SU332376A1 - Датчик для измерения параметров малоэнергетичной плазмы - Google Patents
Датчик для измерения параметров малоэнергетичной плазмыInfo
- Publication number
- SU332376A1 SU332376A1 SU1412367A SU1412367A SU332376A1 SU 332376 A1 SU332376 A1 SU 332376A1 SU 1412367 A SU1412367 A SU 1412367A SU 1412367 A SU1412367 A SU 1412367A SU 332376 A1 SU332376 A1 SU 332376A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- particles
- energy
- sensor
- plasma
- collector
- Prior art date
Links
Description
Изобретение относитс к устройствам дл физических исследований космического иространства и может быть использовано дл измерени параметров малоэнергетичной плазмы , имеющейс в магнитосфере Земли и вне ее. К числу измер емых параметров относ тс : потоки зар женных частиц, направление их прихода и распределение этих частиц по энерги м. Результаты измерений позвол ют судить о физических процессах, происход щих в космическом пространстве.
Дл измерени параметров малоэнергетичной плазмы обычно примен ют электростатический анализатор, в котором дл анализа зар женных частиц по энерги м используетс отклон ющее электростатическое поле. Кинетическа энерги частиц в анализаторах не измен етс , а траектории движени станов тс криволинейными.
Однако электростатические анализаторы имеют недостатки. Они не позвол ют непосредственно измер ть интегральные потоки; регистрируемые ими потоки зар женных частиц имеют малую величину из-за селекции их в узком энергетическом диапазоне (следовательно , требуетс повысить чувствительность электронной регистрирующей схемы); при регистрации частиц с энергией от 1 до EZ щирина энергетического диапазона (EZ-fi) не может быть выбрана сколь
угодно малой. Относительна щирина диапа„ А / „ i + з зона где Е - --средн энерii Y
ги 1 в лучщих современных анализаторах не /
может быть меньше несколькнх процентов. Относительна ширина энергетического диапазона б по принципу регистрации вл етс посто нной величиной дл всего исследуемого диапазона энергий. Поэтому при изменении средней энергии Е абсолютна ширина энергетического диапазона Af не остаетс посто нной , а растет с ростом энергии. Это сужает возможности анализа, особенно в случае неравновесных распределений частиц п плазме.
Предлагаемый датчик позвол ет при регистрации потоков космической плазмы получить узкую и симметричную диаграмму направленности , повысить при этом абсолютные значени измер емых токов и, кроме того , обеспечивает регистрацию частиц в любом диапазоне энергии. Это достигаетс благодар новому способу
измерени потоков зар женных частиц, основанному на отражении и фокусировке этих частиц с последующим анализом их энергий методом задерживающего потенциала.
Датчик состоит из отражающего узла (электростатического зеркала) и коллекторного узла.
Отражающий узел выполнен в виде вакуумного электростатического конденсатора, состо щего из двух металлических обкладок (электродов), разделенных вакуумным нромежутком . Конденсатор размещен внутри сплошного металлического корпуса 1. Одной из обкладок конденсатора служит тонка высоконрозрачна металлическа сетка 2. Она вл етс передней (входной) поверхностью корпуса 1 и имеет форму параболоида вращени , Внутри корпуса на изол торах 3 укренлен отражатель 4, который представл ет собою вторую обкладку конденсатора. Отражатель также имеет форму конфокального параболоида вращени .
Электростатический конденсатор может иметь любую форму поверхности второго пор дка с фокусом.
Коллекторный узел крепитс к корпусу / с помощью тонких кронщтейнов 5. Этот узел заключен в металлическнй экранирующий стакан 6, внутри которого на изол торах 7 установлены коллектор S и запирающа сетка 9. Входное окно стакана, обращенное в сторону зеркала, зат нуто металлической сеткой 10, котора электрически соединена со стаканом. Рассто ние от коллекторного узла до корпуса 1 должно быть таким, чтобы фокус электростатического зеркала находилс между коллектором 8 и входной сеткой W. Это позвол ет значительно уменьшить площадь коллекторного узла по сравнению с площадью зеркала и, следовательно, уменьщить площадь облучаемой светом поверхности и повысить отнощение величины полезного сигнала к величине фона, обусловленного фототоками прибора. Кроме того, интенсивность освещени коллектора также значительно уменьшена благодар тому, что коллекторный узел может быть освещен только светом, отраженным от электродов конденсатора. К тому же интенсивность этого отраженного света может быть снижена за счет нанесени на электроды конденсатора покрытий, эффективно поглощающих световое излучение.
Соотнощение размеров входного окна коллекторного узла и фокусного рассто ни зеркала определ ет остроту диаграммы направленности .
При работе датчика соедин ют корпус 1, сетку 2, кронщтейн 5, стакан 6 и сетку 10 с корпусом летательного аппарата, подают на отражатель анализирующее напр жение И, знак и величина которого определ ет знак регистрнруемых частиц и их максимальную энергию , подают на сетку 9 заннраюнтее напр жение , величина которого определ ет минимальную энергию регистрируемых частиц, на коллектор 8 подают напр жение смещени относительно сетки 9 дл подавлени вторичной эмиссии с коллектора.
