SU1114979A1 - Устройство дл измерени диэлектрической проницаемости материалов - Google Patents
Устройство дл измерени диэлектрической проницаемости материалов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1114979A1 SU1114979A1 SU823455902A SU3455902A SU1114979A1 SU 1114979 A1 SU1114979 A1 SU 1114979A1 SU 823455902 A SU823455902 A SU 823455902A SU 3455902 A SU3455902 A SU 3455902A SU 1114979 A1 SU1114979 A1 SU 1114979A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- dielectric
- conductor
- resistor
- camera
- active element
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 18
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000035699 permeability Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ МАТЕРИАЛОВ , содержащее измерительную камеру , подключенную к активному элементу дл генерации СВЧ колебаний с резистором в цепи питани , делитель напр жени , подключенный параллельно цепи питани и индикатор между резистором и плечами делител , отличающеес тем, что, с целью повышени точности, центральный проводник с одной стороны камеры в виде отрезка коаксиальной линии передачи выполнен выступающим за пределы внешнего проводника на рассто ние не более 0,3 длины волны, а с другой стороны камера включена в цепь базы активного элемента в виде СБЧ транзистора. (Я 2. Устройство по П.1, отличающеес тем,что выступающа с часть проводника полностью помещена в диэлектрический цилиндр длиной не более 0,3 где Л - длина волны, t - диэлектрическа проницаемость материала цилиндра. 4 со со
Description
Изобретение относитс к радиоиз рительной технике, а именно к изме рител м диэлектрической проницаемо ти СВЧ -методами, и предназначено д контрол качества материалов, вьту каемых радиотехнической промьппленностью . Известно устройство, реализующе методы измерений с помощью накладных СВЧ систем. В этом устройстве исследуемьш материал прикладываетс к открытому концу линии передачи. При этом используют отрезок коакси с уменьшающимис диаметрами внешне и внутреннего проводников l. К недостаткам такого устройства относ тс сравнительно невысока .точность измерени и необходимость в сложной регистрирующей аппаратур Наиболее близким к изобретению вл етс устройство дл измерени диэлектрической проницаемое т i материалов , содержащее измерительную камеру, подключенную к активному элементу дл генерации СВЧ колебаНИИ с резистором в цепи питани , делитель напр жени , подключенный параллельно цепи питани и индикаторный элемент между резистором и плечами делител 2}. Недостатком известного устройства вл етс сравнительно низка точность измерени . Цель изобретени - повьпиение точности измерени . Поставленна цель достигаетс тем, что в устройстве дл измерени диэлектрической проница мости материалов, содержащем из мерительную камеру, подключенную к активному элементу дл генерации СВЧ колебаний с резис-. тором в цепи питани , делитель напр жени , подключенный параллель но цепи питани и индикатор между резистором и плечами делител ,центральный проводник с одной стороны камеры в виде отрезка коаксиальной линии передачи вьтолнен выступающим за пределы внешнего проводника на рассто ние не более 0,3 длины волны, а с другой стороны камера включена в цепь базы активного эле мента в виде СВЧ транзистора. Кроме того, выступающа часть проводника полностью помещена в диэлектрический цилиндр длиной не более 0,3 X В/УГ , где Л р, дпина волны; t - диэлектрическа проницаемость материала цилиндра. На чертеже приведена схема устройства . Устройство содержит активный элемент в В1еде СВЧ транзистора 1, измерительную камеру 2 в виде, отрезка коаксиальной линии, центральный проводник 3 камеры, источник 4 питани , плечи делител 5 напр жени , индикатор 6, резисторы 7 и 8 в цепи питани транзистора, диэлектрический цилиндр 9. Параллельно цепи эмиттер-коллектор транзистора подключен делитель 5 напр жени -на резисторах 5-1, 5-2. Между коллектором транзистора 1 и плечами делител 5 включен индикатор 6, Измерительна камера 2 включена в цепь базы и представл ет собой отрезок коаксиальной линии передачи, центральный проводник 3 которой выполнен выступающим за пределы внешнего проводника на рассто ние не больше 0,3 Xfe при этом выступающа часть проводника может быть помещена в диэлектрический цилиндр 9, при этом длина выступающей частн олжна быть не больше 0,3 Ли /У где - диэлектрическа проницаемость материала цилиндра. Предлагаемое устройство работает следующим образом. После подключени к источнику питани устанавливают нуль на |Индикаторе, например, с помощью переменного резистора 5-2. Затем прижимают исследуемьш диэлектрик к выступающей части центрального проводника коаксиала. По величине сигнала разбаланса, фиксируемого индикатором, суд т о величине диэлектрической проницаемости.По вление сигнала разбаланса св зано с тем, что режим работы транзистора по посто нному - току зависит от элементов его СВЧ схемы. При этом большее вли ние оказьшает изменение элементов СВЧ в цепи базы, так как небольшое изменение режима в цепи базы приводит к существенному измерению режима в цепи коллектора. Вьтолнение центрального проводника коаксиальной линии выступающим за ределы внешнего проводника приво3 дит к увеличению концентрации пол на его конце по сравнению со случаем , когда его длина равна длине внешнего проводника, и следова11149794 дельно, к увеличению степени взаимодействи с исследуемым диэлектриком и, в конечном итоге, к повышению чувствительности.
