RS62965B1 - Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje za ispitni sto - Google Patents

Description

Pronalazak se odnosi na uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje za ispitni sto za testiranje kablovskih snopova ili kablovskih sekcija, kao i na takav ispitni sto i postupak za otkrivanje ili lociranje greške potencijala, npr. kratkog spoja.

Kablovski snopovi i kablovske sekcije vozila se obično pre ugradnje u vozilo proveravaju na ispitnom stolu u pogledu provodnosti, ispravnosti kontakata i po potrebi na pravilno mehaničko fiksiranje.

Na ispitnom stolu može biti predviđeno npr. do 16.384 tačaka za testiranje, od kojih svaka može biti povezane sa po jednim kontaktom utikača. Za tu svrhu su u ispitnom stolu predviđene na primer 64 kartice sa tačkama za testiranje, od kojih svaka ima po 128 tačaka za testiranje, npr. u jednom modulu (adapteru) sa jednim ili nekoliko kontakata.

Kontrola više kartica sa tačkama za testiranje se vrši centralnim upravljačkim uređajem ispitnog stola, na primer PC računarom (Personal Computer), pri čemu je predviđena veza putem sabirnice podataka između centralnog upravljačkog uređaja i pojedinačnih kartica sa tačkama za testiranje. Na PC računaru je obično predviđen uređaj za testiranje sa odgovarajućom mernom tehnikom; upravljački uređaj (PC) i uređaj za testiranje na taj način formiraju centralni upravljački uređaj i uređaj za evaluaciju. Dovod naponskih i strujnih vrednosti do pojedinačnih tačaka za testiranje vrši se preko modula za naponsko napajanje koji napaja pojedinačne kartice sa tačkama za testiranje.

Kvarovi, odn. greške potencijala mogu postojati već u pojedinačnim karticama sa tačkama za testiranje, naročito prilikom uspostavljanja kontakta tačaka za testiranje u adapterima, odn. priključivanju voda na adapter radi formiranja tačaka za testiranje. Često se kvarovi takve vrste ne mogu direktno locirati, tako da se ne može direktno prepoznati koje su tačke za testiranje, odn. koja je kartica sa tačkama za testiranje izazvala grešku potencijala. Pored toga, greške potencijala, kao što je npr. kratak spoj, se mogu javiti nakon umetanja utikača u adapter i merenja provodnosti kablovske sekcije i međusobne izolacije.

Stoga korisnik kod postojanja takvih kvarova, koji nisu direktno prepoznatljivi, prvo ručno jedan za drugim izvlači kablove za strujno napajanje iz priključaka za strujno i naponsko napajanje sa pojedinačnih tačaka za testiranje i pri tome proverava da li greška potencijala i dalje postoji.

Međutim, takav postupak otkrivanja grešaka je veoma kompleksan kada se radi o velikom broju tačaka za testiranje. Takođe se pokazalo da priključivanje i uklanjanje samog utikača može dovesti do opterećenja na kontaktima utikača.

Patent DE 19500113 A1 opisuje adapter za testiranje kablova za kablovske snopove koji je dizajniran za postavljanje ne površinu stola za polaganje kablova koja je podeljena u matricu. Pri tome je adapter opremljen poluprovodničkom memorijom u kojoj se čuvaju podaci o odgovarajućem adapteru. Time se izbegava ožičenje i dodela pojedinačnih adaptera, pri čemu se određivanje mesta postavljanja u matrici stola za polaganje kablova i odgovarajućeg tipa adaptera vrši putem upravljačkog programa. Na osnovu daljeg unapređenja, adapter ima elektronski uređaj za blokadu, koji blokira jedan ili više priključnih vodova adaptera kada se adapter istroši, na šta se može računati kada dođe do prekoračenja unapred definisanog maksimalnog broja ciklusa priključivanja.

Patent DE 8713 233 U1 opisuje uređaj za sastavljanje i proveru kablovskih snopova od pojedinačnih kablova ili parcijalnih svežnjeva čiji su krajevi povezani sa po jednim utikačem. Pri tome uređaj ima nosač za nekoliko ispitnih glava, od kojih svaka ima utičnicu sa najmanje jednim kontaktnim pinom koji je namenjen za kontakt sa kontaktnim elementom utikača i držač za privremeno držanje utikača u utičnici.

Patent DE 4436 354 A1 opisuje uređaj za istovremeno testiranje većeg broja električnih ili elektronskih delova, posebno za testiranje kablovskih snopova korišćenjem adapterskih modula. Pri tome je oprema koja se ispituje dodeljena odgovarajućem prihvatu opreme koja se ispituje, koji je posebno dizajniran za opremu koja se ispituje, naročito u obliku ispitnog polja.

Patent DE 29920 514 U1 opisuje uređaj za ispitivanje kablova koji su opremljeni utikačima, sa velikim brojem adaptera, od kojih je svaki opremljen utičnicom koja je dodeljena određenom utikaču, mernom tehnikom, računarom za evaluaciju podataka dobijenih korišćenjem merne tehnike, memorijom za čuvanje specifičnih podataka za konektor ili adapter, kao i PC računarom.

