RU2012116206A - Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром - Google Patents

Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром Download PDF

Info

Publication number
RU2012116206A
RU2012116206A RU2012116206/07A RU2012116206A RU2012116206A RU 2012116206 A RU2012116206 A RU 2012116206A RU 2012116206/07 A RU2012116206/07 A RU 2012116206/07A RU 2012116206 A RU2012116206 A RU 2012116206A RU 2012116206 A RU2012116206 A RU 2012116206A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
plane
charged particles
energy filter
toroidal
energy
Prior art date
Application number
RU2012116206/07A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2529463C2 (ru
Inventor
Дитмар ФУННЕМАНН
Original Assignee
Дитмар ФУННЕМАНН
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Дитмар ФУННЕМАНН filed Critical Дитмар ФУННЕМАНН
Publication of RU2012116206A publication Critical patent/RU2012116206A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2529463C2 publication Critical patent/RU2529463C2/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/05Electron or ion-optical arrangements for separating electrons or ions according to their energy or mass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/252Tubes for spot-analysing by electron or ion beams; Microanalysers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/05Arrangements for energy or mass analysis
    • H01J2237/053Arrangements for energy or mass analysis electrostatic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/05Arrangements for energy or mass analysis
    • H01J2237/053Arrangements for energy or mass analysis electrostatic
    • H01J2237/0535Mirror analyser
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/244Detection characterized by the detecting means
    • H01J2237/24485Energy spectrometers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

1. Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц с тороидальным энергетическим анализатором, предпочтительно с полусферическим анализатором, с входной плоскостью и выходной плоскостью, отличающийся тем, что для электрически заряженных частиц предусмотрен зеркальный элемент, который расположен так, что заряженные частицы, которые покидают тороидальный энергетический анализатор через выходную плоскость, отражаются зеркальным элементом назад в тороидальный энергетический анализатор, так что заряженные частицы проходят через тороидальный энергетический анализатор еще раз в обратном направлении движения.2. Энергетический фильтр по п.1, отличающийся тем, что между выходной плоскостью и зеркальным элементом расположено устройство с передаточными линзами, при этом устройство с передаточными линзами, предпочтительно, имеет линейное увеличение V=ZB/ZB<0 и, особо предпочтительно, между -0,9 и -1,1, и, лучше всего, -1.3. Энергетический фильтр по п.2, отличающийся тем, что устройство с передаточными линзами имеет по меньшей мере два линзовых элемента для электрически заряженных частиц.4. Энергетический фильтр по п.2, отличающийся тем, что зеркальный элемент является электростатическим зеркалом.5. Энергетический фильтр по п.4, отличающийся тем, что зеркальный элемент и устройство с передаточными линзами взаимно согласованы таким образом, что хроматическая аберрация и/или сферическая аберрация устройства с передаточными линзами за счет зеркального элемента уменьшается, а именно, предпочтительно, по меньшей мере на 30% и, особо предпочтительно, по меньшей мере на 60%.6. Энергетический фильтр по

Claims (15)

1. Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц с тороидальным энергетическим анализатором, предпочтительно с полусферическим анализатором, с входной плоскостью и выходной плоскостью, отличающийся тем, что для электрически заряженных частиц предусмотрен зеркальный элемент, который расположен так, что заряженные частицы, которые покидают тороидальный энергетический анализатор через выходную плоскость, отражаются зеркальным элементом назад в тороидальный энергетический анализатор, так что заряженные частицы проходят через тороидальный энергетический анализатор еще раз в обратном направлении движения.
2. Энергетический фильтр по п.1, отличающийся тем, что между выходной плоскостью и зеркальным элементом расположено устройство с передаточными линзами, при этом устройство с передаточными линзами, предпочтительно, имеет линейное увеличение VL=ZB2/ZB1<0 и, особо предпочтительно, между -0,9 и -1,1, и, лучше всего, -1.
3. Энергетический фильтр по п.2, отличающийся тем, что устройство с передаточными линзами имеет по меньшей мере два линзовых элемента для электрически заряженных частиц.
4. Энергетический фильтр по п.2, отличающийся тем, что зеркальный элемент является электростатическим зеркалом.
5. Энергетический фильтр по п.4, отличающийся тем, что зеркальный элемент и устройство с передаточными линзами взаимно согласованы таким образом, что хроматическая аберрация и/или сферическая аберрация устройства с передаточными линзами за счет зеркального элемента уменьшается, а именно, предпочтительно, по меньшей мере на 30% и, особо предпочтительно, по меньшей мере на 60%.
6. Энергетический фильтр по одному из пп.1-5, отличающийся тем, что:
- предусмотрено магнитное отклоняющее устройство с входной плоскостью для заряженных частиц, плоскостью энергетического фильтра, и выходной плоскостью для отфильтрованных по энергии частиц, которое расположено так, что заряженные частицы, которые попадают на входную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом входа α, который, предпочтительно, меньше 20°, отклоняются магнитным отклоняющим устройством, так что они выходят из плоскости энергетического фильтра магнитного отклоняющего устройства под углом выхода β, который, предпочтительно, меньше 20°, и попадают на входную плоскость тороидального энергетического анализатора под углом входа γ, который, предпочтительно, меньше 20°, и
- заряженные частицы, которые выходят из входной плоскости тороидального анализатора под углом выхода δ, попадают на плоскость энергетического фильтра магнитного отклоняющего устройства под углом входа ε, который, предпочтительно, меньше 20°, отклоняются магнитным отклоняющим устройством, так что они покидают выходную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом выхода ζ, который, предпочтительно, меньше 20°, при этом, предпочтительно, между магнитным отклоняющим устройством и тороидальным анализаторов предусмотрена иммерсионная линза.
7. Спектроскоп для заряженных частиц с энергетическим фильтром по одному из пп.1-5, при этом спектроскоп, предпочтительно, является электронным спектроскопом.
8. Спектроскоп по п.7, отличающийся тем, что для регистрации выходящих из входной плоскости тороидального анализатора заряженных частиц предусмотрен детектор, при этом детектор, предпочтительно, является CCD-детектором и, особо предпочтительно, канальным пластинчатым умножителем с люминесцентным экраном и последовательно подключенным CCD-детектором.
9 Спектроскоп по п.8, отличающийся тем, что предусмотрен энергетический фильтр по п.6, и детектор регистрирует выходящие из выходной плоскости магнитного отклоняющего устройства заряженные частицы.
10. Спектроскоп по п.9, отличающийся тем, что предусмотрен держатель образцов, который расположен так, что излучаемые из расположенного на держателе образцов образца заряженные частицы, при необходимости после прохождения проекционной оптики, попадают на входную плоскость тороидального энергетического анализатора под углом входа γ, который, предпочтительно, меньше 20°, или, если используется энергетический фильтр по п.6, попадают на входную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом входа α, который, предпочтительно, меньше 20°.
11. Спектроскоп по п.10, отличающийся тем, что предусмотрен источник излучения, предпочтительно электронная пушка, для облучения установленного на держателе образцов образца излучением.
12. Спектроскоп по п.11 с энергетическим фильтром по п.6, отличающийся тем, что магнитное отклоняющее устройство имеет входную плоскость для излучения, и источник излучения расположен таким образом, что излучение попадает на входную плоскость для излучения под углом входа η, который, предпочтительно, меньше 10°, и отклоняется магнитным отклоняющим устройством таким образом, что оно выходит из входной плоскости магнитного отклоняющего устройства под углом выхода θ, который, предпочтительно, меньше 10°, и направлено на держатель образцов.
13. Спектроскоп по п.10, отличающийся тем, что дисперсионная плоскость тороидального анализатора расположена по существу перпендикулярно к воображаемой линии, проходящей между держателем образцов и детектором.
14. Спектроскоп по п.7, отличающийся тем, что он является создающим изображение ESCA-электронным микроскопом.
15. Спектроскоп по п.7, отличающийся тем, что:
- предусмотрено магнитное отклоняющее устройство с входной плоскостью для заряженных частиц, плоскостью энергетического фильтра, и выходной плоскостью для отфильтрованных по энергии частиц, которое расположено так, что заряженные частицы, которые попадают на входную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом входа α, который, предпочтительно, меньше 20°, отклоняются магнитным отклоняющим устройством, так что они выходят из плоскости энергетического фильтра магнитного отклоняющего устройства под углом выхода β, который, предпочтительно, меньше 20°, и попадают на входную плоскость тороидального энергетического анализатора под углом входа γ, который, предпочтительно, меньше 20°, и
- заряженные частицы, которые выходят из входной плоскости тороидального анализатора под углом выхода δ, попадают на плоскость энергетического фильтра магнитного отклоняющего устройства под углом входа ε, который, предпочтительно, меньше 20°, отклоняются магнитным отклоняющим устройством, так что они покидают выходную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом выхода ζ, который, предпочтительно, меньше 20°, при этом, предпочтительно, между магнитным отклоняющим устройством и тороидальным анализаторов предусмотрена иммерсионная линза.
RU2012116206/07A 2009-09-24 2010-08-31 Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром RU2529463C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009044989.2 2009-09-24
DE102009044989A DE102009044989A1 (de) 2009-09-24 2009-09-24 Bildgebender Energiefilter für elektrisch geladene Teilchen sowie Spektroskop mit einem solchen
PCT/EP2010/062724 WO2011036038A1 (de) 2009-09-24 2010-08-31 Bildgebender energiefilter für elektrisch geladene teilchen sowie spektroskop mit einem solchen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2012116206A true RU2012116206A (ru) 2013-10-27
RU2529463C2 RU2529463C2 (ru) 2014-09-27

