PL97778B2 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL97778B2
PL97778B2 PL186183A PL18618375A PL97778B2 PL 97778 B2 PL97778 B2 PL 97778B2 PL 186183 A PL186183 A PL 186183A PL 18618375 A PL18618375 A PL 18618375A PL 97778 B2 PL97778 B2 PL 97778B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
pulses
rise
outputs
analyzer
frequency
Prior art date
Application number
PL186183A
Other languages
Polish (pl)
Other versions
PL97778B1 (en
Inventor
Gajkowicz-Dedys Danuta
Original Assignee
Polska Akademia Naukinstytut Biocybernetyki I Inzynierii Biomedycznej
Filing date
Publication date
Application filed by Polska Akademia Naukinstytut Biocybernetyki I Inzynierii Biomedycznej filed Critical Polska Akademia Naukinstytut Biocybernetyki I Inzynierii Biomedycznej
Priority to PL18618375A priority Critical patent/PL97778B1/en
Priority claimed from PL18618375A external-priority patent/PL97778B1/en
Publication of PL97778B1 publication Critical patent/PL97778B1/en
Publication of PL97778B2 publication Critical patent/PL97778B2/pl

Links

Description

Przedmiotem wynalazku jest uklad analizujacy czasy narastania i/lub opadania impul¬ sów nalezacy do dziedziny techniki pomiarów charakterystyk impulsów.Stan techniki. Znany uklad do analizy przebiegów impulsowych wedlug ich czasów narastania i opadania zawiera uklady sygnalizujace poczatek i koniec narastania i/lub opadania kazdego impulsu oraz uklady cyfrowe, mierzace czas uplywajacy miedzy tymi impulsami, a ponadto uklady, które zmierzony czas narastania i/lub opadania kazdego impulsu zaliczaja do odpowiedniego przedzialu czasowego.Do pomiaru czasu uplywajacego miedzy dwoma impulsami stosuje sie generator impulsów o odpowiednio dobranej czestotliwosci oraz polaczony z nim przez uklad „i" licznik impulsów o odpowiednim zakresie. Uklad „i" otwierany jest przez sygnal poczatku, a zamykany przez sygnal konca narastania lub opadania kazdego kolejnego impulsu. W czasie kazdorazowego otwarcia ukladu „i" impulsy z .generatora impulsów zliczane sa przez licznik, a nastepnie wynik ten jest interpretowany przez zlozone uklady arytmetyczne i logiczne albo przez minikomputer. Interpretacje wyniku kazdego kolejnego pomiaru przeprowadza sie w sposób szeregowy, co w nie¬ których przypadkach uniemozliwia prace na biezaco urzadzenia pomiarowego.Istota wynalazku. Istota wynalazku polega na tym, ze do zacisku wejsciowego podlaczony jest m-wyjscio- wy analizator czestotliwosci chwilowej oraz zespól wyodrebniajacy, którego wyjscia jak równiez wyjscia analiza¬ tora czestotliwosci polaczone sa poprzez m-zespolów ukladów „i" z m-zespolami przetwarzania. Zespoly te wraz z analizatorem czestotliwosci polaczone sa do m-zespolów ukladów „i". Wyjscia tych zespolów polaczone sa poprzez m-wejsciowe uklady „i" i zespól logiczny z zaciskami wyjsciowymi ukladu analizujacego.Zaleta ukladu wedlug wynalazku jest to, ze analizuje czasy narastania i opadania impulsów w nieperiodycz¬ nych przebiegach impulsowych. Uklad ten jest prosty, zbudowany z typowych podzespolów, co pozwala na budowe dowolnych struktur pomiarowych. Uklad umozliwia pelna automatyzacje pomiarów i sterowania odpo¬ wiednimi procesami. Ponadto jest latwy w obsludze i w konserwacji.97 778 Objasnienie figur na rysunku, Przedmiot wynalazku jest odtworzony.schematycznie w przykladzie wykona¬ nia na rysunku, na którym fig; 1 przedstawia schemat blokowo-togiczny ukladu analizujacego czasy narastania i opadania impulsów w nieperiodycznych przebiegach impulsowych, fig. 2 i fig. 3 - przebiegi w charakterystycz¬ nych punktach ukladu.Przyklad wykonania wynalazku i jego dzialanie. Do zacisku wejsciowego We podlaczony jest 3-wyjsciowy analizator czestotliwosci chwilowej A oraz zespól wyodrebniajacy ZW,. który zawiera uklad wyodrebniajacy czasy narastania impulsów N oraz uklad wyodrebniajacy czasy opadania impulsów M.Zespól wyodrebniajacy ZW polaczony jest poprzez trzy zespoly ukladów „i" B], B2 i B3 z trzema zespolami przetwarzania ZSi, ZS2 i ZS3, do których podlaczony jest równiez poprzez te same zespoly ukladów „i" B1? B2 i B3 analizator czestotliwosci chwilowej A, przy czym kazde wyjscie analizatora czestotliwosci A podlaczone jest do jednego zespolu ZS. Wyjscia zespolów przetwarzania ZSi ZS2, ZS3 polaczone sa poprzez trzy zespoly ukladów ,4" Bx i \ B22 , B33 z ukladami „i" ZKi, ZK2, ZK3, ZK4, do których podlaczony jest równiez poprzez te same zespoly ukladów „i" Bj 1, B22, B33 analizator czestotliwosci chwilowej A, przy czym kazde, wyjscie analizatora czestotliwosci A podlaczone jest do jednego z 3-wejsciowych ukladów „i" ZKi, ZK2, ZK3, ZK4, natomiast wyjscia tych ukladów „i" ZKt, ZK2, ZK3, ZK4 polaczone sa poprzez uklad logiczny ZL z zaciskami wyjsciowymi ukladu Wy 1, Wy2 i Wy3.Uklad analizujacy czasy narastania i/lub opadania impulsów zawiera tyle zespolów przetwarzania ZS ile wyjsc ma analizator czestotliwosci chwilowej A. Kazdy zespól przetwarzania ZS zawiera tyle kanalów czaso¬ wych, przy czym T = r, s, u, v, zlozonych z ukladów niedomiarowo-nadmiarowej selekcji przedzialu czasu Zt polaczonego szeregowo z zespolem wyznaczania przedzialu czasu Xt ile jest przedzialów czasu narastania i opa¬ dania impulsów badanego przebiegu.Przylozony na wejscie