RU2045110C1 - Фотоприемник с ячеистой структурой - Google Patents

Фотоприемник с ячеистой структурой Download PDF

Info

Publication number
RU2045110C1
RU2045110C1 SU5047632A RU2045110C1 RU 2045110 C1 RU2045110 C1 RU 2045110C1 SU 5047632 A SU5047632 A SU 5047632A RU 2045110 C1 RU2045110 C1 RU 2045110C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
photodetector
cell
gate
cells
transistor
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Александрович Болдырев
Original Assignee
Валерий Александрович Болдырев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Валерий Александрович Болдырев filed Critical Валерий Александрович Болдырев
Priority to SU5047632 priority Critical patent/RU2045110C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2045110C1 publication Critical patent/RU2045110C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

Использование: в микроэлектронике, в частности в устройствах твердотельных фотоприемников. Сущность изобретения: в фотоприемнике с ячеистой структурой каждая из фотоприемных ячеек состоит из фотоприемника и МДП-транзистора. Контакт каждой ячейки соединен с истоком МДП-транзистора и соответствующим затвором многозатворного МДП-транзистора. Затворы и стоки МДП-транзисторов соединены общими шинами с внешними выводами. 1 ил.

Description

Изобретение относится к микроэлектронике, в частности к твердотельным фотоприемникам и фотоприемным устройствам.
Известны твердотельные фотоприемники, представляющие собой фоторезисторы, фотодиоды, фототранзисторы [1]
Недостатком этих устройств является малая фоточувствительная площадь, при увеличении которой резко уменьшается процент выхода годных фотоприемников.
Известны фотоприемники большой площади, состоящие из фотодиода [2, 3]
Однако у таких фотоприемников дорогой исходный материал, сложная технология изготовления и низкий процент выхода годных.
Известен фотоприемник с ячеистой структурой и контактом к подложке структуры, контактами ячеек, сигнал на выходе которого равен сумме сигналов каждой ячейки [4]
Однако такой фотоприемник при возникновении дефекта типа "короткое замыкание" между p+-областью и подложкой теряет работоспособность и полностью выходит из строя.
Техническим результатом изобретения является увеличение процента выхода годных микросхем за счет автоматического отключения дефектных приемников, упрощение технологии изготовления и удешевление изделия.
Указанный технический результат достигается тем, что в фотоприемник с ячеистой структурой и контактом к подложке структуры, контактами ячеек, дополнительно введен многозатворный МДП-транзистор с внешними выводами к стоку и истоку, а в каждую ячейку МДП-транзистор, причем контакт каждой ячейки соединен с истоком введенного в нее МДП-транзистора и соответствующим затвором многозатворного МДП-транзистора, затворы и стоки МДП-транзисторов ячеек соединены общими шинами с внешними выводами и фотоприемник изготавливается по стандартной, несложной и недорогой технологии.
При изготовлении интегральной схемы твердотельного фотоприемника возникают дефекты, которые для окружающих ячеек и внешних устройств будут являться либо коротким замыканием, либо разрывом. Причем, чем больше площадь элемента, тем больше вероятность возникновения в нем дефекта. Наибольшую площадь в фотоприемнике занимает его фоточувствительная часть и она будут иметь наибольшую вероятность поражения дефектом. В ячеистом фотоприемнике дефект в ячейке типа "разрыв" отключает ее от окружающих ячеек и от внешних устройств и не влияет на их работоспособность. Дефект в ячейке типа "короткое замыкание" выводит из строя не только саму ячейку, но и окружающие ячейки, фотоприемник в целом возможно внешние устройства.
Предлагаемое устройство производит автоматическое отключение ячейки с дефектом типа "короткое замыкание" от внешних выводов изделия, локализуя таким образом дефектную ячейку. Работоспособность остальных ячеек сохраняется. При этом общая фоточувствительная площадь уменьшается на величину площади дефектной ячейки, размер которой можно выбрать таким, что это мало скажется на общую чувствительность фотоприемника.
На чертеже приведена принципиальная схема предлагаемого фотоприемника.
Фотоприемник состоит из множества фотоприемных ячеек 1 и многозатворного МДП-транзистора 2, сток и исток которого подключены к внешним выводам 3 и 4, а каждая ячейка состоит из фотоприемника 5, один электрод которого подключен к подложке и общему внешнему выводу 6, а другой к затвору многозатворного транзистора 2 и истоку нагрузочного МДП-транзистора 7, затвор и сток которого подключены к внешним выводам 8 и 9.
Фотоприемник работает следующим образом.
В бездефектных ячейках (в освещенных фотоприемниках 5 ячеек) возникает фототок, который на нагрузочных транзисторах 7 создает напряжение, больше порогового напряжения соответствующего затвора многозатворного транзистора 2, все подзатворные области откроются и через внешние выводы 3 и 4 может протекать ток, величина которого равна сумме токов под каждым затвором этого транзистора, т.е. пропорциональна фототоку всей фоточувствительной площади. Если в одном из фотоприемников 5 возникнет дефект типа "короткое замыкание", то фототок замкнется через дефект, на нагрузочном транзисторе 7 напpяжение будет меньше порогового соответствующего затвора многозатворного транзистора 2 и под ним не будет протекать ток, отключая таким образом дефектную ячейку от внешних выводов.
Предлагаемый фотоприемник можно реализовать, напримеp, для производства фотоприменых устройств с большой фоточувствительной площадью для сцинцилляционных счетчиков в ядерной энергетике, многоэлементных фотоприемных устройств и т.п.
Реализация предложенного фотоприемного устройства позволит в десятки раз увеличить процент выхода годных микросхем и во столько же раз снизить их себестоимость.

