SU1663999A1 - Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов - Google Patents

Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов

Info

Publication number
SU1663999A1
SU1663999A1 SU4660591/10A SU4660591A SU1663999A1 SU 1663999 A1 SU1663999 A1 SU 1663999A1 SU 4660591/10 A SU4660591/10 A SU 4660591/10A SU 4660591 A SU4660591 A SU 4660591A SU 1663999 A1 SU1663999 A1 SU 1663999A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
standard
microscope
metal strips
positioning systems
check
Prior art date
Application number
SU4660591/10A
Other languages
English (en)
Inventor
В.А. Куликов
В.Н. Федорец
С.А. Иноземцев
Original Assignee
В.А. Куликов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.А. Куликов filed Critical В.А. Куликов
Priority to SU4660591/10A priority Critical patent/SU1663999A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1663999A1 publication Critical patent/SU1663999A1/ru

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике, к мерам для калибровки увеличения и систем позиционирования оптических и электронных микроскопов. Цель изобретения - повышение точности аттестации и проверки микроскопов путем точного определения периода металлических полос меры. Мера состоит из подложки, на которой сформирована система параллельных металлических полос с контактными площадками. В данной системе возбуждают поверхностную акустическую волну, определяют амплитудно - частотную характеристику меры (АЧХ), из данной АЧХ находят период Λ параллельных металлических полос. 3 ил.
SU4660591/10A 1989-03-10 1989-03-10 Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов SU1663999A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4660591/10A SU1663999A1 (ru) 1989-03-10 1989-03-10 Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4660591/10A SU1663999A1 (ru) 1989-03-10 1989-03-10 Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1663999A1 true SU1663999A1 (ru) 1996-01-20

Family

ID=60531917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4660591/10A SU1663999A1 (ru) 1989-03-10 1989-03-10 Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1663999A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109444472A (zh) * 2018-12-19 2019-03-08 中国电子科技集团公司第十三研究所 扫描电子显微镜校准图形样片及制备方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109444472A (zh) * 2018-12-19 2019-03-08 中国电子科技集团公司第十三研究所 扫描电子显微镜校准图形样片及制备方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE161956T1 (de) Verfahren zur untersuchung beschichteter metalloberflächen
RU94046155A (ru) Обнаружение микроорганизмов и определение их чувствительности к антибиотикам
FI915150A7 (fi) Menetelmät, reagenssit ja testikäyttöpakkaukset biologisten yksiköiden alapopulaatioiden määrittämiseksi
IT8823166A0 (it) Procedimento e dispositivo per l'analisi quantitativa e differenziale in profondita' di provini solidi con l'impiego di due raggi ionici
ES541870A0 (es) Un procedimiento para preparar un dispositivo de ensayo para determinar la presencia de leucocitos, esterasa o proteasa en una muestra.
ES2125986T3 (es) Sensor para ensayo optico.
IT8719422A0 (it) Metodo per determinare la concentrazione di microbi mediante distribuzione su piastra e piatti impiegati in esso.
EP0376111A3 (de) Testträger-Analysesystem
YU46168B (sh) Postupak za odredjivanje prisustva malignog stanja
ITMI912345A0 (it) Procedimento per la realizzazione di strutture metrologiche particolarmente per l'analisi dell'accuratezza di strumenti di misura di allineamento su substrati processati.
DE59706908D1 (de) Messanschlagvorrichtung für ein entfernungsmessgerät
ATE155895T1 (de) Messverfahren des einfallwinkels eines lichtstrahls, vorrichtung zur durchführung des verfahrens sowie deren verwendung zur entfernungsmessung
FR2441176A1 (fr) Procede et montage pour la mesure de l'affaiblissement et notamment pour la determination de la distorsion d'affaiblissement et/ou de la distorsion de temps de propagation de groupe d'un objet de mesure
RU95108545A (ru) Способ и комплект для выявления и оценки риска развития периодонтита
EP0378312A3 (en) Pressure measurement devices
SU1262342A1 (ru) Способ определени фактической площади контакта твердых тел
Chiang et al. Surface and interior stress intensity factor measurement by a random speckle method
Sfiligoj New Ultrasonic Technique Measures Size of Flaws
CHEN Acoustic emission source characterization of fatigue cracks in 7075-T 6 aluminum alloy thin plate(Ph. D. Thesis)
Kagami et al. Surface Roughness Measurement by Focussing Method
KR910009525U (ko) 강판의 온라인(on-line)경도 측정장치
JPS56131399A (en) Measurement of adhesion competence of blood plate and its device
Hillmann et al. Importance of Raster Electron Microscopes for Roughness Measurements on Technical Surfaces
AURAND An antenna array processing system for multiple source bearing estimation(Ph. D. Thesis)
IT1232427B (it) Dinamometro particolarmente per il rilievo del carico di attuazione disistemi servocomandati