Claims (2)
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ МАТЕ
РИАЛОВ, содержащее измерительную камеру, подключенную к активному элементу для генерации СВЧ колебаний с резистором в цепи питания, делитель напряжения, подключенный параллельно цепи питания и индикатор между ре зистором и плечами делителя, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, центральный проводник с одной стороны камеры в виде отрезка коаксиальной линии передачи выполнен выступающим за пре делы внешнего проводника на расстояние не более 0,3 длины волны, а с другой стороны камера включена в цепь базы активного элемента в виде СВЧ транзистора.
2. Устройство по п.1, отли чающееся тем,что выступающая часть проводника полностью помещена в диэлектрический цилиндр длиной не более 0,3 где - длина волны, t - диэлектрическая проницае- мость материала цилиндра.
ί
11 14979
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU823455902A SU1114979A1 (ru) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | Устройство дл измерени диэлектрической проницаемости материалов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU823455902A SU1114979A1 (ru) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | Устройство дл измерени диэлектрической проницаемости материалов |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1114979A1 true SU1114979A1 (ru) | 1984-09-23 |
Family
ID=21017640
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU823455902A SU1114979A1 (ru) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | Устройство дл измерени диэлектрической проницаемости материалов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1114979A1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2529417C1 (ru) * | 2013-10-25 | 2014-09-27 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Саратовский Государственный Университет Имени Н.Г. Чернышевского" | Резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов |
-
1982
- 1982-06-22 SU SU823455902A patent/SU1114979A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 1. Ягудин Г.Х. Измерение электрофизических параметров с помощью электромагнитных полей СВЧ диапазона. Обзоры по электронной технике, вып. 21, 1968, с. 51-55. 2. Усанов Д.А., Вагарин А.Ю,, Безменов А..А. Об использовании детекторного эффекта в генераторах на ЛПД дл измерени диэлектрической проницаемости материалов, - Дефектоскопи , 1981, № 11, с. 106-107 (прототип). * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2529417C1 (ru) * | 2013-10-25 | 2014-09-27 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Саратовский Государственный Университет Имени Н.Г. Чернышевского" | Резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ATE262682T1 (de) | Strommessvorrichtung | |
| US4041395A (en) | Transmitter performance monitor and antenna matching system | |
| SU1114979A1 (ru) | Устройство дл измерени диэлектрической проницаемости материалов | |
| US3602819A (en) | Sensitivity or noise level measurement circuit and method | |
| US3732490A (en) | Impedance probe for swept network analyzer system | |
| US2497094A (en) | Microwave apparatus | |
| US3588690A (en) | Test circuit including bridge type oscillator means for monitoring equivalent series resistance of quartz crystals | |
| KR900000707A (ko) | 회로 소자 측정 장치 | |
| US2477085A (en) | Frequency controlled micrometer | |
| JP2698615B2 (ja) | 回路素子測定装置 | |
| US2894206A (en) | Transistor beta tester | |
| US4733173A (en) | Electronic component measurement apparatus | |
| GB1404744A (en) | Variable impedance for use in testing coaxial cables | |
| US2919419A (en) | Tunable cavity resonator | |
| GB2158592A (en) | Electrical probe assembly | |
| US2790150A (en) | Wavemeter | |
| JPH1010170A (ja) | インピーダンス測定装置 | |
| SU926601A1 (ru) | Устройство дл бесконтактного измерени тока | |
| SU1642290A1 (ru) | Сигнализатор нестабильности давлени газа | |
| SU544024A1 (ru) | Детекторна секци | |
| SU1626138A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров материалов | |
| SU467285A1 (ru) | Устройство дл абсолютного измерени мощности свч | |
| SU1071962A1 (ru) | Устройство дл измерени электрического тока | |
| SU1597343A1 (ru) | Устройство дл измерени резонансной частоты электрической цепи | |
| SU558231A1 (ru) | Измеритель модул коэффициента передачи тока транзисторов в импульсном режиме |