PL430784A1 - Układ do analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego i sposób analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego - Google Patents
Układ do analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego i sposób analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznegoInfo
- Publication number
- PL430784A1 PL430784A1 PL430784A PL43078419A PL430784A1 PL 430784 A1 PL430784 A1 PL 430784A1 PL 430784 A PL430784 A PL 430784A PL 43078419 A PL43078419 A PL 43078419A PL 430784 A1 PL430784 A1 PL 430784A1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- ray
- energy
- radiation
- analysis
- separation
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title abstract 10
- 238000000926 separation method Methods 0.000 title abstract 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title abstract 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 title abstract 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract 8
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 abstract 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 abstract 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 abstract 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3563—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Przedmiotem zgłoszenia jest układ do analizy i separacji materiałów wyposażony w przenośnik taśmowy, źródło promieniowania rentgenowskiego X, detektor pomiaru promieniowania X, który ma źródło promieniowania X umieszczone w ten sposób, że promienie X przenikają przez mierzony materiał na całej szerokości taśmy przenośnika taśmowego przy czym detektory promieniowania składają się z wielokrotnych czujników promieniowania umieszczonych na całej szerokości taśmy, zaś układ czujników wyposażony jest w urządzenia przetwarzania danych w zakresie dwuenergetycznej (DE Dual Energy) lub wieloenergetycznej (ME Multi Energy) analizy promieniowania X, a także komputerowy system obliczeniowy sterujący układem odrzucającym cząstki materiału znajdującego się poniżej progu kryterium separacji i urządzenia odbierające odseparowane frakcje materiału, charakteryzuje się tym, że układ analizy rentgenowskiej wyposażony jest dodatkowo w układ hiper-spektralnej analizy w zakresie promieniowania podczerwonego przy pomocy źródła promieniowania podczerwonego (15) oraz hiper-spektralnej kamery (19) analizującej obraz promieni odbitych od powierzchni (17) badanego materiału (4) oraz ma wielopasmowy detektor (9) pomiaru promieniowania rentgenowskiego X (2) w kształcie matrycy ustawionych w szeregu niezależnych czujników promieniowania rentgenowskiego X pokrywających całą szerokość taśmy przenośnika taśmowego (5), posiada detektory promieniowania (3) o różnych współczynnikach tłumienia promieniowania rentgenowskiego X przy zróżnicowanej energii tego promieniowania. Zgłoszenie obejmuje także sposób analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego w celu ich dalszej separacji, charakteryzuje się tym, że mierzony materiał (4) jest wprowadzany pomiędzy źródło promieniowania rentgenowskiego X (1) a detektory promieniowania (3) z kontrolowaną prędkością przenośnika taśmowego (5) i/lub z kontrolowaną prędkością za pomocą grawitacji lub innego znanego układu generującego stabilne przemieszczanie się materiału a wielopasmowy detektor (9) pomiaru promieniowania rentgenowskiego X (2), dokonuje pomiaru ilości i energii fotonów promieniowania X (2) dla poszczególnych niezależnych pasm energetycznych i przedstawia je w formie impulsów elektrycznych o intensywności proporcjonalnej do energii fotonów.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL430784A PL245020B1 (pl) | 2019-07-31 | 2019-07-31 | Układ do analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego i sposób analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL430784A PL245020B1 (pl) | 2019-07-31 | 2019-07-31 | Układ do analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego i sposób analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL430784A1 true PL430784A1 (pl) | 2021-02-08 |
| PL245020B1 PL245020B1 (pl) | 2024-04-22 |
Family
ID=72659311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL430784A PL245020B1 (pl) | 2019-07-31 | 2019-07-31 | Układ do analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego i sposób analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL245020B1 (pl) |
-
2019
- 2019-07-31 PL PL430784A patent/PL245020B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL245020B1 (pl) | 2024-04-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ZA202301749B (en) | Material analysis and separation system for the determination of their chemical composition and material analysis and separation method for the determination of their chemical composition | |
| Johnson et al. | Capturing dynamics with Eiger, a fast-framing X-ray detector | |
| US6370223B1 (en) | Automatic detection of bone fragments in poultry using multi-energy x-rays | |
| WO2008142448A4 (en) | Inspection of materials by evaluating, the contribution of bragg scattering to energy dispersive x-ray attenuation | |
| Jacques et al. | A laboratory system for element specific hyperspectral X-ray imaging | |
| WO2004095060A2 (en) | X-ray imaging technique | |
| CN103069305A (zh) | 由多能量x-射线识别材料的方法 | |
| CN111521624A (zh) | 产品尤其是食品的x射线检查的方法和装置 | |
| JP2018141736A (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| AU2002339180A1 (en) | X-ray grading apparatus and process | |
| JP7060446B2 (ja) | Ｘ線ラインセンサ及びそれを用いたｘ線異物検出装置 | |
| Swiderski et al. | Response of doped alkali iodides measured with gamma-ray absorption and Compton electrons | |
| PL430784A1 (pl) | Układ do analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego i sposób analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego | |
| KR20140059012A (ko) | 비파괴 검사 장치 | |
| CL2023000444A1 (es) | Sistema de análisis y separación de materiales para la determinación de sus composición química | |
| PL232047B1 (pl) | Sposób analizy i separacji materiałów dla określenia ich składu chemicznego | |
| CN108548831A (zh) | 检测肉类中脂肪含量的方法和装置 | |
| JP7079966B2 (ja) | Ｘ線検出装置 | |
| O'Flynn et al. | Pixelated diffraction signatures for explosive detection | |
| RU2529648C2 (ru) | Способ и устройство для радиационного измерения плотности твердых тел | |
| RU2505801C1 (ru) | Устройство нейтронной радиографии | |
| Yan et al. | An edge-on energy-resolved X-ray semiconductor detector | |
| Firsching et al. | Concentration determination for sorting applications using dual energy X-ray transmission imaging | |
| Stevanato et al. | A new facility for non-destructive assay using a 252Cf source | |
| Ryzhikov et al. | A multi-energy method of nondestructive testing by determination of the effective atomic number of different materials |