RU2234103C1 - Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч - Google Patents
Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч Download PDFInfo
- Publication number
- RU2234103C1 RU2234103C1 RU2003113959/28A RU2003113959A RU2234103C1 RU 2234103 C1 RU2234103 C1 RU 2234103C1 RU 2003113959/28 A RU2003113959/28 A RU 2003113959/28A RU 2003113959 A RU2003113959 A RU 2003113959A RU 2234103 C1 RU2234103 C1 RU 2234103C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- measurement
- waveguide
- measuring
- composite materials
- low
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области измерения электрических величин в СВЧ-диапазоне. Технический результат - получение более точной измерительной информации о значении комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов. Сущность: предлагается способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ, в котором прямоугольный волновод короткозамкнутый на конце, с продольной щелью на его боковой стенке, которая в процессе измерения закрывается эталонным короткозамыкателем или измеряемым образцом, перед процессом измерения воздушный зазор между волноводом и измеряемым образцом или эталоном заливается припоем.
Description
Изобретение относится к области измерения электрических величин в СВЧ диапазоне для контроля электрических параметров комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпеданcных композиционных материалов.
Наиболее близким по технической сущности к заявляемому изобретению является выбранный в качестве прототипа способ для измерения комплексной диэлектрической проницаемости косвенным методом, включающий следующие операции: установка на волновод эталонного короткозамыкателя; калибровка установки, измерение комплексного коэффициента отражения от эталонного короткозамыкателя; установка на волновод измерительного образца; измерение комплексного коэффициента отражения от измерительного образца; вычисление комплексной диэлектрической проницаемости ε [см. Патент РФ №2199760, БИ №6, 2003 г.]. Измерения проводятся в два этапа: в начале к щели волновода подключается эталонный короткозамыкатель и производится калибровка установки, затем к щели волновода взамен эталонного короткозамыкателя подключается исследуемый плоский образец диэлектрика. От СВЧ-генератора по волноводу подается зондирующая электромагнитная волна. Информация о параметрах материала заключается в амплитудах и фазах отраженных волн, т.е. в комплексном коэффициенте отражения от образца. Для измерения коэффициента отражения могут применяться одиночные и многозондовые измерительные линии, автоматические измерительные линии, автоматические измерители полных сопротивлений и т.п. Обработка результатов производится по способу прототипа [см. Патент РФ №2199760, БИ №6, 2003 г.].
Недостатком описанного прототипа являются погрешности измерения ε и tgδ, вызванные воздушным зазором в местах соприкосновения волновода с измеряемым образцом или короткозамыкателем. Через воздушный зазор происходит отток зондирующей мощности в свободное пространство, что приводит к снижению измеряемого значения модуля коэффициента отражения и приводит к погрешности определения ε.
Сущность изобретения заключается в следующем: в повышении точности измерения комплексной диэлектрической проницаемости ε низкоимпедансных композиционных материалов.
Технический результат - получения более точной измерительной информации о значении комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов.
Указанный технический результат достигается тем, что способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ, включающий установку на волновод эталонного короткозамыкателя; калибровку установки, измерение комплексного коэффициента отражения от эталонного короткозамыкателя; установку на волновод измерительного образца; измерение комплексного коэффициента отражения от измерительного образца; вычисление комплексной диэлектрической проницаемости. Особенность заключается в том, что перед процессом калибровки производят заливку припоем воздушного зазора в местах соприкосновения волновода с эталонным короткозамыкателем, устанавливают измерительный образец и перед процессом измерения производят заливку припоем воздушного зазора в местах соприкосновения волновода с измеряемым образцом. Методика измерения и вычисления ε производится как в прототипе.
Проведенный заявителем анализ уровня техники, включающий поиск по патентным и научно-техническим источникам информации, позволил установить, что заявитель не обнаружил аналог, характеризующийся признаками, тождественными всем существенным признакам заявленного изобретения.
Определение из перечня выявленных аналогов прототипа позволило выявить совокупность существенных по отношению к усматриваемому заявителем техническому результату отличительных признаков в заявленном решении.
Следовательно, заявленное изобретение соответствует условию "новизна".
