TH70257A - แผ่นวงจรพิมพ์รวมและหน้าสัมผัสทดสอบสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำความเร็วสูง - Google Patents

แผ่นวงจรพิมพ์รวมและหน้าสัมผัสทดสอบสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำความเร็วสูง

Info

Publication number
TH70257A
TH70257A TH401003212A TH0401003212A TH70257A TH 70257 A TH70257 A TH 70257A TH 401003212 A TH401003212 A TH 401003212A TH 0401003212 A TH0401003212 A TH 0401003212A TH 70257 A TH70257 A TH 70257A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
flexible
specified
circuit board
printed circuit
test
Prior art date
Application number
TH401003212A
Other languages
English (en)
Inventor
มอร์สคอฟสกี้ นายเจสัน
ไทรเบิร์กส์ นายเวลท์
Original Assignee
เดลาแวร์ แคปิตอล ฟอร์เมชั่น
นายปิยะทัศน์ จูฑะพุทธิ
นายสุวิทย์ สุวรรณ
Filing date
Publication date
Application filed by เดลาแวร์ แคปิตอล ฟอร์เมชั่น, นายปิยะทัศน์ จูฑะพุทธิ, นายสุวิทย์ สุวรรณ filed Critical เดลาแวร์ แคปิตอล ฟอร์เมชั่น
Publication of TH70257A publication Critical patent/TH70257A/th

Links

Abstract

DC60 (21/10/47) แผ่นวงจรพิมพ์รวมและหน้าสัมผัสทดสอบสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำความเร็วสูง ที่มีโครงจัดแนวที่มีเบ้ารองรับและยึดวงจรรวมที่จะทดสอบให้อยู่กับที่ แผ่นวงจรพิมพ์จะประกอบ ด้วย ส่วนที่เป็นอิลาสโทเมอร์ที่ไม่เป็นตัวนำที่อยู่ตลอดผิวของแผ่นวงจรพิมพ์ และโครงสร้างของ สายส่งไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้าที่มีนิ้วอ่อนตัว เพื่อส่งสัญญาณทดสอบจากวงจรรวมผ่าน แผ่นวงจรพิมพ์ ชิ้นส่วนต่อลงดินรูป-U จะยื่นออกไปรอบๆ โครงสร้างสายส่งไมโครเวฟ แผ่นวงจรพิมพ์รวมและหน้าสัมผัสทดสอบสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำความเร็วสูง ที่มีโครงจัดแนวที่มีเบ้ารองรับและยึดวงจรรวมที่จะทดสอบให้อยู่กับที่ แผ่นวงจรพิมพ์จะประกอบ ด้วย ส่วนที่เป็นอิลาสโทเมอร์ที่ไม่เป็นตัวนำที่อยู่ตลอดผิวของแผ่นวงจรพิมพ์ และโครงสร้างของ สายส่งไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้าที่มีนิ้วอ่อนตัว เพื่อส่งสัญญาณทดสอบจากวงจรรวมผ่าน แผ่นวงจรพิมพ์ ชิ้นส่วนต่อลงดินรูป-U จะยื่นออกไปรอบๆ โครงสร้างสายส่งไมโครเวฟ

Claims (19)