Patent WO 01/79871 A1 opisuje postupak i uređaj za testiranje kablovskih snopova upotrebom programabilnog upravljačkog računara, ispitnog stola i ispitnih modula koji se mogu povezati sa utičnim konektorima kablovskog snopa koji su opremljeni odgovarajućim prihvatnim konturama sa poljem za uspostavljanje kontakta. Ovde su električne i pneumatske funkcije, koje su potrebne za rad ispitnih modula, za svaki ispitni modul realizovane pomoću decentralizovane, inteligentne upravljačke jedinice modula koja je povezana sa odgovarajućim ispitnim modulom i upravljačkim računarom, kao i sa pneumatskim dovodnim vodom.

Patent EP 0860 703 A2 opisuje uređaj za testiranje koji se sastoji od člana za prihvat utikača i polja za ispitivanje, pri čemu se oni mogu podešavati između povezanog stanja u kome je polje za ispitivanje priključeno, i odvojenog stanja, u kome je polje za ispitivanje odvojeno, odn. ne zahvata kućište utikača. Pri tome je za podešavanje predviđen pogonski mehanizam, kojim se upravlja upravljačkim mehanizmom.

Pronalazak se zasniva na zadatku izrade uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje, ispitnog stola sa više takvih uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje i postupka za detektovanje kvara i/ili greške potencijala, koji će na relativno jednostavan način omogućiti sigurno detektovanje kvarova i/ili grešaka potencijala.

Ovaj zadatak se rešava pomoću uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje prema patentnom zahtevu 1, ispitnog stola sa takvim uređajem sa karticama sa tačkama za testiranje kao i postupkom za utvrđivanje kvara i/ili greške potencijala prema nezavisnim zahtevima. Sekundarni zahtevi opisuju poželjna dodatna unapređenja.

Postupak se u skladu sa pronalaskom može realizovati upotrebom uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje koji je u skladu sa pronalaskom i ispitnog stola u skladu sa pronalaskom. Ispitni sto u skladu sa pronalaskom je posebno predviđen za realizaciju postupka u skladu sa pronalaskom.

U skladu sa pronalaskom, ispred pojedinačnih kartica sa tačkama za testiranje se mora priključiti uređaj za prekid strujnog napajanja za prekid strujnog napajanja modula, kojim se pomoću tačke za testiranje na kartici sa tačkama za testiranje, tj. upravljačke tačke za testiranje može upravljati sa same kartice sa tačkama za testiranje.

Uređaj za prekid strujnog napajanja je predviđen naročito za potpuno galvansko odvajanje ne samo najmanje jednog naponskog voda, već i voda mase. Poželjno je da uređaj za prekid strujnog napajanja bude projektovan kao uređaj sa relejima, na primer kao elektronska ploča sa relejom, koja prilikom kontrole preko upravljačke tačke za testiranje na kartici sa tačkama za testiranje galvanski prekida napajanje naponom i strujom.

Na taj način je u skladu sa pronalaskom omogućen automatski prekid napajanja samom karticom sa tačkama za testiranje, bez potrebe dodatnog upravljačkog izlaza kartice sa tačkama za testiranje koji bi bio potreban za tu svrhu. Na taj način se rutina za ispitivanje, odn. postupak za dijagnostiku može pokrenuti sa centralnog upravljačkog uređaja ispitnog stola, tako što centralni upravljački uređaj preko sabirnice za prenos podataka sukcesivno emituje signale zahteva za isključivanje jednom delu kartica sa tačkama za testiranje, tako da adresirane kartice sa tačkama za testiranje samostalno prekidaju strujno i naponsko napajanje svojih modula. Međutim, pri tome je poželjno da se ne prekida strujno i naponsko napajanje tačaka za testiranje, nego samo napajanje modula.

Na taj način se sukcesivnim koracima ispitivanja može proveriti da li greška potencijala i dalje postoji, tako da se u nekoliko sukcesivnih koraka ispitivanja može odrediti greška potencijala kartice sa tačkama za testiranje; kvar naročito može biti kvar u priključenom modulu ove kartice sa tačkama za testiranje.

Time ručno isključivanje kablova za strujno napajanje kartica sa tačkama za ispitivanje više nije potrebno. Rutina za ispitivanje se može automatski pokrenuti. U slučaju da centralni upravljački uređaj ispitnog stola detektuje grešku potencijala, on prvo može da pošalje signal korisniku da postoji greška potencijala, a nakon potvrde ili unosa od strane korisnika, može automatski da pokrene rutinu ispitivanja i locira, odn. odredi grešku potencijala.

Shodno tome, nije potrebno dodatno formiranje izlaza podataka ili upravljačkog izlaza na kartici sa tačkama za testiranje, tako da nije potrebno vršiti bilo kakve izmene hardvera postojećih kartica sa tačkama za testiranje.

Uređaji za prekid strujnog napajanja mogu na primer biti realizovani kao elektronska ploča sa relejom relativno malih dimenzija, tako da postavljanje u ispitni sto ili ispod njega u principu nije problematično.

Pronalazak se stoga može i naknadno ugraditi u postojeće kartice sa tačkama za testiranje i ispitne stolove povezivanjem uređaja za prekid strujnog napajanja ispred priključaka za strujno i naponsko napajanje pojedinačnih kartica sa tačkama za testiranje i povezivanjem na upravljački vod koji je predviđen na uređaju za prekid strujnog napajanja, na jednu od slobodnih tačaka za testiranje na kartici sa tačkama za testiranje.

