SU332376A1 - Датчик для измерения параметров малоэнергетичной плазмы - Google Patents

Датчик для измерения параметров малоэнергетичной плазмы

Info

Publication number
SU332376A1
SU332376A1 SU1412367A SU1412367A SU332376A1 SU 332376 A1 SU332376 A1 SU 332376A1 SU 1412367 A SU1412367 A SU 1412367A SU 1412367 A SU1412367 A SU 1412367A SU 332376 A1 SU332376 A1 SU 332376A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
particles
energy
sensor
plasma
collector
Prior art date
Application number
SU1412367A
Other languages
English (en)
Original Assignee
И. И. Первушин, Н. М. Шютте, Н. Н. Ганохин , Г. И. Волков
Publication of SU332376A1 publication Critical patent/SU332376A1/ru

Links

Description

Изобретение относитс  к устройствам дл  физических исследований космического иространства и может быть использовано дл  измерени  параметров малоэнергетичной плазмы , имеющейс  в магнитосфере Земли и вне ее. К числу измер емых параметров относ тс : потоки зар женных частиц, направление их прихода и распределение этих частиц по энерги м. Результаты измерений позвол ют судить о физических процессах, происход щих в космическом пространстве.
Дл  измерени  параметров малоэнергетичной плазмы обычно примен ют электростатический анализатор, в котором дл  анализа зар женных частиц по энерги м используетс  отклон ющее электростатическое поле. Кинетическа  энерги  частиц в анализаторах не измен етс , а траектории движени  станов тс  криволинейными.
Однако электростатические анализаторы имеют недостатки. Они не позвол ют непосредственно измер ть интегральные потоки; регистрируемые ими потоки зар женных частиц имеют малую величину из-за селекции их в узком энергетическом диапазоне (следовательно , требуетс  повысить чувствительность электронной регистрирующей схемы); при регистрации частиц с энергией от 1 до EZ щирина энергетического диапазона (EZ-fi) не может быть выбрана сколь
угодно малой. Относительна  щирина диапа„ А / „ i + з зона где Е - --средн   энерii Y
ги  1 в лучщих современных анализаторах не /
может быть меньше несколькнх процентов. Относительна  ширина энергетического диапазона б по принципу регистрации  вл етс  посто нной величиной дл  всего исследуемого диапазона энергий. Поэтому при изменении средней энергии Е абсолютна  ширина энергетического диапазона Af не остаетс  посто нной , а растет с ростом энергии. Это сужает возможности анализа, особенно в случае неравновесных распределений частиц п плазме.
Предлагаемый датчик позвол ет при регистрации потоков космической плазмы получить узкую и симметричную диаграмму направленности , повысить при этом абсолютные значени  измер емых токов и, кроме того , обеспечивает регистрацию частиц в любом диапазоне энергии. Это достигаетс  благодар  новому способу
измерени  потоков зар женных частиц, основанному на отражении и фокусировке этих частиц с последующим анализом их энергий методом задерживающего потенциала.
Датчик состоит из отражающего узла (электростатического зеркала) и коллекторного узла.
Отражающий узел выполнен в виде вакуумного электростатического конденсатора, состо щего из двух металлических обкладок (электродов), разделенных вакуумным нромежутком . Конденсатор размещен внутри сплошного металлического корпуса 1. Одной из обкладок конденсатора служит тонка  высоконрозрачна  металлическа  сетка 2. Она  вл етс  передней (входной) поверхностью корпуса 1 и имеет форму параболоида вращени , Внутри корпуса на изол торах 3 укренлен отражатель 4, который представл ет собою вторую обкладку конденсатора. Отражатель также имеет форму конфокального параболоида вращени .
Электростатический конденсатор может иметь любую форму поверхности второго пор дка с фокусом.
Коллекторный узел крепитс  к корпусу / с помощью тонких кронщтейнов 5. Этот узел заключен в металлическнй экранирующий стакан 6, внутри которого на изол торах 7 установлены коллектор S и запирающа  сетка 9. Входное окно стакана, обращенное в сторону зеркала, зат нуто металлической сеткой 10, котора  электрически соединена со стаканом. Рассто ние от коллекторного узла до корпуса 1 должно быть таким, чтобы фокус электростатического зеркала находилс  между коллектором 8 и входной сеткой W. Это позвол ет значительно уменьшить площадь коллекторного узла по сравнению с площадью зеркала и, следовательно, уменьщить площадь облучаемой светом поверхности и повысить отнощение величины полезного сигнала к величине фона, обусловленного фототоками прибора. Кроме того, интенсивность освещени  коллектора также значительно уменьшена благодар  тому, что коллекторный узел может быть освещен только светом, отраженным от электродов конденсатора. К тому же интенсивность этого отраженного света может быть снижена за счет нанесени  на электроды конденсатора покрытий, эффективно поглощающих световое излучение.
Соотнощение размеров входного окна коллекторного узла и фокусного рассто ни  зеркала определ ет остроту диаграммы направленности .
При работе датчика соедин ют корпус 1, сетку 2, кронщтейн 5, стакан 6 и сетку 10 с корпусом летательного аппарата, подают на отражатель анализирующее напр жение И, знак и величина которого определ ет знак регистрнруемых частиц и их максимальную энергию , подают на сетку 9 заннраюнтее напр жение , величина которого определ ет минимальную энергию регистрируемых частиц, на коллектор 8 подают напр жение смещени  относительно сетки 9 дл  подавлени  вторичной эмиссии с коллектора.
