Изобретение OTHOcHtCH к контроль но-иэмерите.льной технике и может найти применение при нераэрушающем, бесконтактном контроле дефектов поверхности деталей, преимущественно при автоматизированном контроле дефектов поверхности детапей после ме ханической обработки, поверхность которых, обладает рко выраженными следами режущего инструмента. Известен способ вы влени дефектов поверхности, состо щий в том, что сфокусированный пучок зондирующего излучени направл ют понормали к контролируемой поверхности, исследуют распределение энергии, рассе нной дефектами, присущими данной поверхности в области диффузионного рассе ни , и определ ют на личие дефекта при анализе изменени спектра частот сигнала приемника излучени , установленного в область диффузного рассе ни , характеризующуюс максимальной интенсивностью от всех дефектов данной поверхности При этом данную область определ ют опытным путем при анализе распределени .энергии отраженного излучени от деталей с различными типами дефектов l. Однако при реализации данного сп соба необходимо выполнить большой объем исследованийиндикатрис рассе ни or дефектов контролируемой детали , что обуслонливает трудоемкост настройки приборов, реализующих спо соб . Нар ду с этим способ предусма ривает проведение анализа указанных индикатрис в.-статике. Контроль всей поверхности необходимо производить при вращений детали относительно лу ча. Неидентичность условий настройки и работы устройств, реализующих данный способ, П1 йведет к снижению надежности вы влени дефектов, Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности вл етс способ обнаружени дефектов поверхности тел вращени , включающий осве щение поверхности наклонным пучком света, щирина которого в плоскости падени соизмерима с размерами мини мального дефекта, предварительный анализ контролируемой поверхности, регистрацию рассе нного излучени по . фИ).сированным углом по отношению к максимуму индикатрисы рассе ни от бездефектной поверхности и оценку качества поверхности по величине отношени сигнал/гаум при вращении поверхности . Предварительный анализ контролируемой детали состоит в том, что пе-ред обнаружением поверхностных дефектов наклонный пучок света направл ют под углом 30-40 к неподвижной поверхности годного издели и измер ют интенсивность света, отраженного под различными углами к плоскости падени , определ ю угловые размеры индикатрисы рассе ни на уровне точек перегиба ееветвей, а фотоприемник устанавливают так, чтобы он-регистрировалсвет, отраженный от издели под углом, равным ширине индикатрисы рассе ни на уровне точек перегиба ее ветвей z. Недостатками известного способа вл ютс невысока надежность обнаружени и мала чувствительность доминирующих дефектов. Указанные недо.статки св заны с тем, что при определении угла установки приемника излучени ,по отношению сигнал/шум которого суд т о качестве контролируемой поверхности, ориентируютс на минимум шумового сигнала, т.е. минимум интенсивности от бездефектной поверхности контролируемой детали. Такой подход и обусловливает недостатки способа. Минимум интенсивности индикатрисы рассе ни от бездефектной поверхности , имеющий мес;то на уровне точек перегиба ее ветвей, не однозначно обусловливает получение максимального отношени сигнал/шум в этой области при контроле всей совокупности дефектных деталей, так как каждой конкретной детали присущи свои дефекты с определенными геометрическими характеристиками. При взаимодействии светового пучка с этими дефектами по разному перераспредел етс интенсивность индикатрисы рассе ни по сравнению со случаем бездефектной поверхности. Поэтому положение приемника излучени с максимальным отношением сигнал/шум зависит от геометрических характеристик и типов дефектов, присущих данной конкретной контролируемой детали.В св зи с ртйм дефекты, интенсивность индикатрисы рассе ни которых на уровне точек перегиба ветвей индикатрисы бездефектной детали не измен етс , могут быть не вы влены Поэтому высока чувствительность не обеспечиваетс . Напротив, при автоматизированнсм контроле имеет место биение годной детапи на контрольной позиции 1св занное с поу грешностью установки, то така деталь , согласно рассматриваемому спо собу, забраковываетс , что значительно снижает надежность контрол . Построение индикатрисы рассе ни от бездефектной поверхности неподнижней детали не позвол ет определить минимум шумового сигнала объек тивно, так как распределение высот микронеровностей любой реальной поверхности носит статистический характер , размеры контролируемого пуч ка света не намного превышают размер микронеровностей и индикатрисы рассе ни от двух соседних участков поверхности могут значительно отличатьс между собой. Особенно это ка саетс поверхности со значительными высотами микронеровностей и рко выраженными следами режущего.