RU2832425C1 - Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка - Google Patents
Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка Download PDFInfo
- Publication number
- RU2832425C1 RU2832425C1 RU2024110785A RU2024110785A RU2832425C1 RU 2832425 C1 RU2832425 C1 RU 2832425C1 RU 2024110785 A RU2024110785 A RU 2024110785A RU 2024110785 A RU2024110785 A RU 2024110785A RU 2832425 C1 RU2832425 C1 RU 2832425C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- plasma
- electrodes
- order
- parameter
- quartz glass
- Prior art date
Links
- 239000000126 substance Substances 0.000 title abstract description 12
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 19
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 12
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 238000012993 chemical processing Methods 0.000 claims 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 abstract description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000009760 electrical discharge machining Methods 0.000 abstract description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 238000004857 zone melting Methods 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000004476 mid-IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
- 238000000411 transmission spectrum Methods 0.000 description 1
Abstract
Изобретение относится к области электроэрозионной обработки и может быть использовано в производстве изделий из кварцевого стекла. Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрической поверхности второго порядка изделий из кварцевого стекла включает в себя электроды, выполненные цилиндрическими, длиной, равной или больше длины полости обрабатываемой однопараметрической поверхности второго порядка. Коаксиально электродам вблизи зоны дугового разряда расположены два соленоида, включенные последовательно в высокочастотную электрическую цепь синфазно друг другу. При этом одном из электродов выполнен канал для подачи плазмообразующего газа аргона в зону дугового разряда. Техническим результатом является разработка устройства для плазмохимического травления внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка. 3 ил.
Description
Изобретение относится к области электроэрозионной обработки и может быть использовано в производстве изделий из кварцевого стекла.
Наиболее известным технологическим приемом обработки кварцевого стекла является газопламенная обработка поверхности в условиях динамического вакуума, так как кварцевое стекло обладает способностью пропускать при высоких температурах газы, что объясняется диффузией этих газов через массу стекла [Глаголев С.П. Кварцевое стекло. Его свойства, производство и применение. // М.: Государственное химико-техническое издательство, 1934. – 214 с.]. После газопламенной обработки в кварцевом стекле всегда наблюдается присутствие значительного количества водородсодержащих примесей, в том числе, в виде гидроксильных групп [Постников В.С. Оптическое материаловедение: курс лекций. // Пермь : Изд-во ПНИПУ, 2013. – 280 с.]. При получении высококачественных кристаллов и стекол (в ампулах и тиглях из кварцевого стекла) для оптических применений особые требования предъявляются к степени чистоты аппаратуры из кварцевого стекла. По этой причине в настоящее время в промышленности для получения особо чистых изделий из кварцевого стекла используют высокотемпературный отжиг в электровакуумных печах. Высокая стоимость такой обработки для крупногабаритных изделий (химических реакторов, трубопроводов) делает актуальной разработку новых устройств для плазмохимической обработки внутренней полости аппаратуры на открытом воздухе в условиях цехов или исследовательских лабораторий.
Из уровня техники известен плазмохимический реактор низкого давления, обеспечивающий плазму высокой плотности для осуществления процесса в виде травления и осаждения [Александров С.Е., Киреев В.Ю., Костюков Д.А. и др. // Патент РФ №2797472 от 06.06.2023, Бюл. №16] – аналог. Реактор содержит рабочую камеру и модуль формирования плазмы. В рабочей камере расположен подложкодержатель, соединенный с высокочастотным генератором и стабилизатором температуры. Внутри рабочей камеры на расстояние 3-10 мм от ее боковых стенок установлено диэлектрическое кольцо, на внешней стороне которого сформирован проводящий металлический элемент, соединенный с источником постоянного напряжения. Металлический элемент диэлектрического кольца и подводящие провода электрически изолированы от плазмы и заземленных поверхностей рабочей камеры. Подача постоянного напряжения различного значения и знака на металлический элемент обеспечивает управление скоростью, равномерностью и селективностью процессов травления. Стоит отметить, что у аналога отсутствует описание системы откачки и газонапуска. Устройство не может быть использовано для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка, например, труб, так как авторы заявляют, что его конструкция разработана только для обработки пластин, то есть поверхностей первого порядка.