Pri tome se u skladu sa pronalaskom takođe posebno može prepoznati da standardizovane kartice sa tačkama za testiranje imaju veliki broj tačaka za testiranje, koje uglavnom nisu u potpunosti iskorišćene modulima, odn. adapterima koji se postavljaju. Stoga je za naknadno priključivanje upravljačkog voda dovoljna jedna slobodna tačka za testiranje. Pri tome se bilo koja tačka za testiranje na kartici sa tačkama za testiranje može definisati kao upravljačka tačka za testiranje

Poželjno je da centralni upravljački i evaluacioni uređaj šalje uobičajeni centralni upravljački signal odgovarajućoj kartici sa tačkama za testiranje, kako bi kartica sa tačkama za testiranje mogla tačku za testiranje, koja je postavljena kao upravljačka tačka za testiranje, da poveže na za to predviđeni potencijal, npr. na masu. Shodno tome, nisu neophodni specijalni centralni upravljački signali, već samo jedan centralni upravljački signal koji je predviđen i za testiranje kablovskih sekcija. Kartica sa tačkama za testiranje, odn. upravljački uređaj kartice sa tačkama za testiranje na taj način reaguje na uobičajeni način na centralni upravljački signal tako što tačku za testiranje koja služi kao upravljačka tačka za testiranje postavlja na za to predviđen potencijal za aktiviranje.

Poželjno je da rutina za ispitivanje i dalje bude instalirana u centralnom upravljačkom uređaju. Centralni upravljački uređaj na taj način može preko sabirnice za prenos podataka da upravljačkom uređaju odgovarajuće kartice sa tačkama za testiranje pošalje upravljački signal koji služi kao signal zahteva za isključivanje, nakon čega upravljački uređaj kartice sa tačkama za testiranje na kome je tačka za testiranje definisana kao upravljačka tačka za testiranje izdaje naponski signal za aktiviranje koji se preko priključenog upravljačkog voda šalje kao signal za prekid ispred priključenog uređaja za prekid strujnog napajanja, tako da se prekida strujno i naponsko napajanje svih adaptera tačaka za testiranje. Dodatno angažovanje za programiranje nije toliko veliko, jer se kartice sa tačkama za testiranje i centralni upravljački uređaj pre testiranja novog kablovskog snopa svakako moraju programirati.

Kartica sa tačkama za testiranje, odn. njen upravljački uređaj se ne mora ponovo programirati za realizaciju pronalaska; upravljački uređaj u kartici sa tačkama za testiranje, u skladu sa upravljačkim signalom (signal zahteva za isključivanje) koji šalje centralni upravljački uređaj, samo isporučuje za to predviđenoj tački za testiranje, tj. upravljačkoj tački za testiranje, onu vrednost napona, npr. masu (kontrola mase) koju zahteva centralni upravljački uređaj.

Prednost toga je što se na taj način naponska napajanja svih adaptera jedne kartice sa tačkama za testiranje mogu isključiti, pri čemu tačke za testiranje i upravljački uređaj kartice sa tačkama za testiranje ostaju pod naponom. Na taj način se takođe i signal za prekid sa upravljačkog uređaja kartice sa tačkama za testiranje ponovo isključuje preko tačke za testiranje.

Poželjno je da se centralni upravljački uređaj poduči da prima podatke o odgovarajućim upravljačkim tačkama za testiranje pojedinačnih kartica sa tačkama za testiranje. To se može obaviti programiranjem; pored toga se npr. u režimu podučavanja upravljačkih tačaka za testiranje svaka tačka za testiranje postavlja na potencijal mase i/ili se uspostavlja kontakt sa uređajem za prekid strujnog napajanja, kako bi se centralni upravljački uređaj tome podučio; u skladu sa tim ovi podaci za podučavanje se mogu evidentirati karticama sa tačkama za testiranje i poslati centralnom upravljačkom uređaju.

Za lociranje neispravne kartice sa tačkama za testiranje moguće su različite rutine: kartice sa tačkama za testiranje se mogu linearno isključivati, na primer prvo poslednja, zatim pretposlednja itd, pri čemu se nakon isključivanja jedne kartice sa tačkama za testiranje proverava da li i dalje postoji greška potencijala.

U slučaju velikog broja kartica sa tačkama za testiranje one se mogu isključivati po blokovima, npr. pet kartica sa tačkama za testiranje je uključeno kao jedan blok. Shodno tome isključuje se po jedan blok; ukoliko se tokom provere u sledećem koraku utvrdi da greška potencijala više ne postoji, onda se u tom bloku kartice sa tačkama za testiranje ponovo pojedinačno uključuju i na primer, linearno isključuju kako bi se utvrdilo na kojoj kartici sa tačkama za testiranje postoji greška potencijala.

Osim toga, veliki broj kartica sa tačkama za testiranje se može utvrditi sukcesivnom aproksimacijom, odn. podelom, tako što se na primer formiraju dve iste ili slične polovine, od kojih se jedna isključuje signalom zahteva za isključivanje, i u slučaju da više nema greške potencijala, isključena polovina se nakon toga ispituje deljanjem polovine, a u suprotnom slučaju, ukoliko greška i dalje postoji, isključena polovina se u nastavku deli na polovine, sve dok se u nekoliko koraka ne proveri čak i veliki broj kartica sa tačkama za testiranje i na taj način omogući lociranje, odn. određivanje greške.

