SU1679552A1 - Элемент пам ти - Google Patents
Элемент пам ти Download PDFInfo
- Publication number
- SU1679552A1 SU1679552A1 SU894721361A SU4721361A SU1679552A1 SU 1679552 A1 SU1679552 A1 SU 1679552A1 SU 894721361 A SU894721361 A SU 894721361A SU 4721361 A SU4721361 A SU 4721361A SU 1679552 A1 SU1679552 A1 SU 1679552A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- memory element
- memory
- diode
- sampling
- diodes
- Prior art date
Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к вычислительной технике, в частности к схемам оперативней и сверхоперативной бипол рной пам ти в интегральном исполнении. Целью изобретени вл етс повышение быстродействи элемента пам ти. Дл этого в элемент пам ти введен разв зывающий диод 14с. соответствующими св з ми. В режиме выборки диод 14 закрываетс , а состо ние элемента пам ти поддерживаетс током считывани , задаваемым транзистором 11 выборки. При переключении из состо ни хранени в состо ние выборки весь ток считывани идет на перезар д емкостей только одного выбранного элемента пам ти . 2 ил.
Description
Mbw
: Ьыб.У
Изобретение относитс к вычислительной технике, в частности к схемам оператив- ной и сверхоперативной бипол рной пам ти в интегральном исполнении. Целью изобретени вл етс повышение быстродействи элемента пам ти,
На фиг.1 и 2 представлены варианты электрических схем элемента пам ти.
. Элемент пам ти содержит первый 1 и второй 2 запоминающие транзисторы, первый 3 и второй 4 нагрузочные элементы, смещающий резистор 5, первую шину.6 питани , первый 7 и второй 8 диоды св зи, первую 9 и вторую 10 разр дные шины, транзистор 11 выборки, первый 12 и второй, 13 входы выборки, разв зывающий диод 14, вторую шину 15 питани .
Элемент пам ти работает следующим образом.
В режиме хранени транзистор 11 не коммутирует ток считывани в триггер хранени , разность потенциалов в котором обеспечиваетс протеканием тока хранени , задаваемого от второй шины 15 питани через диод 14. Шины питани 6 и 15 могут быть общими дл всего массива элементов пам ти в накопителе (допускают произвольное объединение по строкам и столбцам в матрице, включа и одновременное обьединение и по строкам, и столбцам).
В режиме выборки в триггер хранени транзистором 11 коммутируетс ток считывани . В силу этого за счет падени напр - жени на резисторе 5 потенциалы коллекторов транзисторов 1 и 2 в выбранном элементе пам ти станов тс меньше, чем в соседних, наход щихс в режиме хранени . Соответственно, диод 14 в выбранном элементе пам ти запираетс , что предотвращает растекание тока считывани в соседние. Запирание диода 14 приводит также и к отключению тока хранени , поступающего в выбранный элемент по второй шине 15 питани , но вместо тока хране- ни в данном режиме разность потенциалов в триггере хранени обеспечиваетс протеканием тока считывани . Дл поддержани разности потенциалов требуетс мала дол тока считывани , больша часть которого протекает через диод 7(8) св зи в открытом плече триггера. Одной из функций диодов 7(8) св зи, таким образом, вл етс фиксаци потенциала коллектора открытого транзистора 1(2) с целью предотвращени глубокого насыщени и сохранени высокого быстродействи .
Выбранный элемент пам ти может служить дл считывани информации из него или дл записи. Считывание и запись информации осуществл етс по шинам 9 и 10
которые как и шины 6 и 15 питани могут быть общими дл всех элементов пам ти накопител , и объединение их по строкам или столбцам может производитьс произвольным образом. Режимы считывани или записи определ ютс соответствующими сигналами по шинам 9 и 10.
Режим считывани определ етс тем, что по шинам 9 и 10 на анодах диодов 7 и 8
0 задаютс одинаков ые по величине потенциалы считывани .
Дл элементов пам ти, использующих диоды 7 и 8 дл ограничени падени напр жени в нагрузочных элементах 3 и 4 и пред5 отвращени глубокого насыщени транзисторов 1 и 2, известны два режима работы при выборке. В первом из них один диод 7(8) открыт, другой 8(7) заперт. Во втором режиме оба диода 7 и 8 открыты, а
0 логический перепад создаетс за счет падени напр жени на внутреннем сопротивлении диода 7(8).
Второй режим вл етс предпочтительным , поскольку при нем снимаетс прису5 щее первому ограничение на величину отношени токов считывани и хранени , вл ющегос показателем быстродействи . При использовании указанного второго режима выборки возможно использование
0 вместо резисторов 5 в каждом элементе пам ти одной цепочки посто нного по величине смещени дл строки (или столбца) матрицы элементов пам ти.
