RU2045110C1 - Фотоприемник с ячеистой структурой - Google Patents
Фотоприемник с ячеистой структурой Download PDFInfo
- Publication number
- RU2045110C1 RU2045110C1 SU5047632A RU2045110C1 RU 2045110 C1 RU2045110 C1 RU 2045110C1 SU 5047632 A SU5047632 A SU 5047632A RU 2045110 C1 RU2045110 C1 RU 2045110C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- photodetector
- cell
- gate
- cells
- transistor
- Prior art date
Links
- 210000003850 cellular structure Anatomy 0.000 title claims abstract description 5
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 claims abstract description 28
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
Использование: в микроэлектронике, в частности в устройствах твердотельных фотоприемников. Сущность изобретения: в фотоприемнике с ячеистой структурой каждая из фотоприемных ячеек состоит из фотоприемника и МДП-транзистора. Контакт каждой ячейки соединен с истоком МДП-транзистора и соответствующим затвором многозатворного МДП-транзистора. Затворы и стоки МДП-транзисторов соединены общими шинами с внешними выводами. 1 ил.
Description
Изобретение относится к микроэлектронике, в частности к твердотельным фотоприемникам и фотоприемным устройствам.
Известны твердотельные фотоприемники, представляющие собой фоторезисторы, фотодиоды, фототранзисторы [1]
Недостатком этих устройств является малая фоточувствительная площадь, при увеличении которой резко уменьшается процент выхода годных фотоприемников.
Недостатком этих устройств является малая фоточувствительная площадь, при увеличении которой резко уменьшается процент выхода годных фотоприемников.
Известны фотоприемники большой площади, состоящие из фотодиода [2, 3]
Однако у таких фотоприемников дорогой исходный материал, сложная технология изготовления и низкий процент выхода годных.
Однако у таких фотоприемников дорогой исходный материал, сложная технология изготовления и низкий процент выхода годных.
Известен фотоприемник с ячеистой структурой и контактом к подложке структуры, контактами ячеек, сигнал на выходе которого равен сумме сигналов каждой ячейки [4]
Однако такой фотоприемник при возникновении дефекта типа "короткое замыкание" между p+-областью и подложкой теряет работоспособность и полностью выходит из строя.
Однако такой фотоприемник при возникновении дефекта типа "короткое замыкание" между p+-областью и подложкой теряет работоспособность и полностью выходит из строя.
Техническим результатом изобретения является увеличение процента выхода годных микросхем за счет автоматического отключения дефектных приемников, упрощение технологии изготовления и удешевление изделия.
Указанный технический результат достигается тем, что в фотоприемник с ячеистой структурой и контактом к подложке структуры, контактами ячеек, дополнительно введен многозатворный МДП-транзистор с внешними выводами к стоку и истоку, а в каждую ячейку МДП-транзистор, причем контакт каждой ячейки соединен с истоком введенного в нее МДП-транзистора и соответствующим затвором многозатворного МДП-транзистора, затворы и стоки МДП-транзисторов ячеек соединены общими шинами с внешними выводами и фотоприемник изготавливается по стандартной, несложной и недорогой технологии.
При изготовлении интегральной схемы твердотельного фотоприемника возникают дефекты, которые для окружающих ячеек и внешних устройств будут являться либо коротким замыканием, либо разрывом. Причем, чем больше площадь элемента, тем больше вероятность возникновения в нем дефекта. Наибольшую площадь в фотоприемнике занимает его фоточувствительная часть и она будут иметь наибольшую вероятность поражения дефектом. В ячеистом фотоприемнике дефект в ячейке типа "разрыв" отключает ее от окружающих ячеек и от внешних устройств и не влияет на их работоспособность. Дефект в ячейке типа "короткое замыкание" выводит из строя не только саму ячейку, но и окружающие ячейки, фотоприемник в целом возможно внешние устройства.
Предлагаемое устройство производит автоматическое отключение ячейки с дефектом типа "короткое замыкание" от внешних выводов изделия, локализуя таким образом дефектную ячейку. Работоспособность остальных ячеек сохраняется. При этом общая фоточувствительная площадь уменьшается на величину площади дефектной ячейки, размер которой можно выбрать таким, что это мало скажется на общую чувствительность фотоприемника.
На чертеже приведена принципиальная схема предлагаемого фотоприемника.
Фотоприемник состоит из множества фотоприемных ячеек 1 и многозатворного МДП-транзистора 2, сток и исток которого подключены к внешним выводам 3 и 4, а каждая ячейка состоит из фотоприемника 5, один электрод которого подключен к подложке и общему внешнему выводу 6, а другой к затвору многозатворного транзистора 2 и истоку нагрузочного МДП-транзистора 7, затвор и сток которого подключены к внешним выводам 8 и 9.
Фотоприемник работает следующим образом.
В бездефектных ячейках (в освещенных фотоприемниках 5 ячеек) возникает фототок, который на нагрузочных транзисторах 7 создает напряжение, больше порогового напряжения соответствующего затвора многозатворного транзистора 2, все подзатворные области откроются и через внешние выводы 3 и 4 может протекать ток, величина которого равна сумме токов под каждым затвором этого транзистора, т.е. пропорциональна фототоку всей фоточувствительной площади. Если в одном из фотоприемников 5 возникнет дефект типа "короткое замыкание", то фототок замкнется через дефект, на нагрузочном транзисторе 7 напpяжение будет меньше порогового соответствующего затвора многозатворного транзистора 2 и под ним не будет протекать ток, отключая таким образом дефектную ячейку от внешних выводов.
