TR201809288T4 - İki üniversal mafsal ve bir pivot mafsalına sahip üçüncü bir mil aracılığıyla bağlanan iki milin yönünün belirlenmesine yönelik cihaz ve yöntem. - Google Patents

Abstract

İki üniversal mafsal ve üçüncü bir mil yoluyla birbirine bağlanan iki milin açısal uzaklığının ölçülmesi ve isteğe bağlı olarak düzeltilmesine yönelik bir cihaz, optoelektronik bir hizalama cihazının ölçüm başlıklarının bir ayarlama kapasitesi ile kenetleme cihazlarından birinin üzerinde en az bir pivot mafsalı yoluyla millerin üzerinde ayarlanabilir bir şekilde düzenlenmesini gerektirir. İlgili bir yöntem, pivot mafsalının ayarlanması yoluyla en az iki ölçüm pozisyonunda millerin üzerinde optoelektronik hizalama cihazının ölçüm başlıklarının yönünün eşleştirilmesini içerir.

Description

TARIFNAME IKI ÜNIVERSAL MAFSAL VE BIR PIVOT MAFSALINA SAHIP ÜÇÜNCÜ BIR MIL ARACILIGIYLA BAGLANAN IKI MILIN YÖNÜNÜN BELIRLENMESINE YÖNELIK CIHAZ VE YÖNTEM Teknik Saha Bulus, paralel uzakliklari nedeniyle iki üniversal mafsal ve iki üniversal mafsali baglayan üçüncü bir mil yoluyla birbirine baglanan makinelere ait iki milin ve makine bilesenlerinin açisal uzakliginin belirlenmesine ve düzeltilmesine yönelik bir cihaz ve gelistirilmis ve basitlestirilmis bir yöntem ile ilgilidir.

Altyapi Teknigi Motorlari ve tahrik edilen düzenekleri iki üniversal mafsal ve üçüncü bir mil araciligiyla birbirine baglayan iki milin arasindaki uzakliklari esitlemek klasiktir. Ancak, bu düzenleme sadece paralel uzakliklari esitleyebilir. Iki mil birbirine göre tamamen paralel olarak hizali hale getirilmediginde, açisal bir uzaklik nedeniyle siklikla ciddi bir hasar meydana gelir.

Iki tip uzaklik, spesifik olarak paralel uzaklik ve açisal uzaklik, optoelektronik hizalama cihazlari ile kolay ve dogru bir sekilde belirlenebilir. Ancak, bu sadece iki milin birbirine es eksenli olarak baglandigi daha basit bir durumda mümkündür. Lazerler veya diger isik kaynaklari ve isiga duyarli dedektörlere (PSD, CCD dizileri veya CMOS dizileri) bagli olarak bu optik hizalama cihazlari, Alman Patent DE 39 11 307 (U.S. Patent karsilik gelen) açiklanir. Bu dokümanlarda, öte yandan, bir ölçüm basliginda bir isik kaynagi ve ikinci bir ölçüm basliginda bir dedektör içeren hizalama cihazlari açiklanir. Ölçüm basliginda, bir isik demetinin hem insidans pozisyonu hem de insidans yönü, burada ölçüm basliginin isin yolunda ardisik bir sekilde iki-boyutlu olarak okunabilen iki dedektör tarafindan ölçülebilir. Bu düzenleme, örnegin, bir isin ayirici araciligiyla elde edilebilir. Öte yandan, ölçüm cihazlari ayni zamanda açiklanir. burada bir ölçüm basligi bir isik kaynagi ve ayni zamanda iki-boyutlu bir dedektör içerir, öte yandan ikinci ölçüm basligi örnegin, bir sirt prizmasi formunda bir yansitici içerir. Yukarida belirtilen dokümanlarda açiklanan hizalama cihazlari, nokta kesitinin isik demetlerini ve iki- boyutlu olarak okunabilen dedektörleri kullanir. demetlerinin yayilma yönüne göre enine olarak birden fazla yönde yayildigi hizalama cihazlarini açiklar. Bazi düzenlemeler, her bir ölçüm basliginin hem bir isik kaynagi hem de ayni zamanda bir dedektör içermesini gerektirir. Yukarida belirtilen optik hizalama cihazi, dedektör üzerindeki isik demeti veya isik demetlerinin etki noktalarinin iki milin birçok (en az üç, ancak genellikle dört veya hatta bes veya daha fazla) döner pozisyonunda ölçüldügünü farz eder. basliginin hem bir isik kaynagi hem de ayni zamanda insidans bölgesi ve insidans açisina göre iki-boyutlu olarak okunabilen dedektörler içerdigi bir hizalama cihazi açiklar. Bu ölçüm cihazi, bu döner pozisyonun yönü ve etki noktalari tek bir düz milin üzerinde bir karsilastirma ölçümü ile iyi hizalanan millere yönelik bilindiginde, dedektörlerin üzerinde etki noktalarina yönelik bir ölçümden iki milin sadece bir döner pozisyonunda açisal ve paralel uzakliga göre bir yanlis hizalama belirleyebilir.