Известно устройство для плазмохимического травления пластин большого размера [Смирнова Т.С., Петраков В.И., Сергеев С.А., Лебедев Э.А. // Патент РФ №168094 от 18.01.2017, Бюл. №2] – аналог. Устройство включает корпус камеры, две группы электродов, выполненных в виде концентрических колец, изолированный подложкодержатель и систему газонапуска, электроды выполнены в виде полых концентрических водоохлаждаемых колец, зазор между которыми составляет от 5 до 8 мм, одна группа электродов заземлена, причем центральный электрод находится под высокочастотным потенциалом и выполнен в виде стержня, а движение газового потока в каждом кольцевом канале осуществляют перпендикулярно поверхности обрабатываемой пластины и контролируют натекателями. Подложкодержатель расположен вне зоны возбуждения плазмы таким образом, что зона обработки пространственно отделена от зоны генерации плазмы. Очевидно, что аналог не может быть использован для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка даже при самой глубокой модернизации устройства, так как в конструкцию устройства заложен существенный недостаток – зона обработки пространственно отделена от зоны генерации плазмы.
Известно устройство для локального плазмохимического травления подложек [Абрамов В.А., Аксенова Л.А., Климов А.В. // Патент РФ №2451114от 10.01.2012 Бюл. №1] – прототип. Устройство содержит вакуумную камеру, электроды, системы откачки и напуска плазмообразующего газа. Верхний электрод установлен на подвижной плите и снабжен механизмом регулирования параллельности электродов относительно друг друга, выполненным в виде трех вертикальных стоек, закрепленных на основании камеры и снабженных шаровыми опорами. На каждой стойке выполнены подвижные упоры с механизмом регулирования зазора в виде прецизионного подъемника, на котором установлен нижний электрод, являющийся подложкодержателем. Необходимым условием локализации тлеющего разряда у выступающих участков поверхности высокочастотного электрода является то, что межэлектродное расстояние L должно быть больше длины свободного пробега электронов в плазме λ (L>>λ). При характерном межэлектродном расстоянии L=100 мкм, давлении плазмообразующего газа ~104 Па и удельной мощности в высокочастотном тлеющем разряде ~104 Вт/см3 устройство обеспечивает равномерность и высокую скорость травления плоских подложек. Для крупногабаритных изделий, содержащих однопараметрические поверхности второго порядка (химических реакторов, трубопроводов), прототип не может быть использован по причине своих конструктивных особенностей и параметров технологического режима, а именно: для получения особо чистых изделий из кварцевого стекла требуется давление плазмообразующего газа ~105 Па и удельная мощность в разряде ~105 Вт/см3, а прецизионное поддержание равномерности зазора с микронной точностью при сканировании внутренних полостей поверхностей второго порядка вообще не представляется возможным.
Задачей настоящего изобретения является разработка устройства для плазмохимического травления внутренней полости однопараметрической поверхности второго порядка изделий из кварцевого стекла.
Технический результат достигается за счет того, что внутренняя полость однопараметрической поверхности второго порядка, например, трубы из кварцевого стекла подвергается обработке высокотемпературной плазмой дугового разряда в атмосфере инертного газа аргона. Разность химических потенциалов гидроксильных групп в кварцевом стекле и в атмосфере воздуха при высоких температурах дугового разряда приводит к удалению водородсодержащей примеси в окружающее пространство вдоль всей образующей цилиндра по мере продвижения трубы относительно дугового разряда по типу зонной плавки. Однородность и равномерность радиального воздействия плазмы достигается за счет влияния магнитного поля двух соленоидов, размещенных вблизи дугового разряда коаксиально электродам и включенных последовательно в высокочастотную электрическую цепь синфазно друг другу.
Устройство, схема которого представлена на фиг.1, работает следующим образом: цилиндрические электроды 1 и 2 размещают во внутренней полости кварцевой трубы 7 с зазором между ними; два соленоида 3 располагают снаружи трубы вблизи зоны дугового разряда 5 и подключают последовательно в высокочастотную электрическую цепь синфазно друг другу; высокочастотный генератор 4 через реостат 6 питает электрическую цепь дугового разряда необходимой мощностью; плазмообразующий газ аргон подается в зону дугового разряда через канал в электроде 1; продвижение трубы относительно дугового разряда вдоль всей образующей цилиндра приводит к плазмохимическому травлению внутренней полости кварцевой трубы с непрерывным удалением гидроксильных групп по типу зонной плавки. На фиг. 2 показано изображение устройства готового к работе. В результате плазмохимического травления в ближней и средней ИК-областях спектра наблюдается заметное снижение концентрации гидроксильных групп в кварцевом стекле (фиг. 3, кривая 1 – спектр пропускания до обработки, кривая 2 – после обработки).
Устройство пригодно для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка и может быть использовано в промышленности для получения особо чистых изделий из кварцевого стекла.
