SU938754A3 - Способ определени показател светлости муки - Google Patents
Способ определени показател светлости муки Download PDFInfo
- Publication number
- SU938754A3 SU938754A3 SU792822454A SU2822454A SU938754A3 SU 938754 A3 SU938754 A3 SU 938754A3 SU 792822454 A SU792822454 A SU 792822454A SU 2822454 A SU2822454 A SU 2822454A SU 938754 A3 SU938754 A3 SU 938754A3
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measurement
- transducer
- beams
- output signals
- flour
- Prior art date
Links
- 235000013312 flour Nutrition 0.000 title abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 12
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 22
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
- G01N33/10—Starch-containing substances, e.g. dough
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
(5) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ СВЕТЛОСТИ
1
Изобретение относитс к мукомольной промышленности и может найти применение при определении качества муки по ее светлости.
Известен способ определени показател светлости муки, предусматривающий формирование эталонного и измерительного световых потоков с последующей регистрацией значений эталонного и измерительного световых потоков и установление величины показател светлости муки путем сравнени эталонного и измерительного световых потоков 1.
Однако известный способ не позвол ет с достаточной точностью определить показатель светлости муки.
Целью изобретени вл етс повышение точности.
Цель достигаетс тем, что при осуществлении способа определени показател светлости муки, предусматривающего формирование эталонного и измерительного световых потоков, облучение пробы продукта измерительМУКИ
ным световым потоком с последующей регистрацией значений эталонного и .змepитeльнoгo световых потоков и установление величины показател 5 светлости муки путем сравнени
эталонного и измерительного световых потоков, измерительный световой поток при регистрации периодически прерывают, а определение показател
10 светлости осуществл ют путем сравнени установленной величины показател светлости муки со значением эталонного светового потока.
На фиг. 1 схематично изображено
15 устройство дл осуществлени способа; на фиг. 2 - диаграмма сигналов в различных точках устройства.
Устройство дл измерени светлости муки оснащено источником 1 света, собирающей линзой 2, полупрозрачным зеркалом 3, фокусирующей линзой Ц, прерывателем 5, фотоэлементом 6, фотоэлектрическим контрольным приспособлением. 7 и схемой управлени , содержащей усилитель 8, св занный через переключатель 9 с первым и вторым промежуточными--блоками 10 и 11 пам ти соответственно, сумматор 12, блок 13 вычислени и блок Ц задани .
При этом прерыватель 5 выполнен в виде полуцилиндра с возможностью аращени .
Способ осуществл етс следующим образом.
Сфокусированный собирающей линзой 2 световой поток от источника 1 света падает на полупрозрачное зеркало 3, где он раздел етс на эталонный, отражающийс от полупрозрачного зеркала и попадающий непосредственно на фотоэлемент 6, и измерительный, проход щий через полупрозрачное зеркало и падающий на анализируемую поверхность муки, закрытую стекл нной пластиной, отража сь от которой и фокусиру сь линзой Ц попадает на фотоэлемент 6, При этом, в зависимости от положени прерывател , приводимого во вращение приводом (на чертеже не показано) измepиteльный световой поток, отраженный от анализируемой поверхности и сфокусированный линзой, попадает на фотоэлемент периодически, в то врем , как эталонный световой поток воздействует на фотоэлемент посто нно.
Выход фотоэлемента 6 подключен ко входу усилител 8, выход которого подключен к переключателю 9 управл ющий вход последнего подключен к фотоэлектрическому контрольному при- способлению.7, которое размещено под углом 180 к измерительному лучу и в зависимости от положени прерывател подает или прекращает подачу управл ющего импульса на прреключатель 9Во врем фазы Т измерительный световой поток прерываетс цилиндрической стенкой прерывател , а на фотоэлемент попадает только эталонный световой поток, который усиливаетс и подаетс на переключатель.
После поворота прерывател на 180, когда стенка во врем фазы Т последнего пропускает измерительный световой поток, последний попадает на фотоэлемент, усиливаетс на значение, соответствующее измерительному световому потоку, и сохран ет это значение на всю длительность фазы I . После еще одного поворота 180
выходное,значепрерывател на
ние фотоэлемента падает, так как стенка прерывател вновь перекрывает измерительный световой поток (крива А сигналов на входе переключател 9 на фиг, 2).
Образованный во врем фазы Ь сигнал S соответствует эталонному световому потоку S| в то врем , как образованный во врем фазы Тд сигнал соответствует сумме значений эталонного светового потока S и измерительного светового потока 5ц.