U skladu sa nastavkom realizacije pronalaska, korisnik takođe može i selektivno da isključuje kartice sa tačkama za testiranje, tako što ručnim unosom signala za izbor određuje jednu ili više kartica sa tačkama za testiranje; u tom slučaju centralni upravljački uređaj u nastavku izdaje signal zahteva za isključivanje samo jedne ili više odabranih kartica sa tačkama za testiranje. Na taj način se takvim postupkom omogućava npr. pri detektovanju eventualno problematične kartice sa tačkama za testiranje ili npr. kod utikača koji deluje labavo, da se te kartice sa tačkama za testiranje ciljano isključe, kao se ne bi pokretala cela rutina.

Pronalazak će u nastavku biti objašnjen na osnovu crteža jednog od načina realizacije. Crteži prikazuju:

Sl. 1 uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje u skladu sa načinom realizacije pronalaska;

Sl. 2 šematski prikaz ispitnog stola sa nekoliko uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje;

Sl. 3 dijagram toka postupka u skladu sa načinom realizacije pronalaska;

Sl. 4 šematski prikaz još jednog ispitnog stola u skladu sa načinom realizacije pronalaska sa nekoliko uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje.

Ispitni sto 1 ima nekoliko kartica sa tačkama za ispitivanje 2, koje imaju po jedan upravljački uređaj tačke za testiranje 3 i koje su svojim interfejsom za sabirnicu 13 preko sistema sabirnice 12, npr. prema Daisy-Chain principu, priključene na zajednički, centralni upravljački uređaj 4, na primer na poseban PC računar (personal computer) sa dodatnom mernom tehnikom 7.

Na svakoj od kartica sa tačkama za testiranje 2 je predviđen veliki broj tačaka za testiranje 6, od kojih svaka predstavlja električni kontakt. Ispitni sto 1 može imati, na primer, osam do šesnaest hiljada tačaka za testiranje 6, koje su podeljene, na primer, na šezdeset i četiri kartice sa tačkama za testiranje 2, koje su na primer podeljene na po sto dvadeset osam tačaka za testiranje 6.

Pri tome upravljački uređaji tačaka za testiranje 3, npr. jedan ili više ASIC-a (application specific integrated circuits), obuhvataju npr. po jedan pokretački uređaj tačke za testiranje, kao i uređaj za mernu tehniku, o čemu se ovde neće detaljnije govoriti.

Na karticama sa tačkama za testiranje 2 su postavljeni jedan ili nekoliko modula (adaptera) 8, koji se priključuju na po npr. osam tačaka za testiranje 6 i služe za prihvat utikača 9 na kablovskom snopu 10, npr. za ugradnju u vozilo. Pomoću upravljačkih uređaja tačaka za testiranje 3 se u tu svrhu na nekoliko kartica sa tačkama za testiranje 2 sprovode režimi testiranja ili postupci testiranja kod kojih se na primer testira provodnost različitih kontakata tačaka za testiranje 2, tj. da li su u galvanskom kontaktu preko kablovskog snopa 10.

U tu svrhu se postupci za testiranje generalno vrše sa centralnog upravljačkog uređaja 4 koji kontroliše kartice sa tačkama za testiranje 2, tako da kontrolišu, odn. napajaju svoje odgovarajuće tačke za testiranje 6. Pri tome se svaka tačka za testiranje 6 proverava u odnosu na sve ostale raspoložive tačke za testiranje 6 na ispitnom stolu 1.

Strujno i naponsko napajanje tačaka za testiranje 6 je odvojeno od strujnog i naponskog napajanja modula 8 i drugih uređaja na karticama sa tačkama za testiranje 2. Tako moduli 8 delimično zahtevaju napajanje za svoje mehanizme za podešavanje.

U skladu sa sl.2, a posebno i kod načina realizacije na sl.4, predviđen je centralni uređaj za napajanje 14 (Power Supply Modul), koji ima jedinicu za napajanje adaptera 14a za napajanje adaptera (modula) 8, npr. sa 12 V ili 24 V, i poseban uređaj za napajanje tačaka za testiranje 14b, za napajanje tačaka za testiranje 6, npr. sa 5 V. Zahvaljujući ovim odvojenim uređajima za napajanje (Power Supplies) 14a i 14b osigurano je razdvajanje potencijala napajanja adaptera (modula) 8 i tačaka za testiranje 6.

U skladu sa načinima realizacije na sl.2 i 4, pri tome su mogući različiti dovodi električne energije ili raspodela energije. U skladu sa simboličnim načinom realizacije na sl.2, kartice sa tačkama za testiranje 2 mogu biti direktno raspoređene u sistem sabirnice; detaljniji način realizacije u skladu sa sl.4 prikazuje realizaciju kod koje su razvodni uređaji, ovde glavi ulazno/izlazni uređaj 7a i sekundarni ulazno/izlazni uređaj 7b, povezani preko Daisy-Chain sabirnice 12 sa uređajem za ispitivanje kablova 7 (merna tehnika), pri čemu su izlazno/ulazni uređaji 7a, 7b npr. blokovi kartica sa tačkama za testiranje 2 npr. blokovi sa po pet kartica sa tačkama za testiranje 2 priključeni na Daisy-Chain sabirnicu 12.

Shodno tome, u skladu sa načinom realizacije na sl.4, uređajem za napajanje tačaka za testiranje 14b se prvo napaja merna tehnika, odn. uređaj za

1

testiranje kablova 7, koji je sa centralnim upravljačkim uređajem 4 povezan npr. preko Ethernet sabirnice, pri čemu je uređaj za testiranje 7 sa pojedinačnim karticama sa tačkama za testiranje 2 povezan preko Daisy-Chain magistrale 12.

