RU2832425C1 - Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка - Google Patents

Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка Download PDF

Info

Publication number
RU2832425C1
RU2832425C1 RU2024110785A RU2024110785A RU2832425C1 RU 2832425 C1 RU2832425 C1 RU 2832425C1 RU 2024110785 A RU2024110785 A RU 2024110785A RU 2024110785 A RU2024110785 A RU 2024110785A RU 2832425 C1 RU2832425 C1 RU 2832425C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
plasma
electrodes
order
parameter
quartz glass
Prior art date
Application number
RU2024110785A
Other languages
English (en)
Inventor
Дмитрий Николаевич Борисенко
Николай Николаевич Колесников
Татьяна Николаевна Фурсова
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна Российской академии наук (ИФТТ РАН)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна Российской академии наук (ИФТТ РАН) filed Critical Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна Российской академии наук (ИФТТ РАН)
Application granted granted Critical
Publication of RU2832425C1 publication Critical patent/RU2832425C1/ru

Links

Abstract

Изобретение относится к области электроэрозионной обработки и может быть использовано в производстве изделий из кварцевого стекла. Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрической поверхности второго порядка изделий из кварцевого стекла включает в себя электроды, выполненные цилиндрическими, длиной, равной или больше длины полости обрабатываемой однопараметрической поверхности второго порядка. Коаксиально электродам вблизи зоны дугового разряда расположены два соленоида, включенные последовательно в высокочастотную электрическую цепь синфазно друг другу. При этом одном из электродов выполнен канал для подачи плазмообразующего газа аргона в зону дугового разряда. Техническим результатом является разработка устройства для плазмохимического травления внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка. 3 ил.

