SU1170948A1 - Устройство дл формировани профилированных полей облучени - Google Patents

Устройство дл формировани профилированных полей облучени Download PDF

Info

Publication number
SU1170948A1
SU1170948A1 SU843710981A SU3710981A SU1170948A1 SU 1170948 A1 SU1170948 A1 SU 1170948A1 SU 843710981 A SU843710981 A SU 843710981A SU 3710981 A SU3710981 A SU 3710981A SU 1170948 A1 SU1170948 A1 SU 1170948A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
fields
radiation fields
lenses
shaped radiation
orientation
Prior art date
Application number
SU843710981A
Other languages
English (en)
Inventor
В.Ф. Викулов
К.А. Виноградов
А.В. Губанов
В.И. Соломахин
Original Assignee
Московский Ордена Трудового Красного Знамени Инженерно-Физический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Ордена Трудового Красного Знамени Инженерно-Физический Институт filed Critical Московский Ордена Трудового Красного Знамени Инженерно-Физический Институт
Priority to SU843710981A priority Critical patent/SU1170948A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1170948A1 publication Critical patent/SU1170948A1/ru

Links

Landscapes

  • Radiation-Therapy Devices (AREA)

Description

4
00 Изобретение относитс  к области ускорительной техники и может быть использовано дл  формировани  полей облучени  прс 1звольной формы и распределени  интенсивности на выходе ускорителей, примен емых в прикладны цел х, например в медицине. Целью данного изобретени   вл етс  повышение точности получени  поле облучени  заданной формы за счет вве дени  дублета с регулируемой ориента цией квадрупольных полей, что улучшает характеристики формируемого пол  облучени  иупрощает процесс полу чени  заданного закона изменени  интенсивности . . На фиг. 1 дана схема устройстваj на фиг. 2 - форма пучка в случае посто нного bo времени режима питани  квадруполей} на фиг. 3 - форма сечени  пучка в предложенном устройстве , где режим питани  квадруполей со гласован с поперечным отклонением пучка. Устройство содержит отклон ющий диполь 1, перед которым установлены две линзы 2 и 3, кажда  из которых состоит из  рма .4 и двух четырех- полюсных обмоток 5 и 6, сдвинутых одна относительно другой на 45 так, что имеет место попарное чередование полюсов с одинаковой пол рностью. Обмотки дипол  и октуполей питаютс  от шести Независимых источников 7. Ток в каждой обмотке  вл етс  функцией координат пол  облучени . Устройство, формировани  работает следующим образом. Пучок.частиц фоку сируетс  квадрупольными пол ми октупольных линз 2 и 3 и затем отклон етс диполем 1, т.е. сканируетс  по полю облучени . Поскольку кажда  обмотка 5 и 6 ок туполей создает в апертуре линзы ква друпольное поле, суперпозици  этих полей тоже будет квадрупольна , причем в зависимости от соотношени  токов обмоток ориентаци  градиентов суммарного пол  будет измен тьс , враща сь вокруг оси линзы на угол i45 . В предлагаемом устройстве вращение квадрупольных полей линз синхронизировано с вращением дипольного пол  Н . Дл  по снени  положительного эффекта от предлагаемого решени  рассмотрим устройство с неподвижнм и квадрупольными пол ми. На фиг. 2 показаны формы сечений пучка, имен цего разброс по импульсам др в трех точках пол  облучени : точка 8 - в центре , 9 - на оси ij , 10 - на диагонали первого квадранта. Введем оценку качества пучка на поле облучени  по двум критери м: радиусу окружности, описанной вокруг сечени , и коэффициенту заполнени  пучком площади описанной окружности. Одним из основных требований к пучку, как указывалось,  вл етс  посто нство размеров сечени  или посто нство радиуса описанной окружности. Очевидно, что ее минимальный радиус определ етс  дл  наиболее удаленной- от.центра точки 10, так как дисперси  в ней максимальна . Из фиг. 2 видно, что наибольший коэффициент заполнени  в этой точке пол  облучени  получаетс  дл  случа  круглого сечени  моноэнергетического пучка. Радиус минимальной описанной окружности определ етс  из выражени  4 1 где Oj - дисперси  системы формировани  при отклонении пучка в точку 10; минимально возможный радиус моноэнергетического пучка в точке 10. Коэффициент заполнени  дл  сечени  пучка в точке 10 определ етс  соотношением: Ift) Увеличить коэффициент заполнени  можно, увеличива  г , однако при этом будет возрастать радиус Дл  сечени  в точке 9 коэффициент заполнени  может быть значительно увеличен дл  того же значени  Н путем придани  эллиптической формы сечению пучка, так как в этом случае оси эллипса сориентированы по ос м координат пол  облучени . В этом случае имеем: l(fi К, А|( + Соотношение коэфЛшдиентов заполени  определ етс  по формуле:
./(.ii ГЛ
где г - мала  полуось эллипса. Из (3) следует, что при конечном йР и хорошо сфокусированном пучке
о
11709484
С введением квадрупольных полей, вращающихс  синхронно с полем дипол , исчезает азимутальна  вариаци  коэффициента заполнени  (см. фиг.З), и. 5 дл  любой точки пол  облучени  он определ етс  из соотношени  (2),
TpatKfnopuv пдчка .У) 7 If(X.y) Г2(Х.

