SU843571A1 - Способ измерени нейтронных спектров - Google Patents

Способ измерени нейтронных спектров Download PDF

Info

Publication number
SU843571A1
SU843571A1 SU802884419A SU2884419A SU843571A1 SU 843571 A1 SU843571 A1 SU 843571A1 SU 802884419 A SU802884419 A SU 802884419A SU 2884419 A SU2884419 A SU 2884419A SU 843571 A1 SU843571 A1 SU 843571A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
neutron
scattering
spectrum
spectra
measuring neutron
Prior art date
Application number
SU802884419A
Other languages
English (en)
Inventor
Г.В. Аникин
И.И. Котухов
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2679
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2679 filed Critical Предприятие П/Я В-2679
Priority to SU802884419A priority Critical patent/SU843571A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU843571A1 publication Critical patent/SU843571A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

8
рассе ни  нейтронов, измеренного при малых углах .
Предлагаемый способ заключаетс  в следующем .
В пучок нейтронов помещают образец с больщим атомным номером Z, измер ют спектр рассе нных нейтронов под двум  разными углами Oi и вг, где , а . Искомый спектр получают вычитанием спектров, померенных на угле 62, из спектров померенных па тле вь
Предлагаемый способ св зан с использованием щвингеровского рассе ни  нейтронов на углы 1° + 5°. Характерной особенностью этого типа рассе ни   вл етс  быстрый рост сечени  рассе ни  нейтронов с уменьщением угла рассе ни  Э. Этот рост выражаетс  формулой
шЛе) ctg,
где 7 - константа, пропорциональна  зар ду  дра Z.
Например, дл  рассеивател  - образца и при угле рассе ни  3°ашв(в) 0,25 б/ср, а при угле 0,4° Стщв (©) 14,80 б/ср. Чисто  дерные компоненты сечени  рассе ни  при столь малом различии углов рассе ни  оказываютс  практически одинаковыми. Поэтому, если измерить спектры нейтронов при двух углах рассе ни  (например, при 61 ° и нри 02 5°) и вз ть разность этих спектров, то число нейтронов в каждой энергетической группе разностного спектра будет пропорционально числу нейтронов в той же группе пр мого спектра реактора и сечению щвингеровского рассе ни .
Более того, процедура нахождени  спектра отличаетс  тем, что сечение щвингеровского рассе ни  не зависит от энергии нейтрона . Благодар  этому разностный спектр нейтронов просто совпадает по форме со
спектром нейтронов исследуемого источника . Все другие компоненты сечени  рассе ни , в том числе и неупругого, уничтожаютс  при вычитании. Применение описанного
метода измерени  спектра нейтронов возможно при достаточно хорощей коллимации пучка нейтронов, но при больщой мощности исследуе.мого источника это не вызывает затруднений в смысле потери интенсивности регистрируемого потока нейтронов .

Claims (2)

1.Трыков Л. А. Однокристальный сцинтилл ционный спектро.метр. М. Автомиздат, 1971, с. 85.
2.Трыков Л. А. Однокристальный сцинтилл ционный спектрометр. М. Автомиздат, 1971, с. 95 (прототип).
SU802884419A 1980-02-19 1980-02-19 Способ измерени нейтронных спектров SU843571A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802884419A SU843571A1 (ru) 1980-02-19 1980-02-19 Способ измерени нейтронных спектров

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802884419A SU843571A1 (ru) 1980-02-19 1980-02-19 Способ измерени нейтронных спектров

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU843571A1 true SU843571A1 (ru) 1982-08-23

Family

ID=20878565

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802884419A SU843571A1 (ru) 1980-02-19 1980-02-19 Способ измерени нейтронных спектров

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU843571A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2593431C1 (ru) * 2015-05-05 2016-08-10 Объединенный Институт Ядерных Исследований Способ измерения спектра переданного импульса нейтронов

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2593431C1 (ru) * 2015-05-05 2016-08-10 Объединенный Институт Ядерных Исследований Способ измерения спектра переданного импульса нейтронов

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU843571A1 (ru) Способ измерени нейтронных спектров
Muga et al. Specific luminescence studies in plastic scintillators
ES476174A2 (es) Una disposicion para la reproduccion de una rebanada plana de un cuerpo con al menos una fuente de radiacion gamma o derayos x
JPS5788354A (en) X-ray analysing apparatus
JPS6459018A (en) Method and measuring instrument for long time resolution total reflection spectrum analyzing
JPS55158544A (en) On-line measuring method of and apparatus for aggregation structure
SE8403318L (sv) Spektrometer
SU1141335A1 (ru) Способ определени сорта хлопкового волокна
Cassidy et al. Casa-blanca: A large non-imaging cherenkov detector at casa-mia
DE2134369A1 (de) Vorrichtung zur bestimmung von luftund wasserverunreinigungen
JPS551572A (en) X-ray measuring method of retained austenite quantity
Chwaszczewska et al. Application of semiconductor detectors in crystal structure investigations
SU744294A1 (ru) Способ измерени изменений азимута плоскости пол ризации светового излучени
RU2065181C1 (ru) Способ измерения флюенса термоядерных нейтронов
Miller et al. Airborne spectroscopic measurement over water
SU1146552A1 (ru) Устройство дл измерени толщины материала
SU1089493A1 (ru) Способ определени фононных частот кристаллических твердых тел
SU795191A1 (ru) Способ градуировки преобразовател энергии фотонного излучени
SU934310A1 (ru) Способ получени образцов дл испытани на износ
SU1655200A1 (ru) Способ определения профиля концентрации легких ядер по глубине образца
SU397066A1 (ru)
SU719282A1 (ru) Способ определени энергии моноэнергетического фотонного излучени
SU291589A1 (ru) Спектрометр для регистрации ядерных излучений
JPS5593048A (en) Wavelength search unit of xxray analyzer
RU94036724A (ru) Оптический профилометр