SU860165A1 - Холодный катод - Google Patents
Холодный катод Download PDFInfo
- Publication number
- SU860165A1 SU860165A1 SU792853769A SU2853769A SU860165A1 SU 860165 A1 SU860165 A1 SU 860165A1 SU 792853769 A SU792853769 A SU 792853769A SU 2853769 A SU2853769 A SU 2853769A SU 860165 A1 SU860165 A1 SU 860165A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- emission
- cathode
- region
- emission current
- vacuum
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 2
- 230000006798 recombination Effects 0.000 claims 2
- 238000005215 recombination Methods 0.000 claims 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 claims 1
- 230000009103 reabsorption Effects 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims 1
Landscapes
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Description
(54) ХОЛОДНЫЙ КАТОД
Claims (2)
- Изобретение относитс к эмиссионной электронике и может быть использо вано в различных вакуумных, электронных и микроэлектронных приборах в качестве катода, работающего при комнат ной температуре. Известен холодный катод, представл ющий собой р-п-переход, в котором эмиттИрующей поверхностью вл етс р-слс й, выращенный на подложке п-типа . Пр мое смещение подаетс на контакты , нанесенные на противоположные стороны. Контакт к р-слою вьтолн етс в виде сетки или полос, чтобы не преп тствовать электронам выходить в вакуум . Недостатком такого катода вл етс относительно низка эмиссионна спосо ность. Известен также холодный катод, содержащий р-п-переход и р-область, активированную до OTjjHiiaTenbHoro электронного сродства Недостаток известного холодного, катода - относительно низка э4х|)ективность эмиссии и невозможность управлени током эмиссии. Цель изобретени - увеличение эффективности эмиссии и возможность управлени током эмиссии. Указанна цель достигаетс тем, что полупроводниковые р. и п-области выполнены из термоэлектрически анизотропного материала, главна ось которого ориентирована под углом 45 к плоскости эмиссии. В качестве термоэлектрически анн-- зотропного материала может быть использ ван дифосфид цинка (. На фиг. .представлена с.труктура холодного катода, где изображены п-область ZnPg 1 с концентрацией 3,5-10 см, р-область ZnP 2, легированна до , слой Cs 3 ислойСз О 4, нанесенные tta поверхность р-области К к К/ гокоотводные омические контакты . 3 На фиг. 2 представлена краева фотоэмисси поверхности р-ZnP.2. - Cs - ) и холодна эмисси (б )при подсветке ИК-излучением на длине волны Л 2,0 мкм. При подаче пр мого смещени на переход наблюдаетс эмисси электронов в вакууме, величина которой зависит от веро тности выхода электронов и диффузионной длины электронов в р-Области . Не вышедшие в вакуум электроны рекомбинируют в р-слое с энергией рекомбинации, приход щейс на один электрон, намного меньшей, чем ширина запрещенной зоны Е.,. Из этого коли честен некотора часть тер ет энергию путем безизлучательной рекомбинации, Сюда включаетс и перепоглощение элек тронов. Это обсто тельство приводит к повыщению температуры катода. Расчеты проведенные дл арсенида галли показывают , что катод нагреваетс на 45 К при общей толщине катода 5 мкм, тепло проводности 0,4 Вт см К, ширине полос 2 мкм (рассто ние между контактами по кра м) и плотности тока эмиссии 34000 А -см . Такой нагрев катода уменьщает эмиссионный ток. При исполь зовании термоэлектрически анизотропного полупроводника нагрев образца по вышеуказанной причине создает дополнительную термо-ЭДС. Термо-ЭДС по направлению оси С больше в 160 раз величины термо-ЭДС по направлению, параллельному оси а (или В ). Это вы зывает результирующий поток термоэлектронов по направлению, перпендикул рному к плоскости эмиссии. Часть ., этого термоэлектронного тока преодол вает р-слой и эмиттирует в вакуум. Следовательно, такой катод обладает повьпиенной эффективностью. 54 Величина тока эмиссии может быть изменена при освещении импульсами ИК-света. ИК-иэлучение нагревает объем катода на некоторую величину дТ. В результате этого возникает термоЭДС И по вл етс поток термоэлектронов к эмиттирующей поверхности. Следовательно , такое устройство работает как фотокатод чувствительный в ИК-области света, что позвол ет управл ть током эмиссии. Предлагаемый эмиттер при позвол ет получить плотность тока эмиссии А/см .Величина тока эмиссии измен етс ИК-подсветкой в пределах 0,510 А/см при освещенности ф О - 100 лм (Л 2 мкм). Эффективность эмиссии 10%. Формула изобретени Холодный катод, содержащий п-р-переход и р-область, активированную до отрицательного электронного сродства, отличающийс тем, что, с целью увеличени эффективности эмиссии и возможности управлени током эмиссии, полупроводниковые р- и п-области вьтолнены из термоэлектрически анизотропного материала, главна ось которого ориентирована под углом 45 к плоскости эмис.сии. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Белл Р. Л. Эьшттеры с отрицательным электронным сродством. М., Энерги , 1978, с. 127-132.