Description

Изобретение относится к области электроэрозионной обработки и может быть использовано в производстве изделий из кварцевого стекла.
Наиболее известным технологическим приемом обработки кварцевого стекла является газопламенная обработка поверхности в условиях динамического вакуума, так как кварцевое стекло обладает способностью пропускать при высоких температурах газы, что объясняется диффузией этих газов через массу стекла [Глаголев С.П. Кварцевое стекло. Его свойства, производство и применение. // М.: Государственное химико-техническое издательство, 1934. – 214 с.]. После газопламенной обработки в кварцевом стекле всегда наблюдается присутствие значительного количества водородсодержащих примесей, в том числе, в виде гидроксильных групп [Постников В.С. Оптическое материаловедение: курс лекций. // Пермь : Изд-во ПНИПУ, 2013. – 280 с.]. При получении высококачественных кристаллов и стекол (в ампулах и тиглях из кварцевого стекла) для оптических применений особые требования предъявляются к степени чистоты аппаратуры из кварцевого стекла. По этой причине в настоящее время в промышленности для получения особо чистых изделий из кварцевого стекла используют высокотемпературный отжиг в электровакуумных печах. Высокая стоимость такой обработки для крупногабаритных изделий (химических реакторов, трубопроводов) делает актуальной разработку новых устройств для плазмохимической обработки внутренней полости аппаратуры на открытом воздухе в условиях цехов или исследовательских лабораторий.
Из уровня техники известен плазмохимический реактор низкого давления, обеспечивающий плазму высокой плотности для осуществления процесса в виде травления и осаждения [Александров С.Е., Киреев В.Ю., Костюков Д.А. и др. // Патент РФ №2797472 от 06.06.2023, Бюл. №16] – аналог. Реактор содержит рабочую камеру и модуль формирования плазмы. В рабочей камере расположен подложкодержатель, соединенный с высокочастотным генератором и стабилизатором температуры. Внутри рабочей камеры на расстояние 3-10 мм от ее боковых стенок установлено диэлектрическое кольцо, на внешней стороне которого сформирован проводящий металлический элемент, соединенный с источником постоянного напряжения. Металлический элемент диэлектрического кольца и подводящие провода электрически изолированы от плазмы и заземленных поверхностей рабочей камеры. Подача постоянного напряжения различного значения и знака на металлический элемент обеспечивает управление скоростью, равномерностью и селективностью процессов травления. Стоит отметить, что у аналога отсутствует описание системы откачки и газонапуска. Устройство не может быть использовано для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка, например, труб, так как авторы заявляют, что его конструкция разработана только для обработки пластин, то есть поверхностей первого порядка.
Известно устройство для плазмохимического травления пластин большого размера [Смирнова Т.С., Петраков В.И., Сергеев С.А., Лебедев Э.А. // Патент РФ №168094 от 18.01.2017, Бюл. №2] – аналог. Устройство включает корпус камеры, две группы электродов, выполненных в виде концентрических колец, изолированный подложкодержатель и систему газонапуска, электроды выполнены в виде полых концентрических водоохлаждаемых колец, зазор между которыми составляет от 5 до 8 мм, одна группа электродов заземлена, причем центральный электрод находится под высокочастотным потенциалом и выполнен в виде стержня, а движение газового потока в каждом кольцевом канале осуществляют перпендикулярно поверхности обрабатываемой пластины и контролируют натекателями. Подложкодержатель расположен вне зоны возбуждения плазмы таким образом, что зона обработки пространственно отделена от зоны генерации плазмы. Очевидно, что аналог не может быть использован для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка даже при самой глубокой модернизации устройства, так как в конструкцию устройства заложен существенный недостаток – зона обработки пространственно отделена от зоны генерации плазмы.
Известно устройство для локального плазмохимического травления подложек [Абрамов В.А., Аксенова Л.А., Климов А.В. // Патент РФ №2451114от 10.01.2012 Бюл. №1] – прототип. Устройство содержит вакуумную камеру, электроды, системы откачки и напуска плазмообразующего газа. Верхний электрод установлен на подвижной плите и снабжен механизмом регулирования параллельности электродов относительно друг друга, выполненным в виде трех вертикальных стоек, закрепленных на основании камеры и снабженных шаровыми опорами. На каждой стойке выполнены подвижные упоры с механизмом регулирования зазора в виде прецизионного подъемника, на котором установлен нижний электрод, являющийся подложкодержателем. Необходимым условием локализации тлеющего разряда у выступающих участков поверхности высокочастотного электрода является то, что межэлектродное расстояние L должно быть больше длины свободного пробега электронов в плазме λ (L>>λ). При характерном межэлектродном расстоянии L=100 мкм, давлении плазмообразующего газа ~104 Па и удельной мощности в высокочастотном тлеющем разряде ~104 Вт/см3 устройство обеспечивает равномерность и высокую скорость травления плоских подложек. Для крупногабаритных изделий, содержащих однопараметрические поверхности второго порядка (химических реакторов, трубопроводов), прототип не может быть использован по причине своих конструктивных особенностей и параметров технологического режима, а именно: для получения особо чистых изделий из кварцевого стекла требуется давление плазмообразующего газа ~105 Па и удельная мощность в разряде ~105 Вт/см3, а прецизионное поддержание равномерности зазора с микронной точностью при сканировании внутренних полостей поверхностей второго порядка вообще не представляется возможным.
Задачей настоящего изобретения является разработка устройства для плазмохимического травления внутренней полости однопараметрической поверхности второго порядка изделий из кварцевого стекла.
Технический результат достигается за счет того, что внутренняя полость однопараметрической поверхности второго порядка, например, трубы из кварцевого стекла подвергается обработке высокотемпературной плазмой дугового разряда в атмосфере инертного газа аргона. Разность химических потенциалов гидроксильных групп в кварцевом стекле и в атмосфере воздуха при высоких температурах дугового разряда приводит к удалению водородсодержащей примеси в окружающее пространство вдоль всей образующей цилиндра по мере продвижения трубы относительно дугового разряда по типу зонной плавки. Однородность и равномерность радиального воздействия плазмы достигается за счет влияния магнитного поля двух соленоидов, размещенных вблизи дугового разряда коаксиально электродам и включенных последовательно в высокочастотную электрическую цепь синфазно друг другу.
Устройство, схема которого представлена на фиг.1, работает следующим образом: цилиндрические электроды 1 и 2 размещают во внутренней полости кварцевой трубы 7 с зазором между ними; два соленоида 3 располагают снаружи трубы вблизи зоны дугового разряда 5 и подключают последовательно в высокочастотную электрическую цепь синфазно друг другу; высокочастотный генератор 4 через реостат 6 питает электрическую цепь дугового разряда необходимой мощностью; плазмообразующий газ аргон подается в зону дугового разряда через канал в электроде 1; продвижение трубы относительно дугового разряда вдоль всей образующей цилиндра приводит к плазмохимическому травлению внутренней полости кварцевой трубы с непрерывным удалением гидроксильных групп по типу зонной плавки. На фиг. 2 показано изображение устройства готового к работе. В результате плазмохимического травления в ближней и средней ИК-областях спектра наблюдается заметное снижение концентрации гидроксильных групп в кварцевом стекле (фиг. 3, кривая 1 – спектр пропускания до обработки, кривая 2 – после обработки).
Устройство пригодно для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка и может быть использовано в промышленности для получения особо чистых изделий из кварцевого стекла.