Предлагаемый фотоприемник можно реализовать, напримеp, для производства фотоприменых устройств с большой фоточувствительной площадью для сцинцилляционных счетчиков в ядерной энергетике, многоэлементных фотоприемных устройств и т.п.
Реализация предложенного фотоприемного устройства позволит в десятки раз увеличить процент выхода годных микросхем и во столько же раз снизить их себестоимость.
Claims (1)
- ФОТОПРИЕМНИК С ЯЧЕИСТОЙ СТРУКТУРОЙ, состоящий из фотоприемных ячеек, контактов к ячейкам, контакта к подложке, отличающийся тем, что дополнительно введен многозатворный МДП-транзистор с внешними выводами к стоку и истоку, а в каждую ячейку МДП-транзистор, причем контакт каждой ячейки соединен с истоком введенного в нем МДП-транзистора и соответствующим затвором многозатворного МДП-транзистора, затворы и стоки МДП-транзисторов ячеек соединены общими шинами с внешними выводами.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU5047632 RU2045110C1 (ru) | 1992-03-27 | 1992-03-27 | Фотоприемник с ячеистой структурой |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU5047632 RU2045110C1 (ru) | 1992-03-27 | 1992-03-27 | Фотоприемник с ячеистой структурой |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2045110C1 true RU2045110C1 (ru) | 1995-09-27 |
Family
ID=21606966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU5047632 RU2045110C1 (ru) | 1992-03-27 | 1992-03-27 | Фотоприемник с ячеистой структурой |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2045110C1 (ru) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EA003343B1 (ru) * | 1999-08-02 | 2003-04-24 | Касио Компьютер Ко., Лтд. | Фотодатчик и система фотодатчиков |
| RU2617881C2 (ru) * | 2015-10-22 | 2017-04-28 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" | Интегральная схема быстродействующего матричного приемника оптических излучений |
| RU2775590C1 (ru) * | 2021-10-12 | 2022-07-05 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" | Фотоприемник |
-
1992
- 1992-03-27 RU SU5047632 patent/RU2045110C1/ru active
Non-Patent Citations (4)
| Title |
|---|
| 1. Полупроводниковые фотоприемники: ультрафиолетовый, видимый и ближний инфракрасный диапазоны спектра. /Под ред. В.И.Стафеева. М.: Радио и связь, 1984, с.53-72. * |
| 2. Fretwurst E., Grute R., Zindstrom C. and Nagel I. Development of large area silicon detectors. Special properties and radiation stability. Nuclear Instruments and Methods in Phystcs Research, A 253, 1987, p.467-477. * |
| 3. Iamamoto K., Fujii I., Kotooka I. and Katayama I. Nighly stawle silicon PIN photodiode, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, A 253, 1987, p.542-547. * |
| 4. Полупроводниковые фотоприемники: ультрафиолетовый, видимый и ближний инфракрасный диапазоны спектра. /Под ред.В.И.Стафеева. М.: Радио и связь, 1984, с.113-114. * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EA003343B1 (ru) * | 1999-08-02 | 2003-04-24 | Касио Компьютер Ко., Лтд. | Фотодатчик и система фотодатчиков |
| RU2617881C2 (ru) * | 2015-10-22 | 2017-04-28 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" | Интегральная схема быстродействующего матричного приемника оптических излучений |
| RU2775590C1 (ru) * | 2021-10-12 | 2022-07-05 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" | Фотоприемник |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9847362B2 (en) | Semiconductor photosensitive unit and semiconductor photosensitive unit array thereof | |
| US7453131B2 (en) | Photodiode detector and associated readout circuitry | |
| US10217781B2 (en) | One transistor active pixel sensor with tunnel FET | |
| US6552320B1 (en) | Image sensor structure | |
| US6897519B1 (en) | Tunneling floating gate APS pixel | |
| CA1175115A (en) | Solid state optically coupled electrical power switch | |
| TWI539615B (zh) | 光感測器及其製造方法 | |
| KR970018643A (ko) | 자동 블루밍(blooming)방지 기능 및 광역 동적범위를 갖는 단일 MOS 트랜지스터 능동 픽셀 감지기 셀 | |
| US5939742A (en) | Field-effect photo-transistor | |
| KR970076857A (ko) | 셀의 포토다이오드를 리셋하기 위하여 기생 트랜지스터를 사용하는 액티브 화소 감지셀 | |
| US7229878B2 (en) | Phototransistor of CMOS image sensor and method for fabricating the same | |
| RU2045110C1 (ru) | Фотоприемник с ячеистой структурой | |
| US20040183109A1 (en) | Charge detecting device | |
| KR100790586B1 (ko) | Cmos 이미지 센서 액티브 픽셀 및 그 신호 감지 방법 | |
| US6255680B1 (en) | Solid-state image sensor | |
| JPH09275201A (ja) | 固体撮像素子 | |
| US9305907B2 (en) | Optoelectronic integrated device including a photodetector and a MOSFET transistor, and manufacturing process thereof | |
| US20030107107A1 (en) | High fill factor CMOS image sensor | |
| KR20080023774A (ko) | 씨모스 이미지 센서의 포토 다이오드 | |
| KR100790585B1 (ko) | Cmos 이미지 센서 픽셀 및 그 신호 감지 방법 | |
| CN109427825B (zh) | 接收器模块 | |
| KR100250697B1 (ko) | 반도체 영상 감지기 | |
| EP1472740B1 (en) | Imager | |
| Zhang et al. | A novel high-gain CMOS image sensor using floating N-well/gate tied PMOSFET | |
| JP2000049323A (ja) | Mos型イメージセンサ |