SU1101672A1 - Устройство дл бесконтактного измерени деформаций - Google Patents

Устройство дл бесконтактного измерени деформаций Download PDF

Info

Publication number
SU1101672A1
SU1101672A1 SU802873225A SU2873225A SU1101672A1 SU 1101672 A1 SU1101672 A1 SU 1101672A1 SU 802873225 A SU802873225 A SU 802873225A SU 2873225 A SU2873225 A SU 2873225A SU 1101672 A1 SU1101672 A1 SU 1101672A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
beams
splitter
angle
bisector
photodetectors
Prior art date
Application number
SU802873225A
Other languages
English (en)
Inventor
Анатолий Прокопьевич Быков
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4903
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4903 filed Critical Предприятие П/Я Г-4903
Priority to SU802873225A priority Critical patent/SU1101672A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1101672A1 publication Critical patent/SU1101672A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ, содержащее установленные вдоль оптического , пучка лазер, коллиматор, расщепитель , формирующий два пучка света, и дифракционную решетку, предназначенную дл  установки на исследуемой поверхности в зоне пересечени  пучков перпендикул рно биссектрисе угла между ними, и фотоаппарат, отличающеес  тем, что, с целью увеличени  чувствительности и точности, оно снабжено оптическим частотным модул тором, размещенным между лазером и коллиматором , фотоприемным блоком, выполненным из двух жестко св занных друг с другом фотодетекторов, установленных в плоскости расщеплени  симметрично относительно биссектрисы угла между пучками, и электронным фазометром, опорный и измерительный входы которого подключены к выходам фотодетекторов.g (Л о: ю

Description

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам измерения деформации, и . может быть использовано при аттестации тензорезисторов.
Известно.устройство для бесконтактного измерения деформации, содержащее установленные вдоль оптического пучка лазер, коллиматор, расщепитель, формирующий два пуч;ка света и дифракционную решетку, предназначенную для установки на исследуемой поверхности в зоне пересечения пучков перпендикулярно биссектрисе угла между ними С1].
Известно также устройство для бесконтактного измерения деформаций, содержащее установленные вдоль оптического пучка лазер', коллиматор, •расщепитель, формирующий два пучка света, и дифракционную решетку, предназначенную для установки на исследуемой поверхности в зоне пересечения пучков перпендикулярно биссектрисе угла между ними,и фотоаппарат (2].
Однако известные устройства не обеспечивают требуемую чувствительность и точность измерений,, ограниченные разрешающей способностью и абберациями объектива.
Целью изобретения является увеличение чувствительности и точности измерения, ц) Поставленная цель достигается' ' тем, что устройство снабжено оптическим частотным модулятором, размещенным между лазером и коллиматором, фотоприемным блоком, выполненным иэ двух жестко связанных друг, с другом фотодетекторов, установленных в плоскости расщепления симметрично относительно биссектрисы угла между пучками,и электронным фазометром,опорный и измерительный входы которого подключены к выходам фотодетекторов. .
На чертеже представлена схема устройства для бесконтактного измерения деформации.
Устройство содержит установленные вдоль оптического пучка лазер 1, коллиматор 2, расщепитель 3, формирующий два пучка света, оси которых пересекаются в плоскости расщепления и дифракционную решетку 4, предназначенную для установки на исследуемой поверхности в зоне пересечения пучков’ перпендикулярно биссектрисе угла между осями этих пучков, оптический частотный модулятор 5, фотоприемный блок 6, выполненный из двух жестко связанных друг с другом фотодетекторов 7, установленных в плоскости расщепления симметрично относительно биссектрисы угла между пучками, и электронный фазометр 8, опорный и измерительный входы которого подключены к выходам фотодетекВНИИПИ Заказ 4749/25