We przebieg impulsowy przedstawiony na fig. 2/We jest przetwarzany w zespole ZW na dwa ciagi ujemnych impulsów prostokatnych, z których pierwszy przedstawiony na fig. 2/Wa^ sklada sie z impulsów trwajacych tak dlugo, jak dlugc narastaja* kolejne impulsy wejsciowe od dolnego poziomu dyskrymi¬ nacji E2 do górnego poziomu, dyskryminacji Ej . Impulsy Wa^ drugiego ciagu impulsów prostokatnych trwaja tak dlugo, jak dlugo opadaja impulsy wejsciowe od E! do E2.Przylozony na wejscie We badany przebieg impulsowy jest równoczesnie przetwarzany w analizatorze czestotliwosci chwilowej A, dzielacym zakres czestotliwosci chwilowej badanego przebiegu na m przedzialów Afj takich, ze Afj = fj — fj.j < fj_i na m ciagów ujemnych poziomów napiecia przy czym w przykladzie wykonania m = 3. Ujemny poziom napiecia na j-tym wyjsciu analizatora czestotliwosci, chwilowej pojawia sie wtedy, gdy czestotliwosc chwilowa badanego przebiegu zawiera sie wj-tym przedziale czestotliwosci, a trwatakdlugo, jak dlugo impulsy badanego przebiegu pojawiaja sie z czestotliwoscia chwilowa zawierajaca sie w tymze przedziale czestotliwosci. ". -" Na figurze 2/1 i fig. 2/2 przedstawiono dwa przebiegi pojawiajace sie na dwóch wyjsciach analizatora* przy czym pierwsze wyjscie odpowiada przedzialowi czestotliwosci 33c/s - 50c/s5 zas drugie - przedzialowi czestotli¬ wosci 20c/s -33c/s. : Poziomy napiecia 1, 2 i 3 oraz przebiegi impulsów, ujemnych Wa^ i Wa^ zostaja odpowiednio wedlug schematu polaczen z fig. 1 dodane logicznie w ukladach ^i" Br, B2 i B3, co przedstawiono przykladowo na fig. 2/Wsj i fig. 2/Ws2, gdzie przebieg z fig. 2/Wst przedstawia ciag ujeninych impulsów prostokatnych o czasach trwania równych czasom narastania odpowiednich impulsów analizowanego przebiegu i o czestotliwosci chwilo¬ wej zawartej w pierwszym przedziale czestotliwosci, natomiast przebieg fig. 2/V/s2 przedstawia ciag ujemnych impulsów prostokatnych o czasach trwania równych czasom narastania odpowiednich impulsów analizowanego przebiegu i o czestotliwosci chwilowej zawartej w drugim przedziale czestotliwosci.Otrzymane przebiegi wedlug fig. 2/Wsj i fig. 2/Ws2 zostaja przylozone do wejsc odpowiednich kanalów czasowych narastania Ks, i Ks2 lub opadania impulsów, a nastepnie przetworzone w nich na przebiegi ujemnych i zerowych poziomów napiecia, przy czym zerowy poziom napiecia wystepuje wtedy, gdy czasy narastania lub - opadania impulsów badanego przebiegu o czestotliwosci nalezacej do przedzialu czestotliwosci 1 lub 2 odpo¬ wiednionaleza do zakresów czasów narastania Sx i S2.Otrzymane na wyjsciach.kanalów czasowych K przebiegi dodaje sie logicznie z odpowiednimi przebiegami wyjsciowymi analizatora A i otrzymuje sie przebiegi poziomów ujemnych i zerowych napiecia przedstawione na fig. 2/Wxs! i fig. 2/Wxs2, gdzie poziom ujemny napiecia oznacza wystepowanie impulsów o czasach narastania mieszczacych sie w odpowiednim przedziale S czasów narastania i o czestotliwosci mieszczacej sie w przedziale czestotliwosci 1 lub 2 odpowiednio. Przebieg Wxs2 z fig. 2/Wxs2 przedstawia sume logiczna przebiegów Wxsi i Wxs2 z fig.,2/Wxs1 i fig. 2/Wxs2. Przebieg Wxs2 jest jednym z przebiegów wyjsciowych Wy 1 analizatora czasów narastania i opadania impulsów.97 778 3 PLThe subject of the invention is a system for analyzing the rise and / or fall times of pulses belonging to the field of technique of measuring pulse characteristics. State of the art. The known system for analyzing the pulse waveforms according to their rise and fall times includes circuits for signaling the start and end of the rise and / or fall of each pulse and digital circuits for measuring the time between these pulses, and also circuits that measure the rise and / or fall time of each pulse To measure the time between two pulses, a pulse generator with an appropriately selected frequency is used and a pulse counter connected to it by the "i" system with an appropriate range. The "i" circuit is opened by the onset signal and closed by a signal the end of the rise or fall of each successive pulse. During each opening of the "i" circuit, pulses from the pulse generator are counted by a counter, and then this result is interpreted by complex arithmetic and logic circuits or by a minicomputer. Interpretations of the result of each subsequent measurement are carried out in a serial manner, which in some cases The essence of the invention consists in the fact that an m-output instantaneous frequency analyzer and an isolating unit are connected to the input terminal, the outputs of which as well as the frequency path analysis outputs are connected by m-units "i" systems with m-processing units. These sets, together with the frequency analyzer, are connected to m-sets of systems "i". The outputs of these sets are connected via m-input circuits "i" and the logic set to the output terminals of the analyzing system. The advantage of the system according to the invention is that it analyzes the rise times and falling pulses in non-periodic pulse waveforms. This system is simple, made of typical subassemblies, which allows for the construction of any measurement structures. The system enables full automation of measurements and control of appropriate