Uređaj za napajanje adaptera 14a i uređaj za napajanje tačaka za testiranje 14b mogu u skladu sa načinom realizacije na sl.4 biti priključeni preko razvodnog uređaja (Voltage Distribution Board) 19, koji npr. razvodne centre 7a, 7b napaja električnom energijom, npr. sa različitim naponskim nivoima od 24 V, 12 V i 5 V, koji zatim napajaju pojedinačne kartice sa tačkama za testiranje 2 sa njihovim tačkama za testiranje 6.

U napajanju adaptera za pojedinačne kartice sa tačkama za testiranje 2 je za svaku karticu sa tačkama za testiranje 2 predviđen jedan uređaj za prekid strujnog napajanja 16, na primer kao elektronska ploča sa relejom 16. Elektronska ploča sa relejom 16 je npr. u skladu sa sl.1 umetnuta, odn. priključena na strujni kabl 11, tako da razdvaja segmente 11d i 11e strujnog kabla 11. Elektronska ploča sa relejom 16 ima upravljački ulaz 17, na koji je priključen upravljački kabl 18, koji se zatim priključuje na jednu od tačaka za testiranje 6 priključene kartice sa tačkama za testiranje 2. Tačka za testiranje koja je ovde izabrana, nije zauzeta modulom 8, označena je kao upravljačka tačka za testiranje 6a; u principu se svaka tačka za testiranje 6 može izabrati kao upravljačka tačka za testiranje 6a. Shodno tome poželjno je da upravljački vod 18 bude jednopolan i bude priključen na primer kao utični kontakt u, odn. na upravljačku tačku za testiranje 6a. Pri tome upravljački vod 18 može biti već fiksno priključen na elektronsku ploču sa relejom 16.

Pomoću upravljačkog voda 18 svaka kartica sa tačkama za testiranje 2 ima mogućnost da prekine kontrolu svojih modula 8 aktiviranjem elektronske ploče sa relejom 16 sa signalom za prekid S1. Poželjno je da elektronska ploča sa relejom 16 može, kao što je to naznačeno u povećanom odsečku sl.1, ne samo da prekida vodove pod naponom 11a i 11b, već i vod za masu 11c i na taj način omogući potpuno galvansko odvajanje modula 8 kartice sa tačkama za testiranje 2 sa uređaja za napajanje adaptera 14a.

U ovom slučaju, signal prekida S1 je signal normalnog napona koji emituje kartica sa tačkama za testiranje 2 preko njenih tačaka za testiranje 6.

Ovde je prednost kontrola mase, tj. relevantna upravljačka tačka za testiranje 6a se postavlja na masu, tj. signal od 0 V, koji se šalje preko upravljačkog voda 18 na upravljački ulaz 17 elektronske ploče sa relejom 16.

Da bi se isključili moduli 8 kartice sa tačkama za testiranje 2, centralni upravljački uređaj 4 šalje upravljački signal S2, koji se naziva signal zahteva za isključivanje S2. U tu svrhu, centralni upravljački uređaj 4 šalje upravljački signal relevantnom upravljačkom uređaju 3 kartice sa tačkama za testiranje 2 na uobičajen način, tako da ovaj dovodi upravljačku tačku za testiranje 6a na masu.

Dodatno se može predvideti da uređaj za prekidanje 16 emituje izlazni signal S10 drugoj jedinici kako bi ukazao na kvar i isključenje.

U slučaju da se tako otkrije greška potencijala na ispitnom stolu 1, koja se može javiti još tokom projektovanja ispitnog stola 1, na primer kod proširenja ispitnog stola 1, ili takođe tokom naknadnog postupka ispitivanja za ispitivanje kablovskog snopa 10, može se pokrenuti postupak za određivanje greške potencijala shodno pronalasku.

Postupak se, u principu, može automatski pokrenuti; međutim, poželjno je da se signal za prikaz greške S4 (signal smetnje) prvo emituje preko centralnog upravljačkog uređaja 4 i da zatim korisnik započne postupak ili dijagnostičku rutinu sa signalom za aktiviranje S5.

U skladu sa ovim postupkom, kao što je i šematski prikazano na dijagramu toka na slici 3, na kojoj nakon početka u koraku St0

- zatim se u koraku St1 proverava da li postoje takvi kvarovi, kao što su greške potencijala, na primer nepravilno odvajanje različitih potencijala,

- u odsustvu odgovarajuće greške potencijala prema grani n u sledećem koraku St3, postupak se završava slanjem signala za prikaz S3,

- ako postoji odgovarajuća greška potencijala prema grani y, tada se dijagnostička rutina (rutina detekcije) za razgraničenje i lokalizaciju greške potencijala pokreće u koraku St2, u kojem se greška potencijala dodeljuje nekoj od nekoliko kartica sa tačkama za testiranje 2.

U dijagnostičkoj rutini koraka St2, kartice sa tačkama za testiranje 2 se sukcesivno uklanjaju iz napajanja kontrolom njihove elektronske ploče sa relejom 16 i tako se isključuju

pri čemu se postupak ponovo vraća pre koraka St1.

Ako se na taj način u koraku St1 utvrdi da je greška potencijala još uvek prisutna, jedna ili više dodatnih kartica sa tačkama za testiranje 2 se zatim ponovo isključuju, tako da se preostale kartice sa tačkama za testiranje 2 sukcesivno proveravaju.

Na kraju, prema koraku St3, greška je lokalizovana i prikazana preko signala za prikaz S3.

