SE519585C2 - Förfarande för att övervaka temperaturen vid banformiga alster samt anordning härför - Google Patents

Description

519 585 ofta mellan 30 - 90 sekunder, varefter en dator behandlar informationen och ritar upp en beräknad fuktkurva tvärs och längs med papperet. Pà detta sätt återkommer fuktmätaren till samma punkt av banan t.ex. var 60 sekund. Men eftersom papperet transporteras med hastigheter upp till flera tusen meter per minut begränsas därmed noggrannheten hos mätningen. Den utrustning som används är också relativt dyr och komplicerad och består av en fuktmätare (t.ex. av microvàgstyp), en C eller O-ramp som häller denna, en mekanism för förflyttning av fuktmätare, en signalkabel för att skicka mätsignalen till en processdator samt en dator för bearbetning och presentation av fuktvärdena.

Genom US 5,263,839 A känd anordning är förut känt att làta mäta temperaturen pà en löpande plastbana utmed zoner hos banan.

Banan påverkas att värmas av ett flertal värmare som är anordnade att sträcka sig tvärs banans löpriktning. Erhällna uppmätta temperaturvärden används sedan för att påvisa felaktigheter i värmningen av banan och att försöka rätta till dessa. Detta gär emellertid ej lätt att göra p.g.a. värmarnas tvärställda placering och att man dä måste öka eller minska värmetillförseln lika för samtliga värmare.

Det finns ett flertal problem och begränsningar med dessa appa- rater och metoder, som beskrives i korthet nedan: Justering av banas fukthalt När det gäller fukthalt mäts denna antingen med en punktmätning någonstans pà banan, eller genom en traverserande fuktmätare.

Varje traversering tar ofta mellan 30 - 90 sekunder, varefter en dator behandlar informationen och ritar upp en beräknad fuktkurva tvärs och längs med papperet. På detta sätt återkom- mer fuktmätaren till samma punkt av banan t.ex. var 60 sekund. 519 585 Men eftersom papperet transporteras med hastigheter upp till flera tusen meter per minut begränsas därmed noggrannheten hos mätningen.

Den utrustning som används är också relativt dyr och komplice- rad och består av en fuktmätare (t.ex. av microvågstyp), en C eller O-ramp som håller denna, en mekanism för förflyttning av fuktmätaren, en signalkabel för att skicka mätsignalen till en processdator samt en dator för bearbetning och presentation av fuktvärdena.

För att kunna påverka de fuktvärden som mätts i ovan beskrivna apparat används någon form av ”ställdon”. Det kan t.ex. vara ett system där vatten sprayas på banans, t.ex. papperets, områ- den som är torrare än önskvärt. Det kan var påblåsning av ånga i ett pressparti, så att mer vatten pressas ur papperet. Det kan vara en zonindelad lufttork och det kan även vara en IR- tork, där strålningen genereras elektriskt eller med gas som tillför mer eller mindre energi via infraröd strålning till papperet, så att de fuktiga delarna torkas mer eller mindre. En IR-tork kan delas upp i zoner, t.ex. 75 mm breda. Varje zon kan genom att spänningen ökas eller minskas över varje IR-element (t.ex. halogenlampor) med hjälp av t.ex. tyristorer eller halv- ledarreläer, ändra sin uteffekt steglöst. På detta sätt kan olika torkning erhållas bàde längs och tvärs maskinen.

En IR-tork består av en IR-ramp placerad i en maskin för ytbe- handling av en bana eller i en pappersmaskin. I rampen sitter i regel ett antal IR-element eller moduler, så att ett eller flera separat styrda zoner erhålls. IR-rampen tillförs ofta kylluft för att inte IR-rampen ska överhettas. Luften kan även användas för att ta upp avdunstad fukt eller lösningsmedel.

