PL437748A1 - Układ do obrazowania rozproszeniem wstecznym, układ do kontroli skanowaniem oraz sposób obrazowania rozproszeniem wstecznym - Google Patents

Układ do obrazowania rozproszeniem wstecznym, układ do kontroli skanowaniem oraz sposób obrazowania rozproszeniem wstecznym

Info

Publication number
PL437748A1
PL437748A1 PL437748A PL43774819A PL437748A1 PL 437748 A1 PL437748 A1 PL 437748A1 PL 437748 A PL437748 A PL 437748A PL 43774819 A PL43774819 A PL 43774819A PL 437748 A1 PL437748 A1 PL 437748A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
backscatter
signal
scanning
state
backscatter imaging
Prior art date
Application number
PL437748A
Other languages
English (en)
Other versions
PL245844B1 (pl
Inventor
Hao Yu
Weizhen Wang
Haojie Chi
Bicheng LIU
Yu Hu
Shangmin Sun
Jianmin Li
Yuanjing Li
Zhiqiang Chen
Original Assignee
Nuctech Company Limited
Nuctech Jiangsu Company Limited
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nuctech Company Limited, Nuctech Jiangsu Company Limited filed Critical Nuctech Company Limited
Publication of PL437748A1 publication Critical patent/PL437748A1/pl
Publication of PL245844B1 publication Critical patent/PL245844B1/pl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/203—Measuring back scattering

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Przedmiotem zgłoszenia jest przedstawiony na rysunku układ do obrazowania rozproszeniem wstecznym, układ do kontroli skanowaniem oraz sposób obrazowania rozproszeniem wstecznym. Układ do obrazowania rozproszeniem wstecznym zawiera: źródło promieniowania rozproszenia wstecznego, mające pierwszy stan skanowania, w którym wiązka skanująca nie jest emitowana, oraz drugi stan skanowania, w którym wiązka skanująca jest emitowana podczas skanowania; detektor rozproszenia wstecznego, skonfigurowany do wykrywania pierwszego sygnału rozproszenia wstecznego, gdy źródło promieniowania rozproszenia wstecznego znajduje się w pierwszym stanie skanowania i wykrywania drugiego sygnału rozproszenia wstecznego, gdy źródło promieniowania rozproszenia wstecznego znajduje się w drugim stanie skanowania; sterownik w połączeniu sygnałowym z detektorem rozproszenia wstecznego, skonfigurowany do korygowania drugiego sygnału rozproszenia wstecznego za pomocą sygnału korekcyjnego utworzonego zgodnie z pierwszym sygnałem rozproszenia wstecznego w celu uzyskania skorygowanego sygnału rozproszenia wstecznego i tworzenia informacji graficznych zgodnie ze skorygowanym sygnałem rozproszenia wstecznego; oraz generator obrazu w połączeniu sygnału ze sterownikiem skonfigurowany do generowania obrazu rozproszenia wstecznego w drugim stanie skanowania zgodnie z informacją graficzną. Obraz rozproszenia wstecznego uzyskany w niniejszym ujawnieniu jest bardziej wyraźny.
PL437748A 2018-11-01 2019-10-08 Sposób obrazowania rozproszeniem wstecznym PL245844B1 (pl)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811291946.2 2018-11-01
CN201811291946.2A CN109142404B (zh) 2018-11-01 2018-11-01 背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法
PCT/CN2019/109936 WO2020088198A1 (zh) 2018-11-01 2019-10-08 背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL437748A1 true PL437748A1 (pl) 2022-01-31
PL245844B1 PL245844B1 (pl) 2024-10-21

Family

ID=64807443

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL437748A PL245844B1 (pl) 2018-11-01 2019-10-08 Sposób obrazowania rozproszeniem wstecznym

Country Status (3)

Country Link
CN (1) CN109142404B (pl)
PL (1) PL245844B1 (pl)
WO (1) WO2020088198A1 (pl)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109142404B (zh) * 2018-11-01 2024-06-11 同方威视技术股份有限公司 背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法
CN116542863A (zh) * 2022-12-15 2023-08-04 奕瑞影像科技成都有限公司 X光背散射图像变形矫正方法、装置、终端以及矫正系统
CN119575495A (zh) * 2024-12-26 2025-03-07 同方威视技术股份有限公司 辐射检查系统
CN119575496A (zh) * 2024-12-30 2025-03-07 同方威视技术股份有限公司 辐射检查系统

