PL406344A1 - Pozycjoner wzorców kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesów destrukcji zwłaszcza w badaniach zmęczeniowych - Google Patents

Pozycjoner wzorców kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesów destrukcji zwłaszcza w badaniach zmęczeniowych

Info

Publication number
PL406344A1
PL406344A1 PL406344A PL40634413A PL406344A1 PL 406344 A1 PL406344 A1 PL 406344A1 PL 406344 A PL406344 A PL 406344A PL 40634413 A PL40634413 A PL 40634413A PL 406344 A1 PL406344 A1 PL 406344A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
positioner
calibration standards
destruction
fatigue tests
video system
Prior art date
Application number
PL406344A
Other languages
English (en)
Other versions
PL226191B1 (pl
Inventor
Wojciech Mizak
Piotr Garbacz
Original Assignee
Instytut Technologii Eksploatacji-Państwowy Instytut Badawczy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Technologii Eksploatacji-Państwowy Instytut Badawczy filed Critical Instytut Technologii Eksploatacji-Państwowy Instytut Badawczy
Priority to PL406344A priority Critical patent/PL226191B1/pl
Publication of PL406344A1 publication Critical patent/PL406344A1/pl
Publication of PL226191B1 publication Critical patent/PL226191B1/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Pozycjoner wzorców kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesów destrukcji zwłaszcza w badaniach zmęczeniowych umożliwiający precyzyjne pozycjonowanie wzorca w dwóch płaszczyznach XY oraz XZ, zawierający wspornik (2) łączący pozycjoner z maszyną wytrzymałościową, w którym wspornik (2) stanowi podstawę dla precyzyjnego stolika obrotowego (3), przemieszczającego wzorzec (1) w płaszczyźnie XY w zakresie od 0° do 360°, z jakim pośrednio połączony jest goniometr (4), który za pomocą adaptera (5) osadzony jest na stoliku obrotowym (3), a stoliki (3) oraz (4), wyposażone są w ultra-wysokiej rozdzielczości piezo-napędy (6), a ze stolikiem (4) połączony jest adapter (7) wzorca.
PL406344A 2013-12-03 2013-12-03 Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych PL226191B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL406344A PL226191B1 (pl) 2013-12-03 2013-12-03 Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL406344A PL226191B1 (pl) 2013-12-03 2013-12-03 Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL406344A1 true PL406344A1 (pl) 2015-06-08
PL226191B1 PL226191B1 (pl) 2017-06-30

Family

ID=53269152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL406344A PL226191B1 (pl) 2013-12-03 2013-12-03 Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL226191B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL226191B1 (pl) 2017-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY172198A (en) A test handler that picks up electronic devices for testing and an orientation-changing apparatus for use in a test handler
WO2015082683A3 (de) Vorrichtung und verfahren zur messung von werkstücken
TWD173715S (zh) 積體電路插座用探針引腳
TWD173713S (zh) 積體電路插座用探針引腳
SG11201606238PA (en) Integrated circuit (ic) test socket using kelvin bridge
TW201613687A (en) Kneader internal inspection device
MY168456A (en) Method for aligning electronic components
MY182110A (en) Device for testing electronic components
BR112017013868A2 (pt) dispositivo de fornecimento e processo de fornecimento de elementos
EP3520171C0 (en) PASSIVE INTERMODULATION PROBE (PIM)
TWD173714S (zh) 積體電路插座用探針引腳之部分
BR112016025371A2 (pt) presilha, dispositivo de presilha e conjunto monitor de pressão de presilha
MX353707B (es) Medición de características dimensionales de una parte de producción.
TWD177829S (zh) 積體電路插座用探針引腳之部分
TWD177827S (zh) 積體電路插座用探針引腳之部分
PL406344A1 (pl) Pozycjoner wzorców kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesów destrukcji zwłaszcza w badaniach zmęczeniowych
EP3592612A4 (en) DEVICE ALLOWING THE UNFINISHED MOVEMENT OF A SURGICAL TABLE
PL409885A1 (pl) Sposób i urządzenie do pomiaru jakości połączeń w artykułach przemysłu tytoniowego
MY171995A (en) Work visual inspection device and work visual inspection method
PL404655A1 (pl) Przyrząd do mocowania wzorców długości
PL408560A1 (pl) Pozycjoner próbek, zwłaszcza w urządzeniu do badania zużycia erozyjnego
MX2017011211A (es) Dispositivo auxiliar para localizar, mapear y medir microscopicamente neoplasias.
PL411614A1 (pl) Urządzenie modułowe do badania zmian morfologii materiałów pod wpływem działania sił ścinających, w skali nanometrycznej w komorach mikroskopów elektronowych
PL122371U1 (pl) Urządzenie do badania elastyczności produktów spożywczych
PL412430A1 (pl) System pozycjonowania komory kriogenicznej do badań wytrzymałościowych