SU1140017A1 - Оптическое устройство дл контрол качества покрытий - Google Patents

Оптическое устройство дл контрол качества покрытий Download PDF

Info

Publication number
SU1140017A1
SU1140017A1 SU833533686A SU3533686A SU1140017A1 SU 1140017 A1 SU1140017 A1 SU 1140017A1 SU 833533686 A SU833533686 A SU 833533686A SU 3533686 A SU3533686 A SU 3533686A SU 1140017 A1 SU1140017 A1 SU 1140017A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
optical axis
photodetector
lens
focusing system
quality control
Prior art date
Application number
SU833533686A
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Сергеевич Козлов
Виктор Фомич Силюк
Петр Николаевич Емельянов
Original Assignee
Белорусский Ордена Трудового Красного Знамени Политехнический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Белорусский Ордена Трудового Красного Знамени Политехнический Институт filed Critical Белорусский Ордена Трудового Красного Знамени Политехнический Институт
Priority to SU833533686A priority Critical patent/SU1140017A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1140017A1 publication Critical patent/SU1140017A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

ОПТИЧЕСКИЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОКРЫТИЙ, содержащее источник света,, систему фокусировки и фотоприемник, о т л ичаюадеес .  тем, что, с целью повышени  чувствительности контрол  качества покрыти  проволоки , система фокусировки выполнена в виде линзы со сквозным отверстием по оптической оси и снабжена установленной центром в фокусе линзы интегрирующей сферой с диаметрально противоположно расположенными окнами, лежащими на оптической оси устройства, а также окном, в котором приемной поверхностью параллельно этой оптической оси размещен фотоприемник. i

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике, а более точно к средствам контрол  качества покрытий проволоки. Известно устройство дл  контрол  покрыти  электропроводов, состо щее из индикаторных роликов и датчи ка в виде магнита и соленоида, подключенного через усилитель к реле l Указанное -устройство, работающее на основе измерени  электрического контакта, принципиально не может обнаруживать дефекты и,зол ции в виде трещин с малым раскрытием. Наиболее близким по технической сущности к изобретению  вл етс  оптическое устройство дл  контрол  качества покрытий, содержащее источник света с системой фокусировки и оптический детектор (фотоприемник Однако это устройство может регистрировать только.определенный класс дефектов, а именно - большое количество трещин на малом участке требуемое дл  получени  дифракции, и не может обнаруживать прот женные дефекты и одиночные нарушени  сплош ности покрыти  проволоки. Цель изобретени  г- повышение чувствительности контрол  качества покрыти  проволоки. Указанна  цель достигаетсс  тем что в оптическом устройстве дл  кон рол  качества покрытий, содержащем источник света, систему фокусировки и фотоприемник, система фокусировки выполнена в виде линзы со сквозным отверстием по оптической оси и снаб жена установленной центром в фокусе линзы интегрирующей сферой с диамет рально противоположно расположенными окнами, лежащими на оптической оси устройства, а также окном, в ко тором параллельно этой оптической оси размещен фотоприемникi Применение интегрирующей сферы, снабженной окнами, увеличивает градиент светового излучени  (наблюдаетс  вспышка света), обусловленного по влением дефекта, в результате чего повьпиаетс  быстродействие и чувствительность контрол . На чертеже показана схема оптического устройства дл  контрол  покрытий. Устройство состоит из системы фокусировки, в качестве которой установлена оптическа  линза 1 с от верстием дл  пропускани  контролируемой проволоки 2 и интегрирующей сферы 3, содержаща  окна 4 и 5 дл  прохождени  проволоки 2 и пропускани  падающего и отраженного пучка света, фокусируемого линзой 1 на поверхность проволоки в участке 6, расположенном в центре сферы 3. Окн 7 сферы 3 служит дл  размещени  фо т топриемника 8 и выхода рассе нного дефектом светового потока. Фотоприемник 8 электрически св зан с блоком 9 измерени  и управлени  технолоническим процессом. Блок 9 подключен также к формирователю 10 синхроимпульсов , вырабатываемых модул тором 11, расположенным между источником света и системой фокусировки (линзой ) 1. Дл  осуществлени  контрол  можно использовать спект 0,25-1,1 мкм. Пучок света фокусируют линзой 1 на поверхность контролируемой проволоки 2 на участок б, расположенный в центре сферы 3. Если на поверхность проволоки имеютс  дефекты, то участок 6 обуславливает рассе нное излучение общего падающего потока т , которое падает на диффузию отражающие поверхности стенок интегрирующей сферы 3. Учитыва , что отражающа  способность поверхности образца г S отражакица  способность nor верхности стенки сферы о ° ток света при первом отражении составит . «Р. РСТ- Гоб.рТак как используема  сфера имеет диффузно отражающие стенки, внутри возникает вспышка света интенсивности Обр 2 Ч 5 cT- --5 -r,/o&P где 5 - площадь внутренней поверхности сферы. Таким образом, показани  оптического фотоприемника 8, воспринимающего свечени  внутри сферы через окно, имеют величину, пропорциональную величине рассеивани  поверхности образца Говр 50-ГстУ° Р где f - коэффициент пропорциональности . Чем больше коэффициент отражени  стенок.сферы г и меньше площадь & Фем больше величина сигнала а , снимаемого с фотоприемника 8. Так как параметры у , 9 , 5 , ст посто нные , показани  фотоприемника в общем случае пропорциональны коэффициенту ГоБр , характеризующему величину дефектов. Сигнал с фотоприемника 8 поступает в блок 9 синхронного детектировани  и усилени  сигнала, туда же поступают синхроимпульсы из формировател  10. С целью повышени  чувствительности измерительной схемы облучак ций поток света модули- . рует механическим модул тором 11, который служит также дл  вырабаты311400174
вани  импульсов синхронизации дл  Предлагаемое устройство позвол ет
блока 9. Из блока 9 сигнал можетвы вл ть не только дефекты в виде
поступать на исполнительный механизммикротрещин, но и незначительные
дл  регулировани  технологическимотклонени  качества покрытий, мен юпроцессом .щие коэффициент отражени  света.