Фотоэлектрическое контрольное приспособление 7 включает переключатель 9 с фазой Т на первый промежуточный блок 10 пам ти и во врем второй фазы Т - на второй промежуточный блок 11 пам ти. На выходе первого промежуточного блока 10 пам ти по вл етс сигнал О, который хранитс там и
во врем второй фазы Т измерени , хот на выходе усилител В уже по вл етс сигнал Sji. На выходе второго промежуточного блока 11 пам ти во врем того же периода времени по в- л етс сигнал Sj., поэтому во врем второй фазы 12 измерени на входе сумматора 12 по вл ютс одновременно сигналы S-i и $2, На выходе сумматора 12 по вл етс сигнал S равный разпо вл етс сигнал j, ности сигналов S и $2, который далее поступает на вход блока 13 вычислени , второй вход которого св зан с выходом второго промежуточного блока 11 пам ти, выдающего сигнал Sj, равный значению эталонного светового потока,
В блоке 13 вычислени происходит деление значений измерительного светового потока на эталонный и умножение полученного значений на посто нный коэффициент К, Значение последнего поступает в блок 13 вычислени из блока }Ц задани . Полученное при этом значение соответствует показателю светлости муки, характеризующему ее качество.
Колебани ркости источника 1 света или колебани фотоэлемента учитывает коэффициент К.
Дл приведени в первоначальное состо ние всех элементов схемы, в частности промежуточных блоков пам ти 10 и 11 сумматора 12 и блока 13 вычислени , предусмотрены не показанные на чертежах элементы синхронизации и управлени , которые после окончани отдельных фаз измерени
Т или Т. запускают в работу или сбрасывают на нуль конструктивные элементы схемы на проведение новой фазы измерени .
Claims (1)
1. За вка ФРГ № 1527706, кл. Ц2 h 17/02, 1967.
Г/ Tt TV I 7
Tt
TV
В
,
S,,
S
s
SM
Тг
Ti
f
F
, детШеС ег J fiessivert S/
- i
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH1018978 | 1978-09-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU938754A3 true SU938754A3 (ru) | 1982-06-23 |
Family
ID=4360373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU792822454A SU938754A3 (ru) | 1978-09-29 | 1979-09-28 | Способ определени показател светлости муки |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4260263A (ru) |
| JP (1) | JPS5570725A (ru) |
| AR (1) | AR223687A1 (ru) |
| BR (1) | BR7906269A (ru) |
| DD (1) | DD146342A5 (ru) |
| DE (1) | DE2853458C3 (ru) |
| ES (1) | ES484441A1 (ru) |
| SU (1) | SU938754A3 (ru) |
| ZA (1) | ZA794782B (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992006374A1 (fr) * | 1990-09-18 | 1992-04-16 | Moskovsky Tekhnologichesky Institut Pischevoi Promyshlennosti | Procede de cuisson test en laboratoire de pain au froment |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4529308A (en) * | 1982-05-28 | 1985-07-16 | Hunter Associates Laboratory, Inc. | Spectrophotometer apparatus and method including scale drift correction feature |
| US4742228A (en) * | 1984-04-19 | 1988-05-03 | Gebruder Buhler Ag | Infrared measuring apparatus and process for the continuous quantitative determination of individual components of flour or other groundable food products |
| JPH01253634A (ja) * | 1988-04-01 | 1989-10-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 反射濃度測定装置 |
| FI901257A7 (fi) * | 1990-03-14 | 1991-09-15 | Outokumpu Oy | Mittakenno |
| US6424416B1 (en) | 1999-10-25 | 2002-07-23 | Textron Systems Corporation | Integrated optics probe for spectral analysis |
| US6836325B2 (en) | 1999-07-16 | 2004-12-28 | Textron Systems Corporation | Optical probes and methods for spectral analysis |
| US6418805B1 (en) | 1999-11-18 | 2002-07-16 | Textron Systems Corporation | Constituent sensing system |
| DE60137599D1 (de) | 2000-03-10 | 2009-03-19 | Textron Systems Corp | Optische sonden und verfahren zur spektralanalyse |
| US6507403B1 (en) * | 2001-07-16 | 2003-01-14 | Honeywell International Inc. | Gloss sensor having dirt buildup compensation apparatus and method |
| AU2015374335B2 (en) | 2014-12-23 | 2018-03-29 | Apple Inc. | Optical inspection system and method including accounting for variations of optical path length within a sample |
| WO2016106368A1 (en) | 2014-12-23 | 2016-06-30 | Bribbla Dynamics Llc | Confocal inspection system having averaged illumination and averaged collection paths |
