Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Krakowska im. Tadeusza KościuszkifiledCriticalPolitechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki
Priority to PL415093ApriorityCriticalpatent/PL415093A1/pl
Publication of PL415093A1publicationCriticalpatent/PL415093A1/pl
W sposobie mierzy się czterokrotnie wartość chwilową napięcia na dwójniku w równych odstępach czasu TS, które są mniejsze od 1/2 okresu T napięcia oraz mierzy się czterokrotnie wartość chwilową natężenia prądu płynącego przez dwójnik w tych samych równych odstępach czasu TS. Kolejność wykonania czterech pomiarów wartości chwilowej napięcia na dwójniku względem czterech pomiarów wartości chwilowej natężenia prądu płynącego przez dwójnik jest dowolna, przy zachowaniu warunku, że pierwszy pomiar wartości chwilowej napięcia na dwójniku i pierwszy pomiar wartości chwilowej natężenia prądu płynącego przez dwójnik realizuje się w odstępie czasu Tp równym 1/2 odstępu czasowego TS pomiarów wartości chwilowych prądu i napięcia, czyli TP=1/2TS. Na podstawie otrzymanych z pomiarów wyników oblicza się parametr pomocniczy ?, a następnie oblicza się rezystancję, reaktancję i moduł impedancji dwójnika zasilanego prądem sinusoidalnie zmiennym.
Sposób pomiaru rezystancji, reaktancji i modułu impedancji dwójnika zasilanego prądem sinusoidalnie zmiennym oraz układ do pomiaru rezystancji, reaktancji i modułu impedancji dwójnika zasilanego prądem sinusoidalnie zmiennym