Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
    • H10P14/20Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
    • H10P14/29Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials characterised by the substrates
    • H10P14/2901Materials
    • H10P14/2902Materials being Group IVA materials
    • H10P14/2905Silicon, silicon germanium or germanium
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P14/00Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
    • H10P14/20Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
    • H10P14/26Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials using liquid deposition
    • H10P14/265Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials using liquid deposition using solutions
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P14/00Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
    • H10P14/20Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
    • H10P14/29Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials characterised by the substrates
    • H10P14/2901Materials
    • H10P14/2922Materials being non-crystalline insulating materials, e.g. glass or polymers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P14/00Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
    • H10P14/20Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
    • H10P14/32Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials characterised by intermediate layers between substrates and deposited layers
    • H10P14/3202Materials thereof
    • H10P14/3241Materials thereof being conductive materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P14/00Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
    • H10P14/20Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
    • H10P14/34Deposited materials, e.g. layers
    • H10P14/3402Deposited materials, e.g. layers characterised by the chemical composition
    • H10P14/3434Deposited materials, e.g. layers characterised by the chemical composition being oxide semiconductor materials

Landscapes

  • Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Przedmiotem wynalazku jest hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu. W sposobie tym warstwę CuO wytwarza się w dwóch etapach. W pierwszym etapie na podłożu, korzystnie półprzewodnikowym lub szklanym wytwarza się warstwę metalu zarodkującą wzrost. W drugim etapie, podłoże z osadzoną warstwą zarodkującą wzrost umieszcza się w roztworze soli o wartości pH od 6,5 do 9, przy czym roztwór ten zawiera rozpuszczalnik, co najmniej jeden prekursor tlenu, i co najmniej jeden prekursor miedzi. Następnie temperaturę mieszaniny reakcyjnej podnosi się do temperatury 60 - 100°C, i przez co najmniej 1 sekundę prowadzi się wzrost warstwy CuO.

