SU729538A1 - Устройство дл измерени магнитных характеристик материалов и изделий - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к магнитным измерени м, в частности к устройствам дл  измерени  магнитных характеристик материалов и изделий.

Известно устройство дл  измерени  магнитных характеристик материалов и изделий, которое содержит два магнитомодул ционных датчика, держатель образца, механизм дл  приведени  образца во вращение и регистрирующий прибор 1.

Однако это устройство не обладает достаточно высокой точностью измерени .

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности  вл етс  устройство/ содержащее дифференциальный магнитометр, держатель образца, механизм дл  приведени  образца во вращение и регистрирующий прибор 2,

Однако это устройство обладает невысокой точностью измерени , что обусловлено погрешност ми, возникающими за счет индукционного намагничивани  и полей вихревых токов, возникающих при вращении образца в магнитном поле.

Цель изобретени  - повышение точности измерени .

Эта цель достигаетс  тем/ что в устройство дл  измерени  магнитных характеристик материалов и изделий, содержащее дифференциальный магнитометр, механизм дл  перемещени  держател  образца и регистрирующий прибор, введены . последоватёльно соединенные блок моделировани  эталонного сигнала и вычислительный блок,

10 второй вход которого соединен с выходом дифференциального магнитометра , выход - с регистрирующим прибором , а вход блока моделировани  эталонного сигнала св зан с выходом механизма дл  перемещени  держател  образца, выполненного с возможностью возвратно-поступательного перемещени .

20 . На чертеже дана структурна 

схема предлагаемого устройства дл  Измерени  магнитных характеристик материалов и изделий.

Устройство содержит дифференциальный магнитометр I, держатель образца 2, образец 3, механизм 4 возвратно-поступательного перемещени  образца, блок 5 моделировани  эталонных сигналов, вычислительный

30 блок 6 и регистрирующий прибор 7.

Образец 3 или изделие закрепл етс  на держателе 2, чтобы в процессе перемещени  держател  образца механизмом 4 возвратно-поступательrtoro перемещени  отсутствовали вращательное движение или колебани  образца 3, а сам образец перемещалс  относительно дифференциального магнитометра 1.

Блок 5 моделировани  эталонных сигналов выполнен в виде потенциометрического функционального преобразовател  (или набора функциональных преобразователей), подвижный контакт которого св зан с механизмом 4 возвратно-поступательного перемещени образца. Выход дифференциального магнитометра 1 соединен с первым входом блока б, второй вход которого соединен с выходом блока 5 моделировани  эталонных сигналов, Выход блока б соединен с регистрирующим прибором 7,

Устройство работает следующим образом.

Испытуемый образец 2 устанавливают на держателе образца 3 и с помощью механизма 4 возвратно-поступательного перемещени  перемещают образец относительно дифференциального магнитометра 1, на выходе которого возникает сигнал F (t),  вл ющийс  суммой полезного сигнала и случайных помех. Этот сигнал поступает на Первый вход вычислительного блока 6, Синхронно с перемещением образца перемещаетс  подвижный контакт потенциометрического функционального преобразовател  блока 5 моделировани  эталонного сигнала и на выходе последнего по вл етс  э.талонный сигнал Fg (t) , поступающий на второй вход блока б Функциональный преобразователь выполнен так, чтобы сигнал Р (t) соответствовал сигналу дифференциального магнитометра от эталонного образца.

На выходе блока б формируетс  сигнал, характеризующийкоэффициент регрессии в соответствии с выражением .

SoFA (t)F3 (t)dt ,,, - .jt F|(t)dt

Этот сигнал служит численной хартеристикой магнитного состо ни  испытуемЪ .го образца.

При наличии на входе дифференцильного магнитометра 1 случайных омех на выходе вычислительного блока 6 возникают флуктуации, уровень оторых снижаетс  по мере возрастаи  числа возвратно-поступательных перемещений образца.

Врем  измерени  выбир.ают в зависимрсти от уровн  флуктуации и требуемой точности.

Дл  раздельного измерени  различных составл ющих остаточного и индуцированного намагничивани  выполн ют измерени  при различных положени х испытуемого образца относительно вектора магнитной индукции внешнего пол .

Использование в устройстве новых блоков-механизма возвратно-поступательного перемещени  образца, блока

моделировани  эталонных сигналов и вычислительного блока повышает точность измерени  путем исключени  погрешностей , вызываемых вихревыми токами,- изменени ми индуктивного намагничивани  в процессе измерений

и случайными помехами.

Claims (1)

1.Авторское свидетельство СССР №123606, кл. G 01 R 33/12, 1959.

2,Патент США №2665332,кл.324-14, 1954,(прототип).