инстру мента.. Кроме того, предварительный анализ контролируемой детали, заключающийс в построении индикатрисы рас се ни от бездефектного ее /участка , значительно затрудн ет переход от одной партии к другой, усложн ет конструкцию устройств, реализующих данный способ и, следовательно, сни жает экономический эффект от его внедрени . Целью изобретени вл етс повышение надежности.и чувствительности контрол доминирующих дефектов. Указанна цель достигаетс тем, что согласно способу обнаружени дефектов поверхности тел вращени , включа1бщему освещение поверхности наклонным пучком света, ширина которого в плоскости падени соизмерима с размерами минимального дефекта, предварительный анализ контролируемой поверхности, регистрацию рассе н ного излучени под фиксированным углом по отношению к максимуму индикатрисы р.ассе ни от бездефектной поверхности и оценку качества поверх ности по величине отношени сигнал/ /щум при вращении поверхности, при проведении предварительного анализа измер ют угол раскрыти ь.. домиии084 рующих дефектов, а регистрацию рассе нного излученил провод т пЬд углом Q к нормали к поверхности, определ емым из соотношени ©г-®.| где 0 - угол падени пучка. На чертеже показана схема, реализзтоща предлагаемый способ. Способ осуществл етс следующим образом. На поверхность контролируемой, детали I направл ют под углом 0 луч света 2, размер которого в плоскости чертежа соизмерим с размерами минимального дефекта. Затем про-извод т предварительный анализ дефектов контролируемой детали, заключающийс в том, что измер ют углы раскрыти дефектов поверхности 3, ТИПИЧНЫХ дл дайной детали, с помощью известных контактных или оптических методов. Определ ют угол установки приемника излучени 4 9, пользу сь формулой (l и устанавливают в эту область приемник излучени . На позицию контрол последователыга устанавливают контролир г емые издели , придают им вращатель ное движение и по отношении) сигнал/ шум суд т о качестве поверхности. Относительное распределение энергии по индикатрисе рассе ни от шероховатой поверхности со значительной высотой микронеровностей описываетс выражением TF (cos Q.,« cos 9 ( 9inQ -SinQ г r. (сое © COS Q ЧЬ де рр - средний квадрат коэффициента отражени , 0 углы падени и регистрации интенсивности соответственно; - длина волны света; Т - интервал коррел ции микрогеометрического профил поверхности ti - длина реалий ции микрогеометрического профил поверхности. 6 - среднее квадратическое отклонение высот микронеровн стей микрогеометрического профил . Если форму профил дефекта, распо ложенного на данной поверхности, представить в пол рных координатах функцией угла раскрыти дефекта et-Р и предположить, что Т, L и 6 внутри дефекта соот-ветствуют параметрам микропрофил , аширина пучка света в плоскости соизмерима с гра н ми профил дефекта, то при взаимодействии пучка с дефектом индикатриса может быть описана функцией (0 f)J Т g,(Q)3 4t cose, coS( где - угол отклонени индикатрисы от дефекта по отношению к случаю бездефектной поверх- . ности p(c)Sfni f( :os 1 &i П ei. j р{л) coset -р(«) Таким образом, очевидно наличие функциональной св зи между энергией индикатрисы в различных сечени х 0, и углом раскрыти дефекта ot. Очевид но, что и величина сигнал/шум, пред ставл юща собой отношение выражений (3) и (2), зависит от угла раскрыти дефекта. Чтобы определить эту взаимосв зь в динамике,т.е. в реальных услови х контрол , рассмотрим основные этапы взаимодействи луча Р , падающего по нормали к контролируемой поверхности с дефектами, характеризующимис различными углами раскрыти и формой профил . Если отдельные этапы взаимодействи рассматривать с позиций геометрической теории дифракции , то можно предположить, что прохождение луча через зону дефекта сопровождаетс дифракцией на кромках граней, зеркальным отражением от граней, а также взаимным их затемнением . Огибающа индикатриса, построенна по максимальным значени м мгновенных индикатрис, в каждый момент времени характеризует изменение полезного сигнала. Анализ таких индикатрис позвол ет сделать следующие выводы: форма огибающей индикатрисы существенно мен етс в зависимости от геометрии профил дефекта; дл каждого угла раскрыти дефекта существует такое сечение индикатрисы 0- , где отношение сигнал/ /шум будет максимальным. Данные теоретические положени хорошо подтверждаютс экспериментальными результатами, которые показывают , что при установке прьемника излучени под углом в, имеет место максимальна чувствительность контрол . Предлагаемый способ позвол ет повысить чувствительность, надежность контрол доминирующих дефектов поверхности и снижает трудоемкость настройки устройств, реализующих предлагаемый способ.