SU938754A3 - Способ определени показател светлости муки - Google Patents

Способ определени показател светлости муки Download PDF

Info

Publication number
SU938754A3
SU938754A3 SU792822454A SU2822454A SU938754A3 SU 938754 A3 SU938754 A3 SU 938754A3 SU 792822454 A SU792822454 A SU 792822454A SU 2822454 A SU2822454 A SU 2822454A SU 938754 A3 SU938754 A3 SU 938754A3
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measurement
transducer
beams
output signals
flour
Prior art date
Application number
SU792822454A
Other languages
English (en)
Inventor
Куммер Эмануель
Original Assignee
Гербюдер Бюлер Аг(Фирма)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Гербюдер Бюлер Аг(Фирма) filed Critical Гербюдер Бюлер Аг(Фирма)
Application granted granted Critical
Publication of SU938754A3 publication Critical patent/SU938754A3/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/02Food
    • G01N33/10Starch-containing substances, e.g. dough
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

(5) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ СВЕТЛОСТИ
1
Изобретение относитс  к мукомольной промышленности и может найти применение при определении качества муки по ее светлости.
Известен способ определени  показател  светлости муки, предусматривающий формирование эталонного и измерительного световых потоков с последующей регистрацией значений эталонного и измерительного световых потоков и установление величины показател  светлости муки путем сравнени  эталонного и измерительного световых потоков 1.
Однако известный способ не позвол ет с достаточной точностью определить показатель светлости муки.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности.
Цель достигаетс  тем, что при осуществлении способа определени  показател  светлости муки, предусматривающего формирование эталонного и измерительного световых потоков, облучение пробы продукта измерительМУКИ
ным световым потоком с последующей регистрацией значений эталонного и .змepитeльнoгo световых потоков и установление величины показател  5 светлости муки путем сравнени 
эталонного и измерительного световых потоков, измерительный световой поток при регистрации периодически прерывают, а определение показател 
10 светлости осуществл ют путем сравнени  установленной величины показател  светлости муки со значением эталонного светового потока.
На фиг. 1 схематично изображено
15 устройство дл  осуществлени  способа; на фиг. 2 - диаграмма сигналов в различных точках устройства.
Устройство дл  измерени  светлости муки оснащено источником 1 света, собирающей линзой 2, полупрозрачным зеркалом 3, фокусирующей линзой Ц, прерывателем 5, фотоэлементом 6, фотоэлектрическим контрольным приспособлением. 7 и схемой управлени , содержащей усилитель 8, св занный через переключатель 9 с первым и вторым промежуточными--блоками 10 и 11 пам ти соответственно, сумматор 12, блок 13 вычислени  и блок Ц задани .
При этом прерыватель 5 выполнен в виде полуцилиндра с возможностью аращени .
Способ осуществл етс  следующим образом.