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТ-* ного ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ, содержащее установленные вдоль оптическо исследуемой поверхности в зоне пересечения пучков перпендикулярно биссектрисе угла между ними, и фотоаппарат, отличающееся тем, что, с целью увеличения чувствительности и точности, оно снабжено оптическим частотным модулятором, размещенным между лазером и коллиматором, фотоприемным блоком, выполненным из двух жестко связанных друг· с другом фотодетекторов, установленных в плоскости расщепления симметрично относительно биссектрисы го.пучка лазер, коллиматор, расщепитель, формирующий два пучка света, и дифракционную решетку, предназначенную для установки на угла между пучками, и электронным фазометром, опорный и измерительный входы которого подключены к выходам фотодетекторов.
    торов 7. Расщепитель 3 состоит из < поляризационного светоделителя 9, полуволновой пластинки 10 и юстируемых зеркал 11.
    Устройство работает следующим образом.
    Пучок излучения лазера 1 модулируется оптическим частотным модулятором 5. На выходе модулятора получаются две составляющие излучения с взаимно ортогональной поляризацией и с частотами, отличающимися на частоту задающего генератора .модулятора. С помощью поляризационного светоделителя 9 две составляющие излучения разделяются на два пучка с взаимно ортогональной поляризацией и различной частотой.
    Полуволновая пластинка 10 в одном из плеч расщепителя поворачивает плоскость поляризации излучения в этом плече на 90°. Отразившись от зеркала 11, пучки пересекаются. В зоне пересечения устанавливается объект с дифракционной решеткой 4, штрихи которой перпендикулярны плоскости расширения 3. Угол между осями пучков согласован с периодом дифракционной решетки таким образом, что отраженные дифракционные пучки коллинеарны и перпендикулярны поверхности объекта. Дифракционные пучки интерферируют друг с другом,, образующаяся интерференционная картина регистрируется фотодетектором 7 в двух симметричных относительно биссектрисы угла между пучками точках в плоскости расщепителя. Электрические сигналы с фотодетекторов на частоте задающего генератора модулятора 5, подаются на опорный и изме. рительный входы электронного фазометра 8, который измеряет разность фаз этих сигналов. До деформации объекта расщепитель 3 настраивается примерно на бесконечную полосу при интерференции пучков, т.е. что- . бы разность фаз электрических сигналов была примерно равна· нулю. При деформации объекта период решетки 4 изменяется и появляется угол между дифронированными пучками, что приводит к образованию интерференционной . картины, с конечным шагом полос. Фазометр 8 измеряет разность фаз в пределах одного периода,а целое число периодов при необходимости может быть электронным счетчиком. Величина деформации определяется по измеренной разности фаз и по известному периоду решетки 4 и расстоянию между точками, в которых регистрируется оптический сигнал.
    Таким образом, повышается чувствительность и точность измерения деформации объектов.
    Тираж 587 Подписное
    Фи'Лиал ППП Патент, г. Ужгор0д7~улГ“Пр5ёктная74
SU802873225A 1980-01-18 1980-01-18 Устройство дл бесконтактного измерени деформаций SU1101672A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802873225A SU1101672A1 (ru) 1980-01-18 1980-01-18 Устройство дл бесконтактного измерени деформаций

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802873225A SU1101672A1 (ru) 1980-01-18 1980-01-18 Устройство дл бесконтактного измерени деформаций

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1101672A1 true SU1101672A1 (ru) 1984-07-07

Family

ID=20873752

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802873225A SU1101672A1 (ru) 1980-01-18 1980-01-18 Устройство дл бесконтактного измерени деформаций

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1101672A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2609443C1 (ru) * 2015-08-10 2017-02-01 Акционерное общество "ЛОМО" Система контроля угловых деформаций крупногабаритных платформ

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Патент US № 3.628.866., кл. 356-32, 1971. 2. Патент GB № 1364607, кл. G 2 J 1, 1974 (прототип). *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2609443C1 (ru) * 2015-08-10 2017-02-01 Акционерное общество "ЛОМО" Система контроля угловых деформаций крупногабаритных платформ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5187543A (en) Differential displacement measuring interferometer
EP0146244B1 (en) Optical instrument for measuring displacement
US3788746A (en) Optical dilatometer
US4746216A (en) Angle measuring interferometer
US4432239A (en) Apparatus for measuring deformation
JPS60123704A (ja) 光学干渉計システムとその使用方法
EP0104322B1 (en) A dual differential interferometer
EP0244275B1 (en) Angle measuring interferometer
US3604804A (en) Noncontacting motion sensor
US5164791A (en) Minute displacement detector using optical interferometry
US5317147A (en) Method and apparatus for absolute measurement of force by use of polarized, non-coherent light and compensation of strain-induced birefringence effects in a single mode-fiber optic waveguide
US4504147A (en) Angular alignment sensor
US4436419A (en) Optical strain gauge
US5900936A (en) Method and apparatus for detecting relative displacement using a light source
US5076693A (en) Optical contour measuring apparatus
WO1994011895A1 (en) Method and apparatus for measuring displacement
US4425041A (en) Measuring apparatus
SU1101672A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени деформаций
US5426504A (en) Optical depth gauge for optically rough surfaces
RU2069839C1 (ru) Устройство для определения поперечных смещений
GB1138225A (en) Improvements in or relating to optical interferometers
JPH01142401A (ja) 光学式変位測定装置
SU1744452A1 (ru) Интерферометр дл контрол плоскостности отражающих поверхностей
JP2924754B2 (ja) 光行差速度計
SU1696854A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений объекта