Hizalanacak millerin üzerinde farkli açisal pozisyonlardaki ölçümler, öte yandan, ayni zamanda temel olarak mümkündür.

Siklikla, özel esleme cihazlari es eksenli olarak çalismayan millere yönelik bu optoelektronik hizalama cihazlarinin kullanimina yönelik kullanilir, bu yüzden bunlar paralel bir uzakliga sahiptir ve iki üniversal mafsal ve üçüncü bir mil araciligi ile baglanir. Bu cihaz, Avrupa Patent EP 1 430 995 ve karsilik gelen U.S. Patent 7,242,465'te açiklanir. Bu cihazlarin kullanimindaki dezavantaj, bu dokümanlarda açiklandigi üzere, siklikla üçüncü milin çikarilmasi gerektigi ile ilgilidir. ilaveten, açisal bir uzakligi belirleme performansini karmasik ve hataya açik hale getiren cihazlarin karmasik bir sekilde islenmesi ve bir dizi adimin yürütülmesi gereklidir. Bu yüzden, üçüncü mil yeniden yüklendiginde bir makinenin, dogru bir sekilde hizalandiktan sonra, istenmeden degistirilmesi gerçeklesebilir. Diger bir problem, bu cihazlarin oldukça fazla toleransa sahip bir sekilde üretilmesidir, böylece açisal uzakligin ölçümü hareketten dolayi çok hatali olur. Bu dokümandaki önceki teknik, bir kanat boyunca yerlestirilmesi gereken bir pivot mafsalini içerir. Bu kanat iki milin birine monte edilir ve bunun üzerindeki sensör basligina sahip pivot mafsali, pivot mafsalina ait ekseninin hizalanacak diger bir milin ekseni ile eslestigi bir pozisyonda düzenlenir. Bu pivot mafsalina ait eksenin pozisyonu, hizalanacak iki mil arasinda radyal bir mesafeye adapte edilmelidir.

US 4,708,485, bir hizalama aletinin ölçüm basligina yönelik döner bir tutucu açiklar. Bu döner tutucu, mili diger bir makine bileseninin mili ile hizalanan bir makine bileseninin muhafazasina monte edilir. Döner tutucunun ekseni, makine muhafazasi ile es eksenli olarak yerlestirilir. Makine bilesenine ait bu muhafazanin bu muhafazadaki mil ile mutlaka es eksenli olarak yerlestirilmemesi nedeniyle, mil pozisyonunun ilave sensörler ile izlenmelidir. degistirme ve/veya monte etme islemlerinin, hassas bir pivot yatagi kullanimini gereksiz hale getiren bir sekilde monte edilebilir oldugu uzaticilar veya tutma cihazlari seklinde yardimci cihazlara sahip birbirine göre iki makinenin yönünün nicel degerlendirmesine yönelik bir cihaz açiklar.