Pri tome se različite rutine mogu koristiti za uzastopno isključivanje kartica sa tačkama za testiranje 2:

prema jednoj varijanti, pojedinačne kartice sa tačkama za testiranje 2 mogu se isključiti jedna po jedna, na primer po redosledu po kome su povezane na sabirnicu podataka ili Daisy-Chain sabirnicu, od poslednje prema prvoj, tj. korišćenjem linearnog isključivanja,

po drugoj varijanti isključivanjem u blokovima, u slučaju sa više, npr. pet kartica sa tačkama za testiranje 2 koje su povezane kao blok, tako da su isključeni pojedinačni blokovi,

ili, kao treća varijanta, deljenjem postojećeg broja kartica sa tačkama za testiranje 2. Tako se, na primer, prva polovina kartica sa tačkama za testiranje 2, na primer u slučaju šezdeset četiri kartice sa tačkama za testiranje radi se o trideset dve kartice sa tačkama za testiranje, može isključiti, a zatim se u koraku St1 može proveriti da li je kvar i dalje prisutan, a zatim se u svakom slučaju polovina koja je izazvala smetnju (dakle ona polovina koja nije isključena u slučaju kvara, inače polovina koja je isključena poslednja ako nije došlo do kvara) aktivira zatvaranjem

1

napajanja preko elektronskih ploča sa relejom 16, dok se druga polovina deaktivira u svakom slučaju, pri čemu se tada u aktiviranoj polovini kartica sa tačkama za testiranje 2 pogođenih smetnjom ponovo bira jedna polovina i isključuje itd.

Ove tri rutine se takođe mogu kombinovati tako da se, na primer nakon prvobitnog isključivanja u blokovima, pet pogođenih kartica sa tačkama za testiranje proveravaju linearno u jednom bloku.

Broj kartica sa tačkama za testiranje 2 se stoga u svakom slučaju može sukcesivno prepoloviti, tako da se greška kod kartice sa tačkama za testiranje može lokalizovati nakon određenog broja koraka.

Nakon toga, pojedinačni moduli 8 se mogu proveriti na greške potencijala.

Usled toga se emituje signal za detekciju greške S3, koji ukazuje na relevantnu karticu sa tačkama za testiranje 2 koja je pogođena smetnjom.

Pod „isključivanjem“ kartice sa tačkama za testiranje 2 ovde se podrazumeva isključivanje modula 8 kartice sa tačkama za testiranje 2, eventualno i drugih uređaja na kartici sa tačkama za testiranje 2 na opisan način. Upravljački uređaj 3 se uglavnom i dalje napaja preko Daisy-Chain sabirnice 12, tj. ima svoje neprekidno napajanje strujom. Dakle, tačke za testiranje 6 i upravljački uređaj 3 kartice sa tačkama za testiranje 2 nastavljaju da se napajaju strujom čak i u slučaju prekida.

Referentna lista

1 Ispitni sto

2 Kartica sa tačkama za testiranje

2a Strujni i naponski priključak

3 Upravljački uređaj tačke za testiranje

4 Centralni upravljački uređaj

5 Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje

6 Tačka za testiranje

6a Upravljačka tačka za testiranje

7 Merna tehnika, npr. uređaj za testiranje kablova

7a Razvodni uređaji

8 Adapter

9 Utikač

10 Kablovski snop

11 Strujni kabl, npr.25-polni trakasti kabl

11a i 11b Naponski vod

11c Vod za masu

11d, 11e Segmenti strujnog kabla

12 Sistem sabirnice, npr. kao Daisy-Chain

13 Interfejs za sabirnicu

14 Centralni uređaj za napajanje tj. uređaj za napajanje strujom (Power Supply Modul)

14a Uređaj za napajanje adaptera

14b Uređaj za napajanje tačaka za testiranje

16 Elektronska ploča sa relejom

17 Upravljački ulaz elektronske ploče sa relejom 16 18 Upravljački kabl, upravljački vod

19 Električni razvodni uređaj (Voltage Distribution Board)

S1 Signal prekida S1

S2 Signal zahteva za isključivanje S2

S3 Signal za prikaz

S4 Signal smetnje

S5 Signal za aktiviranje

S10 Izlazni signal

St0 - St3 Koraci procesa

_____________________

1

Claims (19)

PATENTNI ZAHTEVI

1. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) za ispitni sto (1) za proveru kablovskog snopa (10) ili kablovske sekcije,

pomoću kartice sa tačkama za testiranje (2), koja ima:

- veliki broj tačaka za testiranje (6),

- module (8) za prihvat svakog utikača (9) kablovskog snopa (10) ili kablovske sekcije, pri čemu su u jednom modulu (8) smeštene ili imaju kontakt sa po jednom ili više tačaka za testiranje (6),

- strujni i naponski priključak (2a) za priključivanje strujnog kabla (11) sa najmanje jednim vodom za naponsko napajanje (11a, 11b) i jedan vod za masu (11c) za napajanje modula (8) električnom energijom,

pri čemu je predviđen uređaj za prekid strujnog napajanja (16) kojim se sa modula (8) može odvojiti najmanje jedan vod za naponsko napajanje (11a, 11b) i vod za masu (11c),

naznačen time što

- kartica sa tačkama za testiranje (2) ima upravljački uređaj kartice sa tačkama za testiranje (3) za kontrolu pojedinačnih tačaka za testiranje (6) i komunikaciju podataka sa centralnim upravljačkim uređajem (4) ispitnog stola (1),

- uređaj za prekid strujnog napajanja (16) ima upravljački ulaz (17) za odvajanje vodova (11a, 11b, 11c) na prijemu signala prekida (S1),

- između tačke za testiranje koja služi kao upravljačka tačka za testiranje (6a) i upravljačkog ulaza (17) povezan je upravljački vod (18), gde se svaka tačka za testiranje (6) može kontaktirati kao upravljačka tačka za testiranje (6a) preko upravljačkog voda (18) i

- upravljački uređaj tačke za testiranje (3) je projektovan tako da kada se primi eksterni signal zahteva za isključivanje (S2) šalje signal prekida (S1) preko upravljačke tačke za testiranje (6a) i upravljačkog voda (18) na upravljački ulaz (17) uređaja za prekid strujnog napajanja (16).

2. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema patentnom zahtevu 1 naznačen time što je uređaj za prekid strujnog napajanja (16) povezan ispred priključaka za struju i napon (2a).

3. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema patentnom zahtevu 2 naznačen time što je uređaj za prekid strujnog napajanja (16) između dva segmenta strujnog kabla (11d, 11e) jednog strujnog kabla (11) povezan sa naponskim vodom (11a, 11b) i vodom mase (11c), gde je drugi segment strujnog kabla (11e) povezan između uređaja za prekid strujnog napajanja (16) i priključaka za struju i napon (2a).

4. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema patentnom zahtevu 2 ili 3 naznačen time što kartica sa tačkama za testiranje (2) ima nosač kola, na primer elektronsku ploču (15) na kojoj su postavljeni upravljački uređaj kartice sa tačkama za testiranje (3), priključak za sabirnicu podataka i priključci za struju i napon (2a),

gde je uređaj za prekid strujnog napajanja postavljen van ovog nosača kola (15) na poseban nosač kola (16).

5. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema prethodnom patentnom zahtevu naznačen time što je uređaj za prekid strujnog napajanja (16) izveden kao uređaj sa relejima, na primer kao elektronska ploča sa relejom, za galvansko odvajanje vodova (11a, 11b, 11c) radi potpunog odvajanja potencijala.

6. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema jednom od prethodnih patentnih zahteva, naznačen time što napajanje strujom tačaka za testiranje (6) ne može biti prekinuto uređajem za prekid strujnog napajanja (16) i da upravljački uređaj kartice sa tačkama za testiranje (3) nastavlja da se napaja strujom čak i ako je napajanje modula (8) prekinuto uređajem za prekid strujnog napajanja (16).

7. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema jednom od prethodnih patentnih zahteva, naznačen time što je signal prekida (S1) strujni ili naponski signal koji odgovara opterećenju modula (8) vrednostima struje ili

1

vrednostima napona, a poželjno naponski signal sa konstantnim naponom, npr. masa (0 V).

8. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema jednom od prethodnih patentnih zahteva, naznačen time što kartica sa tačkama za testiranje (2) takođe ima interfejs (13), posebno interfejs sabirnice (13) za sabirnicu podataka (12), za komunikaciju između upravljačkog uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje (3) i centralnog upravljačkog uređaja (4) ispitnog stola (1),

gde se signal zahteva za isključivanje (S2) sa centralnog upravljačkog uređaja (4) može primiti preko interfejsa (13), koji nalaže upravljačkom uređaju kartice sa tačkama za testiranje (3) da primeni potencijal na upravljačku tačku za testiranje (6a) ili da je stavi pod napon, i

napajanje interfejsa (13) i upravljačkog uređaja kartice sa tačkama za testiranje (3) ne može biti prekinuto uređajem za prekid strujnog napajanja (16), a poželjno sa napajanjem upravljačkog uređaja kartice sa tačkama za testiranje (3) preko interfejsa (13).

9. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema jednom od prethodnih patentnih zahteva, naznačen time što su moduli (8) adapteri (8) za prihvat utikača (9) kablovskog snopa (10), poželjno na način koji se uklapa u formu.

10. Uređaj sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema jednom od prethodnih patentnih zahteva, naznačen time što uređaj za prekid strujnog napajanja (16) dodatno šalje izlazni signal (S10) sledećem uređaju.

11. Ispitni sto (1) za ispitivanje kablovskog snopa (10) ili kablovske sekcije, gde ispitni sto (1) poseduje:

centralnu upravljačku jedinicu (4), na primer PC,

više uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje (5) prema jednom od prethodnih patentnih zahteva,

sabirnicu podataka (12) koja je preko kartica sa tačkama za testiranje (2) u svakom slučaju povezana sa centralnim upravljačkim uređajem (4),

1

pri čemu svaka kartica sa tačkama za testiranje (2) može biti projektovana tako da automatski isključuje napajanje svojih modula (8) kada je upravljački vod (18) povezan sa jednom od njihovih tačaka za testiranje (6),

pri čemu je centralni upravljački uređaj (4) projektovan da šalje signale zahteva za isključivanje (S1) na pojedinačne kartice sa tačkama za testiranje (2) preko sabirnice podataka (12),

pri čemu je rutina ispitivanja sačuvana unutar ili van centralnog upravljačkog uređaja (4) i ako se aktivira, centralni upravljački uređaj (4) može sukcesivno da emituje signale zahteva za isključivanje (S1) za uzastopno isključivanje kartica sa tačkama za testiranje (2) u okviru lociranja greške potencijala na jednoj ili više pojedinačnih kartica sa tačkama za testiranje (2).