Сфокусированный собирающей линзой 2 световой поток от источника 1 света падает на полупрозрачное зеркало 3, где он раздел етс  на эталонный, отражающийс  от полупрозрачного зеркала и попадающий непосредственно на фотоэлемент 6, и измерительный, проход щий через полупрозрачное зеркало и падающий на анализируемую поверхность муки, закрытую стекл нной пластиной, отража сь от которой и фокусиру сь линзой Ц попадает на фотоэлемент 6, При этом, в зависимости от положени  прерывател , приводимого во вращение приводом (на чертеже не показано) измepиteльный световой поток, отраженный от анализируемой поверхности и сфокусированный линзой, попадает на фотоэлемент периодически, в то врем , как эталонный световой поток воздействует на фотоэлемент посто нно.
Выход фотоэлемента 6 подключен ко входу усилител  8, выход которого подключен к переключателю 9 управл ющий вход последнего подключен к фотоэлектрическому контрольному при- способлению.7, которое размещено под углом 180 к измерительному лучу и в зависимости от положени  прерывател  подает или прекращает подачу управл ющего импульса на прреключатель 9Во врем  фазы Т измерительный световой поток прерываетс  цилиндрической стенкой прерывател , а на фотоэлемент попадает только эталонный световой поток, который усиливаетс  и подаетс  на переключатель.
После поворота прерывател  на 180, когда стенка во врем  фазы Т последнего пропускает измерительный световой поток, последний попадает на фотоэлемент, усиливаетс  на значение, соответствующее измерительному световому потоку, и сохран ет это значение на всю длительность фазы I . После еще одного поворота 180
выходное,значепрерывател  на
ние фотоэлемента падает, так как стенка прерывател  вновь перекрывает измерительный световой поток (крива  А сигналов на входе переключател  9 на фиг, 2).
Образованный во врем  фазы Ь сигнал S соответствует эталонному световому потоку S| в то врем , как образованный во врем  фазы Тд сигнал соответствует сумме значений эталонного светового потока S и измерительного светового потока 5ц.
Фотоэлектрическое контрольное приспособление 7 включает переключатель 9 с фазой Т на первый промежуточный блок 10 пам ти и во врем  второй фазы Т - на второй промежуточный блок 11 пам ти. На выходе первого промежуточного блока 10 пам ти по вл етс  сигнал О, который хранитс  там и
во врем  второй фазы Т измерени , хот  на выходе усилител  В уже по вл етс  сигнал Sji. На выходе второго промежуточного блока 11 пам ти во врем  того же периода времени по в- л етс  сигнал Sj., поэтому во врем  второй фазы 12 измерени  на входе сумматора 12 по вл ютс  одновременно сигналы S-i и $2, На выходе сумматора 12 по вл етс  сигнал S равный разпо вл етс  сигнал j, ности сигналов S и $2, который далее поступает на вход блока 13 вычислени , второй вход которого св зан с выходом второго промежуточного блока 11 пам ти, выдающего сигнал Sj, равный значению эталонного светового потока,
В блоке 13 вычислени  происходит деление значений измерительного светового потока на эталонный и умножение полученного значений на посто нный коэффициент К, Значение последнего поступает в блок 13 вычислени  из блока }Ц задани . Полученное при этом значение соответствует показателю светлости муки, характеризующему ее качество.
Колебани   ркости источника 1 света или колебани  фотоэлемента учитывает коэффициент К.
Дл  приведени  в первоначальное состо ние всех элементов схемы, в частности промежуточных блоков пам ти 10 и 11 сумматора 12 и блока 13 вычислени , предусмотрены не показанные на чертежах элементы синхронизации и управлени , которые после окончани  отдельных фаз измерени 
Т или Т. запускают в работу или сбрасывают на нуль конструктивные элементы схемы на проведение новой фазы измерени .