Claims (1)

  1. Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрической поверхности второго порядка изделий из кварцевого стекла, включающее в себя электроды, отличающееся тем, что электроды выполнены цилиндрическими длиной, равной или больше длины полости обрабатываемой однопараметрической поверхности второго порядка, коаксиально электродам вблизи зоны дугового разряда расположены два соленоида, включенные последовательно в высокочастотную электрическую цепь синфазно друг другу, а в одном из электродов выполнен канал для подачи плазмообразующего газа аргона в зону дугового разряда.
RU2024110785A 2024-04-19 Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка RU2832425C1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2832425C1 true RU2832425C1 (ru) 2024-12-24

Family

ID=

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0997926A2 (en) * 1998-10-26 2000-05-03 Matsushita Electric Works, Ltd. Plasma treatment apparatus and method
RU2170161C2 (ru) * 1999-05-25 2001-07-10 Институт Машиноведения им. А.А. Благонравова РАН Способ обработки поверхности второго порядка и устройство для его осуществления
RU2178219C1 (ru) * 2000-11-21 2002-01-10 Рябый Валентин Анатольевич Способ плазмохимической обработки подложек и устройство для его осуществления
RU2451114C2 (ru) * 2010-07-05 2012-05-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО "НИИПМ") Устройство для локального плазмохимического травления подложек
RU2462534C2 (ru) * 2006-07-31 2012-09-27 Текна Плазма Системз Инк. Плазменная обработка поверхности с использованием диэлектрических барьерных разрядов
RU2797472C1 (ru) * 2022-08-22 2023-06-06 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения" Плазмохимический реактор низкого давления, обеспечивающий плазму высокой плотности для осуществления процесса в виде травления и осаждения

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0997926A2 (en) * 1998-10-26 2000-05-03 Matsushita Electric Works, Ltd. Plasma treatment apparatus and method
RU2170161C2 (ru) * 1999-05-25 2001-07-10 Институт Машиноведения им. А.А. Благонравова РАН Способ обработки поверхности второго порядка и устройство для его осуществления
RU2178219C1 (ru) * 2000-11-21 2002-01-10 Рябый Валентин Анатольевич Способ плазмохимической обработки подложек и устройство для его осуществления
RU2462534C2 (ru) * 2006-07-31 2012-09-27 Текна Плазма Системз Инк. Плазменная обработка поверхности с использованием диэлектрических барьерных разрядов
RU2451114C2 (ru) * 2010-07-05 2012-05-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО "НИИПМ") Устройство для локального плазмохимического травления подложек
RU2797472C1 (ru) * 2022-08-22 2023-06-06 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения" Плазмохимический реактор низкого давления, обеспечивающий плазму высокой плотности для осуществления процесса в виде травления и осаждения

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970003906B1 (ko) 반도체 기판의 제조 방법 및 그 장치
KR102861090B1 (ko) 리프트 핀 메커니즘
US7849815B2 (en) Plasma processing apparatus
KR100274757B1 (ko) 플라즈마 처리장치 및 플라즈마 처리방법
US4223048A (en) Plasma enhanced chemical vapor processing of semiconductive wafers
US20070215279A1 (en) Plasma processing apparatus, plasma processing method, focus ring, and focus ring component
US9441791B2 (en) Gas supply unit, substrate processing apparatus and supply gas setting method
US8778813B2 (en) Confined process volume PECVD chamber
JP3150058B2 (ja) プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
SG177070A1 (en) Movable ground ring for a plasma processing chamber
JP2012238881A (ja) 複数の基材を処理するための広域高周波プラズマ装置
TWI760379B (zh) 電漿處理裝置及電漿處理裝置之控制方法
US11705346B2 (en) Substrate processing apparatus
RU2832425C1 (ru) Устройство для плазмохимической обработки внутренней полости однопараметрических поверхностей второго порядка
CN114639585A (zh) 约束环组件、等离子处理装置及其排气控制方法
KR20140095412A (ko) 플라즈마 열처리 장치
KR102578780B1 (ko) 반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
JP2008251857A (ja) プラズマ処理装置
JPS5832417A (ja) プラズマエツチング装置及びプラズマエツチング方法
KR20040026773A (ko) 전압배열형 전극을 이용한 표면처리용 대기압 플라즈마장치
CN215008137U (zh) 一种等离子体处理装置
JP2001210628A (ja) プラズマ処理装置
KR101138609B1 (ko) 효율적인 라디칼 생성을 위한 플라즈마 발생장치
JP4519625B2 (ja) 堆積膜形成装置
Kozlov et al. Vacuum technological equipment for microphotoelectronic production