Потоки регистрируемой плазмы попадают в зазор между сеткой 2 и отражателем 4, анализирующее напр жение U создает в этом зазоре электростатическое поле. Проникающа в зазор п.газма раздел етс на дие комноненты: поло ::ительную и отрицательную . В зависимости от знака напр женн и одна из этих компонент ускор етс , и частицы , составл ющие эту компоненту, попадают
на отражатель 4. Частицы противоположного знака тормоз тс в поле электростатического зеркала. Если их энерги достаточна дл преодолени тормоз щего пол , они также попадают на отражатель 4. Если же энерги недостаточна - частицы отражаютс и выход т из зазора в обратном направлении. Прн этом за счет формы электростатического зеркала все отраженные частицы, которые первоначально (до входа в зазор) двигались
параллельно оси круговой симметрии датчика , сфокусируютс вблнзн одной точ;(и - фокуса . Частицы с другими наиравлени мн первоначального движени пройдут вдали от точки фокуса. Те частицы, которые достигли района фокуса, попадают в коллекториый узел. Пройд сквозь сетку 10, они попадают под воздействие запирающего потенциала, поданного на сетку 9. Если энерги частиц достаточна дл преодолени потенцнального барьера сетки 9, то они проход т ее и попадают на коллектор 8. Такнм образом, датчик дает возможность регистрировать частицы онределенного знака с энерги ми от Е-, до ЕЧ и с направлением движени нараллельно оси датчика .
Коиструктивное выполнение датчика позвол ет повысить эффективность его работы, а именно:
использовать больщую площадь входной
иоверхности, что увеличивает регистрируе.мый сигнал без ухудщени энергетических характеристик;
достичь острой и симметричной угловой диаграммы направленности;
регистрировать интегральные потоки в -заданном диапазоне энергий и обеспечить измереиие абсолютной щирины диапазона А/Г по любому закону; эффективно -нодавл ть фототоки за счет
того, что приемный узел не направлен на Солнце н имеет площадь значительно меньшую , чем нлондадь входной поверхности конденсатора; легко нзмен ть ширину угловой диаграммы
направлепности за счет изменени размеров входного окна коллекторного узла;
при одном отражающем узле регистрировать одновременно нотоки частиц, имеющих различные направлени , устанавлива несколько нриемников в различные точки фокальной поверхности.
мическом пространстве, содержаиигл электростатический анализатор, отличающийс тем, что, с целью сужени диаграммы направленности , анализатор выполнен в виде электростатического зеркала, которое имеет форму поверхности второго иор дка, например форму параболоида вращени , причем один электрод анализатора, обращенный в сторону регистрируемого потока, выполнен в виде высокопрозрачной металлической сетки так, что
обеспечиваетс фокусировка отраженных от зеркала зар женных частиц в точку пространства , где установлен коллекторный узел, экранированный от случайных потоков частиц .
2. Датчик по п. 1, отличающийс гем, что коллекторный узел содержит секционированный собирающий электрод, кажда секци которого регистрирует частицы в определенном угловом диапазоне.
Л усилителю
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU332376A1 true SU332376A1 (ru) |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Livingston et al. | Nuclear physics c. nuclear dynamics, experimental | |
| JPS6369135A (ja) | 電子検出装置 | |
| AU2014204936A1 (en) | Mass spectrometer with optimized magnetic shunt | |
| JPH04206432A (ja) | イオン散乱分析装置 | |
| Staib et al. | Recent developments on an improved retarding-field analyser | |
| Van Hoof et al. | Position-sensitive detector system for angle-resolved electron spectroscopy with a cylindrical mirror analyser | |
| US2769911A (en) | Mass spectrometer for analysing substances or indicating a small amount of a determined substance | |
| SU332376A1 (ru) | Датчик для измерения параметров малоэнергетичной плазмы | |
| CN112130192B (zh) | 一种用于空间中性原子成分分析仪器的抗干扰方法及系统 | |
| US7030375B1 (en) | Time of flight electron detector | |
| JP3480669B2 (ja) | 粒子通過位置検出装置 | |
| CN111727489B (zh) | 动量分辨光电子能谱仪及用于动量分辨光电子能谱的方法 | |
| JPH0627058A (ja) | 電子分光方法とこれを用いた電子分光装置 | |
| US3435207A (en) | Apparatus for measuring velocity of low energy electrons | |
| JP2004361283A (ja) | 平行磁場型ラザフォード後方散乱分析装置 | |
| EP0295653B1 (en) | High luminosity spherical analyzer for charged particles | |
| Gardner et al. | Experimental apparatus for photon/ion coincidence measurements of dielectronic recombination | |
| RU2809829C1 (ru) | Способ оперативного мониторинга энергии заряженных частиц при выполнении операций лучевой терапии | |
| RU2823905C1 (ru) | Способ преобразования пучка моноэнергетических протонов в пучок протонов сложного спектра при проведении операций лучевой терапии | |
| JPH0269692A (ja) | 荷電粒子ビームのエネルギーの球状ミラー分析器 | |
| US4166218A (en) | P-i-n diode detector of ionizing radiation with electric field straightening | |
| Manithottathil et al. | Characterization of an MPPC-Based Scintillator Telescope and Measurement of Cosmic Muon Angular Distribution | |
| JPH0326901B2 (ru) | ||
| JPS63114037A (ja) | 定量電位測定用スペクトロメータ検出器装置 | |
| JPS63102149A (ja) | 定量電位測定用スペクトロメータ検出器装置 |