SU991165A1 - Ультразвуковой способ измерени толщины покрытий - Google Patents

Description

(54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ

ПОКРЫТИЙ

Иэобратание относитс  к измарительной технике, а именно к способам неразрушакщего контрол  толпины изделий, и может быть использовано дл  измерени  толщины защитных покрытий в любой отрасли машиностроени .

Известен способ измерени  толщины покрыти , основанный на определении зависимости затухани  поверхностных волн от толщины покцмлти  1 .

Недостатком этого способа  вл етс  низка  точность, особенно при измерении толщины покрытий из материалов с высоким значением коэффициента затухани  ультразвуковых колебаний или нанесенн 1х на криволинейную поверхность .

Известен также ультразвуковой способ измерени , толщины покрытий, основанный на измерени х частотной зависимости коэффициента отражени  от поверхности покрыти  С2.

Этот способ может примен тьс  лишь когда существует достаточно резка  граница между покрытием и подложкой, а волновые сопротивлени  материалов подложек и покрыти  различаютс  не менее, чем на 50 %.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому

результату  вл етс  ультразвуковой способ измерени  толщины покрь тий, заключающийс  в том, что в покрытии возбуждают колебани  посредством воздействи  на него ультразвуковых волн, направление распространени  которых не совпадает с нормалью к его поверхности , и измер ют .интенсивность сигнала , отраженного от покрыти .

to

Толщину покрыти  определ ют исход  из предельного значени  угла d между нормалью к поверхности объекта и направлением распространени  ультразвуковых волн, при котором возбуж15 дают волны Рэле , о .наличии которых, в свою очередь, суд т по результатам интенсивности сигналов, отраженных от материала покрыти  3.

Недостатком способа  вл етс  низ20 ка  точность измерений, котора  св зана с необходимостью изменени  и последующего определени  значени  угла oi в процессе измерени  толщины покрыти .

25

Цель изобретени  - повыианив точности измерений, в частности, покрытий малой толщины.

Поставленна  цаль достигаетс  тем, что согласно ультразвуковому

30 способу измерени  толщины покрытий/ заключающемус  в том, что в материале покрыти  возбуждают колебани  посредством воздействи  на него ульт развуковых волн, направление раапроотрешени  которых не совпадает с нор малью к его поверхности, и измер}пот интенсивность сигнала отраженного от покрыти , фиксируют частоту, соот ветствующую минимуму амплитудно-частотной характеристики отрс1женного сигнала, и по ней определ ют толщину Покрыти  На фиг, представлена функциональ на  схема устройства дл  осуществлени  предложенного способа как в импульсной , так и в непрерывном режиме; на фиг.2 - пример характерного графика зависимости частоты.,; , соответствующей минимуму на амплитудной характеристике отраженного сигнала, от толщины d покрыти . Устройство включает излучающий 1 и принимающий 2 преобразователи, подключенные соответственно к генера тору 3 и спектроанализатору 4, и рас положенные в ванне 5, наполненной жидкостью б наклонно к плоскости поверхности издели  7 с покрытием мгшо толщины. При непрерывном излучении ультразвуковых волн, в качестве спек роанализатора используютс  вольтметр S, подключенный к принимающему преоб разователю 2 и частотомер 9, соединенный с выходом генератора 3 (соответствующие св зи на фиг.1 показаны пунктиром).. Минимум на амплитудно-частотной характеристике отраженного сигнала обусловлен тем, 4to пси некотором определенном соотношении между часто той ультразвуковой волны f, углом d падени  ее на поверхность издели  и толщиной d покрыти  часть энергии

Относительна  погрешность,

Claims (3)

1.Авторское свидетельство СССР 538223, кл. Q 01 В 17/02, 1976.

2.Авторское свидетельство СССР по за вке 2861747/18-28,

кл. G 01 В 17/00, 1980.

3.Авторское свидетельство СССР 575476, кл. Q 01 В 17/02, 1980 (прототип).

«li&f