Från IR-rampen gär ett stort antal kablar (i regel 2 st för varje zon), till ett elskåp. Om man t.ex. har 90 zoner kan alltså 180 kablar behövas. Elskàpet kan stå t.ex. 50 meter från 519 585 IR-rampen. Därför tar även kabelstràket stor plats och medför höga kostnader. I detta elskàp sitter ett stort antal tyristo- rer eller halvledarreläer. Genom att ändra spänningen med hjälp av dessa kan effekten i varje zon ändras. Elskäpen är stora och skrymmande om man behöver ha mànga zoner, t.ex. 2 - 15 meter breda, 2 meter höga och 0,8 meter djupa. Detta skrymmande elskàp utgör ofta ett problem vid installationer i befintliga fabriker, där utrymmet är begränsat.

Genom att utnyttja sambandet mellan temperaturen efter IR- torken och slutfukthalten, som illustreras i diagram i Fig 1, kan uppfinningen användas att styra fukthalten både tvärs och längs med maskinen genom att mäta temperaturen i en eller flera zoner tvärs IR-rampen och manuellt eller automatiskt styra IR- effekten sà att temperaturprofilen och därmed fuktprofilen utjämnas pá lämpligt sätt.

Temperaturstyrning/Korrigering av en banas temperatur En banas temperatur har sä länge det finns vatten kvar i banan ett samband med banans fukthalt. Detta samband är mycket starkt. I korthet kan man säga att lägre temperatur indikerar högra kvarvarande fukthalt. Detta illustreras i Fig 2.

Vad som är intressant är att punkten dà det fria vattnet är slut identifieras av att banans temperatur börjar stiga snabbt.

Detta förutsätter att tillräckligt med luftcirkulation förekom- mer så att den fuktiga luften kan transporteras bort.

Om man däremot i första hand vill justera banans temperatur mäste man undvika för mycket luftcirkulation, eftersom denna i sà fall torkar ut banan och även gör att temperaturen inte sti- ger lika mycket. För att justera temperaturen pà ett banformigt material finns idag ingen effektiv metod. Om man använder luft sker en uttorkning. Luft är också svårt att styra i tvärled om 519 585 man vill ha en möjlighet att justera banans temperatur i denna led.

IR är dock en möjlighet, speciellt om man sluter luftcirkula- tionen i IR-systemet sä att all luft gär internt och att ingen luft gär externt. Dä går den tillförda energin i första hand till uppvärmning.

Banans temperaturprofil i tvärled kan vara av stor betydelse vid calandrering av papperet, eftersom banans värme överföres till valsarna i calandern. Dessa ändrar dä sin diameter och pressar mer eller mindre på papperet vilket påverkar ytràhet, glans och tjocklek.

Normalt värmer man calandervalsar med luft eller induktions- värme för att bl.a. kompensera för banans ojämna temperatur.

Förbättring eller ändring av banas glans och ytjämnhet Vid tillverkning av t.eX. papper försöker man ändra banas glans och ytràhet genom att làta papperet passera ett eller flera valsnyp. Detta för att öka papperets glans och förbättra ytjämnhet. Man kan ibland även Vilja öka banas matthet med samma metod.

Denna bearbetning är till för att förbättra tryckegenskaper.

Man har konstaterat att jämn bantemperatur och även förhöjd bantemperatur förbättrar resultatet vid calandrering.

Det förekommer också metoder där fukt tillförs banans genom att spruta vatten eller ànga som kondenserar pà ytan för att ytter- ligare förbättra resultatet, eftersom högre fukthalt i ytan förbättrar calanderingen (jmf. tex. strykning med eller utan fukt/ànga).

Vàr beskrivna apparat avses även användas för detta ändamål, dvs att styra och öka banans temperatur bàde i tvärsled och längdsled. Speciallt avses apparaten kunna köras med sin kyl- luft endast arbetande internt, varvid större temperaturökning 519 585 erhàlls och mindre torkning. Detta àstadkoms lätt genom att apparaten har utbytbara eller justerbara luftmunstycket.

