RU2234103C1 - Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч - Google Patents

Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч Download PDF

Info

Publication number
RU2234103C1
RU2234103C1 RU2003113959/28A RU2003113959A RU2234103C1 RU 2234103 C1 RU2234103 C1 RU 2234103C1 RU 2003113959/28 A RU2003113959/28 A RU 2003113959/28A RU 2003113959 A RU2003113959 A RU 2003113959A RU 2234103 C1 RU2234103 C1 RU 2234103C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
measurement
waveguide
measuring
composite materials
low
Prior art date
Application number
RU2003113959/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2003113959A (ru
Inventor
Г.В. Дмитриенко (RU)
Г.В. Дмитриенко
Original Assignee
Ульяновский государственный технический университет
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ульяновский государственный технический университет filed Critical Ульяновский государственный технический университет
Priority to RU2003113959/28A priority Critical patent/RU2234103C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2234103C1 publication Critical patent/RU2234103C1/ru
Publication of RU2003113959A publication Critical patent/RU2003113959A/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области измерения электрических величин в СВЧ-диапазоне. Технический результат - получение более точной измерительной информации о значении комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов. Сущность: предлагается способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ, в котором прямоугольный волновод короткозамкнутый на конце, с продольной щелью на его боковой стенке, которая в процессе измерения закрывается эталонным короткозамыкателем или измеряемым образцом, перед процессом измерения воздушный зазор между волноводом и измеряемым образцом или эталоном заливается припоем.

