SU1133481A1 - Устройство дл измерени напр жений в объекте - Google Patents

Устройство дл измерени напр жений в объекте Download PDF

Info

Publication number
SU1133481A1
SU1133481A1 SU823420317A SU3420317A SU1133481A1 SU 1133481 A1 SU1133481 A1 SU 1133481A1 SU 823420317 A SU823420317 A SU 823420317A SU 3420317 A SU3420317 A SU 3420317A SU 1133481 A1 SU1133481 A1 SU 1133481A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
polarizer
analyzer
light source
optical system
optical axis
Prior art date
Application number
SU823420317A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Николаевич Кологривов
Original Assignee
Институт физики Земли им.О.Ю.Шмидта
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт физики Земли им.О.Ю.Шмидта filed Critical Институт физики Земли им.О.Ю.Шмидта
Priority to SU823420317A priority Critical patent/SU1133481A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1133481A1 publication Critical patent/SU1133481A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НЛЛРЯЖЕНИЙ В ОБЪЕКТЕ,содержащее расположенные последовательно вдоль оптической оси источник света, пол ризатор , оптическую систему, анализатор , вторую оптическую систему и систему регистрации, отличающеес  тем, что, с целью расширени  технологических возможностей за счет обеспечени  измерений также и динамических напр жений, оно снабжено расположенными последовательно вдоль оптической оси в тех же плоскост х дополнительными источником света, пол ризатором и анализатором . 00 со 4 СХ

Description

и
Изобретение относитс  к пол ризационно-оптическому методу измерений напр жений и деформаций.
Известно устройство дл  измерений напр жений в объекте, содержащее расположенные последовательно вдоль оптической оси источник света, оптическую систему, пол ризатор, две четвертьволновых пластинки, анализатор и регистрирующую -систему ЦЗ.
Недостатком этого устройства  вл етс  то, что дп  получени  изохром в объекте при разных д инах волн света требуютс  различные четвертьволновые пластинки. Кроме того, имеетс  погрешность в определенрш напр жений из-за неточности изготовлени  четвертьволновых пластинок.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности  вл етс  устройство дл  измерени  напр гкений в объекте, содержащее расположенные последовательно вдоль оптической оси источник света, пол ризатор, оптическую систему и анализатор, синхронизированные между собой, вторую оптическую систему и систему регистрации 2.3.
Однако известное устройство не пригодно дл  получени  динамических картин изохром в объекте из-за того, что картину изохром создают посредством двух экспозиций интерференционных картин при напрайлени х пол ризации света, отличающихс  г на 45.
Целью изобретени   вл етс  расширение технологических возможностей за счет обеспечени  измерений также и динамических напр жений.
Эта цель достигаетс  тем, что устройство дл  измерени  напр жений в объекте, содержащее расположенные последовательно вдоль оптический
34812
оси источник света, пол ризатор, | оптическую систему, анализатор, вторую оптическую систему и систему регистрации, снабжено расположенными последовательно вдоль оптической оси в тех же плоскост х дополнительными источником света, пол ризатором и анализатором.
На чертеже показана схема предла-. 0 гаемого устройства.
Устройство содержит расположенные последовательно вдоль оптической оси источник 1 света, пол ризатор 2, оптичесЛую систему 3, анализатор 4, 5 вторую оптическую систему 5, систему 6 регистрации и дополнительные , источник 7 света, пол ризатор 8 и анализатор 9. Объект 10 устанавливаетс  между оптической системой 3 0 и анализаторами 4 и 9.
Устройство работает следующим образом .
Дл  получени  картины изохром в системе регистрации одновременно суммируют две интерференционные картины , полученные при плоской пол ризации пучков света, отличающихс  на 45°. Одна интерференционна  картина образуетс  при прохождении пучка света от источника 1 света через пол ризатор 2, оптическую систему 3, объект 10, анализатор 4, оптическую систему 5 и систему 6 регистрации, а втора  - при прохождении пучка света от источника 7 света через пол ризатор 8, оптическую систему 3, объект 10, анализатор 9 и оптическую систему 5.
Предлагаемое устройство позвол ет , измер ть переменные во времени напр жени  в прозрачньпс объектах, работает в широком спектральном диапазоне просвечивающего объекты света .

Claims (1)

  1. : УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЙ В ОБЪЕКТЕ,содержащее расположенные последовательно вдоль оптической оси источник света, поляризатор, оптическую систему, анализатор, вторую оптическую систему и систему регистрации, отличающееся тем, что, с целью расширения технологических возможностей за счет обеспечения измерений также и динамических напряжений, оно снабжено расположенными последовательно вдоль оптической оси в* тех же плос- . костях дополнительными источником света, поляризатором и анализатором.
SU823420317A 1982-04-06 1982-04-06 Устройство дл измерени напр жений в объекте SU1133481A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823420317A SU1133481A1 (ru) 1982-04-06 1982-04-06 Устройство дл измерени напр жений в объекте

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823420317A SU1133481A1 (ru) 1982-04-06 1982-04-06 Устройство дл измерени напр жений в объекте

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1133481A1 true SU1133481A1 (ru) 1985-01-07

Family

ID=21005661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823420317A SU1133481A1 (ru) 1982-04-06 1982-04-06 Устройство дл измерени напр жений в объекте

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1133481A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
-1. Александров А.Я., Ахметэ нов М.Х. Пол ризационно-оИтическне методы механики деформируемого те:ла. М., НаукаЧ 1973, С. 90. 2t Там же, с. 92. : *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6125282B2 (ru)
JPS6239922B2 (ru)
EP0281385A2 (en) Plane mirror interferometer
CN103292728B (zh) 一种高精度长程面形检测系统及检测方法
JPH03504768A (ja) 特に可動な構成要素の距離及至シフト運動を測定するための干渉計システム
US4345838A (en) Apparatus for spectrometer alignment
SU1095033A1 (ru) Пол ризационный интерферометр сдвига
JP3405480B2 (ja) 回折格子を用いた位置合わせ方法及び位置合わせ装置
SU1612273A1 (ru) Интерференционный резольвометр
SU1413415A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий
JPS59164926A (ja) 干渉分光計
SU684335A1 (ru) Система дл калибровки спектров
SU1573442A1 (ru) Интерференционный резольвометр
SU1315799A1 (ru) Устройство дл измерени линейных перемещений
SU575917A1 (ru) Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера
SU1186986A1 (ru) Устройство дл измерени разрешающей способности оптических спектральных приборов
SU1053625A1 (ru) Способ определени состо ни пол ризации объектной волны
SU953451A2 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей
SU1696854A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений объекта
SU1343242A1 (ru) Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей
SU1067449A1 (ru) Когерентный оптический анализатор пространственных спектров двумерных сигналов
SU1673904A1 (ru) Устройство дл центрировани оптических линзовых компонентов
SU1696930A1 (ru) Способ определени фокусного рассто ни оптической системы
SU1341495A1 (ru) Интерферометрический способ контрол качества оптических поверхностей
RU2025655C1 (ru) Интерферометр для измерения перемещений