Claims (1)

1. За вка ФРГ № 1527706, кл. Ц2 h 17/02, 1967.
Г/ Tt TV I 7
Tt
TV
В
,
S,,
S
s
SM
Тг
Ti
f
F
, детШеС ег J fiessivert S/
- i
SU792822454A 1978-09-29 1979-09-28 Способ определени показател светлости муки SU938754A3 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH1018978 1978-09-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU938754A3 true SU938754A3 (ru) 1982-06-23

Family

ID=4360373

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792822454A SU938754A3 (ru) 1978-09-29 1979-09-28 Способ определени показател светлости муки

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4260263A (ru)
JP (1) JPS5570725A (ru)
AR (1) AR223687A1 (ru)
BR (1) BR7906269A (ru)
DD (1) DD146342A5 (ru)
DE (1) DE2853458C3 (ru)
ES (1) ES484441A1 (ru)
SU (1) SU938754A3 (ru)
ZA (1) ZA794782B (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992006374A1 (fr) * 1990-09-18 1992-04-16 Moskovsky Tekhnologichesky Institut Pischevoi Promyshlennosti Procede de cuisson test en laboratoire de pain au froment

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4529308A (en) * 1982-05-28 1985-07-16 Hunter Associates Laboratory, Inc. Spectrophotometer apparatus and method including scale drift correction feature
US4742228A (en) * 1984-04-19 1988-05-03 Gebruder Buhler Ag Infrared measuring apparatus and process for the continuous quantitative determination of individual components of flour or other groundable food products
JPH01253634A (ja) * 1988-04-01 1989-10-09 Fuji Photo Film Co Ltd 反射濃度測定装置
FI901257A7 (fi) * 1990-03-14 1991-09-15 Outokumpu Oy Mittakenno
US6424416B1 (en) 1999-10-25 2002-07-23 Textron Systems Corporation Integrated optics probe for spectral analysis
US6836325B2 (en) 1999-07-16 2004-12-28 Textron Systems Corporation Optical probes and methods for spectral analysis
US6418805B1 (en) 1999-11-18 2002-07-16 Textron Systems Corporation Constituent sensing system
DE60137599D1 (de) 2000-03-10 2009-03-19 Textron Systems Corp Optische sonden und verfahren zur spektralanalyse
US6507403B1 (en) * 2001-07-16 2003-01-14 Honeywell International Inc. Gloss sensor having dirt buildup compensation apparatus and method
AU2015374335B2 (en) 2014-12-23 2018-03-29 Apple Inc. Optical inspection system and method including accounting for variations of optical path length within a sample
WO2016106368A1 (en) 2014-12-23 2016-06-30 Bribbla Dynamics Llc Confocal inspection system having averaged illumination and averaged collection paths
CN108449957B (zh) 2015-09-01 2021-03-09 苹果公司 用于非接触式感测物质的基准开关架构
CN109073460B (zh) 2016-04-21 2022-08-23 苹果公司 用于参考切换的光学系统
EP3688446A2 (en) 2017-09-29 2020-08-05 Apple Inc. Resolve path optical sampling architectures
CN114545550B (zh) 2018-02-13 2024-05-28 苹果公司 具有集成边缘外耦合器的集成光子装置
EP4176304A1 (en) 2020-09-09 2023-05-10 Apple Inc. Optical system for noise mitigation

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2709751A (en) * 1951-01-17 1955-05-31 Foxboro Co Infrared concentrometer
GB873563A (en) * 1959-01-13 1961-07-26 Thomson Houston Comp Francaise Improvements relating to photometric apparatus
NL297370A (ru) * 1962-08-31 1900-01-01
US3488122A (en) * 1965-01-25 1970-01-06 Oreal Process for determining the spectral composition of luminous radiation diffused by a colored surface,and apparatus for carrying out said process
US3446972A (en) * 1966-07-18 1969-05-27 Kollmorgen Corp Automatic gain control for photomultiplier tubes employing a monitoring photocell
US3684378A (en) * 1970-09-04 1972-08-15 Joseph S Lord Dark current correction circuit for photosensing devices
NL7210356A (ru) * 1971-08-06 1973-02-08
GB1356049A (en) * 1971-12-21 1974-06-12 Fortschritt Veb K Reflectance comparator

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992006374A1 (fr) * 1990-09-18 1992-04-16 Moskovsky Tekhnologichesky Institut Pischevoi Promyshlennosti Procede de cuisson test en laboratoire de pain au froment

Also Published As

Publication number Publication date
DE2853458C3 (de) 1981-04-02
US4260263A (en) 1981-04-07
DD146342A5 (de) 1981-02-04
JPS5570725A (en) 1980-05-28
BR7906269A (pt) 1980-07-15
ES484441A1 (es) 1980-10-01
AR223687A1 (es) 1981-09-15
ZA794782B (en) 1980-11-26
DE2853458B2 (de) 1980-08-14
DE2853458A1 (de) 1980-04-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU938754A3 (ru) Способ определени показател светлости муки
EP0629835B1 (en) Strain measuring instrument
US3623817A (en) Comparison densitometer including means to maintain the detector output at a means valve
US2184156A (en) Area measuring apparatus and method
US4399861A (en) Casting gap control system
US3751168A (en) Indicating apparatus for the varying concentration of a solution
JPS57161813A (en) Optical head driver
JPS5629112A (en) Distance measurement unit
SU616852A1 (ru) Дискретный оптический уровнемеррасходомер
US5355223A (en) Apparatus for detecting a surface position
NO852764L (no) Apparat for kontinuerlig maaling av tilstanden ved dannelse av papirbane.
JPS6488327A (en) Shape measuring method for interference wave front
JP3122190B2 (ja) 電圧検出装置
JPS5733306A (en) Surface roughness measuring device
SE7908068L (sv) Sett och anordning for optisk kontroll av mjolprodukter
JPS564004A (en) System for detecting minute defects of body
JPS6423126A (en) Multiple light source polarization analyzing method
EP0371326A3 (de) Einrichtung zur Detektion von sich bewegenden, mit Motoren ausgestatteten Fahrzeugen
JPS5752807A (en) Device for measuring film thickness
JPS57151807A (en) Distance measuring device
JPS5720603A (en) Detector for plate width using laser
JPS5766303A (en) Configuration sensing device
JPS56153207A (en) Measuring device for film thickness
JPS6418071A (en) Detecting apparatus for voltage
JPS6484104A (en) Laser interference length measuring machine