PL408127A1 - Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO - Google Patents

Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO

Info

Publication number
PL408127A1
PL408127A1 PL408127A PL40812714A PL408127A1 PL 408127 A1 PL408127 A1 PL 408127A1 PL 408127 A PL408127 A PL 408127A PL 40812714 A PL40812714 A PL 40812714A PL 408127 A1 PL408127 A1 PL 408127A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
doping
type
nanostructural
zno layer
nanowires
Prior art date
Application number
PL408127A
Other languages
English (en)
Other versions
PL230421B1 (pl
Inventor
Michał Borysewicz
Eliana Kamińska
Original Assignee
Instytut Technologii Elektronowej
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Technologii Elektronowej filed Critical Instytut Technologii Elektronowej
Priority to PL408127A priority Critical patent/PL230421B1/pl
Publication of PL408127A1 publication Critical patent/PL408127A1/pl
Publication of PL230421B1 publication Critical patent/PL230421B1/pl

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Przedmiotem wynalazku jest sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO, to znaczy warstwy zawierającej różne wykrystalizowane formy ZnO jak nanosłupki czy nanodruty. W sposobie tym, osadzone uprzednio na amorficznym lub krystalicznym podłożu dowolną techniką, nanostrukturalne warstwy ZnO wygrzewa się w przepływie mieszaniny argonu i wodoru. Względna zawartość wodoru w mieszaninie wynosi 5 - 20% przy przepływie argonu od 1 do 3 l na minutę, a wygrzewanie prowadzi się w temperaturze 300°C - 600°C, przez czas od 10 sekund do 10 minut.
PL408127A 2014-05-06 2014-05-06 Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO PL230421B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL408127A PL230421B1 (pl) 2014-05-06 2014-05-06 Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL408127A PL230421B1 (pl) 2014-05-06 2014-05-06 Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL408127A1 true PL408127A1 (pl) 2015-11-09
PL230421B1 PL230421B1 (pl) 2018-10-31

Family

ID=54364852

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL408127A PL230421B1 (pl) 2014-05-06 2014-05-06 Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL230421B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL230421B1 (pl) 2018-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NI201800112A (es) Forma polimorfa de n-{6-(2-hidroxipropan-2-il)-2-[2-(metilsulfonil)etil]-2h-indazol-5-il}-6- (trifluorometil)piridin-2-carboxamida
SG10201700452RA (en) High temperature atomic layer deposition of silicon-containing films
EP3656832A4 (en) COMPOSITION OF QUANTUM POINTS MODIFIED BY A LIGAND, LAYER OF QUANTUM POINTS MODIFIED BY A LIGAND, ASSOCIATED PREPARATION PROCEDURE, AND QUANTUMINESCENT LIGHT DIODE
AR102563A1 (es) Composición densificada para el tratamiento de una formación subterránea
EP3349237A4 (en) PROCESS FOR PREPARING AN SIC COMPOSITE SUBSTRATE AND METHOD FOR PRODUCING A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
SG10201806569PA (en) Pecvd microcrystalline silicon germanium (sige)
TW201612179A (en) A process for preparing a crystalline organic semiconductor material
GB201709216D0 (en) Low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistor based on dual-gate structure and manufacturing method therefor
JP2015079946A5 (pl)
MX360956B (es) Método de tratamiento térmico de capas de plata.
EA201800273A1 (ru) Композиция полипропилена для элемента слоя
WO2012102523A3 (en) Thermoelectric device and thermoelectric module having the same, and method of manufacturing the same
BR112017000799B8 (pt) Método para produzir um substrato revestido, substrato revestido e uso do substrato revestido produzido através do método
BR112018003014A2 (pt) técnicas para o crescimento direto de grafeno sobre vidro em baixa temperatura
WO2013177048A3 (en) Method of providing chloride treatment for a photovoltaic device and a chloride treated photovoltaic device
SG10201804591WA (en) Semiconductor device fabrication
EP3637486C0 (en) LAMINATED SUBSTRATE COMPRISING POTASSIUM SODIUM NIOBATE PIEZOELECTRIC FILM AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
EP2955743A4 (en) METHOD FOR PRODUCING A SILICON CARBIDE SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND PROCESS FOR PREPARING A SILICON CARBIDE SEMICONDUCTOR ELEMENT
GB201608873D0 (en) Silicon ingot growth crucible with patterned protrusion structured layer
MX2016005844A (es) Metodo para obtener un material fotocatalitico.
PL408127A1 (pl) Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO
PH12017500904A1 (en) Method for producing doped polycrystalline semiconductor layers
EP3042978A4 (en) Method for depositing oxide layer, and layered substrate for epitaxial growth and process for producing same
WO2015105460A3 (en) Method for forming low emissivity doped zinc oxide films on a substrate
FR3043411B1 (fr) Revetement ceramique multicouche de protection thermique a haute temperature, notamment pour application aeronautique, et son procede de fabrication