(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ ДВИЖУЩЕГОСЯ ЛЕНТОЧНОГО НОСИТЕЛЯ ИНФОРМАЦИИ с движущегос носител и анализа воспроизведенных сигналов, контрольный сигнал занисывают в виде линий с линейно-измен ющимс поперек электростатического носител потенциалом, при воспроизведении записанных сигналов селектируют импульсы токов по амплитуде, а величину деформации определ ют по скважности импульсов с одинаковой амплитудой. Нанесение тестовой сигналограммы осуществл етс с помощью устройства, обеспечивающего точное перемещение носител информации на заданный щаг и его остановку с некоторым запаздыванием, необходимым дл возвращени последнего в статическое равновесие. Запись тестовой сигналограммы осуществл етс после остановки носител информации с помощью однор дной электроннолучевой трубки электростатической записи, продольна ось экрана которой расположена под углом к направлению движени носител . Схема управлени ЭЛТ обеспечивает запись скрытых электростатических изображений в виде линий с линейно-измен ющимс потенциалом по всей ширине электростатического носител информации. На чертеже дано устройство дл измерени деформации носител . Считывающие электроннолучевые трубки (ЭЛТ) I и 2 с металловолоконным экрано .ч установлены перпендикул рно электростатическому сигналоносителю 3 с записанными на нем лини ми 4 с линейно-измен ющимс потенциалом под углом к направлению движени носител . Оси ЭЛТ 1 и 2 устанавливают на рассто нии, определ емом рассто нием между двум лини ми. Жесткозакрепленные контрэлектроды 5, 6, заземленные через резисторы 7, 8, соответственно через усилители 9, 10 подсоединены к входам амплитудных селекторов 11 и 12, соответствующие входы которых соединены с входами блоков 13 наличи деформации . Выходы последних подсоединены к входам триггеров 14, выходы которых через измерители временного интервала 15 подключены к входу электронного коммутатора 16. Выход коммутатора 16 соединен с входом регистратора 17. Отклон ющие системы ЭЛТ 1 и 2 соединены с выходами генератора 18 пилообразного иапр};.. Высоковольтный источник напр жени 19 и формирователь импульсов 20 выходами соединены с входами электронных ключей 21 и 22. Выходы ключей 21 и 22 соединены соответственно с катодами ЭЛТ 1 и 2, Измерение деформации электростатического носител осуществл етс следующим образом. Сигналоноситель 3 с записанными на нем лини ми 4 в виде скрытого потенциального рельефа (на фиг. 1 они условно дл сности изображены видимыми) прот гиваетс с посто нной скоростью. На отклон ющие системы ЭЛТ 1 и 2 подаетс пилообразное напр жение с выхода генератора 18. На катоды ЭЛТ 1, 2 через управл емые импульсами фор.мирователь импульсов 20, ключи 21 и 22 с выхода высоковольтного источника подаетс напр жение. Воспроизведение происходит одновременно с двух соседних линий до тех пор, пока следующа несчитанна лини будет подходить к ЭЛТ 2. В моменты времени, когда ключи 21 и 22 открывают электронные лучи ЭЛТ 1, 2, лучи сканируют по электродам экранов последних . Абсолютна величина электродов экранов повыщаетс и достигает напр жени пробо между ними и участками сигналоносител . Результатом пробо вл етс перенос зар да с электродов ЭЛТ 1, 2 на носитель . В том случае, когда сканирующий луч находитс напротив незар женных участков носител , происходит пробой «экранноситель , переноситс зар д. В результате по цеп м: сигналоноситель 3 - контрэлектроды 5, 6, резисторы 7, 8 - протекает ток, создающий на резисторах 7, 8 падение напр жени с определенным уровнем. Когда же сканирующий луч будет находитьс напротив участков записанной сигпалограммы , также происходит пробой промежутка «экран-носитель, но величина переносимого зар да будет зависеть от разности потенциалов между электродами экрана и участками записанной сигналограммы. Протекающий по тем же цеп м ток на резисторах 7, 8 создает больщий потенциал. Наиболее веро тно, что за один период сканировани по щирине носител лучи пересекут по одному разу записанные линии. При одновременном сканировании лучей ЭЛТ 1, 2 по ширине носител на резисторах 7 к 8 по вл ютс последовательности импульсов . Эти последовательности поступают соответственно на амплитудные селекторы П и 12, которые по величине амплитуды распредел ют импульсы по соответствующи.м выходам. Ширину носител 3 разбивают на несколько дорожек по значени м потенциала. Дл каждой дорожки вы&Нраетс определенный уровень амплитуды с заведомо определенным участком нечувствительности в обе стороны. , С соответствующих выходов селекторов 11 и 12 импульсы поступают через блоки 13 наличи деформации на входы триггеров 14. Если на соответствующую схему блока 13 одновременно приход т импульсы одинаковой амплитуды, то последн их не пропустит и соответствующий триггер 14 останетс в исходном нулевом состо нии. Это свидетельствует о том, что деформации на