SU1562811A2 - Способ определени химического состава газа - Google Patents
Способ определени химического состава газа Download PDFInfo
- Publication number
- SU1562811A2 SU1562811A2 SU884406550A SU4406550A SU1562811A2 SU 1562811 A2 SU1562811 A2 SU 1562811A2 SU 884406550 A SU884406550 A SU 884406550A SU 4406550 A SU4406550 A SU 4406550A SU 1562811 A2 SU1562811 A2 SU 1562811A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- gas
- active substances
- chemical composition
- anode
- mössbauer
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 239000000126 substance Substances 0.000 title claims abstract description 11
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 35
- 239000013543 active substance Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000001669 Mossbauer spectrum Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000011888 foil Substances 0.000 abstract description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 3
- 238000004813 Moessbauer spectroscopy Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 abstract 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 4
- STCOOQWBFONSKY-UHFFFAOYSA-N tributyl phosphate Chemical compound CCCCOP(=O)(OCCCC)OCCCC STCOOQWBFONSKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000005298 paramagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к анализу химического состава газа дерно-физическими методами, а точнее - методом мессбауэровской спектроскопии, и может быть использовано на предпри ти х, где необходимо определ ть молекул рный состав газов. Целью изобретени вл етс расширение класса исследуемых газов. Получают мессбауэровские спектры методом регистрации электронов конверсии либо регистрацией рентгеновского характеристического излучени двух идентичных активных веществ, которые представл ют собой тонкие пленки FE57 на алюминиевой фольге. Далее помещают активные вещества в реакционную камеру с анализируемым газом, где они играют роль электродов - анода и катода, и осуществл ют взаимодействие анализируемого газа с активными веществами путем ионизации газа в однородном электрическом поле, величина которого обеспечивает услови возникновени самосто тельного разр да. После этой операции оп ть снимают мессбауэровские спектры активных веществ и по сравнению их с исходными суд т о химическом составе газа. 1 ил.
Description
N5 03
Изобретение относитс к анализу химического состава газа дерно- физическими методами, в частности с помощью мессбауэровскоч спектроскопии , может быть использовано на предпри ти х и объектах, где необходимо определить элементный и молекул рный состав газов, и вл етс усовершенствованием способа по авт. св. № 1354083.
Цель изобретени - расширение класса газов.
Способ определени хамического состава газа реали-ован следующим образом.
Вначале получают мессбауэровские спектры рассе ни активных веществ, использу мессбауэровские методики либо с регистрацией конверсионных и оже-электронов, либо с регистрацией рентгеновского характеристического излучени . Активные вещества представл ют собой тонкие пленки
Ю
Fe
ат
толщ
иной 400-500 А , напыленные методом термовакуумной конденсации на алюминиевые фольги. Далее активные вещества в форме плоских круглых пластинок площадью 1 смг устанавливают в реакционной камере в специальные держатели параллельно друг ДРУгу на рассто нии 4 мм, где они выполн ют роль электродов - катода и анода. Из камеры откачивают воздух и напускают в нее анализируемый газ до давлени (30-50) х ,, Взаимодействие анализируемого газа с активными веществами катода и анода происходит вследствии подачи на электроды реакционной камеры разности потенциалов 1200 В. При этом создаетс однородное электрическое Поле/перпендикул рное поверхности активных веществ анода и катода, происходит ионизаци и ускоренное движение ионов и электронов анализируемого газа. Така обработка активных веществ в самосто тельном разр де поддерживаетс в течение 60 мин причем ток разр да сохран етс посто нным во времени путем изменени Подаваемого на электроды напр жени . После обработки активных веществ катода и анода в разр де анализируемого газа получают их мессбауэровские спектры, сравнивают полученные спектры с исходными мессбауэровскими спектрами и по их различию суд т о составе газа.
На чертеже представлены мессбауэровские спектры.
Исходный спектр тонкой пленки Fe57 на алюминиевой фольге изображен на чертеже кривой 1, тонка пленка Fe67 на алюминиевой фольге после обработки трибутилфосфатом (анод) кривой 2; тонка пленка Fef на алюминиевой фольге после обработк трибутилфосфатом (катод) - кривой 3.
Пример 1. В качестве анализируемого газа использованы пары трибу тилфосфата. В качестве активных веществ (анода и катода) использовались тонкие пленки FeST толщиной 400 - 500 А на алюминиевой фольге. Мессбауэровские спектры таких тонких пленок Fe6T представл ют собой хорошо разрешенные линии сверхтонкого магнитного расщеплени (крива 1). В данном примере использовалась дл получени спектров мес- сбауэровска методика с регистрацией рентгеновского характеристичес
0
5
0
5
0
5
0
5
излучени . После обработки активных веществ в разр де анализируемого газа предлагаемым способом были получены мессбауэровские спектры рассе ни . На представленных на чертеже спектрах анода (крива 2) и катода (крива 3) видно, что в результате взаимодействи анализаруе- мого газа с материалом идентичных активных веществ химические соединени ,образовавшиес на поверхности катода и анода, различаютс . Образовавшиес парамагнитные фазы и их соотношени к магнитным фазам материалов кото- да и анода различаютс существенно, что дает возможность судить не только о молекул рном составе анализируемого газа, но и подойти к пониманию физико-химических процессов, происход щих в разр де и на поверхности активных веществ. Благодар получению дополнительной информации (с анода) можем с большей достоверностью гово- рить о химическом составе газа. Если ранее, при использовании известного способа определени химического состава газа, считалось, что р д газов вообще не способен взаимодействовать с активными веществами, то предлагаемый способ свидетельствует о наличии таких взаимодействий, что расшир ет диапазон анализируемых газов.