Description

Изобретение относится к области измерения электрических величин в СВЧ диапазоне для контроля электрических параметров комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпеданcных композиционных материалов.
Наиболее близким по технической сущности к заявляемому изобретению является выбранный в качестве прототипа способ для измерения комплексной диэлектрической проницаемости косвенным методом, включающий следующие операции: установка на волновод эталонного короткозамыкателя; калибровка установки, измерение комплексного коэффициента отражения от эталонного короткозамыкателя; установка на волновод измерительного образца; измерение комплексного коэффициента отражения от измерительного образца; вычисление комплексной диэлектрической проницаемости ε [см. Патент РФ №2199760, БИ №6, 2003 г.]. Измерения проводятся в два этапа: в начале к щели волновода подключается эталонный короткозамыкатель и производится калибровка установки, затем к щели волновода взамен эталонного короткозамыкателя подключается исследуемый плоский образец диэлектрика. От СВЧ-генератора по волноводу подается зондирующая электромагнитная волна. Информация о параметрах материала заключается в амплитудах и фазах отраженных волн, т.е. в комплексном коэффициенте отражения от образца. Для измерения коэффициента отражения могут применяться одиночные и многозондовые измерительные линии, автоматические измерительные линии, автоматические измерители полных сопротивлений и т.п. Обработка результатов производится по способу прототипа [см. Патент РФ №2199760, БИ №6, 2003 г.].
Недостатком описанного прототипа являются погрешности измерения ε и tgδ, вызванные воздушным зазором в местах соприкосновения волновода с измеряемым образцом или короткозамыкателем. Через воздушный зазор происходит отток зондирующей мощности в свободное пространство, что приводит к снижению измеряемого значения модуля коэффициента отражения и приводит к погрешности определения ε.
Сущность изобретения заключается в следующем: в повышении точности измерения комплексной диэлектрической проницаемости ε низкоимпедансных композиционных материалов.
Технический результат - получения более точной измерительной информации о значении комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов.
Указанный технический результат достигается тем, что способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ, включающий установку на волновод эталонного короткозамыкателя; калибровку установки, измерение комплексного коэффициента отражения от эталонного короткозамыкателя; установку на волновод измерительного образца; измерение комплексного коэффициента отражения от измерительного образца; вычисление комплексной диэлектрической проницаемости. Особенность заключается в том, что перед процессом калибровки производят заливку припоем воздушного зазора в местах соприкосновения волновода с эталонным короткозамыкателем, устанавливают измерительный образец и перед процессом измерения производят заливку припоем воздушного зазора в местах соприкосновения волновода с измеряемым образцом. Методика измерения и вычисления ε производится как в прототипе.
Проведенный заявителем анализ уровня техники, включающий поиск по патентным и научно-техническим источникам информации, позволил установить, что заявитель не обнаружил аналог, характеризующийся признаками, тождественными всем существенным признакам заявленного изобретения.
Определение из перечня выявленных аналогов прототипа позволило выявить совокупность существенных по отношению к усматриваемому заявителем техническому результату отличительных признаков в заявленном решении.
Следовательно, заявленное изобретение соответствует условию "новизна".
Для проверки соответствия заявленного изобретения условию "изобретательский уровень" заявитель провел дополнительный поиск известных решений, чтобы выявить признаки, совпадающие с отличными от прототипа признаками заявленного устройства. Результаты поиска показали, что заявленное изобретение не вытекает для специалиста явным образом из известного уровня техники, не выявлено влияние предусматриваемых существенными признаками заявленного изобретения преобразований на достижение технического результата, в частности заявленным изобретением не предусматриваются следующие требования:
- дополнение известного средства каким-либо известной частью, присоединяемой к нему по известным правилам для достижения технического результата, в отношении которого установлено влияние именно таких дополнений;
- замена какой-либо части средства с одновременным исключением обусловленной ее наличием функции и достижением при этом обычного для такого исключения результата;
- увеличение количества однотипных элементов для усиления технического результата, обусловленного наличием в средстве именно таких элементов;
- выполнение известного средства или его части из известного материала для достижения технического результата, обусловленного известными свойствами этого материала;
- создание средства, состоящего из известных частей, выбор которых и связь между которыми осуществлены на основании известных правил, рекомендаций и достигаемый при этом технический результат обусловлен только известными свойствами частей этого средства и связей между другими.
Описываемое изобретение не основано на изменении количественного признака, представлении таких признаков во взаимосвязи либо изменении ее вида. Имеется в виду случай, когда известный факт влияния каждого из указанных признаков или их взаимосвязь могли быть получены, исходя из известных зависимостей, закономерностей.
Следовательно, заявленное изобретение соответствует условию "изобретательский уровень".
Способ осуществляется следующим образом. На короткозамкнутый прямоугольный волновод устанавливают эталонный короткозамыкатель, воздушный зазор между волноводом и эталонным короткозамыкателем заливают припоем, затем включают в измерительную схему. От СВЧ-генератора по короткозамкнутому прямоугольному волноводу подают зондирующую волну, которая движется по короткозамкнутому прямоугольному волноводу с продольной щелью доходит до короткозамкнутого конца волновода, отражается и движется в обратном направлении. Сначала производят измерения комплексного коэффициента отражения зондирующей волны от волновода с эталонным короткозамыкателем, установленным на место щели. Затем на прямоугольный волновод устанавливают измеряемый образец, воздушный зазор между волноводом и измеряемым образцом заливают припоем, производят измерения коэффициента отражения зондирующей волны от измеряемого образца. Из полученных результатов комплексных коэффициентов отражения зондирующей волны от короткозамкнутого прямоугольного волновода с измеряемым образцом и с эталонным короткозамыкателем вычисляют значение комплексной диэлектрической проницаемости измеряемого материала.
Таким образом, вышеизложенные сведения свидетельствуют о выполнении при использовании заявленного устройства следующей совокупностью условий:
- средство, воплощающее заявленное устройство при его осуществлении, предназначено для использования в промышленности, а именно в производстве новых поглощающих материалов для измерения их электрических характеристик;
- для заявленного устройства в том виде, как оно охарактеризовано в независимом пункте изложенной формулы изобретения, подтверждена возможность его осуществления с помощью описанных в заявке или известных до даты приоритета средств и методов;
- средство, воплощающее заявленное изобретение при его осуществлении, способно обеспечить достижение усматриваемого заявителем технического результата.
Следовательно, заявленное изобретение соответствует условию "промышленная применимость".