processes. Moreover, it is easy to operate and maintain.97 778 Explanation of the figures in the drawing The subject matter of the invention is reproduced schematically in an embodiment example in the drawing, in which fig; 1 shows a block diagram of a circuit analyzing the rise and fall times of pulses in non-periodic impulse waveforms, Fig. 2 and Fig. 3 - waveforms at characteristic points of the system. An embodiment of the invention and its operation. The 3-output instantaneous frequency analyzer A and the isolating unit ZW are connected to the input terminal We. which includes the system that extracts the rise times of N pulses and the system that extracts the falling times of pulses M. The unit that extracts ZW is connected by three sets of systems "i" B, B2 and B3 with three processing units ZSi, ZS2 and ZS3, to which it is also connected via the same sets of circuits "i" B1? B2 and B3, the instantaneous frequency analyzer A, with each output of the frequency analyzer A connected to one set of DS. The outputs of the processing units ZSi ZS2, ZS3 are connected through three system units, 4 "Bx and \ B22, B33 with the" i "ZKi, ZK2, ZK3, ZK4 systems, to which it is also connected via the same" i "Bj 1 systems , B22, B33 instantaneous frequency analyzer A, each output of the frequency analyzer A is connected to one of the 3-input circuits "i" ZKi, ZK2, ZK3, ZK4, while the outputs of these systems "i" ZKt, ZK2, ZK3, ZK4 are connected through the ZL logic with the output terminals of the Wy 1, Wy2 and Wy3 circuit. The circuit analyzing the rise and / or fall times of pulses contains as many ZS processing units as the instantaneous frequency analyzer A has outputs. Each processing unit ZS contains as many time channels , where T = r, s, u, v, composed of systems of underflow-excess selection of the time interval Zt connected in series with the unit for determining the time interval Xt, how many time intervals of the rise and fall of the pulses of the waveform under study are Zones at the input We, the pulse waveform shown in Fig. 2 / We is converted in a set ZW into two sequences of negative rectangular pulses, the first of which, presented in Fig. 2 / Wa ^, consists of pulses lasting as long as the length of the pulse increases * successive pulses input from the lower discrimination level E2 to the upper discrimination level Ej. The pulses Wa ^ of the second series of rectangular pulses last as long as the input pulses from E! The impulse waveform applied to input We is simultaneously processed in the instantaneous frequency analyzer A, dividing the instantaneous frequency range of the tested waveform into m intervals Afj such that Afj = fj - fj.j <fj_i into series of negative voltage levels, where example of the implementation m = 3. The negative voltage level at the j-th output of the instantaneous frequency analyzer appears when the instantaneous frequency of the tested waveform is included in the frequency interval, and lasts as long as the pulses of the tested waveform appear with the instantaneous frequency of in the same frequency range. ". -" Figure 2/1 and Fig. 2/2 show the two waveforms appearing on the two outputs of the analyzer *, the first output corresponding to the frequency range of 33c / s - 50c / s5 and the second - to the frequency range of 20c / s - 33c / s. : The voltage levels 1, 2 and 3 and the negative pulse waveforms Wa ^ and Wa ^ are respectively added according to the connection scheme of Fig. 1 in the terms ^ and "Br, B2 and B3, as shown for example in Fig. 2 / Wsj and Fig. 2 / Ws2, where the waveform from Fig. 2 / Introduction shows the sequence of ujenine square pulses with durations equal to the rise times of the corresponding pulses of the analyzed waveform and with the instantaneous frequency contained in the first frequency interval, while the waveform of Fig. 2 / V / s2 shows a sequence of negative rectangular pulses with duration equal to the rise times of the corresponding pulses of the analyzed waveform and with the instantaneous frequency contained in the second frequency interval. The waveforms obtained according to Fig. 2 / Wsj and Fig. 2 / Ws2 are applied to the inputs of the respective rise time channels Ks, and Ks2 or falling pulses, and then transformed in them into waveforms of negative and zero voltage levels, where the zero voltage level occurs in then, when the rise or fall times of the pulses of the tested waveform with a frequency belonging to the frequency range 1 or 2, corresponding to the ranges Sx and S2, the waveforms obtained at the outputs of the K time channels are added logically to the corresponding outputs of the analyzer A and obtained waveforms of negative and zero voltage levels shown in Fig. 2 / Wxs! and Fig. 2 / Wxs2, where the negative voltage level means the presence of pulses with rise times in the respective range S of rise times and with a frequency in the frequency range 1 or 2, respectively. The waveform of Wxs2 of Fig. 2 / Wxs2 represents the logical sum of the courses of Wxs1 and Wxs2 of Figs. 2 / Wxs1 and Fig. 2 / Wxs2. The Wxs2 waveform is one of the output waveforms of Wy 1 from the pulse rise and fall time analyzer. 97 778 3 EN