Description

PL 241 026 B1
Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu. Warstwy CuO mają szerokie zastosowania w ogniwach fotowoltaicznych, w czujnikach oraz w urządzeniach optoelektronicznych.
W literaturze opisane są różne sposoby wytwarzania warstw i nanostruktur CuO. Grupą metod pozwalających na stosunkowo dobrą kontrolę parametrów fizycznych są metody używane do wzrostu półprzewodników, np. CVD (ang. Chemical Vapor Deposition), PLD (ang. Pulsed Layer Deposition).
Z publikacji pt. “Vacuum, vol. 83 (6), 2009, pp. 927-930, Controlled growth and characteristics of single-phase Cu2O and CuO films by pulsed laser deposition. A. Chen, H. Long, X. Li, Y. Li, G. Yang, P. Lu, 10.1016/j.vacuum.2008.10.003” znany jest opis sposobu wzrostu warstw CuO metodą PLD. Jednak ze względu na stosunkowo kosztowną technologię oraz brak możliwości łatwej kontroli procesu, metoda ta nie nadaje się do zastosowań przemysłowych.
W przeglądowej pracy “Progress in Materials Science, vol. 60, 2014, pp. 208-337, CuO nanostructures: Synthesis, characterization, growth mechanisms, fundamental properties, and applications, Q. Zhang, K. Zhang, D. Xu, G. Yang, H. Huang, F. Nie, C. Liu, S. Yang, 10.1016/j.pmatsci.2013.09.003” opisanych jest wiele sposobów wzrostu nanostruktur z roztworu. W oparciu o opisywane tam sposoby wzrostu wytwarzane są nanostruktury o różnorodnych kształtach i rozmiarach i o bardziej lub mniej rozwiniętej powierzchni. Uzyskiwane nanostruktury tlenku miedzi przybierają przeróżne formy ale praca ta nie przedstawia metody wzrostu jednorodnych warstw CuO, które są kluczowe dla wielu zastosowań.
W publikacji: “Journal of Applied Physical Science International, 4(3): 178-184, 2015, Study on structure and optical properties of CuO thin films prepared by chemical spray pyrolysis, A. N. Hussein, S. K. Muhammad, S. A. Mohsin and F. N. Ajeel” przedstawiono sposób zrostu warstwy CuO metodą pyrolizy natryskowej.
W sposobie tym, roztwór octanu miedzi był nakładany poprzez natrysk na podłoża o różnych temperaturach (od 300°C do 500°C).
Takie temperatury wzrostu wykluczają niestety możliwość zastosowania niektórych podłóż, np. szkła lub tworzyw sztucznych.
Z pracy “Materials Chemistry and Physics, vol. 83 (1), 2004, pp. 140-144, The preparation of copper(II) oxide thin films and the study of their microstructures and optical properties, A. Y. Oral, E. Menęur, M. H. Aslan, E. Baęaran, 10.1016/j.matchemphys.2003.09.015” znany jest sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu szklanym. W sposobie tym, najpierw octan miedzi rozpuszczono w izopropanolu i dietanolaminie, następnie dodano glikol polietylenu (PEG, H(OCH2CH2)nOH) oraz wodę. Później otrzymany roztwór rozprowadzano wielokrotnie na szkle używając metody „spin-coatingu”. Następnie szkło zostało podgrzane do 250°C i utrzymano tę temperaturę przez 5 minut, po czym przeniesiono je do pieca rozgrzanego do 300°C i podniesiono temperaturę do 600°C. Temperaturę 600°C utrzymano przez 30 minut. Opisanym sposobem uzyskano na podłożu szklanym warstwę CuO o grubości 800 nm. Proces wymagał zastosowania specjalnego szkła, które było w stanie wytrzymać temperaturę 600°C. Dość skomplikowana chemia procesu, użycie spin-coating’u oraz wieloetapowe wygrzewania powodują, iż przedstawiona metoda jest mało atrakcyjna dla zastosowań przemysłowych. W literaturze można znaleźć późniejsze modyfikacje tego sposobu ale w kwestiach technologicznych nie odbiegają one od opisanego powyżej sposobu.
Celem wynalazku jest opracowanie taniego, prostego i szybkiego sposobu wytwarzania warstwy CuO na podłożu. Sposobu, który gwarantowałby równomierną grubość i właściwości elektryczne warstwy oraz łatwość skalowania metody do dużych rozmiarów podłoża.
Sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu, według wynalazku jest dwuetapowy. W pierwszym etapie na podłożu korzystnie półprzewodnikowym lub szklanym wytwarza się warstwę zarodkującą wzrost warstwy CuO. Przy czym wytwarzanie warstwy zarodkującej prowadzi się poprzez napylanie warstwy metalu takiego jak Au, Ag, Cu grubości co najmniej 0,1 nm lub przez osadzanie z roztworu nanocząstek takiego metalu. Korzystnie jest jeżeli ilość nanostruktur Au, Ag, Cu na powierzchni podłoża jest większa niż 100/μm2. W drugim etapie sporządza się mieszaninę reakcyjną o wartości pH od 6,5 do 9, składającą się z rozpuszczalnika, co najmniej jednego prekursora tlenu i co najmniej jednego prekursora miedzi. Korzystnie jest jeżeli prekursorem tlenu jest woda, prekursorem miedzi jest octan miedzi lub azotan miedzi. Następnie podłoże zawierające warstwę zarodkującą wzrost umieszcza w tej mieszaninie, mieszaninę podgrzewa się do temperatury 60-100°C, i przez co najmniej 1 sekundę prowadzi się wzrost warstwy CuO.

Claims (6)

