RU2012116206A - Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром - Google Patents
Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром Download PDFInfo
- Publication number
- RU2012116206A RU2012116206A RU2012116206/07A RU2012116206A RU2012116206A RU 2012116206 A RU2012116206 A RU 2012116206A RU 2012116206/07 A RU2012116206/07 A RU 2012116206/07A RU 2012116206 A RU2012116206 A RU 2012116206A RU 2012116206 A RU2012116206 A RU 2012116206A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- plane
- charged particles
- energy filter
- toroidal
- energy
- Prior art date
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract 23
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract 8
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims abstract 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 6
- 238000007654 immersion Methods 0.000 claims 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/05—Electron or ion-optical arrangements for separating electrons or ions according to their energy or mass
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/252—Tubes for spot-analysing by electron or ion beams; Microanalysers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/05—Arrangements for energy or mass analysis
- H01J2237/053—Arrangements for energy or mass analysis electrostatic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/05—Arrangements for energy or mass analysis
- H01J2237/053—Arrangements for energy or mass analysis electrostatic
- H01J2237/0535—Mirror analyser
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/244—Detection characterized by the detecting means
- H01J2237/24485—Energy spectrometers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
1. Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц с тороидальным энергетическим анализатором, предпочтительно с полусферическим анализатором, с входной плоскостью и выходной плоскостью, отличающийся тем, что для электрически заряженных частиц предусмотрен зеркальный элемент, который расположен так, что заряженные частицы, которые покидают тороидальный энергетический анализатор через выходную плоскость, отражаются зеркальным элементом назад в тороидальный энергетический анализатор, так что заряженные частицы проходят через тороидальный энергетический анализатор еще раз в обратном направлении движения.2. Энергетический фильтр по п.1, отличающийся тем, что между выходной плоскостью и зеркальным элементом расположено устройство с передаточными линзами, при этом устройство с передаточными линзами, предпочтительно, имеет линейное увеличение V=ZB/ZB<0 и, особо предпочтительно, между -0,9 и -1,1, и, лучше всего, -1.3. Энергетический фильтр по п.2, отличающийся тем, что устройство с передаточными линзами имеет по меньшей мере два линзовых элемента для электрически заряженных частиц.4. Энергетический фильтр по п.2, отличающийся тем, что зеркальный элемент является электростатическим зеркалом.5. Энергетический фильтр по п.4, отличающийся тем, что зеркальный элемент и устройство с передаточными линзами взаимно согласованы таким образом, что хроматическая аберрация и/или сферическая аберрация устройства с передаточными линзами за счет зеркального элемента уменьшается, а именно, предпочтительно, по меньшей мере на 30% и, особо предпочтительно, по меньшей мере на 60%.6. Энергетический фильтр по
Claims (15)
1. Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц с тороидальным энергетическим анализатором, предпочтительно с полусферическим анализатором, с входной плоскостью и выходной плоскостью, отличающийся тем, что для электрически заряженных частиц предусмотрен зеркальный элемент, который расположен так, что заряженные частицы, которые покидают тороидальный энергетический анализатор через выходную плоскость, отражаются зеркальным элементом назад в тороидальный энергетический анализатор, так что заряженные частицы проходят через тороидальный энергетический анализатор еще раз в обратном направлении движения.
2. Энергетический фильтр по п.1, отличающийся тем, что между выходной плоскостью и зеркальным элементом расположено устройство с передаточными линзами, при этом устройство с передаточными линзами, предпочтительно, имеет линейное увеличение VL=ZB2/ZB1<0 и, особо предпочтительно, между -0,9 и -1,1, и, лучше всего, -1.
3. Энергетический фильтр по п.2, отличающийся тем, что устройство с передаточными линзами имеет по меньшей мере два линзовых элемента для электрически заряженных частиц.
4. Энергетический фильтр по п.2, отличающийся тем, что зеркальный элемент является электростатическим зеркалом.
5. Энергетический фильтр по п.4, отличающийся тем, что зеркальный элемент и устройство с передаточными линзами взаимно согласованы таким образом, что хроматическая аберрация и/или сферическая аберрация устройства с передаточными линзами за счет зеркального элемента уменьшается, а именно, предпочтительно, по меньшей мере на 30% и, особо предпочтительно, по меньшей мере на 60%.