Claims (1)
- Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрической поверхности второго порядка изделий из кварцевого стекла, включающее в себя электроды, отличающееся тем, что электроды выполнены цилиндрическими длиной, равной или больше длины полости обрабатываемой однопараметрической поверхности второго порядка, коаксиально электродам вблизи зоны дугового разряда расположены два соленоида, включенные последовательно в высокочастотную электрическую цепь синфазно друг другу, а в одном из электродов выполнен канал для подачи плазмообразующего газа аргона в зону дугового разряда.
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2832425C1 true RU2832425C1 (ru) | 2024-12-24 |
Family
ID=
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0997926A2 (en) * | 1998-10-26 | 2000-05-03 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Plasma treatment apparatus and method |
| RU2170161C2 (ru) * | 1999-05-25 | 2001-07-10 | Институт Машиноведения им. А.А. Благонравова РАН | Способ обработки поверхности второго порядка и устройство для его осуществления |
| RU2178219C1 (ru) * | 2000-11-21 | 2002-01-10 | Рябый Валентин Анатольевич | Способ плазмохимической обработки подложек и устройство для его осуществления |
| RU2451114C2 (ru) * | 2010-07-05 | 2012-05-20 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО "НИИПМ") | Устройство для локального плазмохимического травления подложек |
| RU2462534C2 (ru) * | 2006-07-31 | 2012-09-27 | Текна Плазма Системз Инк. | Плазменная обработка поверхности с использованием диэлектрических барьерных разрядов |
| RU2797472C1 (ru) * | 2022-08-22 | 2023-06-06 | Акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения" | Плазмохимический реактор низкого давления, обеспечивающий плазму высокой плотности для осуществления процесса в виде травления и осаждения |
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0997926A2 (en) * | 1998-10-26 | 2000-05-03 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Plasma treatment apparatus and method |
| RU2170161C2 (ru) * | 1999-05-25 | 2001-07-10 | Институт Машиноведения им. А.А. Благонравова РАН | Способ обработки поверхности второго порядка и устройство для его осуществления |
| RU2178219C1 (ru) * | 2000-11-21 | 2002-01-10 | Рябый Валентин Анатольевич | Способ плазмохимической обработки подложек и устройство для его осуществления |
| RU2462534C2 (ru) * | 2006-07-31 | 2012-09-27 | Текна Плазма Системз Инк. | Плазменная обработка поверхности с использованием диэлектрических барьерных разрядов |
| RU2451114C2 (ru) * | 2010-07-05 | 2012-05-20 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО "НИИПМ") | Устройство для локального плазмохимического травления подложек |
| RU2797472C1 (ru) * | 2022-08-22 | 2023-06-06 | Акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения" | Плазмохимический реактор низкого давления, обеспечивающий плазму высокой плотности для осуществления процесса в виде травления и осаждения |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR970003906B1 (ko) | 반도체 기판의 제조 방법 및 그 장치 | |
| KR102861090B1 (ko) | 리프트 핀 메커니즘 | |
| US7849815B2 (en) | Plasma processing apparatus | |
| KR100274757B1 (ko) | 플라즈마 처리장치 및 플라즈마 처리방법 | |
| US4223048A (en) | Plasma enhanced chemical vapor processing of semiconductive wafers | |
| US20070215279A1 (en) | Plasma processing apparatus, plasma processing method, focus ring, and focus ring component | |
| US9441791B2 (en) | Gas supply unit, substrate processing apparatus and supply gas setting method | |
| US8778813B2 (en) | Confined process volume PECVD chamber | |
| JP3150058B2 (ja) | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | |
| SG177070A1 (en) | Movable ground ring for a plasma processing chamber | |
| JP2012238881A (ja) | 複数の基材を処理するための広域高周波プラズマ装置 | |
| TWI760379B (zh) | 電漿處理裝置及電漿處理裝置之控制方法 | |
| US11705346B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
| RU2832425C1 (ru) | Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка | |
| CN114639585A (zh) | 约束环组件、等离子处理装置及其排气控制方法 | |
| KR20140095412A (ko) | 플라즈마 열처리 장치 | |
| KR102578780B1 (ko) | 반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
| JP2008251857A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JPS5832417A (ja) | プラズマエツチング装置及びプラズマエツチング方法 | |
| KR20040026773A (ko) | 전압배열형 전극을 이용한 표면처리용 대기압 플라즈마장치 | |
| CN215008137U (zh) | 一种等离子体处理装置 | |
| JP2001210628A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| KR101138609B1 (ko) | 효율적인 라디칼 생성을 위한 플라즈마 발생장치 | |
| JP4519625B2 (ja) | 堆積膜形成装置 | |
| Kozlov et al. | Vacuum technological equipment for microphotoelectronic production |