Claims (1)

  1. Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ, включающий установку на волновод эталонного короткозамыкателя, калибровку установки, измерение комплексного коэффициента отражения от эталонного короткозамыкателя, установку на волновод измерительного образца, измерение комплексного коэффициента отражения от измерительного образца, вычисление комплексной диэлектрической проницаемости, отличающийся тем, что перед процессом калибровки производят заливку припоем воздушного зазора в местах соприкосновения волновода с эталонным короткозамыкателем, устанавливают измерительный образец и перед процессом измерения производят заливку припоем воздушного зазора в местах соприкосновения волновода с измеряемым образцом.
RU2003113959/28A 2003-05-12 2003-05-12 Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч RU2234103C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2003113959/28A RU2234103C1 (ru) 2003-05-12 2003-05-12 Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2003113959/28A RU2234103C1 (ru) 2003-05-12 2003-05-12 Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2234103C1 true RU2234103C1 (ru) 2004-08-10
RU2003113959A RU2003113959A (ru) 2004-12-10

Family

ID=33414442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2003113959/28A RU2234103C1 (ru) 2003-05-12 2003-05-12 Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2234103C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2373545C1 (ru) * 2008-06-03 2009-11-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" Устройство для измерения параметров материалов

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4801862A (en) * 1986-02-24 1989-01-31 Kanzaki Paper Manufacturing Co., Ltd. Method for measuring complex dielectric constant or complex magnetic constant of materials in three-dimensional directions
US4996489A (en) * 1989-03-31 1991-02-26 Halliburton Logging Services, Inc. Laboratory technique for measuring complex dielectric constant of rock core samples
SU1789941A1 (ru) * 1989-10-11 1993-01-23 Univ Kharkovsk Cпocoб oпpeдeлehия komплekchoй диэлektpичeckoй пpohицaemoctи жидkoctи ha c b ч
RU2194285C1 (ru) * 2001-03-13 2002-12-10 Ульяновский государственный технический университет Способ определения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4801862A (en) * 1986-02-24 1989-01-31 Kanzaki Paper Manufacturing Co., Ltd. Method for measuring complex dielectric constant or complex magnetic constant of materials in three-dimensional directions
US4996489A (en) * 1989-03-31 1991-02-26 Halliburton Logging Services, Inc. Laboratory technique for measuring complex dielectric constant of rock core samples
SU1789941A1 (ru) * 1989-10-11 1993-01-23 Univ Kharkovsk Cпocoб oпpeдeлehия komплekchoй диэлektpичeckoй пpohицaemoctи жидkoctи ha c b ч
RU2194285C1 (ru) * 2001-03-13 2002-12-10 Ульяновский государственный технический университет Способ определения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2373545C1 (ru) * 2008-06-03 2009-11-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" Устройство для измерения параметров материалов

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20010030543A1 (en) Process and instrument for moisture measurement
US5872447A (en) Method and apparatus for in-situ measurement of polymer cure status
Hasar A new calibration-independent method for complex permittivity extraction of solid dielectric materials
EP3382418A1 (en) A spatial resolution calibration method based on using planar transmission lines
EP0971227B1 (en) Process for moisture measurement
RU2665593C1 (ru) Способ измерения диэлектрических свойств материала и устройство для его осуществления
CN104330643A (zh) 一种改进的测量材料电磁参数的传输/反射方法
US6819121B1 (en) Method and apparatus for measurement of concrete cure status
Malkin et al. Estimation of uncertainty of permittivity measurement with transmission line method in the wide frequency range
CN118707193B (zh) 一种基于宽频阻抗谱法的电缆结构快速测量系统及应用
RU2548064C1 (ru) Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов и устройство для его осуществления
JP3404238B2 (ja) 高周波測定の校正標準器および校正法ならびに高周波用伝送線路の伝送損失の測定方法
RU2234103C1 (ru) Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч
WO2021124393A1 (ja) 誘電分光測定装置
FR2862758B1 (fr) Capteur et ensemble de mesures hydrometriques
RU2194285C1 (ru) Способ определения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов
US20060219002A1 (en) Method for capacitive measurement of fill level
RU2199760C2 (ru) Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости сильно поглощающих материалов на свч
Bhunjun et al. Sensor system for contactless and online moisture measurements
RU2247399C1 (ru) Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных материалов на свч
RU2321010C1 (ru) Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч
Paulter A fast and accurate method for measuring the dielectric constant of printed wiring board materials
CN103913135A (zh) 一种计量标准用同轴空气线长度的确定方法
RU2012871C1 (ru) Способ контроля параметров диэлектрика на металлическом основании
RU2326392C1 (ru) Устройство для определения параметров низкоимпедансных материалов на свч с помощью коаксиального резонатора

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20050513