TH65544A - อนุภาคเล็กๆ ที่มีซิลิกาเป็นพื้นฐาน - Google Patents

อนุภาคเล็กๆ ที่มีซิลิกาเป็นพื้นฐาน

Info

Publication number
TH65544A
TH65544A TH201002925A TH0201002925A TH65544A TH 65544 A TH65544 A TH 65544A TH 201002925 A TH201002925 A TH 201002925A TH 0201002925 A TH0201002925 A TH 0201002925A TH 65544 A TH65544 A TH 65544A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
silica
slurry mixtures
small particles
particles based
abrasives
Prior art date
Application number
TH201002925A
Other languages
English (en)
Inventor
เอ็ม. โมห์นอท แชนติลัล
อี. สวิฟท์ ฮาโรลด์
ที. ดิว เจมส์
Original Assignee
นายสัตยะพล สัจจเดชะ
นายกฤชวัชร์ ชัยนภาศักดิ์
Filing date
Publication date
Application filed by นายสัตยะพล สัจจเดชะ, นายกฤชวัชร์ ชัยนภาศักดิ์ filed Critical นายสัตยะพล สัจจเดชะ
Publication of TH65544A publication Critical patent/TH65544A/th

Links

Abstract

DC60 (29/10/45) การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับซิลิกา, สารผสมสเลอรี และวิธีของการเตรียมของมัน โดยเฉพาะซิลิกาของการประดิษฐ์นี้ รวมถึง อนุภาคเบื้องต้นที่เกาะเป็นกลุ่มก้อน สารผสมสเลอรี ซึ่งรวม กับซิลิกา เหมาะสำหรับวัตถุขัดถู และมีประโยชน์โดยเฉพาะ สำหรับการทำระนาบเชิงกล ทางเคมีของซับสเตรตของสารกึ่งตัวนำ และไมโครอิเลคโทรนิกซับสเตรตอื่นๆ การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับซิลิกา, สารผสมสเลอรี และวิธีของการเตรียมของมัน โดยเฉพาะซิลิกาของการประดิษฐ์นี้ รวมถึง อนุภาคเบื้องต้นที่เกาะเป็นกลุ่มก้อน สารผสมสเลอรี ซึ่งรวม กับซิลิกา เหมาะสำหรับวัตถุขัดถู และมีประโยชน์โดยเฉพาะ สำหรับการทำระนาบเชิงกล ทางเคมีของซับสเตรตของสารกึ่งตัวนำ และไมโครอิเลคโทรนิกซับสเตรตอื่น ๆ

Claims (2)

1. สารผสมที่ประกอบด้วยวัสดุอนุภาคที่มีซิลิกาเป็นพื้นฐานและในเรซินองค์ ประกอบเดี่ยว ที่ประกอบด้วยอิลคิลเลเต็ดไตรอะซีนเรซินที่คอนเดนซ์ได้เอง ซึ่งวัสดุอนุภาคที่มีซิลิ การเป็นพื้นฐานดังกล่าวมีลักษณะเฉพาะตามที่มี : ขนาดอนุภาคของค่ากลางโดยเฉลี่ยอย่างน้อย เป็น 20 ไมโครเมตร ; พื้นที่ผิว BET อย่างน้อยเป็น 90 ม2/ก. และ pH อย่างน้อยเป็น 9.5 ในที่ซึ่งสาร ผสมดังกล่าวเกิดในที่ไม่มีรีซอร์ซินอลอยู่
2. สารผสมของข้อถือสิทธิ 1 ในที่ซึ่งวัสดุอนุภาคที่มีซิลิกาเป็นพื้นฐาน ประกอบด้วยมแท็ก :
TH201002925A 2002-08-06 อนุภาคเล็กๆ ที่มีซิลิกาเป็นพื้นฐาน TH65544A (th)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TH65544A true TH65544A (th) 2004-12-16

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100215939B1 (ko) 활성화된 연마 조성물
US8439995B2 (en) Abrasive compounds for semiconductor planarization
PL1675971T3 (pl) Metoda powlekania powierzchni przedmiotów przy użyciu strumienia plazmy
DE60030444D1 (de) Cmp-zusammensetzung enthaltend silanmodifizierte-schleifteilchen
KR20140003475A (ko) 폴리규소를 연마하기 위한 조성물 및 방법
EP1542266A4 (en) SEMICONDUCTOR GRINDING PROCESS FOR ITS MANUFACTURE AND POLISHING PROCESS
WO2007133894A3 (en) Low dimensional thermoelectrics fabricated by semiconductor wafer etching
Lei et al. Synthesis of Sm-doped colloidal SiO2 composite abrasives and their chemical mechanical polishing performances on sapphire substrates
CN105637986B (zh) 抛光组合物及印刷线路板的制造方法
WO2013008751A1 (ja) 光変換用セラミック複合体の製造方法
ID24802A (id) Proses untuk pemolesan kimia mekanik dari suatu lapisan material penghantar aluminium atau campuran aluminium
Wang et al. Effect of a pH regulator on sapphire substrate CMP
TW200720016A (en) Chemically modified chemical mechanical polishing pad, process of making a modified chemical mechanical polishing pad and method of chemical mechanical polishing
KR20130054267A (ko) 벌크 규소를 연마하기 위한 조성물 및 방법
TW200621965A (en) Polishing composition for a semiconductor substrate
TW200643157A (en) Abrasive for semiconductor integrated circuit device, method for polishing semiconductor integrated circuit device and semiconductor integrated circuit device manufacturing method
CN109971356B (zh) 一种化学机械抛光液
TH65544A (th) อนุภาคเล็กๆ ที่มีซิลิกาเป็นพื้นฐาน
TWI804587B (zh) 研磨組合物
TW200717635A (en) Polishing method for semiconductor wafer
KR20230044516A (ko) 슬러리, 연마 방법 및 반도체 부품의 제조 방법
TWI853796B (zh) 研磨組合物、及調整研磨速度之方法
WO2004073922A3 (en) Abrasives for copper cmp and methods for making
TH74074A (th) ซิลิกาและสเลอรีที่มีซิลิกาเป็นพื้นฐาน
WO2019012743A1 (ja) 透明封止部材