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7099434B2 (en) * 2002-11-06 2006-08-29 American Science And Engineering, Inc. X-ray backscatter mobile inspection van
CN200947086Y (zh) * 2006-05-19 2007-09-12 清华大学 探测器阵列及设备
WO2008021807A2 (en) * 2006-08-11 2008-02-21 American Science And Engineering, Inc. X-ray inspection with contemporaneous and proximal transmission and backscatter imaging
US8908831B2 (en) * 2011-02-08 2014-12-09 Rapiscan Systems, Inc. Covert surveillance using multi-modality sensing
CN202929217U (zh) * 2012-08-21 2013-05-08 同方威视技术股份有限公司 可监测人体携带放射性物质的背散射人体安检系统
US9885962B2 (en) * 2013-10-28 2018-02-06 Kla-Tencor Corporation Methods and apparatus for measuring semiconductor device overlay using X-ray metrology
CN105607111B (zh) * 2014-11-05 2019-04-02 中国科学院高能物理研究所 一种γ核素识别方法
CN105445303B (zh) * 2015-12-29 2019-02-19 清华大学 手持式背散射成像仪及其成像方法
CN106442585A (zh) * 2016-10-17 2017-02-22 北京君和信达科技有限公司 背散射辐射成像系统
WO2018072074A1 (en) * 2016-10-18 2018-04-26 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. Aradiation detector suitable for a pulsed radiation source
CN106841256B (zh) * 2017-02-17 2023-11-21 清华大学 多视角背散射检查系统和多视角背散射检查方法
CN109142404B (zh) * 2018-11-01 2024-06-11 同方威视技术股份有限公司 背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法
CN209148568U (zh) * 2018-11-01 2019-07-23 同方威视技术股份有限公司 背散射成像系统和扫描检查系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN109142404B (zh) 2024-06-11
PL245844B1 (pl) 2024-10-21
CN109142404A (zh) 2019-01-04
WO2020088198A1 (zh) 2020-05-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL437748A1 (pl) Układ do obrazowania rozproszeniem wstecznym, układ do kontroli skanowaniem oraz sposób obrazowania rozproszeniem wstecznym
US20200379114A1 (en) Detecting system fusing lidar point cloud and image
EP3680650A3 (en) X-ray imaging system use and calibration
GB2488079A (en) Time of flight backscatter imaging system
US20140240808A1 (en) Beam scanning type display apparatus
WO2012142064A3 (en) Six degree-of-freedom laser tracker that cooperates with a remote line scanner
US20150042645A1 (en) Processing apparatus for three-dimensional data, processing method therefor, and processing program therefor
WO2017030616A3 (en) Fast scanning radar systems and methods
US20180106598A1 (en) Distance measuring apparatus and distance measuring method
BR112019002912A2 (pt) formação de feixe com base em saliência para detecção de objetos
JP4363296B2 (ja) 距離画像センサ
KR101809504B1 (ko) 비파괴 검사를 위한 연속파 선형 레이저 스캐닝 열화상 장치 및 방법
EP2657783A3 (en) Image forming apparatus capable of correcting relative position between laser beams
WO2022098733A3 (en) Aerial imaging using retroreflection
MX2017012962A (es) Metodo de inspeccion de superficie de cuerpo ceramico.
US10140722B2 (en) Distance measurement apparatus, distance measurement method, and non-transitory computer-readable storage medium
EP3349441A3 (en) Image projection apparatus and compensation method
MX2019013510A (es) Metodo de inspeccion de superficie interior de cuerpo tubular y aparato de inspeccion de superficie interior de cuerpo tubular.
JP2016096516A (ja) 画像処理装置、画像投影システム、画像処理方法およびプログラム
JP2014070936A (ja) 誤差画素検出装置、誤差画素検出方法、および誤差画素検出プログラム
US10195002B2 (en) Device and method for generating dental three-dimensional surface image
JP2012173243A (ja) ３次元計測装置、および３次元計測方法
WO2015099422A1 (ko) 치과용 엑스선 촬영장치
WO2018077603A3 (de) Verfahren zur erzeugung von röntgenbildern und röntgensystem
JP6379646B2 (ja) 情報処理装置、測定方法及びプログラム