Vidare kan IR-torken effektivt kombineras med en apparat för sprayning av vatten eller vattendimma pá banan, antingen före eller efter tillförsel av IR energi. Härmed erhàlls en effekti- vare calandrering som beskrivits ovan, genom att banan blir bäde varmare och fuktigare. Speciellt intressant är här möjlig- heten att öka temperaturen över 100 grader C, vilket inte är möjligt om man använder ànga för att fukta och värma banan.

Minimering av mottling I samband med torkning av bestrykning försöker man torka pà ett optimalt sätt för att undvika mottling. Med mottling menas ett ojämt tryckresultat specieltt framträdande i mörkare färgpar- tier. Detta gör man normalt genom att följa en viss torkstra- tegi, t.ex. att torka snabbt till bestrykningsmeten har nätt sin s.k. immobiliseringspunk, dvs den punkt dä det fria vattnet är slut. Därefter ska man normalt torka långsamt under ett intervall, varefter sluttorkning kan ske i valfri takt. Det är alltsä viktigt att hitta immobiliseringspunkten även om smet- pàlägg och maskinhastighet ändrar sig. Efter immobiliseringen av smeten kan bindemedlet inte vandra mer. Immobiliseringen sker vid ungefär 70 - 80 % smettorrhalt. Normalt torkas smeten till 90 - 95 % sluttorrhalt.

Eftersom den väta smeten inte kan beröras, och eftersom det är svàrt att mäta fukthalten i smeten skild fràn bärarmaterialet t.ex. papper, finns idag ingen effektiv metod att styra tork- ning sà att mottling och bindemedelsvandring minimeras. Normalt mäts fukten t.ex. först dà banan är färdigtorkad.

Genom att beröringsfritt mäta temperaturen i smeten, kan den punkt hittas där det fria vattnet i banan är slut. Denna punkt indikeras av att vid en effekthöjning stiger temperaturen has- 519 585 tigare än tidigare. Avdunstning av fritt vatten sker vid ca. 65 grader C. Den kritiska punkten kan hittas manuellt genom att IR-effekten ökas och minskas och temperaturen registreras. Då ett kritiskt temperaturvärde hittats kan man låta en regulator kontrollera IR-effekten så att denna temperatur sedan hålls.

Alternativt kan man låta ett datorprogram ibland eller ofta automatiskt utföra en kort ändring av effekten varvid tempera- turgradienten registreras och programmet ändrar temperaturens börvärde så att man lägger sig på den optimala temperaturen där det fria vattnet är slut. Eftersom smetpålägget oftast varierar tvärs banan finns ett behov av att hitta immobiliseringen även i tvärsled.

Det föreligger således behov av att säkert och effek- tivt kunna mäta en sagda banas temperatur kontinuerligt och utmed en bestämd större yta.

Huvudändamålet med den föreliggande uppfinningen är därför i första hand att lösa sagda problem enkelt och effek- tivt.

Sagda ändamål uppnås medelst ett förfarande enligt den föreliggande uppfinningen, som i huvudsak kännetecknas därav, att man med hjälp av ett flertal temperaturmätare, som är belägna på en gemensam IR-ramp på inbördes avstånd från varandra i sidled tvärs banan inom jämnt fördelade zoner, kontinuerligt mäter temperaturen på banan tvärs och utmed dess rörelseriktning, att mätresultatet från resp zon av banan överföres till resp tillhörande sagda zon av banan värmepåverkande torkmodul, för att kunna ändra utstyrningen för IR-effekten till banan samt att sagda torkmoduler uppbäres av en sagda gemensam IR-ramp, sammanpackade sidledes tvärs sagda banas rörelseriktning och sträckande sig utmed sagda banas rörelseriktning. 519 585 Ett ytterligare ändamål med uppfinningen är att finna ett säkert fungerande medel att genomföra sagda förfarande med temperaturövervakning.

