SU422948A1 - - Google Patents

Info

Publication number
SU422948A1
SU422948A1 SU1804666A SU1804666A SU422948A1 SU 422948 A1 SU422948 A1 SU 422948A1 SU 1804666 A SU1804666 A SU 1804666A SU 1804666 A SU1804666 A SU 1804666A SU 422948 A1 SU422948 A1 SU 422948A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
lens
control
cleanliness
plane
optical
Prior art date
Application number
SU1804666A
Other languages
English (en)
Russian (ru)
Inventor
В. Е. Михайленков А. И. Полев А. И. Фефер изобретени Н. Н. Евтихиев
Original Assignee
Московский институт радиотехники, электроники , автоматики
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский институт радиотехники, электроники , автоматики filed Critical Московский институт радиотехники, электроники , автоматики
Priority to SU1804666A priority Critical patent/SU422948A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU422948A1 publication Critical patent/SU422948A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
SU1804666A 1972-07-04 1972-07-04 SU422948A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1804666A SU422948A1 (de) 1972-07-04 1972-07-04

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1804666A SU422948A1 (de) 1972-07-04 1972-07-04

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU422948A1 true SU422948A1 (de) 1974-04-05

Family

ID=20520180

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1804666A SU422948A1 (de) 1972-07-04 1972-07-04

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU422948A1 (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4254337A (en) Infrared interference type film thickness measuring method and instrument therefor
US5543919A (en) Apparatus and method for performing high spatial resolution thin film layer thickness metrology
WO1995013529A1 (en) Apparatus for measuring refractive index
US3601492A (en) Apparatus for measuring film thickness
US4893024A (en) Apparatus for measuring the thickness of a thin film with angle detection means
US3700331A (en) Spectrometer with rotary scanning disc and method of spectroscopic analysis
US4586816A (en) Optical fibre spot size determination apparatus
JPH0599659A (ja) 光ビーム入射角の測定方法、測定装置及び距離測定装置の使用
Podoleanu et al. Channelled spectrum display using a CCD array for student laboratory demonstrations
SU1257475A1 (ru) Лазерное интерферометрическое устройство дл определени нелинейности показател преломлени оптических сред
US5659393A (en) Method of and device for measuring the refractive index of wafers of vitreous material
SU151063A1 (ru) Способ рефлексометрических измерений
SU821912A1 (ru) Бесконтактный способ определени ОпТичЕСКОй длиНы МЕжду дВуМ пОлупРОзРАчНыМи пАРАллЕльНыМи пОВЕРХНОСТ Ми
SU1504497A1 (ru) Устройство дл измерени линейных размеров и формы элементов на плоских объектах с дифракционными тестовыми структурами
SU584194A1 (ru) Способ измерени интенсивности линии оптического спектра
SU808835A1 (ru) Интерференционный датчик измерени углОВ пОВОРОТА Об'ЕКТА
SU1550378A1 (ru) Способ определени показател преломлени прозрачных сред
SU823989A1 (ru) Устройство дл измерени абсолют-НыХ КОэффициЕНТОВ ОТРАжЕНи и пРОпуС-КАНи
RU2625641C1 (ru) Устройство для промера распределения поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны над её треком
RU2033603C1 (ru) Способ измерения коэффициента отражения
Carroll et al. Effect of optical-fiber length on the width of a transmitted laser pulse: comparison of theoretical calculations and experimentally measured pulses
SU1072590A1 (ru) Устройство дл регистрации нестационарных полей градиента показател преломлени
SU855450A1 (ru) Способ определени показател преломлени пленки
SU658411A1 (ru) Устройство дл измерени разности хода в эталоне фабри-перо
SU1075124A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициентов пропускани и отражени плоскопараллельных образцов