Разность токов диодов 7 и 8 вл етс
5 сигналом считывани , поступающим на вход усилител считывани . В элементах пам ти , наход щихс в режиме хранени , потенциалы на катодах диодов 7 и 8 существенно выше, чем в выбранном, поэ0 тому все диоды 7 и 8 в них заперты и не дают вклад в сигнал считывани ,
В режиме записи информации на одной из шин 9 или 10 (в зависимости от рода записываемой информации) потенциал по5 вышаетс до величины потенциала записи. Это обеспечивает переброс триггера (перезапись информации) в случае, когда потенциал повышаетс на аноде открытого диода 7(8): с помощью диода 7(8) потенциал логического О повышаетс до тех пор, пока не
0 сравниваетс с потенциалом логической 1, после чего триггер перебрасываетс . В случае, когда потенциал повышаетс на аноде запертого диода 7(8) выбранного элемента пам ти, возможно только некоторое
5 повышение потенциала логической 1, переброса триггера не происходит (запись однородной информации в триггер).
Приведенное выше описание работы за вл емого элемента пам ти в статических
режимах относилось к варианту его выполнени (фиг,1) с резисторами в качестве элементов , 3 и 4 нагрузки триггера хранени . Все сказанное относительно режимов работы и условий функционировани справедливо и дл случа (фиг.2) использовани р-п-р транзисторов в качестве элементов 3 и 4 нагрузки.
Claims (1)
- Формула изобретени Элемент пам ти, содержащий два запоминающих транзистора, транзистор выборки , два диода св зи, смещающий резистор, два нагрузочных элемента, первые выводы которых соединены с первым выводом смещающего резистора, второй вывод которого подключен к первой шине питани элемента пам ти, к первой и второй разр дным шинам которого подключены аноды первоЧРго и второго диодов св зи соответственно, катоды которых соединены с вторыми выводами первого и второго нагрузочных элементов соответственно, коллекторамипервого и второго запоминающих транзисторов соответственно и базами второго и первого запоминающих транзисторов соответственно , эмиттеры которых обьединены, база и эмиттер транзистора выборки вл ютс первым и вторым входами выборки элемента пам ти соответственно, отличающийс тем, что, с целью повышени быстродействи элемента пам ти, он содержит разв зывающий диод, катод которогоподключен к второй шине питани элемента пам ти, а анод соединен с эмиттером первого запоминающего транзистора и коллектором транзистора выборки.ЗАЛLW.Y
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU894721361A SU1679552A1 (ru) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | Элемент пам ти |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU894721361A SU1679552A1 (ru) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | Элемент пам ти |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1679552A1 true SU1679552A1 (ru) | 1991-09-23 |
Family
ID=21462053
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU894721361A SU1679552A1 (ru) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | Элемент пам ти |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1679552A1 (ru) |
-
1989
- 1989-07-20 SU SU894721361A patent/SU1679552A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Патент US № 4127899, кл.С 11 С 11/40, 1978. Патент US № 4193127, кл. G 11 С 11/40, 1980. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4267583A (en) | Memory test device with write and pseudo write signals | |
| JPS619895A (ja) | 半導体記憶回路 | |
| US4322820A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
| US4792923A (en) | Bipolar semiconductor memory device with double word lines structure | |
| US5016214A (en) | Memory cell with separate read and write paths and clamping transistors | |
| US4459686A (en) | Semiconductor device | |
| EP0028157B1 (en) | Semiconductor integrated circuit memory device with integrated injection logic | |
| SU1679552A1 (ru) | Элемент пам ти | |
| US4066915A (en) | Memory circuit | |
| US4280197A (en) | Multiple access store | |
| US4488261A (en) | Field programmable device | |
| US3820086A (en) | Read only memory(rom)superimposed on read/write memory(ram) | |
| EP0023408B1 (en) | Semiconductor memory device including integrated injection logic memory cells | |
| US4580244A (en) | Bipolar memory cell | |
| EP0448263B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device having a test circuit | |
| US4589096A (en) | IIL semiconductor memory including arrangement for preventing information loss during read-out | |
| JP2548737B2 (ja) | ドライバ回路 | |
| US5541874A (en) | Semiconductor-integrated-circuit SRAM-cell array with single-ended current-sensing | |
| EP0306663A2 (en) | Fast write saturated memory cell | |
| JPH0210518B2 (ru) | ||
| US5117391A (en) | Bipolar memory cell array biasing technique with forward active PNP load cell | |
| RU2006967C1 (ru) | Элемент памяти | |
| US4703458A (en) | Circuit for writing bipolar memory cells | |
| SU1656595A1 (ru) | Накопитель | |
| SU1133621A1 (ru) | Запоминающее устройство (его варианты) |