Для проверки соответствия заявленного изобретения условию "изобретательский уровень" заявитель провел дополнительный поиск известных решений, чтобы выявить признаки, совпадающие с отличными от прототипа признаками заявленного устройства. Результаты поиска показали, что заявленное изобретение не вытекает для специалиста явным образом из известного уровня техники, не выявлено влияние предусматриваемых существенными признаками заявленного изобретения преобразований на достижение технического результата, в частности заявленным изобретением не предусматриваются следующие требования:
- дополнение известного средства каким-либо известной частью, присоединяемой к нему по известным правилам для достижения технического результата, в отношении которого установлено влияние именно таких дополнений;
- замена какой-либо части средства с одновременным исключением обусловленной ее наличием функции и достижением при этом обычного для такого исключения результата;
- увеличение количества однотипных элементов для усиления технического результата, обусловленного наличием в средстве именно таких элементов;
- выполнение известного средства или его части из известного материала для достижения технического результата, обусловленного известными свойствами этого материала;
- создание средства, состоящего из известных частей, выбор которых и связь между которыми осуществлены на основании известных правил, рекомендаций и достигаемый при этом технический результат обусловлен только известными свойствами частей этого средства и связей между другими.
Описываемое изобретение не основано на изменении количественного признака, представлении таких признаков во взаимосвязи либо изменении ее вида. Имеется в виду случай, когда известный факт влияния каждого из указанных признаков или их взаимосвязь могли быть получены, исходя из известных зависимостей, закономерностей.
Следовательно, заявленное изобретение соответствует условию "изобретательский уровень".
Способ осуществляется следующим образом. На короткозамкнутый прямоугольный волновод устанавливают эталонный короткозамыкатель, воздушный зазор между волноводом и эталонным короткозамыкателем заливают припоем, затем включают в измерительную схему. От СВЧ-генератора по короткозамкнутому прямоугольному волноводу подают зондирующую волну, которая движется по короткозамкнутому прямоугольному волноводу с продольной щелью доходит до короткозамкнутого конца волновода, отражается и движется в обратном направлении. Сначала производят измерения комплексного коэффициента отражения зондирующей волны от волновода с эталонным короткозамыкателем, установленным на место щели. Затем на прямоугольный волновод устанавливают измеряемый образец, воздушный зазор между волноводом и измеряемым образцом заливают припоем, производят измерения коэффициента отражения зондирующей волны от измеряемого образца. Из полученных результатов комплексных коэффициентов отражения зондирующей волны от короткозамкнутого прямоугольного волновода с измеряемым образцом и с эталонным короткозамыкателем вычисляют значение комплексной диэлектрической проницаемости измеряемого материала.
Таким образом, вышеизложенные сведения свидетельствуют о выполнении при использовании заявленного устройства следующей совокупностью условий:
- средство, воплощающее заявленное устройство при его осуществлении, предназначено для использования в промышленности, а именно в производстве новых поглощающих материалов для измерения их электрических характеристик;
- для заявленного устройства в том виде, как оно охарактеризовано в независимом пункте изложенной формулы изобретения, подтверждена возможность его осуществления с помощью описанных в заявке или известных до даты приоритета средств и методов;
- средство, воплощающее заявленное изобретение при его осуществлении, способно обеспечить достижение усматриваемого заявителем технического результата.
Следовательно, заявленное изобретение соответствует условию "промышленная применимость".