1. ระบบเชื่อมประสานทดสอบวงจรรวม ที่ซึ่งประกอบด้วย: - โครงจัดแนวที่มีเบ้ารองรับและยึดวงจรรวมที่จะทดสอบให้อยู่กับที่; - แผ่นวงจรพิมพ์ที่มีส่วนของอิลาสโทเมอร์ที่ไม่เป็นตัวนำอยู่ตลอดผิวของแผ่น วงจรพิมพ์, และ - โครงสร้างของสายส่งไมโครเวฟที่ได้สมดุลทางไฟฟ้าที่มีวิถีทางส่งสัญญาณทดสอบ จากวงจรรวมและไปตามตัวแผ่นวงจรพิมพ์ไปยังอุปกรณ์อิเล็คทรอนิกส์ทดสอบด้านนอก
2. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งประกอบต่อไปด้วย หน้าสัมผัสต่อลงดินรูปตัว-U ที่อยู่ถัดจากโครงสร้างของสายส่ง
3. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่งวิถีทางสัญญาณ ทดสอบ จะประกอบด้วย นิ้วอ่อนตัวที่มีส่วนสัมผัสยกตัวลอยขึ้นที่ถูกยึดและสัมผัสกับวงจรรวมผ่าน การกดตัวลงมาของส่วนที่เป็นอิลาสโทเมอร์ที่ไม่เป็นตัวนำบนแผ่นวงจรพิมพ์
4. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 3 ที่ซึ่งนิ้วอ่อนตัวจะใช้ใน การทดสอบค่าอิมพีแดนซ์ภายใต้การควบคุม
5. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 3 ที่ซึ่งประกอบด้วย นิ้วอ่อนตัวสองนิ้วที่ใช้ในการทดสอบสัญญาณแตกต่างกันที่ได้สมดุล
6. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 3 ที่ซึ่งนิ้วอ่อนตัวจะเป็น สายเชื่อมต่อแบบเคลวิน
7. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 3 ที่ซึ่งนิ้วอ่อนตัวจะถูกยึด กับแผ่นวงจรพิมพ์ด้วยคานกดที่ไม่เป็นตัวนำที่ถูกจัดวางไว้ที่ระหว่างตัวโครงและนิ้วอ่อนตัว
8. ระบบเชื่อมต่อประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งประกอบด้วย สายส่งไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้าจำนวนหนึ่งอยู่รอบๆ เบ้าของตัวโครง
9. หน้าสัมผัสสำหรับทดสอบตัวบรรจุสารกึ่งตัวนำ ที่ซึ่งประกอบด้วย : - โครงที่มีเบ้ารองรับตัวบรรจุสารกึ่งตัวนำ; - ชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัวตัวหนึ่ง เป็นอย่างน้อยที่สุด ที่มีพื้นที่สัมผัสใช้สัมผัสกับแผ่นวงจร พิมพ์ และมีรูปทรงเรขาคณิตของมัน ที่ประกอบขึ้นเป็นสายส่งไมโครเวฟสมดุลทางไฟฟ้า; - ชิ้นส่วนต่อลงดินอ่อนตัวอยู่ถัดจากชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว; และ - แผ่นวงจรพิมพ์ที่มีส่วนของอิลาสโทเมอร์ เพื่อส่งแรงกดไปฝังชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว และชิ้นส่วนต่อลงดินอ่อนตัว
10. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งชิ้นส่วนต่อลงดินอ่อนตัวจะเป็นรูป-U
11. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งพื้นที่สัมผัสบนชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว จะประกอบด้วย ส่วนที่ยกตัวลอยขึ้นเพื่อสัมผัสกับปุ่มทดสอบที่อยู่บนตัวบรรจุสารกึ่งตัวนำ
12. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งประกอบด้วย ชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว สำหรับทดสอบค่าอิมพีแดนซ์ภายใต้การควบคุม
13. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งประกอบด้วยนิ้วอ่อนตัวสองนิ้ว สำหรับทดสอบสัญญาณแตกต่างกันที่สมดุล
14. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งนิ้วตัวนำอ่อนตัวจะเป็นสายเชื่อมต่อ แบบเคลวิน
15. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัวจะถูดยึดเข้ากับ แผ่นวงจรพิมพ์ด้วยคานกดที่ไม่เป็นตัวนำที่ถูกจัดวางไว้ที่ระหว่างตัวโครงและนิ้วอ่อนตัว
16. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งประกอบด้วย สายส่งไมโครเวฟ ที่สมดุลทางไฟฟ้าอยู่รอบๆ เบ้าของตัวโครง
17. ระบบเชื่อมประสานทดสอบวงจรรวม ที่ซึ่งประกอบด้วย แผ่นตัวนำเต้าเสียบหรือ ขาเสียบที่เป็นตัวจัดแนวตัวบรรจุสารกึ่งตัวนำกับชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัวที่รวมเข้าไปในแผ่นวงจรพิมพ์ อัดซ้อน และที่มีรูปทรงเรขาคณิตในลักษณะที่ว่า ชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัวจะประกอบด้วยขึ้นเป็น โครงสร้างสายส่งไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้าจากขอบรอบๆ ของแผ่นวงจรพิมพ์ไปยังปุ่มทดสอบ ที่อยู่บนวงจรรวม
18. ระบบเชื่อมประสานทดสอบวงจรรวม ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 17 ที่ซึ่งประกอบต่อไปด้วย ชิ้นส่วนต่อลงดินอยู่ถัดจากชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว
19. ระบบเชื่อมประสานทดสอบวงจรรวม ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 17 ที่ซึ่งชิ้นส่วน ตัวนำอ่อนตัวจะยื่นออกไปเหนือส่วนที่ยุบตัวลงตื้นๆ ในแผ่นวงจรพิมพ์ที่ถูกเติมด้วยอิลาสโทเมอร์ ที่ไม่เป็นตัวนำที่ทำหน้าที่เป็นกลไกส่งแรงกดและตัวกลางไดอิเล็กตริกสำหรับโครงสร้างสายส่ง ไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้า
TH401003212A 2004-08-20 แผ่นวงจรพิมพ์รวมและหน้าสัมผัสทดสอบสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำความเร็วสูง TH70257A (th)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TH70257A true TH70257A (th) 2005-08-24

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5309324A (en) Device for interconnecting integrated circuit packages to circuit boards
KR100749431B1 (ko) 고속 반도체 테스팅용 집적 인쇄회로기판 및 테스트 접촉기
US6232669B1 (en) Contact structure having silicon finger contactors and total stack-up structure using same
TWI388853B (zh) 品種交換單元以及其製造方法及所應用的測試裝置
JP2017103223A (ja) リジッド−フレックス回路コネクタ
CN101551406A (zh) 探针卡
CN102027380B (zh) 具有高频内插器的测试系统
KR102904814B1 (ko) 쌍축 케이블 스플리터
JP2734412B2 (ja) 半導体装置のソケット
MY162914A (en) Wiring board for testing loaded printed circuit board
US10062993B1 (en) Flexible cable for pluggable modules
CN100505437C (zh) 接触器及利用接触器的测试方法
EP2363720B1 (en) Method of manufacture of an integrated circuit package
US20150204906A1 (en) Testing jig
US8951049B2 (en) Electrical connector assembly with an adaptor for electrical connecting the electrical connector and the PCB
TWI855898B (zh) 內置組件的橡膠插座
TWI598596B (zh) 積體電路之測試探針卡
WO2018118927A1 (en) Rf connection apparatus for printed circuit boards with antenna contact pads
KR20140037322A (ko) 테스트 소켓 및 그 제조 방법
CN117477302A (zh) 插座
KR20240059374A (ko) 컨택트 단자 및 컨택트 단자를 포함하는 소켓
US7358752B1 (en) Signal launch for high speed differential signals
JPH07260878A (ja) テストステーション
KR200374262Y1 (ko) 반도체시험용 소켓보드 조립체
JP7647700B2 (ja) 検査用コネクタ