Sagda ytterligare ändamål uppnås medelst en anordning enligt uppfinningen som i huvudsak kännetecknas därav, att på en gemensam IR-ramp, som mottager ett flertal för värme och/eller torkändamål avsedda i torkmoduler ingående och väsentligen utmed en ifrågavarande banas rörelseriktning sig sträckande IR-lampor, är på inbördes avstånd från varandra vid ena änden av till bildande av en sagda IR-ramp bestående med lampor innehållande torkmoduler anordnade ett flertal i sidled tvärs banan inom jämnt fördelade zoner anordnade tempera- turmätare och som år anordnade att vara belägna utmed banan för att kontinuerligt överföra den uppmätta temperaturen hos resp zon av banan till en resp tillhörande sagda zon av banan värmepàverkande torkmodul för information.

Uppfinningen beskrives i det följande såsom ett före- draget utföringsexempel, med hänvisning till de bifogade ritningarna på vilka, Fig 1 visar ett diagram på slutfukthalt och bantempe- raturen efter IR-torken, Fig 2 visar diagram över fukthalt och bantemperatur resp torkhastighet, Fig 3 visar i perspektiv en IR-ramp för uppbärning av ett flertal IR-moduler, Fig 4-6 visar en IR-modul sedd från olika håll, Fig 7-7B visar ena kortänden av en IR-modul och exem- pel på temperturmätararrangemang, Fig 8-8A visar IR-lamphållare, Fig 9 visar en IR-lampas infästning i en hållare, Fig 10-lOC visar en IR-modul sedd från olika håll, Fig ll-llB visar en IR-ramp i olika vyer, 519 585 Fig 12-12A visar en kombinerad glas- och lampbehàllare och luftavledare, och Fig 13 visar i perspektiv en rad med torkmoduler anordnade uppburna längs med en banas löpriktning.

Uppfinningen löser ovanstående problem genom att banans temperatur kontinuerligt mäts tvärs banan i t.ex. 75 mm segment (zoner). Varje mätpunkt är kopplad till ett styrdon som kan ändra uteffekten i respektive zon så att temperaturbörvär- det kan nås. Även ojämna temperaturbörvärdesprofiler kan erhål- las om sä önskas. En dator beräknar hur mycket effektändring som behövs för att justera temperaturen. Med denna metod kan man för första gängen optimera och förbättra bindemedelsvand- ring och mottling tvärs en t.ex. pappermaskin eller bestrykare, vilket tidigare inte varit möjligt på ett effektivt sätt. Detta kan kombineras med en automatisk sökning av den optimala ban- temperaturen, där IR-torkens effekt kortvarigt làter sig ändras och kontrollerar temperaturgradienten. Även vid andra löpande banor än pappersbanor kan uppfinningen således nyttjas effek- tivt och säkert.

Andra problem som uppfinningen avser lösa I samband med användning av IR-torkar för att lösa ovanstående problem, behöver dessa kunna styra effekten i en eller flera antal zoner. För att kunna göra detta behövs någon form av elektriskt effektstyrningssystem. I regel består dessa av ett antal s.k. tyristorer eller halvledarreläer monterade i ett el- skåp. Mellan elskåpet och IR-torken (torkrampen) går det ett antal kablar, i regel tvà kabelledare per torkzon. Dä antalet torkzoner kan vara många, kan det bli många kablar (t.ex. 100 tals). Själva elskäpet blir också omfångsrikt och kan behöva plats från ca. 2 m upp till 10-15 m längd, med en vanlig bredd av 0,4 till 0,8 m och en höjd av ca. 2 m. Det kan vara svårt att få plats med detta skåp, alternativt kan det vara dyrt att 519 585 lO bygga ett rum för dessa skåp. Själva effektstyrskåpen blir på grund av sin storlekt även dyra. Då vissa delar i en IR-tork är slitagedelar (t.eX. IR-lampor, tyristorer eller halvledar- reläer, säkringar mm), kan det vara tidsödande att felsöka eller byta dessa delar. Uppfinningen avser även att lösa eller förbättra dessa punkter, dvs. mindre eller eliminerat effekt- styrskåp, färre kablar samt snabbare och enklare service och byte av delar.