6. Энергетический фильтр по одному из пп.1-5, отличающийся тем, что:
- предусмотрено магнитное отклоняющее устройство с входной плоскостью для заряженных частиц, плоскостью энергетического фильтра, и выходной плоскостью для отфильтрованных по энергии частиц, которое расположено так, что заряженные частицы, которые попадают на входную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом входа α, который, предпочтительно, меньше 20°, отклоняются магнитным отклоняющим устройством, так что они выходят из плоскости энергетического фильтра магнитного отклоняющего устройства под углом выхода β, который, предпочтительно, меньше 20°, и попадают на входную плоскость тороидального энергетического анализатора под углом входа γ, который, предпочтительно, меньше 20°, и
- заряженные частицы, которые выходят из входной плоскости тороидального анализатора под углом выхода δ, попадают на плоскость энергетического фильтра магнитного отклоняющего устройства под углом входа ε, который, предпочтительно, меньше 20°, отклоняются магнитным отклоняющим устройством, так что они покидают выходную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом выхода ζ, который, предпочтительно, меньше 20°, при этом, предпочтительно, между магнитным отклоняющим устройством и тороидальным анализаторов предусмотрена иммерсионная линза.
7. Спектроскоп для заряженных частиц с энергетическим фильтром по одному из пп.1-5, при этом спектроскоп, предпочтительно, является электронным спектроскопом.
8. Спектроскоп по п.7, отличающийся тем, что для регистрации выходящих из входной плоскости тороидального анализатора заряженных частиц предусмотрен детектор, при этом детектор, предпочтительно, является CCD-детектором и, особо предпочтительно, канальным пластинчатым умножителем с люминесцентным экраном и последовательно подключенным CCD-детектором.
9 Спектроскоп по п.8, отличающийся тем, что предусмотрен энергетический фильтр по п.6, и детектор регистрирует выходящие из выходной плоскости магнитного отклоняющего устройства заряженные частицы.
10. Спектроскоп по п.9, отличающийся тем, что предусмотрен держатель образцов, который расположен так, что излучаемые из расположенного на держателе образцов образца заряженные частицы, при необходимости после прохождения проекционной оптики, попадают на входную плоскость тороидального энергетического анализатора под углом входа γ, который, предпочтительно, меньше 20°, или, если используется энергетический фильтр по п.6, попадают на входную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом входа α, который, предпочтительно, меньше 20°.
11. Спектроскоп по п.10, отличающийся тем, что предусмотрен источник излучения, предпочтительно электронная пушка, для облучения установленного на держателе образцов образца излучением.
12. Спектроскоп по п.11 с энергетическим фильтром по п.6, отличающийся тем, что магнитное отклоняющее устройство имеет входную плоскость для излучения, и источник излучения расположен таким образом, что излучение попадает на входную плоскость для излучения под углом входа η, который, предпочтительно, меньше 10°, и отклоняется магнитным отклоняющим устройством таким образом, что оно выходит из входной плоскости магнитного отклоняющего устройства под углом выхода θ, который, предпочтительно, меньше 10°, и направлено на держатель образцов.
13. Спектроскоп по п.10, отличающийся тем, что дисперсионная плоскость тороидального анализатора расположена по существу перпендикулярно к воображаемой линии, проходящей между держателем образцов и детектором.
14. Спектроскоп по п.7, отличающийся тем, что он является создающим изображение ESCA-электронным микроскопом.