Claims (3)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad analizujacy czasy narastania i/lub opadania impulsów, znamienny ty m, ze do zacisku wejscio¬ wego (We) podlaczony jest m-wyjsciowy analizator czestotliwosci chwilowej (A) oraz zespól wyodrebniajacy (ZW), który jest polaczony wraz z m-wyjsciami analizatora (A) poprzez m-zespolów ukladów „i" (B| ... B3) z nvzespolami przetwarzania (ZSi ... ZS3), których wyjscia sa wraz z m-wyjsciami analizatora (A) polaczone poprzez uklady „i" (ZK! ... ZK4) i zespól logiczny (ZL) z zaciskami wyjsciowymi (Wy! ... Wy3) ukladu analizu¬ jacego. - :97 778 Wt E WaN 1 2 Ws, Ws2 lr_n: "./!_"_ ¦"TT f\ K.:/l_A\ u u u U l_l U L_l U ' 1 1 1 J r u —a LJ U 1 1 U rr - FI6.1. Patent claim A system analyzing the rise and / or fall times of pulses, characterized by the fact that an m-output instantaneous frequency analyzer (A) is connected to the input terminal (We) and an isolating unit (ZW) which is connected to m-outputs of the analyzer (A) through m-units of systems "i" (B | ... B3) with nv processing units (ZSi ... ZS3), the outputs of which are connected with m-outputs of the analyzer (A) through the circuits " and "(ZK! ... ZK4) and the logic unit (ZL) with the output terminals (Wy! ... Wy3) of the analyzing system. -: 97 778 Tue E WaN 1 2 Ws, Ws2 lr_n: "./!_"_ ¦" TT f \ K.: / L_A \ uuu U l_l U L_l U '1 1 1 J ru —a LJ U 1 1 U rr - FI6. 2. FIG.2. FIG. 3. Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 4b zl PL3. Work. Typographer. UP PRL circulation 120 + 18 Price PLN 4 PL
PL18618375A 1975-12-31 1975-12-31 SYSTEM ANALYZING THE RISE AND / OR FALLING TIMES PL97778B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18618375A PL97778B1 (en) 1975-12-31 1975-12-31 SYSTEM ANALYZING THE RISE AND / OR FALLING TIMES

