SU471908A1 - Устройство дл контрол кривизны плоских поверхностей изделий - Google Patents

Устройство дл контрол кривизны плоских поверхностей изделий

Info

Publication number
SU471908A1
SU471908A1 SU1778212A SU1778212A SU471908A1 SU 471908 A1 SU471908 A1 SU 471908A1 SU 1778212 A SU1778212 A SU 1778212A SU 1778212 A SU1778212 A SU 1778212A SU 471908 A1 SU471908 A1 SU 471908A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
curvature
products
controlling
flat surfaces
raster
Prior art date
Application number
SU1778212A
Other languages
English (en)
Inventor
Жан Исаакович Альтман
Павел Николаевич Быков
Альф Евгеньевич Волпянский
Вячеслав Алексеевич Гуреев
Валентина Борисовна Дорофеева
Владимир Исаакович Забелышенский
Александр Григорьевич Лагутин
Василий Ефимович Малашенко
Леонид Ефимович Рассин
Борис Васильевич Смирнов
Юрий Александрович Тимошпольский
Original Assignee
Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности filed Critical Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности
Priority to SU1778212A priority Critical patent/SU471908A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU471908A1 publication Critical patent/SU471908A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Двига сь по транспортеру, изделие поступает на столик измерительного узла 4.
Источник света И, расширенный оптическим расширителем 12, проходит через растровую решетку 13. Растрова  решетка 13 представл ет собой р д параллельных черных линий , нанесенных, например, на стекл нную пластинку с плотностью 3-5 лин/мм по всей пластинки. Оптическа  система 14 проецирует изображение растровой решетки 13, отраженное от всей поверхности повер емого полупроводникового издели  15, в плоскость другой такой же растровой решетки 16 в масштабе 1:1. При оптическом наложении двух растровых решеток 13 и 16, в плоскости растровой решетки 16 формируетс  так называема  муарова  картина, состо ша  из чередующихс  темных и светлых полос. Муарова  картина  вл етс  следствием «механической интерференции по аналогии с обычной интерференцией света. Возникающие муаровые полосы  вл ютс  лини ми уровн  кривизны повер емого издели  15. Сканиру  муаровую картину от всей поверхности повер емого издели  и автоматически измер   рассто ние между полосами по всей площади изображени , производ т контроль кривизны.
Результаты каждого измерени  автоматически сравниваютс  с эталонной величиной, что позвол ет разбраковать повер емые пластины на годные и негодные. Это достигаетс  тем, что муарова  картина, полученна  в плоскости второй растровой решетки 16, проецируетс  объективом 17 через делительную пластину 18 и поворотное зеркало 19 в плоскость диафрагмы 21. Зеркало 19 вращаетс  с помощью синхронного электропривода 20. осуществл   тем самым сканирование изображени  муаровой картины относительно диафрагмы .
Предмет изобретени 
Устройство дл  контрол  кривизны плоских поверхностей изделий, содержащее источник монохроматического света, измерительный узел со столиком дл  размещени  на нем контролируемого издели , две растровые решетки , оптически сопр женные с плоскостью столика измерительного узла, оптическую систему с диафрагмой, фотоэлектрический приемник , установленный в световом потоке за диафрагмой , электронную схему, преобразующую сигналы от фотоприемника в управл ющие импульсы, приемник контролируемых изделий , загрузочный узел, два транспортера, один из которых подает издели  на столик, а
второй - в приемник, отличающеес  тем, что, с целью повышени  производительности контрол , оно снабжено зеркалом, закрепленным с возможностью поворота его в плоскости изображени  и оптически сопр женным с
плоскостью диафрагмы, а источник света снабжен оптическим расширителем, установленным между этим источником и одной из растровых решеток.
SU1778212A 1972-04-27 1972-04-27 Устройство дл контрол кривизны плоских поверхностей изделий SU471908A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1778212A SU471908A1 (ru) 1972-04-27 1972-04-27 Устройство дл контрол кривизны плоских поверхностей изделий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1778212A SU471908A1 (ru) 1972-04-27 1972-04-27 Устройство дл контрол кривизны плоских поверхностей изделий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU471908A1 true SU471908A1 (ru) 1975-05-30

Family

ID=20512275

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1778212A SU471908A1 (ru) 1972-04-27 1972-04-27 Устройство дл контрол кривизны плоских поверхностей изделий

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU471908A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3671726A (en) Electro-optical apparatus for precise on-line measurement of the thickness of moving strip material
US3983403A (en) Method and device for optical scanning of a series of transversal dimensional values at a board or plank
GB1280311A (en) Article counting methods and apparatus
SE7606737L (sv) Optisk anordning for breddning av en ljusrida
JPS54126023A (en) Optical device
AU6900091A (en) Process and arrangement for optoelectronic measurement of objects
JPS5780546A (en) Detecting device for foreign substance
SE7901692L (sv) Optisk anordning for bestemning av ljusuttredesvinkeln
US3422274A (en) Radiation sensitive apparatus for sensing and counting
JPS54128682A (en) Automatic detector for foreign matters
CA2090444A1 (en) Contact-type image sensor for generating electric signals corresponding to an image formed on a document
JPS56142404A (en) System for measuring plate width
JPS5594145A (en) Method of and device for inspecting surface of article
GB1194813A (en) Improvements in and relating to Optical Arrangements
GB1328877A (en) Apparatus and method for optically inspecting the physical condition of a surface
GB1195840A (en) Scanning Interferometer Using Wedge for Producing Fringes
JPS5587907A (en) Device for continuously inspecting surface of object
GB917058A (en) Apparatus for sensing the position of a movable reflective surface
GB1484148A (en) Apparatus for determining the transverse position of a surface defect in a sheet material moving longitudinally
GB1484996A (en) Measurement of the position of a surface
JPS5750606A (en) Solar sensor
JPS55154402A (en) Shape measuring apparatus
ES2005965A6 (es) Dispositivo para la verificacion de superficies.
JPS5593003A (en) Measuring method for plate thickness of plate-shape transparent body
JPS57189046A (en) Inspecting device for surface defect