15. Спектроскоп по п.7, отличающийся тем, что:
- предусмотрено магнитное отклоняющее устройство с входной плоскостью для заряженных частиц, плоскостью энергетического фильтра, и выходной плоскостью для отфильтрованных по энергии частиц, которое расположено так, что заряженные частицы, которые попадают на входную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом входа α, который, предпочтительно, меньше 20°, отклоняются магнитным отклоняющим устройством, так что они выходят из плоскости энергетического фильтра магнитного отклоняющего устройства под углом выхода β, который, предпочтительно, меньше 20°, и попадают на входную плоскость тороидального энергетического анализатора под углом входа γ, который, предпочтительно, меньше 20°, и
- заряженные частицы, которые выходят из входной плоскости тороидального анализатора под углом выхода δ, попадают на плоскость энергетического фильтра магнитного отклоняющего устройства под углом входа ε, который, предпочтительно, меньше 20°, отклоняются магнитным отклоняющим устройством, так что они покидают выходную плоскость магнитного отклоняющего устройства под углом выхода ζ, который, предпочтительно, меньше 20°, при этом, предпочтительно, между магнитным отклоняющим устройством и тороидальным анализаторов предусмотрена иммерсионная линза.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102009044989.2 | 2009-09-24 | ||
| DE102009044989A DE102009044989A1 (de) | 2009-09-24 | 2009-09-24 | Bildgebender Energiefilter für elektrisch geladene Teilchen sowie Spektroskop mit einem solchen |
| PCT/EP2010/062724 WO2011036038A1 (de) | 2009-09-24 | 2010-08-31 | Bildgebender energiefilter für elektrisch geladene teilchen sowie spektroskop mit einem solchen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2012116206A true RU2012116206A (ru) | 2013-10-27 |
| RU2529463C2 RU2529463C2 (ru) | 2014-09-27 |
Family
ID=43242814
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2012116206/07A RU2529463C2 (ru) | 2009-09-24 | 2010-08-31 | Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8530835B2 (ru) |
| EP (1) | EP2481072B1 (ru) |
| JP (1) | JP5564116B2 (ru) |
| CN (1) | CN102549704B (ru) |
| DE (1) | DE102009044989A1 (ru) |
| DK (1) | DK2481072T3 (ru) |
| ES (1) | ES2464515T3 (ru) |
| PL (1) | PL2481072T3 (ru) |
| RU (1) | RU2529463C2 (ru) |
| WO (1) | WO2011036038A1 (ru) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9697984B2 (en) | 2015-10-28 | 2017-07-04 | Thermo Electron Scientific Instruments Llc | Charged particle filter |
| LU92980B1 (en) * | 2016-02-19 | 2017-09-08 | Luxembourg Inst Science & Tech List | Extraction system for charged secondary particles for use in a mass spectrometer or other charged particle device |
| WO2019216348A1 (ja) * | 2018-05-09 | 2019-11-14 | 国立大学法人奈良先端科学技術大学院大学 | 減速比可変球面収差補正静電レンズ、広角エネルギーアナライザ、及び、二次元電子分光装置 |
| DE102019107327A1 (de) * | 2019-03-21 | 2020-09-24 | Specs Surface Nano Analysis Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Elektronentransfer von einer Probe zu einem Energieanalysator und Elektronen-Spektrometervorrichtung |
| GB201910880D0 (en) * | 2019-07-30 | 2019-09-11 | Vg Systems Ltd | A spectroscopy and imaging system |
| WO2021202562A1 (en) * | 2020-04-01 | 2021-10-07 | Thermo Electron Scientific Instruments Llc | Wide field-of-view charged particle filter |
| CN112147667A (zh) * | 2020-09-11 | 2020-12-29 | 兰州空间技术物理研究所 | 一种用于空间低能离子探测的传感器 |
| DE102020133974B3 (de) | 2020-12-17 | 2022-03-17 | SURFACE CONCEPT GmbH | Energieanalysator für elektrisch geladene Teilchen |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1352167A (fr) | 1962-11-28 | 1964-02-14 | Ct Nat De La Rech Scient Et Cs | Nouveau dispositif de microanalyse par émission ionique secondaire |
| GB1332207A (en) * | 1971-05-07 | 1973-10-03 | Ass Elect Ind | Apparatus for charged particle spectroscopy |
| SU1647700A1 (ru) * | 1988-08-24 | 1991-05-07 | Объединенный Институт Ядерных Исследований | Тороидальный электростатический энергоанализатор зар женных частиц |
| JPH03155030A (ja) * | 1989-11-10 | 1991-07-03 | Jeol Ltd | 時間/エネルギー分解型電子分光器 |
| DE4129403A1 (de) * | 1991-09-04 | 1993-03-11 | Zeiss Carl Fa | Abbildungssystem fuer strahlung geladener teilchen mit spiegelkorrektor |
