SU478201A1 - Оптический способ измерени температуры - Google Patents

Description

(54) ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ

1

Изобретение относитс  к тепловым измореии м, в частности к пирометрическим метопам измерени  температуры.

Известные оптические способы измерени , основанные на изменении пвета излучени  в зависимости от температуры, характеризуютс  шзкой точностью и узки /1нат1азпном измерений.

Поль ИvЗOбpeтeни  - повышение точности измерений абсолютных значений температур и расширение диапазона измерений.

/1л  этогО по предлагаемому способу модулируют монохроматическое пoJ( pизoваннпе излучение по плоскости пол ризац и по измерению параметров пол ризован отО излучени  наход т абполют 1ое значение температуры исследуемпго объекта.

На чертеже показана структурна  схема устройства, реализуюшрто предлгатае- мый способ.

Монохроматический поток ИчЗлучени  от источника 1 , пройд  коллиматор 2 и пол ризатор-модул тор 3 излучени  по колебани м его плоскости пол ризации, направл етс  на  талон-датчик 4, св зан-

ный с объектом 5, температура которого измер етс .

Изменение температуры исследуемото объекта, а значит и эталона-датчика, приводит к изменению азимута пол ризации

линейной пол ризовапного излучени , поступающего на анализатор 6, жестко св занный со шкалой 7, отградуированной в единипах температуры. Это изменение азимута линейно пол ризованного излуче0 ни  однозначно св зано с тeмпeJaтvpoй (см. таблицы Ландольта) Т f

2 ° (,OO0096+0,OOOOO2J 7 t ) ,

где f - изменение азимута линейной

5 пол рихзапии, вызванное эталоном датчиKrjvt при .

Измет1ение азимута линейной пол ризации f, измер етс  с помощью фотоэлектронной след щей системы 8, 9 и 1О с

0 анализатором в пепи обратной св зи, котора  обеспечивает поворот анализаюра 6 на угол f в положение т-ашени , при котором азимут пол ризапии составит угол 90 С с азимутом пол ризации падаюшето на печь излучени .