SU130700A1 - Способ определени качества поверхности, например бумаги - Google Patents

Способ определени качества поверхности, например бумаги

Info

Publication number
SU130700A1
SU130700A1 SU648011A SU648011A SU130700A1 SU 130700 A1 SU130700 A1 SU 130700A1 SU 648011 A SU648011 A SU 648011A SU 648011 A SU648011 A SU 648011A SU 130700 A1 SU130700 A1 SU 130700A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
photocell
reflected
optical system
light
measuring
Prior art date
Application number
SU648011A
Other languages
English (en)
Inventor
Я.М. Гриншпан
П.В. Мелентьев
Original Assignee
Я.М. Гриншпан
П.В. Мелентьев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Я.М. Гриншпан, П.В. Мелентьев filed Critical Я.М. Гриншпан
Priority to SU648011A priority Critical patent/SU130700A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU130700A1 publication Critical patent/SU130700A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Способ определени  качества поверхности, например бумаги, путем освещени  ее лучом света, направленным под углом к ней, и измерени  интенсивности луча, отражаемого этой поверхностью, известен.
Известны устройства дл  определени  качества поверхности, например бумаги, выполненные в виде осветител , оптической системы дл  освещени  направленным под углом лучом исследуемой поверхности и другой оптической системы, направл ющей отражаемый от этой поверхности луч на фотоэлемент, соединенный с прибором дл  измерени  интенсивности луча.
По описываемому способу в отличие от известного дл определени  лоска и шероховатости исследуемой поверхности одновременно измер ют величину диффузной составл ющей света в отражаемом луче.
Устройство дл  осуществлени  описываемого способа отличаетс  тем, чтоВ нем применены ирисова  диафрагма и кольцевой фотоэлемент, установленный в фокусе оптической системы позади диафрагмы; устройство снабжено соединенным с фотоэлементом измерительным прибором типа гальванометра, измер ющим шероховатость исследуемой поверхности по величине диффузной составл ющей в отраженном луче света, воспринимаемом этим фотоэлементом.
На чертеже схематически изображено устройст. дл  определени  качества поверхности, например бумаги.
Лучи света от источника / собираютс  с помощью двухлинзового конденсора 2 и проход т через ирисовую диафрагму 3, установленную в фокусе объектива 4. Выход щий из объектива 4 поток параллельны.ч лучей света падает на неподвижный или движущийс  в плоскости 5 образец бумаги, ткани или иного материала. Вследствие альбедо материала (отношение силы отраженного света к силе света, падающего на ис№ 130700 - 2 следуемую поверхность), отличного от единицы, и наличи  некоторой шероховатости отражающей исследуемой поверхности, отраженный луч, по силе интенсивности несколько меньший луча падаюш,его, раздел етс  на две составл ющие: зеркальную и диффузную. Если бы отражающа  поверхность была абсолютно гладкой, то весь отраженный свет состо л бы из одной зеркальной составл ющей; поскольку же отражающа  поверхность  вл етс  более или менее щероховатой, часть отраженного света получает угол отражени , не равный углу падени , и при проходе через объектив 6 другой оптической системы не собираетс  в этого объектива. Зеркальна  составл юща  отраженного света регистрируетс  фотоэлементом 7; диффузна  составл юща  регистрируетс  фотоэлементом 8, имеющим в пентре отверстие дл  пропуска зеркальной составл ющей отраженного света.
Световые потоки, падающие на оба фотоэлемента, замер ютс  гальванометрами 9 и 10. Ирисова  диафрагма 11, расположенна  перед фотоЗлементом 8, изменением своей апертуры дает возможность построени  кривой рассе ни  диффузной части отраженного света.
Провод  исследование соотнощени  зеркальной и диффузной составл ющих отраженного света и построив фотограммы рассе ни  дл  эталонных сортов бумаги (или иных материалов), можно судить о качестве поверхности бумаги. Лоск поверхпости бумаги определ етс  через ее альбедо. За сто процентов принимаетс  сила света, отраженного от зеркала с наружным серебрением, установленного в плоскости 5. Шероховатость поверхности бумаги определ етс  долей диффузной составл ющей в общем отраженном световом потоке и законом распределени  рассе нного света, получаемым посредством фотограммы.
Предмет изобретени 

Claims (2)

1.Способ определени  качества поверхности, например бумаги, заключающийс  в том, что исследземую поверхность освещают направленным под углом к ней лучом света и измер ют интенсивность луча, отражаемого этой поверхностью, отличающийс  тем, что, с целью определени  лоска и щероховатости этой поверхности, одновременно измер ют величину диффузной .составл ющей света в отражаемом луче исследуемой поверхности.
2.Устройство дл  осуществлени  способа по п. 1, выполненное в виде осветител , оптической системы дл  освещени  направленным под углом лучом исследуемой поверхности и другой оптической системы, направл ющей отражаемый от этой поверхности луч на фотоэлемент, соединенный с прибором дл  измерепи  интенсивности луча, отличающеес  тем, что в нем применены ирисова  диафрагма и кольцевой фотоэлемент , установленный в фокусе оптической системы позади диафрагмы , и оно снабжено соединенным с фотоэлементом измерительным прибором типа гальванометра, измер ющим щероховатость исследуемой поверхности по величине диффузной составл ющей в отраженном луче света, воспринимаемом этим фотоэлементом.
SU648011A 1959-12-21 1959-12-21 Способ определени качества поверхности, например бумаги SU130700A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU648011A SU130700A1 (ru) 1959-12-21 1959-12-21 Способ определени качества поверхности, например бумаги

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU648011A SU130700A1 (ru) 1959-12-21 1959-12-21 Способ определени качества поверхности, например бумаги

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU130700A1 true SU130700A1 (ru) 1960-11-30

Family

ID=48401810

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU648011A SU130700A1 (ru) 1959-12-21 1959-12-21 Способ определени качества поверхности, например бумаги

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU130700A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5164586A (en) Arrangement for measuring the absorption of transparent specimens mounted within an integrating sphere
US3565568A (en) Method and apparatus for ascertaining geometric deviations from an ideal surface by optical means
RU2007115154A (ru) Оптическое измерительное устройство для измерения характеристик нескольких поверхностей объекта измерения
KR960039255A (ko) 이물검사장치
US20100296096A1 (en) Imaging optical inspection device with a pinhole camera
JPS58145911A (ja) 反射光照明による透過光顕微鏡試験のための光学系
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
JP6385974B2 (ja) 全反射吸収スペクトル測定用光学器具、および、測定装置
GB1298658A (en) Photometer for measuring total radiant energy at selected angles
KR950014849A (ko) 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기
US3610756A (en) Apparatus for determining the color of cut diamonds
CN204924927U (zh) 便携式全光谱干化学食品安全快速分析仪
US1950975A (en) Opacimeter and method of measuring opacity
US2165054A (en) Apparatus for comparing or measuring the diffuse reflection of light from surfaces
JP3388285B2 (ja) 検査装置
US1960169A (en) Method and apparatus for measuring light
JPS5578218A (en) Photometer for slit lamp
US4555181A (en) Apparatus for automatically detecting and evaluating the characteristics of prints
GB939489A (en) Photo-electric scanning device
SU410261A1 (ru)
JPH0118370B2 (ru)
JPH03115844A (ja) 表面欠点検出方法
JP2002139309A (ja) 光学特性測定装置、膜厚測定装置、研磨終点判定装置及び研磨装置
CN113359288A (zh) 一种暗场散射显微成像和光谱测试系统
JPH04297810A (ja) 光学検査装置