Beskrivning av IR-modul med integrerad styrning och mätning Nedan beskrives föreliggande uppfinning detaljerat och med hän- visning till de bifogade ritningarna enligt Fig 1-12A.

En elektrisk IR-tork 1 består normalt av två delar, dels ett antal utbytbara IR-moduler 2, reflektorer eller emittrar. Dessa består i regel av ett antal IR-lampor 3 samt en hållare 4 i metall samt en reflektor 5 bakom lamporna 3. Vidare kan före- komma ett skyddsglas 6 för att skydda lamporna 3 från smuts, oftast av kvartsglas, elektriska kopplingsplintar, samt någon form av luftutsläpp eller luftmunstycken 7, 8.

Modulerna 2 är monterade på någon bärande konstruktion eller låda. Vi kan kalla denna för ramp 9. Rampen 9 kan ha som syfte att fördela tilluft 10 och ibland även frånluft ll. Rampen 9 kan bestå av en upp till 100-talet moduler 2, placerad sidledes tätt intill varandra utmed rampens hela längd L. Modulerna är vanligtvis 150 mm breda, men kan var både större och mindre i bredd. Rampens lämpliga mått är t.ex. 150-10000 mm bred, 5-700 mm hög och 200-1200 mm djup.

Uppfinningen består av följande delar: 519 585 ll IR~moduler 2 som på framsidan (mot en ifrågavarande bana 12) har en eller ett flertal IR-lampor 3. Lamporna 3 är monterade fasthållna i ändarna 13 i en lamphållare 14. Dessa lamphållare 14 är utformade så att lampändarna 13 skyddas från IR-strålning från lamporna 3 , samt att kylluft förmås strömma effektivt kring dessa. Lampändarna 13 får bli maximalt cza 350°C varma.

För att uppnå bättre kylning av lampändarna 13 är dessa fast- hållna snedställda. Lamporna 3 trycks fast i sina med sneda mottagningsöppningar 15 försedda hållare 14 hos den plåtdetalj 16 som samtidigt kan fungera som hållare för skyddsglasen 6, Se Fig 10 och 12. Bakom dessa glas 6 sitter en reflektor 5 som ska reflektera strålning framåt. Denna reflektor 5 kan vara av ett material som reflekterar IR-strålning, t.ex. guldbelagd keramik eller stålfolie. Framför lamporna 3 kan ett sagda skyddsglas 6 sitta fästat. Vidare sitter på framsidan luftmunstycken som har till uppgift att transportera bort fukt eller lösningsmedel eller stabilisera banan 12 framför IR-torken 1. Luftmunstyckena 7, 8 är lämpliga utbytbara, så att dessa kan anpassas efter tillämpningen. De kan t.ex. vara öppna och av ”foil”-typ. Dessa utnyttjar coanda-effekten för att stabilisera banan 12 nära torken 1. De kan också vara av övertryckstyp. Dessa trycker mer på banan. Alternativt är de slutna. Då cirkuleras luften internt i IR-rampen 2 och träffar inte banan 12. Detta ger mindre torkning men högre uppvärmningseffekt.

På baksidan av IR-modulen 2 har hela effektstyrningen 16 till modulen 2 integrerats.

Denna effektstyrning 16 kan bestå av följande detal- jer: En isolerad montageplatta 17. På denna är fäst en eller flera tyristorer 18 eller halvledarreläer. Deras uppgift är att styra H r-n effekten i en elle lera zoner steglöst. Vidare sitter monte- rat ett styrkort 19 som styr tyristorn eller halvledarrelåna och som är beläget under ett signalöverföringskort 50 i modulen 519 585 “ 12 2. Detta styrkort 19 fär styrsignaler fràn en överordnad dator eller en operatörspanel. Styrsignalen överföres beröringsfritt fràn ett sändarkort till styrkortet 19, detta för att möjlig- göra enkel och snabbt byte av IR-modulen 2 med elektronik.

Styrkortet 19 samlar även upp information från omgivningen.

Följande kan därvid mätas: Temperaturen pà styrkortet 19, aktu- ell strömförbrukning, spänning och nätfrekvens. Pä detta sätt fäs en äterförning av den verkligen utstyrda effekten. Detta kan användas för att beräkna om en eller flera av lamporna 3 är defekt 9. Vidare kan detekteras fel i tyristor/relä eller i säkringar.

Vidare sitter tvà stycken säkringar 20 monterade lätt löstag- bart med hjälp av t.ex. fjäderklämsutformade snabbkopplingar 21 pá plattans baksida. Två stycken strömtransformatorer mäter verklig ström.

Modulerna 2 monteras i sin ramp 9 via snabbkopplingar 22, 23 för att dessa snabbt ska kunna bytas. Snabbkopplingarna kan bestå av tvä stift 22 i ena sidan av modulen samt t.ex. hakfor- miga svängbara snabbkopplingar 23 i andra änden av modulen. Dä modulen 2 demonteras kopplas även strömmen till densamme bort genom att strömmen ansluts via de tidigare nämnda säkrings- snabbkopplingarna 21.

Strömmen till modulerna 2 fördelas via grova kablar 24 och/eller kopparskenor 25 som gär längs med rampen 2. Fràn dessa tas ström ned till de sagda tvà stycken säkringarna 20.

Säkringarna 20 är nödvändiga för att man ska kunna använda färre men grövre kablar 24 eller kopparskenor 25 för den interna fördelningen i rampen 9. Grövre (men färre) kablar eller skenor minskar utrymmesbehovet, vilket ger fördelar speciellt i breda ramper.

Integrerad med modulen 2 är samtidigt en eller flera berörings- fria temperaturmätare 26. Dessa mäter banans temperatur 519 585 13 antingen före passage genom IR-torken 1, eller sàsom visas pà ritningarna efter passage genom denna. Temperatursignalen fràn respektive zon leds till en dator som baserat pà denna informa- tion antingen kan registrera och visa temperaturprofilen tvärs banan, eller automatiskt ändra utstyrningen till tyristorerna / halvledarreläna sà att IR-effekten ändrar sig pä önskat sätt.

Med denna koppling kan flera av tidigare beskrivna fördelar uppnås. Önskad temperaturprofil efter IR-torken kan ställas in via börvärde att vara t.ex. helt jämn alternativt enligt nàgon annan önskad profil. Temperaturen mäts kontinuerligt i varje punkt. Temperaturvärdena skickas via ett bussystem till den överordnade datorn eller operatörspanelen.

Dä IR-modulen 2 demonteras för att bytas ut mot en ersättnings- modul 2 snabbt och enkelt följer temperaturmätarna 26 med, vilket ger möjlighet till senare enkel rengöring och service, t.ex. byte av trasiga IR-lampor, glas etc utan alltför längt driftstopp.

Förfarandet för att övervaka temperaturen vid banfor- miga alster 12 som påverkas av en IR-ramp 9 för ytbehandling av banan 12 innefattar således att man med hjälp av ett flertal temperaturmätare 26 kontinuerligt mäter temperaturen pà banan 12 tvärs 27 och längs utmed dess rörelseriktning 28 när banan transporteras förbi den företrädesvis fast placerade IR-torken l.

Lämpligen mäter man temperaturen med ett flertal i sidled 27 pà inbördes avstånd B fràn varandra pä IR-rampen 9 belägna temperaturmätare 26 inom jämnt fördelade zoner I, II, III..., före eller efter rampen 9 sett i banans rörelseriktning 28, men företrädesvis nedströms rampen 9.

En anordning som lämpar sig att tillämpa för genom- förande av ett enligt uppfinningen avsett förfarande för att kontinuerligt övervaka temperaturen vid banformiga alster 12 som pâverkas av en IR-ramp 9 för ytbehandling av banan 12 519 585 14 bildas av en IR-ramp 9, som mottager ett flertal för värme och/eller torkändamàl avsedda IR-lampor 3. På sagda ramp 9 är ett flertal i sidled 27 fördelade temperaturmätare 26 anordnade och som är anordnade att vara belägna utmed banan 12 för att kontinuerligt överföra den avlästa temperaturen hos banan 12 till en mottagare för information.

