SU1536344A1 - Сканирующий предметный столик дл систем автоматического контрол параметров полупроводниковых пластин - Google Patents

Сканирующий предметный столик дл систем автоматического контрол параметров полупроводниковых пластин Download PDF

Info

Publication number
SU1536344A1
SU1536344A1 SU874283484A SU4283484A SU1536344A1 SU 1536344 A1 SU1536344 A1 SU 1536344A1 SU 874283484 A SU874283484 A SU 874283484A SU 4283484 A SU4283484 A SU 4283484A SU 1536344 A1 SU1536344 A1 SU 1536344A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
plate
carriages
parameters
control unit
scanning stage
Prior art date
Application number
SU874283484A
Other languages
English (en)
Inventor
Анатолий Николаевич Седов
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6707
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6707 filed Critical Предприятие П/Я Р-6707
Priority to SU874283484A priority Critical patent/SU1536344A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1536344A1 publication Critical patent/SU1536344A1/ru

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к приборостроению и предназначено дл  использовани  в системах автоматического контрол  полупроводниковых пластин в массовом производстве. Цель изобретени  - повышение быстродействи  и точности позиционировани  пластины. Блок 14 управлени  включает приводы 12, 13, которые осуществл ют перемещение пластины 11 по ос м X, Y. Далее сигнал с блока 14 управлени  поступает на катушку 8 индуктивности, котора , взаимодейству  с магнитным полем посто нного магнита 7, перемещает шток 9 с держателем 10 полупроводниковой пластины 11 вдоль оси Z на позицию измерени . 1 ил.

Description

Изобретение относится к приборостроению и предназначено для использования в системах автоматического ; контроля полупроводниковых пластин . в массовом производстве.
Цель изобретения- повышение быстродействия и точности позиционирования пластины.
На чертеже представлено предлагав- . мое устройство.
Сканирующий предметный столик для систем автоматического контроля параметров .полупроводникоЕ!ЫХ пластин содержит основание 1, на котором в направляющих 2 установлена каретка 3 с направляющими 4, в которых установлена каретка 5. На каретке 5 неподвижно закреплен корпус 6, в котором размещен кольцевой постоян^д ный магнит 7, в зазоре которого размещена катушка 8 индуктивности. На катушке 8 индуктивности закреплен шток 9 с держателем 10 пластины 11. Столик содержит приводы 12,13 перемещения кареток 3,5 во взаимно перпендикулярных направлениях (по осям Χ,Υ). Катушка 8 индуктивности и приводы 12, 13 подключены к блоку 14 управлёния. ίДля поворота штока 9 с держателем 10 пластины 11 предусмотрен микрометрический винт.
Устройство работает следующим образом.
В исходном состоянии каретки 3»5 занимают крайнее положение, при котором шток 9 с держателем 10 опущен. В этом положении контролируемая полупроводниковая пластина 11 с транспортных или загрузочно-разгрузочных моду- t лей системы автоматически подаются на держатель 10, где фиксируются посред4 ством вакуума. Блок 14 управления включает приводы 12,13, осуществляющие перемещение пластины 11 по координатам Χ,Υ. Затем блок 14 управления формирует сигнал на включение катушки 8 индуктивности. В результате протекания через катушку тока, взаимодействующего с магнитным полем постоянного магнита 7, возникает ЭДС электромагнитной индукции, перемещая катуш10
Редактор М.Циткина ку 8 индуктивности со штоком 9 и дерг жателем 10 пластины вдоль оси Z на позицию измерения. При достижении заданного расстояния между контролируемой пластиной 11 и измерительным средством осуществляется измерение требуемого параметра пластины. По окончании процесса измерения посредством приводов 12,13 осуществляется перемещение пластины 11 относительно измерительного средства по координатам Χ,Υ и-выбор другой точки измерения. При этом осуществляется поддержание постоянного расстояния между пластиной 11 и измерительным средством.
По окончании процесса измерения блок 14 управления формирует сигналы на перемещение кареток 3,5, штока 9 с держателем 10 пластины 11 в исходное положение. Пластина *11 автоматически перегружается на другую позицию, а на ее место загружается следующая пластина.