Family

ID=43242814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012116206/07A RU2529463C2 (ru) 2009-09-24 2010-08-31 Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром

Country Status (10)

Country Link
US (1) US8530835B2 (ru)
EP (1) EP2481072B1 (ru)
JP (1) JP5564116B2 (ru)
CN (1) CN102549704B (ru)
DE (1) DE102009044989A1 (ru)
DK (1) DK2481072T3 (ru)
ES (1) ES2464515T3 (ru)
PL (1) PL2481072T3 (ru)
RU (1) RU2529463C2 (ru)
WO (1) WO2011036038A1 (ru)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9697984B2 (en) 2015-10-28 2017-07-04 Thermo Electron Scientific Instruments Llc Charged particle filter
LU92980B1 (en) * 2016-02-19 2017-09-08 Luxembourg Inst Science & Tech List Extraction system for charged secondary particles for use in a mass spectrometer or other charged particle device
WO2019216348A1 (ja) * 2018-05-09 2019-11-14 国立大学法人奈良先端科学技術大学院大学 減速比可変球面収差補正静電レンズ、広角エネルギーアナライザ、及び、二次元電子分光装置
DE102019107327A1 (de) * 2019-03-21 2020-09-24 Specs Surface Nano Analysis Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Elektronentransfer von einer Probe zu einem Energieanalysator und Elektronen-Spektrometervorrichtung
GB201910880D0 (en) * 2019-07-30 2019-09-11 Vg Systems Ltd A spectroscopy and imaging system
WO2021202562A1 (en) * 2020-04-01 2021-10-07 Thermo Electron Scientific Instruments Llc Wide field-of-view charged particle filter
CN112147667A (zh) * 2020-09-11 2020-12-29 兰州空间技术物理研究所 一种用于空间低能离子探测的传感器
DE102020133974B3 (de) 2020-12-17 2022-03-17 SURFACE CONCEPT GmbH Energieanalysator für elektrisch geladene Teilchen