U.S. Patent 5,715,609, sabit hat-içi makine millerinin hizalanmasina yönelik bir aparat açiklar. Bir düzenlemede, aparat buna karsi yanlis hizalamanin ölçüldügü bir referans noktasi saglamak üzere milin etrafindaki çok sayida açisal pozisyonlar yoluyla döndürmeye yönelik bir milin etrafinda döner bir sekilde yerlestirilebilen algilanan bir noktaya sahip bir hizalama sistemi saglar. Algilanan noktanin pozisyonu, milin etrafinda çok sayida açisal pozisyon yoluyla döndürmeye yönelik algilanan noktanin bagimsiz olarak milinin etrafina döndürülebilir bir sekilde yerlestirilebilen bir sensör tarafindan algilanir.

Alman Patent Basvurusu DE 101 38 831 A1, açi bilgisi saglayan iki yatay-olmayan makine milleri için bir hizalama cihazina yönelik bir jiroskop uygulamasini açiklar.

Uygulama, iki dikey veya yatay-olmayan makine milinin hizalanmasinin kontrol edilmesine yönelik kullanilan bir ölçüm cihazina yönelik ilave açi bilgisinin saglanmasina yönelik piezoelektrik veya mikromekanik bir jiroskop kullanir. Bir harici jiroskop açi ölçüm cihazi, ölçüm cihazina dahil edilen jiroskoba ek olarak saglanabilir.

Bulusun kisa açiklamasi Bu yüzden, mevcut bulusun birinci bir amaci, baglanan üçüncü milin sökülmesinin iptal edilmesini saglayan ve sadece klasik optoelektronik hizalama cihazlari bakimindan küçük bir modifikasyon gerektiren bir cihaz tasarlamaktir.

Diger bir amaç, iki milin herhangi bir açisal pozisyonu ile açisal uzakligin belirlenmesinde yüksek hassasiyetin mümkün olmasini saglayan optik bir hizalama cihazi kullanilarak iki üniversal mafsal ve üçüncü bir mil araciligiyla baglanan iki milin açisal uzakliginin belirlenmesine yönelik bir yöntem saglamaktir.

Bu amaçlar, tasiyicinin bir mile tutturulmasina yönelik bir tutma cihazi ve bir kenetleme cihazindan olusan bir optoelektronik hizalama cihazinin ölçüm basliklarina yönelik bir tasiyici ile saglanir. Bu tutma cihazi, önceki teknikte açiklanan optoelektronik hizalama cihazlarinin ölçüm basliklarini yerlestirmek üzere kullanilir. Tasiyici, kenetleme cihazinin üzerinde sabit bir sekilde bulunan bir pivot mafsalina sahiptir ve bunun dönme ekseni mil eksenine paralel olarak uzanir. Ölçüm basligina yönelik tutma cihazi, pivot mafsalinin döner kisminin üzerinde bulunur.

Bu amaçlar ayni zamanda yukarida açiklanan tasiyici ile bir optoelektronik hizalama Cihazi kullanilarak açisal uzakliga yönelik bir ölçüm yöntemi ile saglanir ve asagidaki adimlara sahiptir: a) bulus ile uyumlu olarak en az bir tasiyicinin ve istege bagli olarak iki milin üzerinde klasik bir tasiyicinin üzerinde iki ölçüm basliginin monte edilmesi, ilgili milin eksenine göre bir döner pozisyon olarak ölçüm basliklarinin yönünün belirlenmesi ve tutma cihazi boyunca en az bir tasiyicinin degistirilmesi yoluyla iki ölçüm basliginin yerlestirilmesi ve isik demeti veya demetleri dedektör veya dedektörlere çarpacak sekilde pivot mafsalinin döndürülmesi. b) birinci ölçüm pozisyonunda optik bir hizalama cihazi ile dedektör veya dedektörlerin üzerinde etki noktasi veya noktalarinin ölçülmesi, c) milin veya hizalama cihazinin bilesenlerinin milin etrafinda ikinci bir ölçüm pozisyonuna döndürülmesi, pivot mafsalinin yeniden hizalanmasi ve tutma cihazinin üzerinde hizalama cihazinin ölçüm basliginin radyal olarak degistirilmesi, d) dedektör/dedektörlerin üzerinde isik demeti veya demetlerinin etki noktalarinin ölçülmesi, pivot mafsalinin döner pozisyonunun ölçülmesi ve bu ölçüm sonuçlarindan ikinci ölçüm pozisyonunda açisal uzakligin hesaplanmasi, e) istenmesi halinde, üçüncü bir ve olasi ilave ölçüm pozisyonlarinda ölçüme yönelik 0) ve d) adimlarinin tekrar edilmesi, f) bu adimin gerçeklestirilmesi halinde b), d) ve e) adimlarinin sonuçlarindan iki aks arasindaki açinin belirlenmesi ve istege bagli olarak hareket edebilen makine veya makine bileseninin pozisyonunun degistirilmesi yoluyla açisal hizalamanin düzeltilmesi.

