SU616571A2 - Способ электромагнитной дефектоскопии - Google Patents

Claims (1)

1 Изобретение относитс  к средствам не нарушающим структуру объектов кон трол  и может быть использовано дл  контрол  качества ферромагнитных материалов . Известен способ электромагнитной дефектоскопии по авт.св. №333460, .заключающийс  в том, что поверхность контролируемого, издели  сканируют то ковихревым датчиком и регистрируют его сигналы. Регистрацию производ т посредством импульсного счетчика за один или несколько циклов сканировани . При этс/м. по соотношению количества сигналов и циклов сканировани осуществл ют селекцию сигналов от де фектов и других несплошностей, напри мер от краев издели . Однако достоверность контрол  известным способом недостаточна  так как возможны ложные сигналы о дефектах при неоднородности магнитных: свойств материала издели . Целью изобретени   вл )этс  повыше ние достоверности контрол . Дл  этого контролируемое изделие подмагничйвают посто нным магнитным полем, измен ющимс  по пилообразной функции, длительность которой более чем в дес ть раз превьаиает цикл сканировани  издели . Чертеж иллюстрирует предлагаемый способ. В зоне контрол  ферромагнитного издели  1 осуществл ют непрерывное периодическое-сканирование токовихрёвого датчика 2 по поверхности издели  . Одновременно изделие подмаг- ничивают посто нным магнитным полем с помощью катушки 3. За каждый период сканировани  сигналы датчика cy ffлиpyютc  устройством 4. Напр женность посто нного магнитного пол  измен ют по пилообразной функции. . е; При достижении напр женностью посто нного магнитного пол  уровн  насыщени  материала издели  о наличии дефекта суд т по показани м индикатора 5, подключенного к выходу суммирующего устройства. Сигналы датчика, вызванные неоднородностью магнитных свойств контрол , различны при разных-У уровн х напр женности посто нного магнитного пол , в результате этого сигнал, вызванный вли нием границы структурных неоднородностей, окажет .незначительное вли ние на суммарный 8 Vсигнал, полученный в результате суммировани  сигналов при сканировании. Сигналы же, выэванкгые дефектом, возникают при одном и том же расположении датчика относительно объек та контрол , поэтому выходной сигнал сумматора, вызванный дефектом, пропорционален числу, сканирований. ДлИтельность функции изменени  подмагничивак чего пол  более чем в дес ть раз превьаиает циKJ| сканировани , что обеспечивает снижение мешающего вли ни  структурных неоднородностей до 1 одной дес той части от полезного сигнёша . Формула изобретени  Способ электромагнитной дефектоскопии по авт.св. 333460, отличающийс  тем, что, с целью повышени  достоверности контрол , контролируемое изделие подмагничивают посто нным магнитным полем, измен ющимс  по пилообразной функции, длительность которой Оолее. чём в дес ть раз превышает цикл сканировани  издели .