Sagda temperaturmätare 26 är anordnade vid ena änden av till bildande av en IR-ramp 9 bestående med lampor 3 inne- hållande torkmoduler 2 som är lösgörbart fastsättbara pà en tvärs avsedd bana 12 sig sträckande rampstomme.

Enligt uppfinningen är åtminstone en men företrädesvis två temperaturmätare 26 mottagen/mottagna av ett vid ifråga- varande torkmoduls ena ände anordnat bygelformigt handtag 30 med anordnad ledning 31 sträckande sig in till sagda moduls 2 inre utrymme 32. En mottagningshylsa 33 resp temperaturmätare 26 kan vara anordnad fästad pä sagda handtag 30.

Temperaturöverföringsledningen 31 sträcker sig före- trädesvis till en ej visad dator för att möjliggöra överföring av mätresultat fràn resp zon I, II, III ... av banan 12 och att datorn baserat på denna information om temperatur kan registrera och visa temperaturprofilen tvärs 27 banan och/eller automatiskt ändra utstyrningen för IR-effekten till banan 12.

Resp IR-modul 2 uppvisar ett flertal fästen för fast- hållning av många IR-lampor 3 pà en gång och som är anordnade snedställda så att ändarna 13 på lamporna 3 är anordnade att fasthållas lutande sett utmed resp lampas längdmedelplan såsom ovan redan beskrivits.

Resp IR-rampmodul 2 är anordnad att drivas medelst ström som ledes via kablar 24 eller kopparskenor 25 till desamma och anslutes via säkringar 20.

Resp IR-rampmodul 2 uppvisar öppning för tillförsel av kylluft 10 från/till IR-rampen 2 gående tilluftpassage till området för IR-lampornas resp infästningsändar och att sagda 519 585 15 lufttillförselöppning företrädesvis är tillslutbar för intern luftcirkulation i IR-modulerna 2.

Resp IR-modul 2 uppvisar hakformigt fäste 23 för svängbar fastsättning av IR-modulen vid dess ena ände pà t.ex. en axel och att styrstift 22 mottages vid IR-modulens andra ände för mottagande i var sitt styrhàl i rampen 9 samt att dylika snabbfästorgan 22, 23 mottages vid resp ände 2A, 2B av IR-modulerna 2.

Enkel hantering, uppbyggnad och funktion möjliggöres således att ästadkommas med hjälp av uppfinningen.

Uppfinningen är naturligtvis inte begränsad till det ovan beskrivna och pà de bifogade ritningarna visade utförandet. Modifieringar är möjliga, särskilt när det gäller de olika delarnas beskaffenhet, eller genom användande av lik- värdig teknik, utan att man fràngàr skyddsomràdet för uppfin- ningen, såsom den definieras i patentkraven.

Claims (11)

519 585 16 P a t e n t k r a v

1. Förfarande för att övervaka temperaturen vid banfor- miga alster (12) som pâverkas av en IR-ramp (9) för ytbehand- ling av banan (12), kännetecknad därav, att man med hjälp av ett flertal temperaturmätare (26), som är belägna pà en gemensam IR-ramp (9) pà inbördes avstànd (B) fràn varandra i sidled (27) tvärs banan (12) inom jämnt fördelade zoner (I, II, III . _), kontinuerligt mäter temperaturen på banan (12) tvärs (27) och utmed dess rörelseriktning (28), att mätresultatet fràn resp zon (I, II, III...) av banan (12) överföres till resp tillhörande sagda zon (I, II, III...) av banan (12) värmepàverkande torkmodul (2), för att kunna ändra utstyrningen för IR-effekten till banan (12) samt att sagda torkmoduler (2) uppbäres av en sagda gemensam IR-ramp (9), sammanpackade sidledes tvärs sagda banas rörelseriktning (28) och sträckande sig utmed sagda banas rörelseriktning (28).