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18618375A PL97778B1 (en) 1975-12-31 1975-12-31 SYSTEM ANALYZING THE RISE AND / OR FALLING TIMES

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL97778B1 PL97778B1 (en) 1978-03-30
PL97778B2 true PL97778B2 (en) 1978-03-31

Family

ID=19975091

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL18618375A PL97778B1 (en) 1975-12-31 1975-12-31 SYSTEM ANALYZING THE RISE AND / OR FALLING TIMES

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL97778B1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL97778B2 (en)
US4127823A (en) Programmable controller
SU1223156A1 (en) Statistical analyser of electric energy parameter quality
SU640323A1 (en) Amplitude analyzer
SU951203A1 (en) Electronic device dynamic parameter meter
SU148119A1 (en) Method of multichannel amplitude analysis
SU1385105A1 (en) Device for signature check of wire connections
SU506944A1 (en) Electronic switch
SU1739967A1 (en) Electrocardiosignal qrs complex selector
SU864538A1 (en) Device for tolerance checking
SU886248A2 (en) Repetetion rate scaler
SU809066A1 (en) Programmable control device
SU428745A1 (en) REFLEXOMVTR
SU773567A1 (en) Time interval digital analyzer
SU970281A1 (en) Logic probe
SU620982A1 (en) Arrangement for simulating random multi-variable functions
SU1695886A1 (en) Device for psychologic studies of operatorъs activity
SU1018103A1 (en) Pulse time parameter digital meter
SU1049832A1 (en) Device for digital analysis of one-shot electric signal
SU752234A1 (en) Device for automatic monitoring of diversification of relay contact switching
SU401925A1 (en) DEVICE FOR SWITCHING RANGE SCORDS
SU647695A1 (en) Integrated microcircuit dynamic parameter checking device
SU708303A1 (en) Programme-control device
SU930637A1 (en) Device for forming time interval, equal to input signal period
SU463100A1 (en) Device for setting the program