PL451722A1 - Układ i sposób pomiaru przechyłu zwłaszcza w warunkach silnych zakłóceń elektromagnetycznych - Google Patents
Układ i sposób pomiaru przechyłu zwłaszcza w warunkach silnych zakłóceń elektromagnetycznychInfo
- Publication number
- PL451722A1 PL451722A1 PL451722A PL45172225A PL451722A1 PL 451722 A1 PL451722 A1 PL 451722A1 PL 451722 A PL451722 A PL 451722A PL 45172225 A PL45172225 A PL 45172225A PL 451722 A1 PL451722 A1 PL 451722A1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- optical fiber
- wave plate
- base
- tilting element
- environments
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/0001—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
- G02B6/0011—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being planar or of plate-like form
- G02B6/0075—Arrangements of multiple light guides
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Przedmiotem zgłoszenia jest układ i sposób wyznaczania przechyłu elementu przechylanego (22). W układzie, na podstawie (3) sztywno połączonej z elementem przechylanym (22) zamocowana jest obrotowo głowica (5), do której za pomocą sztywnego ramienia (21) przymocowany jest obciążnik (20), a do czoła nieruchomej podstawy (3) zamocowany jest polaryzator (4) połączony z kolimatorem (6), do którego za pomocą światłowodu (2) podłączone jest szerokopasmowe źródło światła (1), a od strony czoła nieruchomej podstawy (3) w głowicy (5) zamocowana jest półfalówka (8). Po przeciwnej stronie półfalówki (8) do głowicy (5) zamocowana jest druga podstawa (10) sztywno połączona z elementem przechylanym (22), do której powierzchni czołowej od strony półfalówki (8) zamocowana jest soczewka (7) podłączona do drugiego światłowodu (9) połączonego ze splitterem (11). Układ charakteryzuje się tym, że po przeciwnej stronie splittera (11) przyłączone są trzeci światłowód (12) i czwarty światłowód (15) z wytworzonymi w ich rdzeniach skośnymi siatkami Bragga (13, 16). Każdy z drugich końców trzeciego światłowodu (12) i czwartego światłowodu (15) podłączony jest do osobnego analizatora widma optycznego (14, 17), które połączone są z modułem obliczeniowym (18), tudzież kąt obrotu siatek Bragga (13, 16) względem siebie wynosi od 15° do 30°.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL451722A PL451722A1 (pl) | 2025-04-08 | 2025-04-08 | Układ i sposób pomiaru przechyłu zwłaszcza w warunkach silnych zakłóceń elektromagnetycznych |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL451722A PL451722A1 (pl) | 2025-04-08 | 2025-04-08 | Układ i sposób pomiaru przechyłu zwłaszcza w warunkach silnych zakłóceń elektromagnetycznych |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL451722A1 true PL451722A1 (pl) | 2025-09-29 |
Family
ID=97171752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL451722A PL451722A1 (pl) | 2025-04-08 | 2025-04-08 | Układ i sposób pomiaru przechyłu zwłaszcza w warunkach silnych zakłóceń elektromagnetycznych |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL451722A1 (pl) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL446545A1 (pl) * | 2023-10-30 | 2024-06-17 | Politechnika Lubelska | Układ i sposób pomiaru kąta obrotu głowicy zamocowanej na nieruchomym elemencie |
| PL446548A1 (pl) * | 2023-10-30 | 2024-06-17 | Lubelska Polt | Miernik kąta obrotu płaszczyzny polaryzacji światła rozchodzącego się w otoczeniu oraz sposób pomiaru obrotu kąta płaszczyzny polaryzacji |
| PL446547A1 (pl) * | 2023-10-30 | 2024-10-07 | Politechnika Lubelska | Pozycjoner i sposób pozycjonowania kąta obrotu głowicy zamocowanej na nieruchomym elemencie |
-
2025
- 2025-04-08 PL PL451722A patent/PL451722A1/pl unknown
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL446545A1 (pl) * | 2023-10-30 | 2024-06-17 | Politechnika Lubelska | Układ i sposób pomiaru kąta obrotu głowicy zamocowanej na nieruchomym elemencie |
| PL446548A1 (pl) * | 2023-10-30 | 2024-06-17 | Lubelska Polt | Miernik kąta obrotu płaszczyzny polaryzacji światła rozchodzącego się w otoczeniu oraz sposób pomiaru obrotu kąta płaszczyzny polaryzacji |
| PL446547A1 (pl) * | 2023-10-30 | 2024-10-07 | Politechnika Lubelska | Pozycjoner i sposób pozycjonowania kąta obrotu głowicy zamocowanej na nieruchomym elemencie |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1316367C (en) | Interferometer for measuring optical phase differences | |
| PL446545A1 (pl) | Układ i sposób pomiaru kąta obrotu głowicy zamocowanej na nieruchomym elemencie | |
| EP0250306B1 (en) | Angle measuring interferometer | |
| US7480055B2 (en) | Two-beam interferometer for fourier transform spectroscopy with double pivot scanning mechanism | |
| US6476919B1 (en) | Polarization-independent reflectometry and polarization-independent reflectometer | |
| EP0244275A2 (en) | Angle measuring interferometer | |
| JP2008519961A (ja) | 干渉法用の光接続 | |
| RU2018114296A (ru) | Устройство для измерения параметров фазовых элементов и дисперсии оптического волокна и способ измерения параметров фазовых элементов и дисперсии оптического волокна | |
| JP3590068B2 (ja) | 干渉計 | |
| PL451722A1 (pl) | Układ i sposób pomiaru przechyłu zwłaszcza w warunkach silnych zakłóceń elektromagnetycznych | |
| KR101733298B1 (ko) | 대형 유리기판의 물리적 두께 프로파일 및 굴절률 분포 측정을 위한 광간섭계 시스템 | |
| JP2008224664A (ja) | 改良された変位測定システム | |
| CN111562002B (zh) | 高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法 | |
| PL451724A1 (pl) | Układ i sposób ustawiania pozycji wysuwu popychacza zamocowanego na elemencie obrotowym | |
| PL451725A1 (pl) | Układ i sposób ustawiania kąta przechyłu, zwłaszcza w warunkach silnych zakłóceń elektromagnetycznych | |
| PL451723A1 (pl) | Układ i sposób pomiaru pozycji wysuwu popychacza zamocowanego na elemencie obrotowym | |
| PL451721A1 (pl) | Układ i sposób wyznaczania kąta obrotu głowicy osadzonej na nieruchomej podstawie | |
| CN207636280U (zh) | 一种望远镜系统多视场波前测量装置 | |
| Sandel et al. | Optical network analysis and longitudinal structure characterization of fiber Bragg grating | |
| Basile et al. | Silicon lattice constant: limits in IMGC X-ray/optical interferometry | |
| RU2141621C1 (ru) | Интерферометрическое устройство для измерения физических параметров прозрачных слоев (варианты) | |
| US20080062433A1 (en) | Precise rotational motion sensor | |
| CN208860449U (zh) | 高精度光纤天平系统 | |
| PL451728A1 (pl) | Układ i sposób pozycjonowania głowicy osadzonej na nieruchomej podstawie | |
| PL451729A1 (pl) | Układ i sposób pozycjonowania kąta obrotu źródła światła spolaryzowanego |