| DE4310559A1 (de) * | 1993-03-26 | 1994-09-29 | Zeiss Carl Fa | Abbildendes Elektronenenergiefilter |
| DE69402283T2 (de) * | 1993-05-21 | 1997-09-18 | Philips Electronics Nv | Energiefilter mit Korrektur von chromatischen Aberrationen zweiter ordnung |
| GB9718012D0 (en) * | 1997-08-26 | 1997-10-29 | Vg Systems Ltd | A spectrometer and method of spectroscopy |
| DE10084761T1 (de) * | 1999-07-02 | 2002-07-11 | Michael Mauck | Verfahren und Gerät zum gleichzeitigen Abscheiden und Beobachten von Materialien auf einem Target |
| JP4662610B2 (ja) * | 2000-06-29 | 2011-03-30 | 株式会社アルバック | 立体収束質量分離器 |
| US6501076B1 (en) | 2000-10-11 | 2002-12-31 | Fei Company | Electron analyzer having an integrated low pass filter |
| DE10252129A1 (de) | 2002-11-04 | 2004-05-27 | Omicron Nano Technology Gmbh | Energiefilter für elektrisch geladene Teilchen und Verwendung des Energiefilters |
| US7453062B2 (en) | 2006-02-28 | 2008-11-18 | International Business Machines Corporation | Energy-filtering cathode lens microscopy instrument |
| US7348566B2 (en) * | 2006-02-28 | 2008-03-25 | International Business Machines Corporation | Aberration-correcting cathode lens microscopy instrument |
| RU2364004C1 (ru) * | 2008-03-17 | 2009-08-10 | Вячеслав Данилович Саченко | Энергофильтр для корпускулярно-оптической системы формирования и передачи изображения |
-
2009
- 2009-09-24 DE DE102009044989A patent/DE102009044989A1/de not_active Withdrawn
-
2010
- 2010-08-31 RU RU2012116206/07A patent/RU2529463C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2010-08-31 JP JP2012530203A patent/JP5564116B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-08-31 PL PL10771675T patent/PL2481072T3/pl unknown
- 2010-08-31 WO PCT/EP2010/062724 patent/WO2011036038A1/de not_active Ceased
- 2010-08-31 CN CN201080043248.6A patent/CN102549704B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2010-08-31 DK DK10771675.5T patent/DK2481072T3/da active
- 2010-08-31 ES ES10771675.5T patent/ES2464515T3/es active Active
- 2010-08-31 US US13/389,923 patent/US8530835B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-08-31 EP EP10771675.5A patent/EP2481072B1/de not_active Not-in-force
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP2481072A1 (de) | 2012-08-01 |
| ES2464515T3 (es) | 2014-06-03 |
| PL2481072T3 (pl) | 2015-02-27 |
| US8530835B2 (en) | 2013-09-10 |
| RU2529463C2 (ru) | 2014-09-27 |
| CN102549704A (zh) | 2012-07-04 |
| EP2481072B1 (de) | 2014-04-16 |
| JP2013506238A (ja) | 2013-02-21 |
| DE102009044989A1 (de) | 2011-03-31 |
| JP5564116B2 (ja) | 2014-07-30 |
| US20120261571A1 (en) | 2012-10-18 |
| CN102549704B (zh) | 2015-09-09 |
| WO2011036038A1 (de) | 2011-03-31 |
| DK2481072T3 (da) | 2014-07-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2012116206A (ru) | Создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром | |
| US7294834B2 (en) | Scanning electron microscope | |
| CN1967224B (zh) | 用于表面分析的光谱仪及表面分析方法 | |
| US8416509B2 (en) | Optical apparatus | |
| CN216350391U (zh) | 一种基于led投影模组的检测照明系统 | |
| EP1783816A3 (en) | Apparatus for combined laser focusing and spot imaging | |
| CN108169847A (zh) | 一种大视场扫描成像光学系统 | |
| US9966219B2 (en) | Electron energy loss spectrometer | |
| US7732782B2 (en) | Corona detection device | |
| US8054462B2 (en) | Quantum efficiency enhancement device for array detectors | |
| JP4412138B2 (ja) | 発光検出装置 | |
| JP5934513B2 (ja) | 透過電子顕微鏡 | |
| US5506414A (en) | Charged-particle analyzer | |
| KR101300735B1 (ko) | 광신호의 세기 감소 방지 장치, 이를 구비한 발광분광분석기, 광학기기 및 질량분석기 | |
| JP6104756B2 (ja) | 電子分光装置 | |
| US10627309B1 (en) | Micro-distance lens detection device | |
| JP2008107335A (ja) | カソードルミネッセンス測定装置及び電子顕微鏡 | |
| Watson et al. | ASCA and other contemporaneous observations of the blazar B2 1308+ 326 | |
| TWI767779B (zh) | 檢測和中和電荷裝置與其檢測和中和電荷的方法 | |
| Moore et al. | The MOMFOS fiber positioner | |
| Fliegel et al. | Meteor automatic imager and analyzer: system design and its parameters | |
| Kunz et al. | Microscopy and microspectroscopy with soft X-rays | |
| 崔东旭 et al. | Test and analysis of the halo in low-light-levelimage intensifiers | |
| RU119472U1 (ru) | Насадка к телескопу | |
| Vítek et al. | Utilization of Image Intensifiers in Astronomy |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20170901 |