  1. PL 241 026 B1
    Hydrotermalny sposób wytwarzania na podłożu warstwy CuO jest bardzo prosty, nie wymaga stosowania skomplikowanej aparatury do kontroli przepływu gazów lub cieczy czy utrzymania wysokiej próżni. Jest procesem bezpiecznym, bo wzrost odbywa się przy stosunkowo niskiej temperaturze (ok. 60-100°C) i przy ciśnieniu atmosferycznym. Przygotowanie mieszaniny reakcyjnej wymaga jedynie wymieszania prekursorów w wodzie lub w innym rozpuszczalniku.
    Wynalazek zostanie bliżej objaśniony na trzech przykładach wykonania.
    W pierwszym przykładzie wytwarzanie warstwy CuO prowadzi się na podłożu krzemowym. Sposób według wynalazku wykorzystuje mechanizm zarodkowania wzrostu poprzez nanostruktury metaliczne, w tym przykładzie nanostruktury złota. Przykładowy sposób składa się z dwóch etapów. Pierwszy etap polega na odpowiednim przygotowaniu podłoża. W przykładowym sposobie jako podłoża użyto płytki krzemowej o grubości 0,5 mm. Na powierzchnię tego podłoża, metodą rozpylania katodowego, napylono cienką (ok. 0,4 nm) warstwę złota (przy czym warstwa metalu/złota może być znacznie grubsza). W drugim etapie przygotowuje się mieszaninę reakcyjną o pH równym 6,5. W tym celu rozpuszczono 1,5 g octanu miedzi w 150 ml wody destylowanej (która spełnia rolę rozpuszczalnika i prekursora tlenu). Odpowiednie pH mieszaniny uzyskano po dokładnym wymieszaniu, poprzez strącanie wodorotlenku metalu jakim jest wodorotlenek sodu. W tak przygotowanej mieszaninie umieszczono przygotowane w etapie pierwszym podłoże z uformowanymi na powierzchni kulkami złota, które w sposób naturalny powstały z napylonej warstwy złota. Proces wzrostu nanostruktur prowadzony był przy ciśnieniu atmosferycznym, w temperaturze 90°C przez 10 sekund. W wyniku tak prowadzonego procesu, złote kulki zarodkują jednorodny wzrost warstwy CuO. Rezultatem procesu była warstwa CuO o grubości 100 nm, na powierzchni podłoża krzemowego.
    W drugim przykładzie jako podłoża użyto płytki kwarcowej o grubości 1 mm. W pierwszym etapie tego sposobu na powierzchnię tego podłoża, metodą rozpylania katodowego, napylono cienką (ok. 3 nm) warstwę srebra. W drugim etapie tego sposobu przygotowano mieszaninę reakcyjną o pH równym 9. W tym celu rozpuszczono 1,5 g octanu miedzi w 150 ml wody destylowanej (która spełnia rolę rozpuszczalnika i prekursora tlenu). Odpowiednie pH mieszaniny uzyskano po dokładnym wymieszaniu, poprzez strącanie wodorotlenku metalu jakim jest wodorotlenek sodu. W tak przygotowanej mieszaninie umieszczono wcześniej przygotowane podłoże, na którego powierzchni znajdowały się nanostruktury srebra uformowane naturalnie z napylonej warstwy. Proces wzrostu nanostruktur prowadzony był przy ciśnieniu atmosferycznym, w temperaturze 95°C przez 5 sekund. W wyniku tak prowadzonego procesu, srebrne kulki zarodkują jednorodny wzrost warstwy CuO. Rezultatem procesu była warstwa CuO na powierzchni kwarcowego podłoża o grubości 10 nm.
    W trzecim przykładzie jako podłoża użyto płytki krzemowej o grubości 0,5 mm. Na powierzchnię tego podłoża, metodą rozpylania katodowego, napylono cienką (2 nm) warstwę miedzi. W drugim - tego sposobu przygotowano mieszaninę reakcyjną o pH równym 7,5. W tym celu rozpuszczono 3 g octanu miedzi w 150 ml wody destylowanej (która spełnia rolę rozpuszczalnika i prekursora tlenu). Odpowiednie pH mieszaniny uzyskano po dokładnym wymieszaniu, poprzez strącanie wodorotlenku metalu jakim jest wodorotlenek sodu. W tak przygotowanej mieszaninie umieszczono wcześniej przygotowane podłoże z warstwą miedzi na powierzchni. Proces wzrostu nanostruktur prowadzony był przy ciśnieniu atmosferycznym, w temperaturze 90°C przez 20 sekund. W wyniku tak prowadzonego procesu, miedź na podłożu zarodkuje jednorodny wzrost warstwy CuO. Rezultatem procesu była warstwa CuO na powierzchni podłoża o grubości 100 nm.
    Otrzymane warstwy są trwale związane z podłożem i mogą być wykorzystywane do praktycznych zastosowań typu sensorowego, fotowoltaicznego czy emisyjnego. Sposób według wynalazku nie wymaga stosowania wysokiej próżni, może być prowadzony na podłożach o dużych rozmiarach, jest szybki i prosty, przez co jest sposobem tanim, wydajnym i doskonale nadaje się do zastosowań na skalę przemysłową.
    Zastrzeżenia patentowe
    1. Hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu, znamienny tym, że w pierwszym etapie na podłożu, korzystnie półprzewodnikowym lub szklanym wytwarza się warstwę zarodkującą wzrost, przy czym wytwarzanie warstwy zarodkującej prowadzi się poprzez napylanie warstwy metalu lub przez osadzanie z roztworu nanocząstek metalu, w drugim etapie sporządza się mieszaninę reakcyjną o wartości pH od 6,5 do 9, składającą się z roz
    PL 241 026 B1 puszczalnika, co najmniej jednego prekursora tlenu i co najmniej jednego prekursora miedzi, następnie podłoże zawierające warstwę zarodkującą wzrost umieszcza w tej mieszaninie, mieszaninę tę podgrzewa się do temperatury 60-100°C, i przez co najmniej 1 sekundę prowadzi się wzrost warstwy CuO.
  2. 2. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że warstwą zarodkującą wzrost jest warstwa metalu, korzystnie Au, Ag, Cu o grubości co najmniej 0,1 nm.
  3. 3. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że warstwą zarodkującą wzrost są metaliczne nanostruktury, korzystnie nanostruktury Au, Ag, Cu w ilości większej niż 100 nanostruktur na powierzchni 1 μm2.
  4. 4. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że prekursorem tlenu jest woda.
  5. 5. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że prekursorem miedzi jest octan miedzi.
  6. 6. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że prekursorem miedzi jest azotan miedzi.
PL429066A 2019-02-26 2019-02-26 Hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu PL241026B1 (pl)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL429066A PL241026B1 (pl) 2019-02-26 2019-02-26 Hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu
EP20461511.6A EP3703108A1 (en) 2019-02-26 2020-02-25 Hydrothermal method of producing a cuo layer on a substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL429066A PL241026B1 (pl) 2019-02-26 2019-02-26 Hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL429066A1 PL429066A1 (pl) 2020-09-07
PL241026B1 true PL241026B1 (pl) 2022-07-18

