SU808831A1 - Способ измерени тепловой посто ннойВРЕМЕНи пЕРЕХОд-КОРпуС пОлупРОВОд-НиКОВыХ пРибОРОВ - Google Patents
Способ измерени тепловой посто ннойВРЕМЕНи пЕРЕХОд-КОРпуС пОлупРОВОд-НиКОВыХ пРибОРОВ Download PDFInfo
- Publication number
- SU808831A1 SU808831A1 SU792769789A SU2769789A SU808831A1 SU 808831 A1 SU808831 A1 SU 808831A1 SU 792769789 A SU792769789 A SU 792769789A SU 2769789 A SU2769789 A SU 2769789A SU 808831 A1 SU808831 A1 SU 808831A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- semiconductor devices
- time constant
- heat time
- body heat
- measuring junction
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к технике измерени параметров полупровод шковьи приборов и может быть использовано дл оценки качества и предельных возможностей приборов в различных режимах эксплуатации.
Известен способ измерени тепловых посто нных времени полупроводниковых приборов по кривой остывани . В этом способе {срива остывани снимаетс с Экрана осциллографа, строитс в полулогарифмическом масштабе и аппроксимируетс отрезками пр мых линий, точки пересечени которых определ ют набор тепловых посто нных времени прибораИЛ
Недостатками известного способа вл ютс низка точность, большое врем измерени , отсутствие непосредственного отсчета измер емой величины.
Наиболее близким к предлагаемому вл етс способ измерени тепловой поСТОЯ1ШОЙ времени переход-корпус мощных полупроводниковых приборов, заключающийс в измерении с помощью
интегрального ИК-радиометра потока ИК-излучени с поверхности полупроводникового прибора при подаче на Него .разогревающей мощности f2j.
К недостаткам этого способа относ тс низка точность измерени и отсутствие непосредственного отсчета измер емой величины.
Цель изобретени - повышение точности измерени тепловой посто нной времени переход-корпус полупроводниковых приборов.
Указанна цель достигаетс тем, что в способе измерени тепловой посто нной времени переход- 1корпус полупроводниковых приборов путем измерени с помощью интегрального ИК-радиометра потока ИК-излучени с поверхности полупроводникового прибора при подаче на него разогревающей мощности , подаваемую разогревающую мощность, измен ют по
X 7
гармоническому закону с частотой, близкой к величине обратной тепловой посто нной времени переход-корпус, и по отнсшеи ю сигналов с ИК-радиометра, измеренных при двух различных частотах изменени разогревающей мощности, определ ют тепловую посто нную времени переход-конус.
На чертеже представлена функциональна схема устройства, реализующего предлагаемый способ дл мощных транн зисторов.
Устройство содержит блок 1 питани , исследуемый транзистор с коллектором 2, базой 3 и эмиттером 4-, включeнныЙJ например, по схеме с общим эмиттером без нагрузки в коллекторной и эмиттерной цепи и генератор низкой частоты 5, подключенный к базе исследуемого транзистора интегральный ИК-радиометр 6,; подключенный ко входу селективного вольтметра 7,
Способ обеспечивает возможность непосредственного контрол - исследуемых характеристик полупроводниковых приборов.
Claims (2)
1.Николаевский И. Ф., Игумнов Д. В. Параметры и предельные режимы работы транзисторов М., Советское радио 197 с. 154-159.
2.Конструкции корпусов и тепловые свойства полупроводниковых приборов. Под ред. Н. И. Горюнова М., Энерги , 1972, с. 34.
А А 41
У///////////////////А
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792769789A SU808831A1 (ru) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Способ измерени тепловой посто ннойВРЕМЕНи пЕРЕХОд-КОРпуС пОлупРОВОд-НиКОВыХ пРибОРОВ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792769789A SU808831A1 (ru) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Способ измерени тепловой посто ннойВРЕМЕНи пЕРЕХОд-КОРпуС пОлупРОВОд-НиКОВыХ пРибОРОВ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU808831A1 true SU808831A1 (ru) | 1981-02-28 |
Family
ID=20829249
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU792769789A SU808831A1 (ru) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Способ измерени тепловой посто ннойВРЕМЕНи пЕРЕХОд-КОРпуС пОлупРОВОд-НиКОВыХ пРибОРОВ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU808831A1 (ru) |
-
1979
- 1979-05-24 SU SU792769789A patent/SU808831A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| SU808831A1 (ru) | Способ измерени тепловой посто ннойВРЕМЕНи пЕРЕХОд-КОРпуС пОлупРОВОд-НиКОВыХ пРибОРОВ | |
| US2495268A (en) | Ambient temperature compensated bolometer bridge | |
| US3525931A (en) | Radio frequency apparatus for measurement of plasma conductivity | |
| US3398579A (en) | Circuit arrangement for temperature measurement | |
| SU1190319A1 (ru) | Устройство дл измерени магнитной восприимчивости | |
| SU783715A1 (ru) | Устройство дл измерени амплитудно-частотной характеристики усилител | |
| SU466519A1 (ru) | Устроство дл статистического анализа случайных процессов | |
| SU558231A1 (ru) | Измеритель модул коэффициента передачи тока транзисторов в импульсном режиме | |
| SU390477A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл холодных ИЗМЕРЕНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ПАРАМЕТРИЧЕСКОГО УСИЛИТЕЛЯ | |
| SU440616A1 (ru) | Устройство дл измерени характеристик оптических или свч элементов | |
| SU391575A1 (ru) | Устройство для измерения плотности распределения вероятностей | |
| SU416617A1 (ru) | ||
| GB752904A (en) | Improvements in or relating to devices for measuring electric power | |
| JPS5832177A (ja) | Ｍｏｓｆｅｔチヤネル部温度測定方法 | |
| SU1196699A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры перехода транзистора | |
| SU373636A1 (ru) | Устройство для измерения мощности, рассеиваемой на кварцевом резонаторе | |
| SU1681283A1 (ru) | Способ определени теплового сопротивлени транзистора Дарлингтона | |
| SU1661591A1 (ru) | Способ определени термодинамической температуры | |
| SU148109A1 (ru) | Способ измерени модул и аргумента амплитудно-фазовой характеристики усилителей с обратной св зью | |
| SU682838A1 (ru) | Устройство дл измерени сверхвысокочастотной мощности | |
| SU613268A1 (ru) | Устройство дл разбраковки варикапов по добротности | |
| SU1187090A1 (ru) | Измеритель рассеиваемой мощности | |
| SU1082102A1 (ru) | Болометрическое устройство | |
| SU998938A1 (ru) | Устройство дл электромагнитного контрол композиционных материалов | |
| SU501277A1 (ru) | Тепловой расходомер |