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1352167A (fr) 1962-11-28 1964-02-14 Ct Nat De La Rech Scient Et Cs Nouveau dispositif de microanalyse par émission ionique secondaire
GB1332207A (en) * 1971-05-07 1973-10-03 Ass Elect Ind Apparatus for charged particle spectroscopy
SU1647700A1 (ru) * 1988-08-24 1991-05-07 Объединенный Институт Ядерных Исследований Тороидальный электростатический энергоанализатор зар женных частиц
JPH03155030A (ja) * 1989-11-10 1991-07-03 Jeol Ltd 時間/エネルギー分解型電子分光器
DE4129403A1 (de) * 1991-09-04 1993-03-11 Zeiss Carl Fa Abbildungssystem fuer strahlung geladener teilchen mit spiegelkorrektor
DE4310559A1 (de) * 1993-03-26 1994-09-29 Zeiss Carl Fa Abbildendes Elektronenenergiefilter
DE69402283T2 (de) * 1993-05-21 1997-09-18 Philips Electronics Nv Energiefilter mit Korrektur von chromatischen Aberrationen zweiter ordnung
GB9718012D0 (en) * 1997-08-26 1997-10-29 Vg Systems Ltd A spectrometer and method of spectroscopy
DE10084761T1 (de) * 1999-07-02 2002-07-11 Michael Mauck Verfahren und Gerät zum gleichzeitigen Abscheiden und Beobachten von Materialien auf einem Target
JP4662610B2 (ja) * 2000-06-29 2011-03-30 株式会社アルバック 立体収束質量分離器
US6501076B1 (en) 2000-10-11 2002-12-31 Fei Company Electron analyzer having an integrated low pass filter
DE10252129A1 (de) 2002-11-04 2004-05-27 Omicron Nano Technology Gmbh Energiefilter für elektrisch geladene Teilchen und Verwendung des Energiefilters
US7453062B2 (en) 2006-02-28 2008-11-18 International Business Machines Corporation Energy-filtering cathode lens microscopy instrument
US7348566B2 (en) * 2006-02-28 2008-03-25 International Business Machines Corporation Aberration-correcting cathode lens microscopy instrument
RU2364004C1 (ru) * 2008-03-17 2009-08-10 Вячеслав Данилович Саченко Энергофильтр для корпускулярно-оптической системы формирования и передачи изображения

Also Published As

Publication number Publication date
EP2481072A1 (de) 2012-08-01
ES2464515T3 (es) 2014-06-03
PL2481072T3 (pl) 2015-02-27
US8530835B2 (en) 2013-09-10
RU2529463C2 (ru) 2014-09-27
CN102549704A (zh) 2012-07-04
EP2481072B1 (de) 2014-04-16
JP2013506238A (ja) 2013-02-21
DE102009044989A1 (de) 2011-03-31
JP5564116B2 (ja) 2014-07-30
US20120261571A1 (en) 2012-10-18
CN102549704B (zh) 2015-09-09
WO2011036038A1 (de) 2011-03-31
DK2481072T3 (da) 2014-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2012116206A (ru) Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром
US7294834B2 (en) Scanning electron microscope
CN1967224B (zh) 用于表面分析的光谱仪及表面分析方法
US8416509B2 (en) Optical apparatus
CN216350391U (zh) 一种基于led投影模组的检测照明系统
EP1783816A3 (en) Apparatus for combined laser focusing and spot imaging
CN108169847A (zh) 一种大视场扫描成像光学系统
US9966219B2 (en) Electron energy loss spectrometer
US7732782B2 (en) Corona detection device
US8054462B2 (en) Quantum efficiency enhancement device for array detectors
JP4412138B2 (ja) 発光検出装置
JP5934513B2 (ja) 透過電子顕微鏡
US5506414A (en) Charged-particle analyzer
KR101300735B1 (ko) 광신호의 세기 감소 방지 장치, 이를 구비한 발광분광분석기, 광학기기 및 질량분석기
JP6104756B2 (ja) 電子分光装置
US10627309B1 (en) Micro-distance lens detection device
JP2008107335A (ja) カソードルミネッセンス測定装置及び電子顕微鏡
Watson et al. ASCA and other contemporaneous observations of the blazar B2 1308+ 326
TWI767779B (zh) 檢測和中和電荷裝置與其檢測和中和電荷的方法
Moore et al. The MOMFOS fiber positioner
Fliegel et al. Meteor automatic imager and analyzer: system design and its parameters
Kunz et al. Microscopy and microspectroscopy with soft X-rays
崔东旭 et al. Test and analysis of the halo in low-light-levelimage intensifiers
RU119472U1 (ru) Насадка к телескопу
Vítek et al. Utilization of Image Intensifiers in Astronomy

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20170901