Family

ID=70333902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL429066A PL241026B1 (pl) 2019-02-26 2019-02-26 Hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP3703108A1 (pl)
PL (1) PL241026B1 (pl)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL225326B1 (pl) * 2012-02-06 2017-03-31 Inst Fizyki Polskiej Akademii Nauk Hydrotermalny sposób wytwarzania nanosłupków ZnO na podłożach półprzewodnikowych
US20160005599A1 (en) * 2013-02-18 2016-01-07 Postech Academy-Industry Foundation Method for forming aligned oxide semiconductor wire pattern and electronic device using same

Also Published As

Publication number Publication date
EP3703108A1 (en) 2020-09-02
PL429066A1 (pl) 2020-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Wang et al. Asynchronous-pulse ultrasonic spray pyrolysis deposition of CuxS (x= 1, 2) thin films
JP5948329B2 (ja) 液相化学堆積装置及びプロセス並びにその製品
Tao et al. The effect of seed layer on morphology of ZnO nanorod arrays grown by hydrothermal method
Liu Recent progress in atomic layer deposition of multifunctional oxides and two-dimensional transition metal dichalcogenides
CN111051560A (zh) 生产具有钙钛矿状结构的吸光材料的膜的方法
CN107513698B (zh) 一种立方碳化硅涂层的制备方法
CN115012029B (zh) 一种二维硒化铟晶体材料的制备方法
CN105668559A (zh) 一种批量多衬底制备石墨烯薄膜的方法
CN113718227B (zh) 一类二维层状三元化合物及其制备方法
CN115142134A (zh) 一种利用液态金属镓制备大尺寸二维晶态氮化镓的方法
Lisha et al. Research progress of laser-assisted chemical vapor deposition
CN101608305A (zh) 一种制备ZnO纳米线阵列的方法
WO2014174133A1 (es) Procedimiento para la producción controlada de grafeno a muy baja presión y dispositivo para llevar a cabo el procedimiento
PL241026B1 (pl) Hydrotermalny sposób wytwarzania warstwy CuO na podłożu
CN101871097B (zh) 一种致密PbSe多晶薄膜的简单制备方法
Rangappa et al. Synthesis of highly crystallized BaWO4 film by chemical reaction method at room temperature
CN117660923A (zh) 一种原子层沉积法生长AlScN薄膜及其制备方法
US9017777B2 (en) Inorganic films using a cascaded source for battery devices
US20210249331A1 (en) Low-Temperature Deposition of High-Quality Aluminum Nitride Films for Heat Spreading Applications
JP2009167038A (ja) ZnOシード層、ZnOウィスカーパターン及びそれらの作製方法
Lu et al. Effect of sputtering power on the properties of TaN thin films prepared by the magnetron sputtering
Yan et al. Selective atomic layer deposition to extend Moore’s law and beyond: surface kinetic tuning for self-aligned growth
CN113380603B (zh) 高硼组分二维iii族多元氮化物混合晶体及其制备方法
Zou et al. Silicon nanowires by aluminum-induced crystallization of amorphous silicon
CN1188901C (zh) 三维取向氧化锌薄膜的制备方法