Потоки регистрируемой плазмы попадают в зазор между сеткой 2 и отражателем 4, анализирующее напр жение U создает в этом зазоре электростатическое поле. Проникающа  в зазор п.газма раздел етс  на дие комноненты: поло ::ительную и отрицательную . В зависимости от знака напр женн  и одна из этих компонент ускор етс , и частицы , составл ющие эту компоненту, попадают
на отражатель 4. Частицы противоположного знака тормоз тс  в поле электростатического зеркала. Если их энерги  достаточна дл  преодолени  тормоз щего пол , они также попадают на отражатель 4. Если же энерги  недостаточна - частицы отражаютс  и выход т из зазора в обратном направлении. Прн этом за счет формы электростатического зеркала все отраженные частицы, которые первоначально (до входа в зазор) двигались
параллельно оси круговой симметрии датчика , сфокусируютс  вблнзн одной точ;(и - фокуса . Частицы с другими наиравлени мн первоначального движени  пройдут вдали от точки фокуса. Те частицы, которые достигли района фокуса, попадают в коллекториый узел. Пройд  сквозь сетку 10, они попадают под воздействие запирающего потенциала, поданного на сетку 9. Если энерги  частиц достаточна дл  преодолени  потенцнального барьера сетки 9, то они проход т ее и попадают на коллектор 8. Такнм образом, датчик дает возможность регистрировать частицы онределенного знака с энерги ми от Е-, до ЕЧ и с направлением движени  нараллельно оси датчика .
Коиструктивное выполнение датчика позвол ет повысить эффективность его работы, а именно:
использовать больщую площадь входной
иоверхности, что увеличивает регистрируе.мый сигнал без ухудщени  энергетических характеристик;
достичь острой и симметричной угловой диаграммы направленности;
регистрировать интегральные потоки в -заданном диапазоне энергий и обеспечить измереиие абсолютной щирины диапазона А/Г по любому закону; эффективно -нодавл ть фототоки за счет
того, что приемный узел не направлен на Солнце н имеет площадь значительно меньшую , чем нлондадь входной поверхности конденсатора; легко нзмен ть ширину угловой диаграммы
направлепности за счет изменени  размеров входного окна коллекторного узла;
при одном отражающем узле регистрировать одновременно нотоки частиц, имеющих различные направлени , устанавлива  несколько нриемников в различные точки фокальной поверхности.
мическом пространстве, содержаиигл электростатический анализатор, отличающийс  тем, что, с целью сужени  диаграммы направленности , анализатор выполнен в виде электростатического зеркала, которое имеет форму поверхности второго иор дка, например форму параболоида вращени , причем один электрод анализатора, обращенный в сторону регистрируемого потока, выполнен в виде высокопрозрачной металлической сетки так, что
обеспечиваетс  фокусировка отраженных от зеркала зар женных частиц в точку пространства , где установлен коллекторный узел, экранированный от случайных потоков частиц .
2. Датчик по п. 1, отличающийс  гем, что коллекторный узел содержит секционированный собирающий электрод, кажда  секци  которого регистрирует частицы в определенном угловом диапазоне.
Л усилителю
SU1412367A Датчик для измерения параметров малоэнергетичной плазмы SU332376A1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU332376A1 true SU332376A1 (ru)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Livingston et al. Nuclear physics c. nuclear dynamics, experimental
JPS6369135A (ja) 電子検出装置
AU2014204936A1 (en) Mass spectrometer with optimized magnetic shunt
JPH04206432A (ja) イオン散乱分析装置
Staib et al. Recent developments on an improved retarding-field analyser
Van Hoof et al. Position-sensitive detector system for angle-resolved electron spectroscopy with a cylindrical mirror analyser
US2769911A (en) Mass spectrometer for analysing substances or indicating a small amount of a determined substance
SU332376A1 (ru) Датчик для измерения параметров малоэнергетичной плазмы
CN112130192B (zh) 一种用于空间中性原子成分分析仪器的抗干扰方法及系统
US7030375B1 (en) Time of flight electron detector
JP3480669B2 (ja) 粒子通過位置検出装置
CN111727489B (zh) 动量分辨光电子能谱仪及用于动量分辨光电子能谱的方法
JPH0627058A (ja) 電子分光方法とこれを用いた電子分光装置
US3435207A (en) Apparatus for measuring velocity of low energy electrons
JP2004361283A (ja) 平行磁場型ラザフォード後方散乱分析装置
EP0295653B1 (en) High luminosity spherical analyzer for charged particles
Gardner et al. Experimental apparatus for photon/ion coincidence measurements of dielectronic recombination
RU2809829C1 (ru) Способ оперативного мониторинга энергии заряженных частиц при выполнении операций лучевой терапии
RU2823905C1 (ru) Способ преобразования пучка моноэнергетических протонов в пучок протонов сложного спектра при проведении операций лучевой терапии
JPH0269692A (ja) 荷電粒子ビームのエネルギーの球状ミラー分析器
US4166218A (en) P-i-n diode detector of ionizing radiation with electric field straightening
Manithottathil et al. Characterization of an MPPC-Based Scintillator Telescope and Measurement of Cosmic Muon Angular Distribution
JPH0326901B2 (ru)
JPS63114037A (ja) 定量電位測定用スペクトロメータ検出器装置
JPS63102149A (ja) 定量電位測定用スペクトロメータ検出器装置