Claims (1)
- Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ, включающий установку на волновод эталонного короткозамыкателя, калибровку установки, измерение комплексного коэффициента отражения от эталонного короткозамыкателя, установку на волновод измерительного образца, измерение комплексного коэффициента отражения от измерительного образца, вычисление комплексной диэлектрической проницаемости, отличающийся тем, что перед процессом калибровки производят заливку припоем воздушного зазора в местах соприкосновения волновода с эталонным короткозамыкателем, устанавливают измерительный образец и перед процессом измерения производят заливку припоем воздушного зазора в местах соприкосновения волновода с измеряемым образцом.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2003113959/28A RU2234103C1 (ru) | 2003-05-12 | 2003-05-12 | Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2003113959/28A RU2234103C1 (ru) | 2003-05-12 | 2003-05-12 | Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2234103C1 true RU2234103C1 (ru) | 2004-08-10 |
| RU2003113959A RU2003113959A (ru) | 2004-12-10 |
Family
ID=33414442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2003113959/28A RU2234103C1 (ru) | 2003-05-12 | 2003-05-12 | Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2234103C1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2373545C1 (ru) * | 2008-06-03 | 2009-11-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" | Устройство для измерения параметров материалов |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4801862A (en) * | 1986-02-24 | 1989-01-31 | Kanzaki Paper Manufacturing Co., Ltd. | Method for measuring complex dielectric constant or complex magnetic constant of materials in three-dimensional directions |
| US4996489A (en) * | 1989-03-31 | 1991-02-26 | Halliburton Logging Services, Inc. | Laboratory technique for measuring complex dielectric constant of rock core samples |
| SU1789941A1 (ru) * | 1989-10-11 | 1993-01-23 | Univ Kharkovsk | Cпocoб oпpeдeлehия komплekchoй диэлektpичeckoй пpohицaemoctи жидkoctи ha c b ч |
| RU2194285C1 (ru) * | 2001-03-13 | 2002-12-10 | Ульяновский государственный технический университет | Способ определения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов |
-
2003
- 2003-05-12 RU RU2003113959/28A patent/RU2234103C1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4801862A (en) * | 1986-02-24 | 1989-01-31 | Kanzaki Paper Manufacturing Co., Ltd. | Method for measuring complex dielectric constant or complex magnetic constant of materials in three-dimensional directions |
| US4996489A (en) * | 1989-03-31 | 1991-02-26 | Halliburton Logging Services, Inc. | Laboratory technique for measuring complex dielectric constant of rock core samples |
| SU1789941A1 (ru) * | 1989-10-11 | 1993-01-23 | Univ Kharkovsk | Cпocoб oпpeдeлehия komплekchoй диэлektpичeckoй пpohицaemoctи жидkoctи ha c b ч |
| RU2194285C1 (ru) * | 2001-03-13 | 2002-12-10 | Ульяновский государственный технический университет | Способ определения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2373545C1 (ru) * | 2008-06-03 | 2009-11-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" | Устройство для измерения параметров материалов |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20010030543A1 (en) | Process and instrument for moisture measurement | |
| US5872447A (en) | Method and apparatus for in-situ measurement of polymer cure status | |
| Hasar | A new calibration-independent method for complex permittivity extraction of solid dielectric materials | |
| EP3382418A1 (en) | A spatial resolution calibration method based on using planar transmission lines | |
| EP0971227B1 (en) | Process for moisture measurement | |
| RU2665593C1 (ru) | Способ измерения диэлектрических свойств материала и устройство для его осуществления | |
| CN104330643A (zh) | 一种改进的测量材料电磁参数的传输/反射方法 | |
| US6819121B1 (en) | Method and apparatus for measurement of concrete cure status | |
| Malkin et al. | Estimation of uncertainty of permittivity measurement with transmission line method in the wide frequency range | |
| CN118707193B (zh) | 一种基于宽频阻抗谱法的电缆结构快速测量系统及应用 | |
| RU2548064C1 (ru) | Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов и устройство для его осуществления | |
| JP3404238B2 (ja) | 高周波測定の校正標準器および校正法ならびに高周波用伝送線路の伝送損失の測定方法 | |
| RU2234103C1 (ru) | Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч | |
| WO2021124393A1 (ja) | 誘電分光測定装置 | |
| FR2862758B1 (fr) | Capteur et ensemble de mesures hydrometriques | |
| RU2194285C1 (ru) | Способ определения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов | |
| US20060219002A1 (en) | Method for capacitive measurement of fill level | |
| RU2199760C2 (ru) | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости сильно поглощающих материалов на свч | |
| Bhunjun et al. | Sensor system for contactless and online moisture measurements | |
| RU2247399C1 (ru) | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных материалов на свч | |
| RU2321010C1 (ru) | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч | |
| Paulter | A fast and accurate method for measuring the dielectric constant of printed wiring board materials | |
| CN103913135A (zh) | 一种计量标准用同轴空气线长度的确定方法 | |
| RU2012871C1 (ru) | Способ контроля параметров диэлектрика на металлическом основании | |
| RU2326392C1 (ru) | Устройство для определения параметров низкоимпедансных материалов на свч с помощью коаксиального резонатора |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20050513 |