Claims (1)

  1. ФОТОПРИЕМНИК С ЯЧЕИСТОЙ СТРУКТУРОЙ, состоящий из фотоприемных ячеек, контактов к ячейкам, контакта к подложке, отличающийся тем, что дополнительно введен многозатворный МДП-транзистор с внешними выводами к стоку и истоку, а в каждую ячейку МДП-транзистор, причем контакт каждой ячейки соединен с истоком введенного в нем МДП-транзистора и соответствующим затвором многозатворного МДП-транзистора, затворы и стоки МДП-транзисторов ячеек соединены общими шинами с внешними выводами.
SU5047632 1992-03-27 1992-03-27 Фотоприемник с ячеистой структурой RU2045110C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5047632 RU2045110C1 (ru) 1992-03-27 1992-03-27 Фотоприемник с ячеистой структурой

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5047632 RU2045110C1 (ru) 1992-03-27 1992-03-27 Фотоприемник с ячеистой структурой

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2045110C1 true RU2045110C1 (ru) 1995-09-27

Family

ID=21606966

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU5047632 RU2045110C1 (ru) 1992-03-27 1992-03-27 Фотоприемник с ячеистой структурой

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2045110C1 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EA003343B1 (ru) * 1999-08-02 2003-04-24 Касио Компьютер Ко., Лтд. Фотодатчик и система фотодатчиков
RU2617881C2 (ru) * 2015-10-22 2017-04-28 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Интегральная схема быстродействующего матричного приемника оптических излучений
RU2775590C1 (ru) * 2021-10-12 2022-07-05 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" Фотоприемник

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Полупроводниковые фотоприемники: ультрафиолетовый, видимый и ближний инфракрасный диапазоны спектра. /Под ред. В.И.Стафеева. М.: Радио и связь, 1984, с.53-72. *
2. Fretwurst E., Grute R., Zindstrom C. and Nagel I. Development of large area silicon detectors. Special properties and radiation stability. Nuclear Instruments and Methods in Phystcs Research, A 253, 1987, p.467-477. *
3. Iamamoto K., Fujii I., Kotooka I. and Katayama I. Nighly stawle silicon PIN photodiode, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, A 253, 1987, p.542-547. *
4. Полупроводниковые фотоприемники: ультрафиолетовый, видимый и ближний инфракрасный диапазоны спектра. /Под ред.В.И.Стафеева. М.: Радио и связь, 1984, с.113-114. *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EA003343B1 (ru) * 1999-08-02 2003-04-24 Касио Компьютер Ко., Лтд. Фотодатчик и система фотодатчиков
RU2617881C2 (ru) * 2015-10-22 2017-04-28 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Интегральная схема быстродействующего матричного приемника оптических излучений
RU2775590C1 (ru) * 2021-10-12 2022-07-05 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" Фотоприемник

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9847362B2 (en) Semiconductor photosensitive unit and semiconductor photosensitive unit array thereof
US7453131B2 (en) Photodiode detector and associated readout circuitry
US10217781B2 (en) One transistor active pixel sensor with tunnel FET
US6552320B1 (en) Image sensor structure
US6897519B1 (en) Tunneling floating gate APS pixel
CA1175115A (en) Solid state optically coupled electrical power switch
TWI539615B (zh) 光感測器及其製造方法
KR970018643A (ko) 자동 블루밍(blooming)방지 기능 및 광역 동적범위를 갖는 단일 MOS 트랜지스터 능동 픽셀 감지기 셀
US5939742A (en) Field-effect photo-transistor
KR970076857A (ko) 셀의 포토다이오드를 리셋하기 위하여 기생 트랜지스터를 사용하는 액티브 화소 감지셀
US7229878B2 (en) Phototransistor of CMOS image sensor and method for fabricating the same
RU2045110C1 (ru) Фотоприемник с ячеистой структурой
US20040183109A1 (en) Charge detecting device
KR100790586B1 (ko) Cmos 이미지 센서 액티브 픽셀 및 그 신호 감지 방법
US6255680B1 (en) Solid-state image sensor
JPH09275201A (ja) 固体撮像素子
US9305907B2 (en) Optoelectronic integrated device including a photodetector and a MOSFET transistor, and manufacturing process thereof
US20030107107A1 (en) High fill factor CMOS image sensor
KR20080023774A (ko) 씨모스 이미지 센서의 포토 다이오드
KR100790585B1 (ko) Cmos 이미지 센서 픽셀 및 그 신호 감지 방법
CN109427825B (zh) 接收器模块
KR100250697B1 (ko) 반도체 영상 감지기
EP1472740B1 (en) Imager
Zhang et al. A novel high-gain CMOS image sensor using floating N-well/gate tied PMOSFET
JP2000049323A (ja) Mos型イメージセンサ