TH162103A - Electronic device test probe - Google Patents

Electronic device test probe

Info

Publication number
TH162103A
TH162103A TH1501006177A TH1501006177A TH162103A TH 162103 A TH162103 A TH 162103A TH 1501006177 A TH1501006177 A TH 1501006177A TH 1501006177 A TH1501006177 A TH 1501006177A TH 162103 A TH162103 A TH 162103A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
test probe
probe
contact
guide
electronic device
Prior art date
Application number
TH1501006177A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH1501006177A (en
Inventor
เฟลีซี่
สเตฟาโน
วัลเลารี่
ราฟฟีเล่
คริปปา
โรเบอร์โต
Original Assignee
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
นางสาว ปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
นาย รุทร นพคุณ
Filing date
Publication date
Application filed by นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์, นางสาว ปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์, นาย รุทร นพคุณ filed Critical นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
Publication of TH1501006177A publication Critical patent/TH1501006177A/en
Publication of TH162103A publication Critical patent/TH162103A/en

Links

Abstract

การประดิษฐ์บรรยายหัวทดสอบ (20) สำหรับการทดสอบบริภัณฑ์ของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิก ที่ประกอบรวมด้วยโพรบแบบสัมผัส (22) จำนวนหนึ่งที่สอดไว้ในรูตัวนำซึ่งได้รับการสร้างไว้ใน ตำนำด้านบน (23) อย่างน้อยที่สุดหนึ่งชิ้นและตำนำด้านล่าง (24) หนึ่งชิ้นและชิ้นส่วนสำหรับการ บรรจุ (27) อย่างน้อยที่สุดหนึ่งชิ้นของโพรงซึ่งได้รับการจัดวางไว้ระหว่างตัวนำด้านบนและด้านล่าง (23,24), โพรบแบบสัมผัส (22) แต่ละชิ้นมีส่วนขั้วต่อ (25) อย่างน้อยที่สุดหนึ่งส่วนซึ่งไปสิ้นสุดด้วย ปลายสุดสำหรับการสัมผัสที่นำมาใช้เพื่อค้ำยันบนแผ่นสัมผัสที่เฉพาะของอุปกรณ์ที่จะได้รับการ ทดสอบและยื่นออกมาจากตัวนำด้านล่าง (24) ตามความยาว (L), หัวทดสอบประกอบรวมต่อไปอีก ด้วยชิ้นส่วนตัวคั่น (28) อย่างน้อยที่สุดหนึ่งชิ้นซึ่งวางแทรกอยู่ระหว่างชิ้นส่วนสำหรับการบรรจุ (27) ดังกล่าวและตำนำด้านบนและด้านล่าง (23,24) ดังกล่าวอย่างน้อยที่สุดหนึ่งชิ้น, ชิ้นส่วนตัวคั่น (28) นี้ สามารถนำออกไปเพื่อปรับความยาว (L) ของส่วนขั้วต่อ (25) ของโพรบแบบสัมผัส (22) The invention describes a test probe (20) for the testing of equipment of electronic equipment. It consists of at least one contact probe (22) inserted into the conductor hole established in the top guide (23) and one bottom guide (24) and one piece. At least one cavity of the cavity, which is positioned between the top and bottom conductors (23,24), contact probes (22), each with connector parts (25). At least one part which ends with The touch end is used to brace the specific contact pad of the device to be Tested and protruding from the lower conductor (24) by length (L), the test probe is further assembled. With at least one separator part (28) placed between the said packing part (27) and at least one such top and bottom guide (23,24). This separator (28) can be taken out to adjust the length (L) of the connector section (25) of the contact probe (22).

Claims (1)

1. หัวทดสอบ (20) สำหรับการทดสอบบริภัณฑ์ของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกที่ประกอบรวมด้วย โพรบแบบสัมผัส (22) จำนวนหนึ่งที่สอดไว้ในรูตัวนำซึ่งได้รับการสร้างไว้ในตำนำด้านบน (23) อย่างน้อยที่สุดหนึ่งชิ้นและตำนำด้านล่าง (24) และชิ้นส่วนสำหรับการบรรจุ (27) อย่างน้อยที่สุดหนึ่ง ชิ้นของโพรบดังกล่าวซึ่งได้รับการจัดวางไว้ระหว่างตัวนำด้านบนและด้านล่าง (23,24) ดังกล่าว, โพรบแบบสัมผัส (22) ดังกล่าวแตละชิ้นมีส่วนขั้วต่อ (25) อย่างน้อยที่สุดหนึ่งส่วนซึ่งไปสิ้นสุดด้วย ปลายสุดสำหรับการสัมผัสที่นำมาใช้เพื่อค้ำแท็ก :1. Test probe (20) for testing equipment of electronic equipment including A number of contact probes (22), inserted into at least one conductor hole established in the top guide (23) and the bottom guide (24), and packing part (27). ) At least one Each such piece of probe, positioned between the top and bottom conductors (23,24), each such contact probe (22) has at least a (25) connector element. One part which ended with The end of the touch that is used to hold the tag:
TH1501006177A 2014-04-08 Electronic device test probe TH162103A (en)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH1501006177A TH1501006177A (en) 2017-04-27
TH162103A true TH162103A (en) 2017-04-27

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY177726A (en) Testing head of electronic devices
PH12017501807A1 (en) Vertical contact probe and corresponding testing head with vertical contact probes, particularly for high frequency applications
PH12017501988A1 (en) Testing head having vertical probes, in particular for reduced pitch applications
PH12019502351A1 (en) Probe card for a testing apparatus of electronic devices
SG11202106774PA (en) Vertical probe head having an improved contact with a device under test
PH12017501673A1 (en) Testing head with vertical probes having an improved sliding movement within respective guide holes and correct holding of the probes within the testing head under different operative conditions
SG11201800262YA (en) Defect measurement method, defect measurement device, and testing probe
TWI563275B (en) Automated test equipment and testing methods
PL3076195T3 (en) Circuit assembly for cable checking, cable testing, cable diagnosis and/or the localization of faults in cables, and an instrument incorporating such a circuit assembly
EP3367108C0 (en) PROBE CARD AND CONTACT INSPECTION DEVICE
PH12016501480A1 (en) Integrated circuit (ic) test socket using kelvin bridge
TW201614239A (en) Contact probe for test device
PH12014502718A1 (en) Test probe and machining method thereof
EP3581945A4 (en) PROBE AND ELECTRICAL CONNECTOR
SG11201607222RA (en) High-planarity probe card for a testing apparatus for electronic devices
EP3237916A4 (en) TESTING AND MONITORING AN ELECTRICAL CONNECTION
SG11201800264QA (en) Defect measurement method, defect measurement device, and testing probe
EP3433626A4 (en) ADAPTERS FOR TESTING ELECTRICAL EQUIPMENT
SG11202104299SA (en) Vertical probe head with improved contact properties towards a device under test
EP3557266A4 (en) CONTACT PROBE AND ELECTRICAL CONNECTION DEVICE
JP2016518745A5 (en)
TWI561839B (en) Integrated circuit testing interface and automatic test equipment
DK3555633T3 (en) Sample receiving device and probe
TH162103A (en) Electronic device test probe
SG11201709953TA (en) Conductive probe for inspection and semiconductor inspection device