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФОРМИРОВАНИЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ ПОЛЕЙ ОБЛУЧЕНИЯ,содержащее соосно расположенные источ ник заряженных частиц с регулируемыми энергией и интенсивностью и отклоняющий дипольный магнит с регулируемой в плоскости, перпендикулярной оси устройства, ориентацией полярности, отличающееся тем, что, с целью повышения точности получения полей облучения заданной формы, в устройство введены четыре независимых источника питания и дуб лет линз, каждая из которых выполнена в виде совмёщенных в плоскости, перпендикулярной оси устройства, и сдвинутых по азимуту на 45° двух квадрупольных линз, причем обмотки каждой из квадрупольных линз подключены к независимым источникам питания .
SU843710981A 1984-01-13 1984-01-13 Устройство дл формировани профилированных полей облучени SU1170948A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843710981A SU1170948A1 (ru) 1984-01-13 1984-01-13 Устройство дл формировани профилированных полей облучени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843710981A SU1170948A1 (ru) 1984-01-13 1984-01-13 Устройство дл формировани профилированных полей облучени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1170948A1 true SU1170948A1 (ru) 1986-02-15

Family

ID=21107447

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843710981A SU1170948A1 (ru) 1984-01-13 1984-01-13 Устройство дл формировани профилированных полей облучени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1170948A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008155695A1 (en) * 2007-06-21 2008-12-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Magnetic lens system for spot control in an x-ray tube

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Андреев А.М Губанов А.В, Львов Е.И, Шестак В.П. Растрова развертка пучка электронов с энергией до 5 МЭВ./В сб. Ускорители, М.: Атомиздат, 1976, выпуск 15, с 25-28. Вепегоуа R., Ramler W.J. Nuclear Instruments and Methods, 1961, ff 10, рГ 113. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008155695A1 (en) * 2007-06-21 2008-12-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Magnetic lens system for spot control in an x-ray tube

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4736106A (en) Method and apparatus for uniform charged particle irradiation of a surface
US4130759A (en) Method and apparatus incorporating no moving parts, for producing and selectively directing x-rays to different points on an object
US4425506A (en) Stepped gap achromatic bending magnet
US4962313A (en) Wien-type imaging corrector for an electron microscope
CN1089186C (zh) 重离子束的快速磁扫描
CA1187543A (en) Multiple sextupole system for the correction of third and higher order aberration
KR20000070521A (ko) 이온 주입기에 사용하기 위한 이온 가속기
CN107789749A (zh) 带电粒子束偏转装置及治疗系统
US3344357A (en) Storage ring
SU1170948A1 (ru) Устройство дл формировани профилированных полей облучени
GB1435526A (en) Electron bearm deflection tube
KR101809090B1 (ko) 붕소중성자포획 치료 빔라인 장치
US3201631A (en) Short focus lens at focal point of long focus lens
US5118939A (en) Simultaneous detection type mass spectrometer
US4958078A (en) Large aperture ion-optical lens system
US3723730A (en) Multiple ion source array
Stovall et al. Beam funneling studies at Los Alamos
Koshkarev et al. Conceptual design of linac for power HIF driver
SU528834A1 (ru) Импульсна нейтронна трубка
US4455489A (en) Quadrupole singlet focusing for achromatic parallel-to-parallel devices
US7002160B1 (en) Sextuplet quadrupole lens system for charged particle accelerators
RU2212121C2 (ru) Способ ускорения и фокусировки заряженных частиц постоянным электрическим полем и устройство для его осуществления
RU2063108C1 (ru) Многополюсная магнитная линза
SU873307A1 (ru) Масс-спектрометр
SU368675A1 (ru) Способ юстировки электронно-оптических систем