TH70723A - การประกอบไมโครโฟนที่เป็นซิลิคอน - Google Patents
การประกอบไมโครโฟนที่เป็นซิลิคอนInfo
- Publication number
- TH70723A TH70723A TH401001901A TH0401001901A TH70723A TH 70723 A TH70723 A TH 70723A TH 401001901 A TH401001901 A TH 401001901A TH 0401001901 A TH0401001901 A TH 0401001901A TH 70723 A TH70723 A TH 70723A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- wafer
- layer
- silicon
- primary surface
- impurities
- Prior art date
Links
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract 26
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract 26
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims abstract 26
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims abstract 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims abstract 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 abstract 24
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 2
Abstract
DC60 (14/06/47) ไมโครโฟนที่เป็นซิลิคอนถูกสร้างขึ้นโดยใช้ขั้นตอนของการจัดเตรียมเวเฟอร์ที่หนึ่งซึ่ง มีชั้นของซิลิคอนที่มีสารเจือปนในปริมาณมาก, ชั้นของซิลิคอนและชั้นที่เป็นออกไซด์ที่อยู่ระหว่าง กลางของชั้นทั้งสอง เวเฟอร์ที่หนึ่งดังกล่าวจะมีพื้นผิวหลักที่หนึ่งบนพื้นผิวด้านหนึ่งของชั้นของ ซิลิคอนที่มีสารเจือปนในปริมาณมากและพื้นผิวหลักที่สองบนชั้นของซิลิคอน เวเฟอร์ที่สองของ ซิลิคอนจะมีพื้นผิวหลักที่หนึ่งและพื้นผิวหลักที่สอง ชั้นที่เป็นออกไซด์ถูกสร้างขึ้นบนพื้นผิวหลักที่ หนึ่งเป็นอย่างน้อยของเวเฟอร์ที่หนึ่งและที่สองดังกล่าว โพรงถูกกัดรอยให้ทะลุผ่านชั้นที่เป็น ออกไซด์บนพื้นผิวหลักที่หนึ่งของเวเฟอร์ที่หนึ่งดังกล่าวและเข้าไปในชั้นของซิลิคอนที่มีสารเจือปน ในปริมาณมาก พื้นผิวหลักที่หนึ่งของเวเฟอร์ที่หนึ่งดังกล่าวจะถูกเชื่อมติดเข้ากับพื้นผิวหลักที่หนึ่ง ของเวเฟอร์ที่สองดังกล่าว ชั้นของโลหะถูกสร้างขึ้นบนพื้นผิวหลักที่สองของเวเฟอร์ที่สอง รูรับเสียง ถูกสร้างแพตเทิร์นและกัดรอยในชั้นโลหะดังกล่าวและในพื้นผิวหลักที่สองของเวเฟอร์ที่สองดังกล่าว อิเล็กโทรดอย่างน้อยหนึ่งอันถูกสร้างขึ้นบนซิลิคอนที่มีสารเจือปนในปริมาณมากของเวเฟอร์ที่หนึ่ง และอิเล็กโทรดอย่างน้อยหนึ่งอันถูกสร้างขึ้นบนเวเฟอร์ที่สองดังกล่าว ชั้นที่เป็นออกไซด์ของ เวเฟอร์ที่หนึ่งดังกล่าวถูกกัดรอยจากด้านหลังของแผ่นบังระหว่างที่ผลิตไมโครโฟนที่เป็นซิลิคอน ดังกล่าว ไมโครโฟนที่เป็นซิลิคอนถูกสร้างขึ้นโดยใช้ขั้นตอนของการจัดเตรียมเวเฟอร์ที่หนึ่งซึ่ง มีชั้นของซิลิคอนที่มีสารเจือปนในปริมาณมาก , ชั้นของซิลิคอนและชั้นที่เป็นออกไซด์ที่อยู่ระหว่าง กลางของชั้นทั้งสอง เวเฟอร์ที่หนึ่งดังกล่าวจะมีพื้นผิวหลักที่หนึ่งบนพื้นผิวด้านหนึ่งของชั้นของ ซิลิคอนที่มีสารเจือปนในปริมาณมากและพื้นผิวหลักที่สองบนชั้นของซิลิคอน เวเฟอร์ที่สองของ ซิลิคอนจะมีพื้นผิวหลักที่หนึ่งและพื้นผิวหลักที่สอง ชั้นที่เป็นออกไซด์ถูกสร้างขึ้นบนพื้นผิวหลักที่ หนึ่งอย่างน้อยของเวเฟอร์ที่หนึ่งและที่สองดังกล่าว โพรงถูกกัดรอยให้ทะลุผ่านชั้นที่เป็น ออกไซด์บนพื้นผิวหลักที่หนึ่งของเวเฟอร์ที่หนึ่งดังกล่าวและเข้าไปในชั้นของซิลิคอนที่มีสารเจือปน ในปริมาณมาก พื้นผิวหลักที่หนึ่งของเวเฟอร์ที่หนึ่งดังกล่าวจะถูกเชื่อมติดเข้ากับพื้นผิวหลักที่หนึ่ง ของเวเฟอร์ที่สองดังกล่าว ชั้นของโลหะถูกสร้างขึ้นบนพื้นผิวหลักที่สองของเวเฟอร์ที่สอง รูรับเสียง ถูกสร้างแพตเทิร์นขึ้นและกัดรอยในชั้นโลหะดังกล่าวและในพื้นผิวหลักที่สองของเวเฟอร์ที่สองดังกล่าว อิเล็คโทรดอย่างน้อยหนึ่งอันถูกสร้างขึ้นบนซิลิคอนที่มีสารเจือปนในปริมาณมากของเวเฟอร์ที่หนึ่ง และอิเล็คโทรดอย่างน้อยหนึ่งอันถูกสร้างขึ้นบนเวเฟอร์ที่สองดังกล่าว ชั้นที่เป็นออกไซด์ของ เวเฟอร์ที่หนึ่งดังกล่าวถูกกัดรอยจากด้านหลังของแผ่นบังระหว่างที่ผลิตไมโครโฟนที่เป็นซิลิคอน ดังกล่าว
Claims (1)
1. วิธีการผลิตไมโครโฟนที่เป็นซิลิคอนซึ่งประกอบด้วยขั้นตอนของ - การจัดเตรียมเวเฟอร์ที่หนึ่งซึ่งมีขั้นของซิลิคอนที่มีสารเจือปนในปริมาณมาก , ชั้นของซิลิคอนและชั้นระหว่างกลางที่เป็นออกไซด์ซึ่งอยู่ระหว่างชั้นของซิลิคอนทั้งสองชั้นดังกล่าว และมีพื้นผิวหลักที่หนึ่งอยู่บนพื้นผิวด้านหนึ่งของชั้นของซิลิคอนที่มีสารเจือปนในปริมาณมาก ดังกล่าวและพื้นผิวหลักที่สองซึ่งอยู่บนชั้นของซิลิคอนดังกล่าว - การจัดเตรียมเวเฟอร์ที่สองของซิลิคอนซึ่งมีพื้นผิวหลักที่หนึ่งและพื้นผิวหลัก ที่สอง แท็ก :
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH70723A true TH70723A (th) | 2005-09-29 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ATE466456T1 (de) | Herstellung von silicium-mikrophonen | |
| WO2009013307A3 (en) | Method for producing a silicon solar cell with a back-etched emitter as well as a corresponding solar cell | |
| JP2007311584A5 (th) | ||
| JP2006024914A5 (th) | ||
| WO2011087874A3 (en) | Method of controlling trench microloading using plasma pulsing | |
| WO2006095566A8 (en) | Nitride semiconductor light-emitting device and method for fabrication thereof | |
| EP1860417A3 (en) | A pressure sensor having a chamber and a method for fabricating the same | |
| EP2048923A3 (en) | Method of manufacturing silicon substrate with a conductive through-hole | |
| EP1758438A3 (en) | Method of manufacturing a wiring board | |
| TW200616190A (en) | The fabrication method of the wafer and the structure thereof | |
| FI20011922A0 (fi) | Menetelmä ontelorakenteen muodostamiseksi SOI-kiekolle sekä SOI-kiekko ontelorakenne | |
| TW200610119A (en) | Method of forming wafer backside interconnects | |
| JP2005347302A5 (th) | ||
| WO2004064123A3 (de) | Verfahren zur herstellung eines halbleiterbauelements | |
| TW200731369A (en) | A method of thinning a semiconductor structure | |
| TWI264766B (en) | Method for fabricating recessed gate structure | |
| TW200713420A (en) | Method of fabricating shallow trench isolation structure | |
| CN101044791A (zh) | 硅麦克风 | |
| MY138875A (en) | Three-axis accelerometer | |
| TH70723A (th) | การประกอบไมโครโฟนที่เป็นซิลิคอน | |
| US9681244B1 (en) | Method for manufacturing microphone chip | |
| WO2011082857A3 (de) | Herstellung eines bauelements | |
| TW201324841A (zh) | 基板、基板之製作方法和使用方法 | |
| CN100515119C (zh) | 一种用于硅微电容传声器中的芯片及其制备方法 | |
| WO2007081624A3 (en) | Notch stop pulsing process for plasma processing system |