- 2.Geppert О. V. А proposed р. п junction cathode. - Proe. IEEE, 1966, V. 5A, S I, p. . (прототип)(PUi.f
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792853769A SU860165A1 (ru) | 1979-12-14 | 1979-12-14 | Холодный катод |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792853769A SU860165A1 (ru) | 1979-12-14 | 1979-12-14 | Холодный катод |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU860165A1 true SU860165A1 (ru) | 1981-08-30 |
Family
ID=20865275
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU792853769A SU860165A1 (ru) | 1979-12-14 | 1979-12-14 | Холодный катод |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU860165A1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2835920C1 (ru) * | 2024-05-15 | 2025-03-05 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН) | Способ управления автоэмиссионным током и устройство с автоэмиссионным источником тока |
-
1979
- 1979-12-14 SU SU792853769A patent/SU860165A1/ru active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2835920C1 (ru) * | 2024-05-15 | 2025-03-05 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН) | Способ управления автоэмиссионным током и устройство с автоэмиссионным источником тока |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5525539A (en) | Method for forming a light emitting diode for use as an efficient emitter or detector of light at a common wavelength | |
| US3894332A (en) | Solid state radiation sensitive field electron emitter and methods of fabrication thereof | |
| US5604135A (en) | Method of forming green light emitting diode in silicon carbide | |
| US4352117A (en) | Electron source | |
| US3814968A (en) | Solid state radiation sensitive field electron emitter and methods of fabrication thereof | |
| US4202000A (en) | Diode capable of alternately functioning as an emitter and detector of light of the same wavelength | |
| US4683399A (en) | Silicon vacuum electron devices | |
| US4081764A (en) | Zinc oxide light emitting diode | |
| EP0784865B1 (en) | Field-enhanced diffusion using optical activation | |
| US3581151A (en) | Cold cathode structure comprising semiconductor whisker elements | |
| US3283160A (en) | Photoelectronic semiconductor devices comprising an injection luminescent diode and a light sensitive diode with a common n-region | |
| Escher et al. | Calculated energy distributions of electrons emitted from negative electron affinity GaAs: Cs–O surfaces | |
| US3919555A (en) | Direct view infra-red to visible light converter | |
| US3889284A (en) | Avalanche photodiode with varying bandgap | |
| US4243996A (en) | Electroluminescent semiconductor device | |
| AU755927B2 (en) | Planar electron emitter (PEE) | |
| Ahlstrom et al. | Silicon Surface‐Barrier Photocells | |
| Williams et al. | ELECTRON EMISSION FROM A``COLD‐CATHODE''GaAs p‐n JUNCTION | |
| US3982315A (en) | Photoelectric device | |
| US4037241A (en) | Shaped emitters with buried-junction structure | |
| US3330991A (en) | Non-thermionic electron emission devices | |
| US3408521A (en) | Semiconductor-type photocathode for an infrared device | |
| KR100377716B1 (ko) | 광학적 방사를 위해 희토류 원소로 도핑된 실리콘 구조체 및 방사방법 | |
| US3745429A (en) | Controllable junction device and radiationgenerating method of utilizing it | |
| Faulkner et al. | A practical p‐n junction cold cathode |