Claims (1)

  1. ОПТИЧЕСКИЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОКРЫТИЙ, содер- жащее источник света,, систему фокусировки и фотоприемник, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности контроля качества покрытия проволоки, система фокусировки выполнена в виде линзы со сквозным отверстием по оптической оси и снабжена установленной центром в фокусе линзы интегрирующей сферой с диаметрально противоположно расположенными окнами, лежащими на оптической оси устройства, а также окном, в котором приемной поверхностью параллельно этой оптической оси размещен фотоприемник.
SU833533686A 1983-01-11 1983-01-11 Оптическое устройство дл контрол качества покрытий SU1140017A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833533686A SU1140017A1 (ru) 1983-01-11 1983-01-11 Оптическое устройство дл контрол качества покрытий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833533686A SU1140017A1 (ru) 1983-01-11 1983-01-11 Оптическое устройство дл контрол качества покрытий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1140017A1 true SU1140017A1 (ru) 1985-02-15

Family

ID=21043259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833533686A SU1140017A1 (ru) 1983-01-11 1983-01-11 Оптическое устройство дл контрол качества покрытий

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1140017A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000040951A1 (en) * 1999-01-06 2000-07-13 Samfit Uk Limited Method and apparatus for detecting a non-uniform coating on a core member

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1.За вка JP № 55-9655, кл. G 01 N, 1977. 2.Патент US 4197011, кл. G 01 N 21/55, 1979 (прототип). *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000040951A1 (en) * 1999-01-06 2000-07-13 Samfit Uk Limited Method and apparatus for detecting a non-uniform coating on a core member

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3748047A (en) Method of detecting surface defects of material surfaces
KR900005167A (ko) 탁도계
US4263511A (en) Turbidity meter
KR840003359A (ko) 기판 피막의 불균일성 검출방법 및 장치
FR2622013A1 (fr) Dosimetre
US4063822A (en) System for detecting a first light transmissive substance, such as for instance blood, in a second light transmissive, different substance
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
JPH0213250B2 (ru)
KR950014849A (ko) 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기
US3610756A (en) Apparatus for determining the color of cut diamonds
SU1140017A1 (ru) Оптическое устройство дл контрол качества покрытий
JPH0310902B2 (ru)
EP0447991A1 (en) Apparatus for measuring the distribution of the size of diffraction-scattering type particles
JPS614945A (ja) 較正装置を有する赤外線吸収水分計
CN116660149A (zh) 传感器
RU2035721C1 (ru) Способ контроля прозрачности плоских светопропускающих материалов
SU1157419A1 (ru) Устройство дл контрол жидкости в потоке на наличие механических частиц
JPS55149023A (en) Infrared ray spectroscopic method
SU894356A1 (ru) Устройство дл контрол толщины оптических деталей
JPS5752807A (en) Device for measuring film thickness
SU951070A1 (ru) Устройство дл контрол качества поверхности деталей
SU1245894A1 (ru) Фотометр
SU803695A1 (ru) Фотоэлектрическое устройство дл определени положени оси лазерного пучка
SU1620836A1 (ru) Устройство дл бесконтактного контрол параметров нитевидного материала
SU730066A1 (ru) Атомно-флуоресцентный анализатор