Claims (1)

  1. Сканирующий предметный столик для систем автоматического контроля параметров полупроводниковых пластин, содержащий установленные на основании две каретки, размещенные одна над другой, с приводом для их перемещения в двух взаимно перпендикулярных направлениях, привод вертикального перемещения кареток, держатель пластины, закрепленный на одной из кареток, блок управления, связанный с приводами перемещения кареток, отличающийся тем, что, с целью повышения быстродействия и точности позиционирования пластины, дополнительно введены шток, катушка индуктивности, постоянный магнит, при этом держатель пластины размещен на жестко закреплённом на катушке тивности, размещенной в зазоре янного магнита, причем катушка дуктивности подключена к блоку ления, а шток и магнит размещены в корпусе, жестко закрепленном на каретке.
SU874283484A 1987-05-26 1987-05-26 Сканирующий предметный столик дл систем автоматического контрол параметров полупроводниковых пластин SU1536344A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874283484A SU1536344A1 (ru) 1987-05-26 1987-05-26 Сканирующий предметный столик дл систем автоматического контрол параметров полупроводниковых пластин

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874283484A SU1536344A1 (ru) 1987-05-26 1987-05-26 Сканирующий предметный столик дл систем автоматического контрол параметров полупроводниковых пластин

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1536344A1 true SU1536344A1 (ru) 1990-01-15

Family

ID=21319140

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874283484A SU1536344A1 (ru) 1987-05-26 1987-05-26 Сканирующий предметный столик дл систем автоматического контрол параметров полупроводниковых пластин

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1536344A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU172401U1 (ru) * 2016-06-29 2017-07-06 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (НИЯУ МИФИ) Универсальный адаптер для использования микрочипов планарного типа в планшетных ридерах для иммунофлуоресцентного анализа
RU231035U1 (ru) * 2024-06-03 2024-12-28 Общество С Ограниченной Ответственностью "Инновижн" (Ооо "Инновижн") Система получения цифрового изображения полупроводниковых пластин

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Проспект фирмы Leitz (DE). Autoraofic Film Thickness Measurement System for Thin, Transparent Sayers, 1985. ( СКАНИРУЮЩИЙ ПРЕДМЕТНЫЙ СТОЛИК ДЛЯ СИСТЕМ АВТОМАТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU172401U1 (ru) * 2016-06-29 2017-07-06 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (НИЯУ МИФИ) Универсальный адаптер для использования микрочипов планарного типа в планшетных ридерах для иммунофлуоресцентного анализа
RU231035U1 (ru) * 2024-06-03 2024-12-28 Общество С Ограниченной Ответственностью "Инновижн" (Ооо "Инновижн") Система получения цифрового изображения полупроводниковых пластин

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0421527B1 (en) Two-step positioning device
JP2656744B2 (ja) 開フレーム門形プローブ探査システム
KR100283784B1 (ko) 기준 표면을 갖는 웨이퍼 스테이지
JP7200118B2 (ja) 試験片表面に圧子を侵入移動する間、測定信号を決定する測定デバイス、測定構成及び方法
US5786654A (en) Movable stage utilizing electromechanical transducer
US4543615A (en) Automatic scanning device and its control for opto-mechanical processing applications
KR102649529B1 (ko) 갠트리 타입의 위치 결정 장치
US4999494A (en) System for scanning large sample areas with a scanning probe microscope
CN112098732B (zh) 微波电磁参数三维测试系统及其方法
JP2004040979A (ja) 移動体駆動装置
US10366912B2 (en) Stage apparatus and charged particle beam apparatus
CN103543612B (zh) 一种带真空罩的动铁式无线缆六自由度磁浮运动平台
CN110441233A (zh) 一种磁悬浮工件台和缺陷检测装置
US20120146569A1 (en) Method for improving motion times of a stage
SU1536344A1 (ru) Сканирующий предметный столик дл систем автоматического контрол параметров полупроводниковых пластин
EP0394914B1 (en) Mechanical stage support especially for a tunneling microscope
CN214750775U (zh) 一种量测设备
CN108663637B (zh) 一种高效磁通量测量装置
JPH08250558A (ja) ウェーハプローバ
KR100357526B1 (ko) 싸이클로트론 전자석의 자기측정장치
CN211162409U (zh) 一种用于玻璃激光打标设备中的场镜升降机构
JPH079178A (ja) トレパニングヘッド
JPH1177461A (ja) 切削装置
TW201102203A (en) Method and apparatus for hybrid resolution feedback of a motion stage
JP4402112B2 (ja) 位置測定システムを備えた平型直接駆動装置