12. Ispitni sto (1) prema patentnom zahtevu 11, naznačen time što su strujni kablovi (11) za napajanje modula (8) pojedinačnih uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje (5) povezani na centralni uređaj za strujno napajanje adaptera (14a) i što su tačke za testiranje (6) na kartici sa tačkama za testiranje (2) povezane na zajedničko napajanje za tačke za testiranje (14b), na primer u konfiguraciji zvezde ili lanca.

13. Ispitni sto (1) prema patentnom zahtevu 11 ili 12, naznačen time što je rutina ispitivanja sačuvana u internoj ili eksternoj memoriji centralnog kontrolnog uređaja (4) za uzastopno isključivanje uređaja sa višestrukim tačkama za testiranje (5) slanjem signala zahteva za isključivanje (S2) u slučaju otkrivanja greške potencijala i/ili prijema signala za aktiviranje (S5).

14. Ispitni sto (1) prema patentnim zahtevima 11 do 13, naznačen time što je u internoj ili eksternoj memoriji centralnog upravljačkog uređaja (4) sačuvano koja tačka za testiranje na pojedinačnim karticama sa tačkama za testiranje (2) čini upravljačku tačku za testiranje (6a), na primer u obliku broja ili adrese upravljačke tačke za testiranje (6a).

15. Postupak za detekciju neispravnih kartica sa tačkama za testiranje (2) ispitnog stola (1) prema jednom od patentnih zahteva 11 do 14 najmanje sa sledećim koracima:

1

sukcesivno slanje signala zahteva za isključivanje (S1) sa centralnog upravljačkog uređaja (4) upravljačkom uređaju tačke za testiranje (3) na pojedinačnim karticama sa tačkama za testiranje (2),

u slučaju prijema signala zahteva za isključivanje (S1) preko upravljačkog uređaja sa karticama sa tačkama za testiranje (3), slanje naponskog signala kao signala prekida (S2) preko tačke za testiranje (6) i upravljačkog voda (18) uređaju za prekid strujnog napajanja (16) radi odvajanja potencijala i/ili galvanskog odvajanja vodova (11a, 11b, 11c) za napajanje modula (8),

lokalizacija sukcesivnim isključivanjem pojedinačnih kartica sa tačkama za testiranje (2) dok se ne detektuje najmanje jedna kartica sa tačkama za testiranje (2) sa greškom potencijala.

16. Postupak prema patentnom zahtevu 15, naznačen time što ima najmanje sledeće korake:

proveru postojanja kvara, posebno greške potencijala, npr. da li postoji kratak spoj (St1),

slanje signala zahteva za isključivanje (S2) delu kartica sa tačkama za testiranje (2) (St2),

nakon prijema signala zahteva za isključivanje (S2) preko upravljačkog uređaja kartica sa tačkama za testiranje (3) neke kartice sa tačkama za testiranje (2), signal prekida (S1) šalje se na prethodno povezani uređaj za prekid strujnog napajanja (16) radi galvanskog odvajanja naponskih vodova (11a, 11b) i jednog voda mase (11c) prema modulu (8) kartice sa tačkama za testiranje (2),

sukcesivno ponavljanje koraka provere postojanja kvara i/ili greške potencijala i slanje signala zahteva za isključivanje (S2) radi lociranja ili identifikacije neispravne kartice sa tačkama za testiranje (2).

17. Postupak prema patentnom zahtevu 15 ili 16, naznačen time što se više kartica sa tačkama za testiranje (2) sukcesivno kontroliše sledećim postupkom preko signala zahteva za isključivanje (S2):

2

- kontrola više kartica sa tačkama za testiranje (2) po blokovima radi detekcije neispravnog bloka, sa daljom identifikacijom neispravne kartice sa tačkama za testiranje (2) u bloku,

- serijska kontrola putem slanja signala zahteva za isključivanje pojedinačnoj kartici sa tačkama za testiranje (2),

- sukcesivna podela kartica sa tačkama za testiranje (2) na dve polovine jednake ili različite veličine i slanje signala zahteva za isključivanje (S2) adresirane polovine,

zatim se vrši dalja provera da li je isključivanje adresirane polovine kartica sa tačkama za testiranje (2) kvar i/ili greška potencijala,

u slučaju da kvar i dalje postoji, vrši se dalja podela neadresirane polovine kartica sa tačkama za testiranje (2) formiranjem novih polovina,

u slučaju da kvar i/ili greška potencijala ne postoji, naknadno isključivanje prethodno neadresirane polovine i podela prethodno adresirane, isključene polovine na dve polovine.

18. Postupak prema jednom od patentnih zahteva 15 do 17

naznačen time što

ako se detektuje greška potencijala, prvo se šalje signal smetnje (S4),

a kada se primi signal aktiviranja (S5) za dijagnostiku kvarova, pokrenuće se dijagnostička rutina postupka prema jednom od patentnih zahteva 15 do 17 za automatsku lokalizaciju neispravne kartice sa tačkama za testiranje (2).

19. Postupak prema patentnom zahtevu 18, naznačen time da kada se sa centralnog upravljačkog uređaja (4) primi signal za ručni izbor (S5) za izbor jedne ili više kartica sa tačkama za testiranje (2), signal zahteva za isključivanje (S2) se zatim šalje samo jednoj ili više izabranih kartica sa tačkama za testiran je (2).