В зависимости от природы анализируемого газа, в некоторых случа х происходит видимое на спектрах модействие активного вещества с газом не только одного электрода (анода или катода). В большинстве же случаев взаимодействие вы вл етс на спектрах обоих электродов.
Таким образом, предлагаемый способ определени химического состава газа обеспечивает следующие преимущества .
Благодар введению тонкой пленки Fu57 в качестве второго электрода, идентичного по составу первому, по вилась возможность расширить число газов, подлежащих анализу.
Повысилась информативность способа за счет осуществлени взаимодействи как с отрицательными, так и с положительными ионами газа за счет уменьшени вли ни различий физико-химических свойств электродов .
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ определени химического состава газа по авт, св. № 1354083, отличающийс тем, что, с целью расширени класса исследуемых газов, одновременно с воздействием на катод воздействуют анализируемым газом на анод, изго: i .: ;; : : ::.: ... -: u.;.::.& :. : :Ј .|V «fcr .« -- ц: J° %& I 2.г. Ј - : . .к. -./: °лч г:P..V ..-.. . ч$ 5 г 3 ., в во «: . . f: :5 . . . -«.« .vr w -% v,J1.-iii i :-5-4-20 2 it Втовленный из активного вещества, идентичного активному веществу катода , получают мессбауэровские спектры активного вещества анода до и после воздействи газа и о химическом составе газа суд т по совокупности спектров анода и катода до и после воздействи газа.10.г. Ј . .к. -./: °лч г::..: v. Чс-j
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU884406550A SU1562811A2 (ru) | 1988-04-07 | 1988-04-07 | Способ определени химического состава газа |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU884406550A SU1562811A2 (ru) | 1988-04-07 | 1988-04-07 | Способ определени химического состава газа |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU1354083A Addition SU368764A3 (ru) | 1968-08-08 | 1969-08-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1562811A2 true SU1562811A2 (ru) | 1990-05-07 |
Family
ID=21367232
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU884406550A SU1562811A2 (ru) | 1988-04-07 | 1988-04-07 | Способ определени химического состава газа |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1562811A2 (ru) |
-
1988
- 1988-04-07 SU SU884406550A patent/SU1562811A2/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР № 1354083, кл. G 01 N 24/00, 1984. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Coburn | A system for determining the mass and energy of particles incident on a substrate in a planar diode sputtering system | |
| US5319212A (en) | Method of monitoring ion beam current in ion implantation apparatus for use in manufacturing semiconductors | |
| Hill Jr et al. | Ion mobility spectrometry | |
| Durden et al. | Thermal Ion–Molecule Reaction Rate Constants at Pressures up to 10 torr with a Pulsed Mass Spectrometer. Reactions in Methane, Krypton, and Oxygen | |
| Andersson et al. | Impact collision ion scattering spectroscopy (ICISS) and neutral impact collision ion scattering spectroscopy (NICISS) at surfaces of organic liquids | |
| US3742213A (en) | Apparatus and methods for detecting, separating, concentrating and measuring electronegative trace vapors | |
| EP2483710A1 (en) | Ion induced impact ionization detector and uses thereof | |
| Salehpour et al. | Damage cross sections for fast heavy ion induced desorption of biomolecules | |
| Griffiths et al. | The energies of triplet states of CO2+ 2 and OCS2+ ions. An experimental investigation by double-charge-transfer spectroscopy | |
| Della Negra et al. | Spontaneous desorption time-of-flight mass spectrometry (SDMS): time correlated emission of electrons and negative ions in a constant electric field | |
| Werner | Investigation of solids by means of an ion-bombardment mass spectrometer | |
| SU1562811A2 (ru) | Способ определени химического состава газа | |
| White et al. | Exact mass measurement in the absence of calibrant by Fourier transform mass spectrometry | |
| JPH01255146A (ja) | 高圧質量分析法のためのイオン化方法及び装置 | |
| Kamensky et al. | 252Cf plasma desorption mass spectrometry: recent advances and applications | |
| US7781730B2 (en) | Linear electronic field time-of-flight ion mass spectrometers | |
| Carazzato et al. | Characterization of a glow discharge ion source for the mass spectrometric analysis of organic compounds | |
| JPS6355846A (ja) | 二次中性粒子質量分析装置 | |
| Xu et al. | Secondary electron analysis of polymeric ions generated by an electrospray ion source | |
| Thomas et al. | Low energy ion scattering studies of polymer surfaces | |
| Friedrich et al. | Tritium depth profiling by AMS in carbon samples from fusion experiments | |
| Zubarev et al. | Kinetic Energies of Secondary Ions in MeV and keV Particle‐induced Desorption | |
| Bolotin et al. | Sputtering yields of PMMA films bombarded by keV C60+ ions | |
| Quinones et al. | Fingerprinting of polymer surfaces with Cf‐252 particle desorption mass spectrometry | |
| Doretti et al. | Determination of anthracene and phenanthrene in diesel particulates by collisionally activated decomposition mass‐analysed ion kinetic energy spectrometry |