SU1216751A2 - Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра - Google Patents
Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра Download PDFInfo
- Publication number
- SU1216751A2 SU1216751A2 SU843783979A SU3783979A SU1216751A2 SU 1216751 A2 SU1216751 A2 SU 1216751A2 SU 843783979 A SU843783979 A SU 843783979A SU 3783979 A SU3783979 A SU 3783979A SU 1216751 A2 SU1216751 A2 SU 1216751A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- filter
- radiation
- angle
- intensity
- incidence
- Prior art date
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 28
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 abstract description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 240000008042 Zea mays Species 0.000 description 1
- 235000016383 Zea mays subsp huehuetenangensis Nutrition 0.000 description 1
- 235000002017 Zea mays subsp mays Nutrition 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 235000009973 maize Nutrition 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение позвол ет повысить точность измерени характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличени точности определени угла падени излучени на светофильтр, соответствующего поло- вине максимума интенсивности прошедшего излучени . Дл этого одновременно с регистрацией интенсивности прошедшего через светофильтр излучени измер ют угол падени пучка на светофильтр, соотйетствую- щий максимуму интенсивности прошедшего излучени . Угол падени излучени на светофильтр, соответствующий половине максимума пропускани , измер ют в момент, когда разность интенсивностей прошедшего и отраженного излучений равна интенсивности отраженного от светофильтра излучени при угле падени , соответствующем максимуму пропускани светофильтра. Посто нна составл юща отраженного пучка может быть измерена при установке фильтра под углом, соответствующим его максимуму пропускани . Q S (Л ел
Description
Изобретение относитс к оптичес- KObfy приборостроению,в частности к методам из14ерени характеристик уэкополосных интерференционных светофильтров , и вл етс усовершен ствованием известного способа по авт. св. № 1024862.
Целью изобретени вл етс повьше ние точности измерени Характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличени точности определени угла падени излучени на свето. фильтр, соответствующего половине максимума интенсивности й рошедшего излучени .
По основному авт. св. № 1024862 известен способ определени ширины полосы и дайны волны максимума пропускани интерференционного светофильтра путем его просвечивани параллельным пучком монохроматического света и последующей регистрации интенсивности прошедшего излучени при изменении угла падени излучени .на светофильтр. Просвечивание осуществл ют излучением с длиной волны. меньшей длины, соответствукицей максимуму пропускани фильтра. Далее измер ют угол падени пучка на светофильтр , соответствукщий максимуму интенсивности прошедшего излучени , а также угол падени , соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучени . Ширину полосы и длину волны максимума пропускани определ ют по следующим соотношени м:
4,)
Ul fQjMK l Q :
маис
де - длина волны, соответствующа максимуму пропускани :
Aj, - длина волнь просвечивающего пучка:
махс- угол падени пучка на светофильтр, соответствующий максимальной интенсивности прошедшего излучени ;
П - показатель преломлени разделительного сло светофильтра;
51 .2
S-ii - ширина полосы пропуска-ни светофильтра; Qg, - угол падени пучка на светофильтр, соотнетствующий половине максимума интенсивности про- шедшего излучени . Известно, что формы полос пропускани и отражени узкополосного ин- терференционного светофильтра вл ютс взаимно дополнительными, поэтому при условии малости потерь световой энергии на поглощение внутри светофильтра интенсивность отра- женного -И прошедшего через светофильтр излучени также дополнительны друг другу с точностью до посто нной составл ощей. Таким образом, устранив посто нную составл ющую от- раженного пучка, можно получить,
что при угле падени светового излучени , соответствующем половине
максимума пропускани светофильтра, интенсивности отраженного и прошед
шего через светофильтр излучени
одинаковы, а их разность равна нулю. Это обсто тепьство позвол ет более точно определить угол, соответствующий половине максимума пропускани
светофильтра. Пои этом посто нна составл юща отраженного пучка : может быть измерена при установке фильтра под углом, соответствующим его максимуму пропускани .
В процессе измерени угла наклона светофильтра измер ютс два близких по величине световьк потока, поэтому ошибка измерени , вызываема нелинейностью фотоприемного устройства , мала. Кроме того, значительно ослабл етс вли ние мешающих фоновых засветок, так как вносима ими погрешность пропорциональна разности световых потоков фонового излучени , а н-г самому световому потоку. По стой причине нестабильность мощности источника излучени такхсе мало сказываетс на результатах измерени .
Предлагаемый способ позвол ет повысить точность измерени основных характеристик узкополосных и контрастных светофильтровразличных пор дков.
55
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра по авт. св. № 102Д862, о т л и - чающийс тем, что, с цельк повышени точности измерени характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличени точности определени угла падени излучени на светофильтр, соответствующего половине максимума интенсивности прошедшего излучени , одновременно с регистрацией интенсивности прошед167Ы-4шего через светофильтр излучени ре- . гистрируют интенсивность отраженного от него излучени , а угол падени излучени на светофильтр, соот- J вествующий половине максимума пропускани , измер ет в момент, когда разность интенсивностей прошедшего и отраженного излучений равна интен- сивностиотраженного отсветофильтра из- 10 лучени при угле падени ,соответствующем максимуму пропускани светофильтра.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU843783979A SU1216751A2 (ru) | 1984-08-22 | 1984-08-22 | Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU843783979A SU1216751A2 (ru) | 1984-08-22 | 1984-08-22 | Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU1024862 Addition |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1216751A2 true SU1216751A2 (ru) | 1986-03-07 |
Family
ID=21135967
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU843783979A SU1216751A2 (ru) | 1984-08-22 | 1984-08-22 | Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1216751A2 (ru) |
-
1984
- 1984-08-22 SU SU843783979A patent/SU1216751A2/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР № 1024862, кл. G 02 В 5/28, 11.01.82. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4727254A (en) | Dual wavelength microbend sensor | |
| JPS63120222A (ja) | 変位測定装置および方法 | |
| JPH0354292B2 (ru) | ||
| JPS633236A (ja) | 光フアイバの波長分散測定器 | |
| JPS5821527A (ja) | フ−リエ変換型赤外分光光度計 | |
| SU1024862A1 (ru) | Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра | |
| SU1458779A1 (ru) | Автоколлимационный способ определения показателя преломления клиновидных образцов | |
| CN110986803A (zh) | 一种玻璃间隙空气层厚度测量系统及方法 | |
| JPS62159027A (ja) | 油の劣化度検出装置 | |
| SU1672206A1 (ru) | Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени | |
| JPS61138144A (ja) | 連続測定用分光光度計 | |
| SU1449842A1 (ru) | Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали | |
| RU2033603C1 (ru) | Способ измерения коэффициента отражения | |
| SU1242890A2 (ru) | Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра | |
| SU1312400A1 (ru) | Оптический анализатор | |
| SU1476353A1 (ru) | Способ измерени оптических посто нных поглощающих сред | |
| SU934281A1 (ru) | Способ определени амплитудно-частотной характеристики световода | |
| SU550564A1 (ru) | Модул ционный способ определени показател пластин | |
| SU954812A1 (ru) | Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна | |
| SU1509688A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента отражени зеркала | |
| SU1545197A1 (ru) | Способ интерференционной резольвометрии | |
| SU1122898A2 (ru) | Устройство дл измерени коэффициентов светопропускани оптических систем и элементов | |
| SU1122937A1 (ru) | Способ измерени коэффициента нелинейности показател преломлени оптических сред | |
| JPH08226892A (ja) | 複屈折測定装置 | |
| SU575917A1 (ru) | Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера |