TH83544B - เต้ารับทดสอบ - Google Patents

เต้ารับทดสอบ

Info

Publication number
TH83544B
TH83544B TH601003265A TH0601003265A TH83544B TH 83544 B TH83544 B TH 83544B TH 601003265 A TH601003265 A TH 601003265A TH 0601003265 A TH0601003265 A TH 0601003265A TH 83544 B TH83544 B TH 83544B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
contact
test socket
pad
circuit pattern
way
Prior art date
Application number
TH601003265A
Other languages
English (en)
Other versions
TH52186B (th
TH83544A (th
Inventor
นายเดนนิส บี. เชลล์ นายแม็ทธิว แอล. กิลค์ นายโจเซ่ อี. โลเปซ
Original Assignee
จอห์นสเทค อินเตอร์เนชั่นแนล คอร์ปอเรชั่น
Filing date
Publication date
Application filed by จอห์นสเทค อินเตอร์เนชั่นแนล คอร์ปอเรชั่น filed Critical จอห์นสเทค อินเตอร์เนชั่นแนล คอร์ปอเรชั่น
Publication of TH83544A publication Critical patent/TH83544A/th
Publication of TH83544B publication Critical patent/TH83544B/th
Publication of TH52186B publication Critical patent/TH52186B/th

Links

Abstract

เต้ารับทดสอบที่ได้รับการปรับปรุงให้ดีขึ้นสำหรับใช้ในการทดสอบวงจรรวม เต้ารับทดสอบประกอบด้วยตัวเรือนที่มีช่องเสียบซึ่งได้รับการก่อรูปภายในนั้น หนึ่งช่อง หรือมากกว่านั้น หน้าสัมผัสจะสามารถได้รับการรับไว้ได้ภายในช่องเสียบแต่ละช่อง และจะได้รับ การคงไว้ภายในนั้นโดยที่ปลายด้านหลังของหน้าสัมผัสจะมีการประสานกันกับลายวงจรบน แผงโหลด จะทำให้การติดตั้งให้สำเร็จโดยวิถีทางของวัสดุยืดหยุ่นคู่หนึ่ง และวัสดุยืดหยุ่นจะคง หน้าสัมผัสแต่ละหน้าไว้ในลักษณะที่ว่า เมื่อปลายด้านหน้าของหน้าสัมผัสได้รับการประสานโดย สายนำ หรือแผ่นรองของอุปกรณ์ที่จะทดสอบ และได้รับการผลักดันเข้าไปในช่องเสียบที่สอดคล้อง กันของสายนำ หรือแผ่นรองของอุปกรณ์นั้น พื้นผิวโค้งที่ปลายด้านหลังของหน้าสัมผัสแต่ละหน้าจะ กลิ้งข้ามลายวงจรที่สอดคล้องกันของหน้าสัมผัสแต่ละหน้าโดยแทบจะไม่มีการเลื่อนเชิงการเคลื่อน ตำแหน่ง หรือการหมุน

Claims (1)

1. เต้ารับทดสอบ ซึ่งประกอบรวมด้วย ตัวเรือนที่มีพื้นผิวที่หนึ่งซึ่งอย่างโดยทั่วไปจะประสานกันกับพื้นผิวของแผงโหลด ตัวทดสอบ โดยที่ตัวเรือนดังกล่าวยังมีพื้นผิวที่สองซึ่งเว้นระยะในลักษณะขนานอย่างโดยทั่วไปจาก และหันหน้าอย่างตรงกันข้ามกับพื้นผิวที่หนึ่งดังกล่าว และช่องเสียบอย่างน้อยหนึ่งช่องที่ได้รับการ ก่อรูปในตัวเรือนดังกล่าวโดยให้ยื่นผ่านตัวเรือนดังกล่าวระหว่างพื้นผิวที่หนึ่งดังกล่าว&nbs
TH601003265A 2006-07-12 เต้ารับทดสอบ TH52186B (th)

Publications (3)

Publication Number Publication Date
TH83544A TH83544A (th) 2007-03-08
TH83544B true TH83544B (th) 2007-03-08
TH52186B TH52186B (th) 2016-11-03

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW200710396A (en) Test socket
MY135083A (en) Inspection unit
EP4664116A3 (en) Electronics tester
EP2463666A3 (en) Electronic device test set and contact used therein
WO2004100784A3 (en) Knitted transducer devices
MY144787A (en) Inspection unit
MY134463A (en) Inspection unit
WO2003019728A3 (en) Interconnect module
AU2002347374A8 (en) Electrodynamic sensors and applications thereof
EP2073054A3 (en) Display device
SG139640A1 (en) Probe card
TW200733475A (en) Module with a built-in antenna, card-formed information device and manufacturing methods thereof
DE50213208D1 (de) Steckverbinder für elektronische Bauelemente
SG131790A1 (en) Probe for testing integrated circuit devices
WO2008071541A3 (de) Modul für eine prüfvorrichtung zum testen von leiterplatten
TW200737497A (en) Electric element, memory device, and semiconductor IC circuit
ATE518283T1 (de) Elektrische anschlussvorrichtung
TW200419858A (en) Dual contact electrical compression connector
TH83544B (th) เต้ารับทดสอบ
TW200642531A (en) A printed circuit board (PCB) with electrostatic discharge protection
TW200729373A (en) Test module for wafer
TW200708239A (en) Electronic system
WO2009022398A1 (ja) 多極同軸コネクタ、パフォーマンスボードおよび試験装置
TW200723462A (en) Package module with alignment structure and electronic device with the same
TW200734661A (en) Electronic component device testing apparatus