2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknad därav, att man mäter vid ändarna av huvudsakligen utmed rörelse- riktningen (28) för en ifrågavarande bana (12) sig sträckande IR-lampor (3).

3. Förfarande enligt patentkrav 2, kännetecknat därav, att man mäter temperaturen nedströms rampen (9) och lamporna (3) sett i banans (12) rörelseriktning (28).

4. Anordning för genomförande av ett förfarande för att övervaka temperaturen vid banformiga alster (12) som pâverkas av en IR-ramp (9) för ytbehandling av banan (12) enligt något av ovan angivna patentkrav, kännetecknad därav, att på en gemensam IR-ramp (9), som mottager ett flertal för värme och/eller torkändamäl avsedda i torkmoduler (2) ingående och 519 585 l7 väsentligen utmed en ifrågavarande banas (12) rörelseriktning (28) sig sträckande IR-lampor (3), år på inbördes avstånd (B) fràn varandra vid ena änden av till bildande av en sagda IR~ramp (9) bestående med lampor (3) innehållande torkmoduler (2) anordnade ett flertal i sidled (27) tvärs banan (12) inom jämnt fördelade zoner (I, II, III ..) anordnade tempera- turmätare (26) och som är anordnade att vara belägna utmed banan (12) för att kontinuerligt överföra den uppmätta temperaturen hos resp zon (I, II, III ...) av banan (12) till en resp tillhörande sagda zon av banan värmepåverkande torkmodul (2) för information.

5. Anordning enligt patentkrav 4, kännetecknad därav, att sagda torkmoduler (2) med uppbärande temperaturmätare (26) är lösgörbart fastsättbara på en tvärs avsedd bana (12) sig sträckande rampstomme.

6. Anordning enligt patentkrav 5, kännetecknad därav, att åtminstone en men företrädesvis två temperaturmätare (26) är mottagen/mottagna i med ett vid ifrågavarande torkmoduls ena ände anordnat bygelformigt handtag (30) med ledning (31) in till sagda moduls inre utrymme (32).

7. Anordning enligt patentkrav 6, kännetecknad därav, att temperaturöverföringsledningen (31) sträcker sig till en dator för att möjliggöra överföring av mätresultat från resp zon av banan (12) och att datorn baserat på denna information om tem- peratur kan registrera och visa temperaturprofilen tvärs banan (12) och/eller automatiskt ändra utstyrningen för IR-effekten till banan (12).

8. Anordning enligt patentkrav 7, kännetecknad därav, att resp IR-modul (2) uppvisar ett flertal fästen (14) för IR-lam- por (3) och som är anordnade snedställda så att ändarna (13) på lamporna (3) är anordnade att fasthållas lutande sett utmed resp lampas längdmedelplan. 519 585 18

9. Anordning enligt något av patentkraven 5-8, känneteck- nad därav, att resp IR-rampmodul (2) är anordnad att drivas medelst ström som ledes via kablar (24) eller kopparskenor (25) till desamma och anslutes via säkringar (20).

10. Anordning enligt något av patentkraven 5-9, känneteck- nad därav, att resp IR-rampmodul (2) uppvisar öppning för till- försel av kylluft (10) fràn till IR-rampen (2) gående tilluft- passage till området för IR-lampornas infästningsändar (13) och att sagda lufttillförselöppning företrädesvis är tillslutbar för intern luftcirkulation i IR-modulerna (2).

11. ll. Anordning enligt något av patentkraven 5-10, känne- tecknad därav, att resp IR-modul (2) uppvisar hakformigt fäste (23) för svängbar fastsättning av IR-modulen (2) vid dess ena ände och att styrstift (22) mottages vid IR-modulens andra ände samt att snabbfästorgan (22, 23) mottages vid resp ände (2A, 2B) av IR-modulerna (2).