| CN108449957B (zh) | 2015-09-01 | 2021-03-09 | 苹果公司 | 用于非接触式感测物质的基准开关架构 |
| CN109073460B (zh) | 2016-04-21 | 2022-08-23 | 苹果公司 | 用于参考切换的光学系统 |
| EP3688446A2 (en) | 2017-09-29 | 2020-08-05 | Apple Inc. | Resolve path optical sampling architectures |
| CN114545550B (zh) | 2018-02-13 | 2024-05-28 | 苹果公司 | 具有集成边缘外耦合器的集成光子装置 |
| EP4176304A1 (en) | 2020-09-09 | 2023-05-10 | Apple Inc. | Optical system for noise mitigation |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2709751A (en) * | 1951-01-17 | 1955-05-31 | Foxboro Co | Infrared concentrometer |
| GB873563A (en) * | 1959-01-13 | 1961-07-26 | Thomson Houston Comp Francaise | Improvements relating to photometric apparatus |
| NL297370A (ru) * | 1962-08-31 | 1900-01-01 | ||
| US3488122A (en) * | 1965-01-25 | 1970-01-06 | Oreal | Process for determining the spectral composition of luminous radiation diffused by a colored surface,and apparatus for carrying out said process |
| US3446972A (en) * | 1966-07-18 | 1969-05-27 | Kollmorgen Corp | Automatic gain control for photomultiplier tubes employing a monitoring photocell |
| US3684378A (en) * | 1970-09-04 | 1972-08-15 | Joseph S Lord | Dark current correction circuit for photosensing devices |
| NL7210356A (ru) * | 1971-08-06 | 1973-02-08 | ||
| GB1356049A (en) * | 1971-12-21 | 1974-06-12 | Fortschritt Veb K | Reflectance comparator |
-
1978
- 1978-12-11 DE DE2853458A patent/DE2853458C3/de not_active Expired
-
1979
- 1979-03-30 US US06/025,674 patent/US4260263A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-08-31 JP JP11051079A patent/JPS5570725A/ja active Pending
- 1979-09-10 ZA ZA00794782A patent/ZA794782B/xx unknown
- 1979-09-25 ES ES484441A patent/ES484441A1/es not_active Expired
- 1979-09-27 DD DD79215856A patent/DD146342A5/de unknown
- 1979-09-28 SU SU792822454A patent/SU938754A3/ru active
- 1979-09-28 AR AR278242A patent/AR223687A1/es active
- 1979-09-28 BR BR7906269A patent/BR7906269A/pt unknown
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992006374A1 (fr) * | 1990-09-18 | 1992-04-16 | Moskovsky Tekhnologichesky Institut Pischevoi Promyshlennosti | Procede de cuisson test en laboratoire de pain au froment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2853458C3 (de) | 1981-04-02 |
| US4260263A (en) | 1981-04-07 |
| DD146342A5 (de) | 1981-02-04 |
| JPS5570725A (en) | 1980-05-28 |
| BR7906269A (pt) | 1980-07-15 |
| ES484441A1 (es) | 1980-10-01 |
| AR223687A1 (es) | 1981-09-15 |
| ZA794782B (en) | 1980-11-26 |
| DE2853458B2 (de) | 1980-08-14 |
| DE2853458A1 (de) | 1980-04-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| SU938754A3 (ru) | Способ определени показател светлости муки | |
| EP0629835B1 (en) | Strain measuring instrument | |
| US3623817A (en) | Comparison densitometer including means to maintain the detector output at a means valve | |
| US2184156A (en) | Area measuring apparatus and method | |
| US4399861A (en) | Casting gap control system | |
| US3751168A (en) | Indicating apparatus for the varying concentration of a solution | |
| JPS57161813A (en) | Optical head driver | |
| JPS5629112A (en) | Distance measurement unit | |
| SU616852A1 (ru) | Дискретный оптический уровнемеррасходомер | |
| US5355223A (en) | Apparatus for detecting a surface position | |
| NO852764L (no) | Apparat for kontinuerlig maaling av tilstanden ved dannelse av papirbane. | |
| JPS6488327A (en) | Shape measuring method for interference wave front | |
| JP3122190B2 (ja) | 電圧検出装置 | |
| JPS5733306A (en) | Surface roughness measuring device | |
| SE7908068L (sv) | Sett och anordning for optisk kontroll av mjolprodukter | |
| JPS564004A (en) | System for detecting minute defects of body | |
| JPS6423126A (en) | Multiple light source polarization analyzing method | |
| EP0371326A3 (de) | Einrichtung zur Detektion von sich bewegenden, mit Motoren ausgestatteten Fahrzeugen | |
| JPS5752807A (en) | Device for measuring film thickness | |
| JPS57151807A (en) | Distance measuring device | |
| JPS5720603A (en) | Detector for plate width using laser | |
| JPS5766303A (en) | Configuration sensing device | |
| JPS56153207A (en) | Measuring device for film thickness | |
| JPS6418071A (en) | Detecting apparatus for voltage | |
| JPS6484104A (en) | Laser interference length measuring machine |