Diger detaylar, açilar ve avantajlar sekiller kullanilarak bulusun asagidaki açiklamasindan alinabilir.

Sekillerin kisa açiklamasi Sekil 1a, iki mil ve iki üniversal mafsala sahip baglanti mili içeren cihazin perspektif bir görüntüsüdür ve optik hizalama cihazi ile hizalama yönteminin sematik bir açiklamasidir; Sekil 1b, ikinci bir pozisyonda Sekil la'daki cihazi gösterir; Sekil 2, iki makine bileseninin eksenlerine dikey olarak dik gösterilen geometrik kosullarin bir plan görüntüsüdür; Sekil 3, iki makine bileseninin eksenlerine dikey olarak dik gösterilen geometrik kosullarin yandan bir görüntüsüdür ve Sekiller 4a & 4b iki farkli pozisyonda düzenlemenin uç görüntüleridir.

Düzenlemelerin açiklamasi Sekiller 1 ila 4, birinci bir tabanin (32) üzerinde bir mile (34) sahip birinci bir makine veya makine bileseni (30) ve ikinci bir tabanin (33) üzerinde bir mile (35) sahip ikinci bir eksenlerinin yönü bakimindan esasen paraleldir, ancak alana ait iki yönden en az birinde, miller iki milin (34, 35) boylamsal eksenine dik olan bir yönde birbirine göre denklestirilir. Bu yüzden, her bir milin (34, 35) ucunun üzerinde bir üniversal mafsal (36, 37) vardir. Bu iki üniversal mafsal (36, 37), üçüncü bir mil (38) ile birbirine baglanir.

Iki üniversal mafsala (36, 37) baglanan üç milin (34, 35) bir biriminin düzgün çalismasina yönelik, asagidaki iki kosulun yerine getirilmesinin gerekli oldugu genel olarak bilinir: ilk önce, üniversal mafsallarin iki çatali tek bir düzlemde üçüncü milin (38) üzerine yerlestirilmelidir ve ikinci olarak, iki üniversal mafsalinin (36, 37) üzerindeki açilar esit olmalidir. Bazen, yazarlar üç milin hepsinin (34, 35, 38) tek bir düzlemde bulundugu üçüncü bir durumu tanimlar. Ancak, bu üçüncü önkosul iki baslangiçta adlandirilan kosulun gerekli bir sonucudur.

Daha iyi anlatmak üzere, bu noktada, tasiyicilar olarak adlandirilan cihazlar açiklanir.

Tasiyicilar, önceki teknikte açiklanan optoelektronik hizalama cihazlarinin ölçüm basliklarini (40, 41) birbirine göre hizalanacak olan millere (34, 35) baglar. Tasiyicilar normalde ölçüm basliginin mile (34, 35) sabit ve saglam bir sekilde baglanmasini saglayan bir kenetleme cihazina (47, 48) sahiptir. Bu kenetleme cihazlari, silindir seklinde bir milin ceket yüzeyinin karsisina yerlestirilmesine yönelik bir gövde içerir. Bu gövde, siklikla prizmatik bir girintiye sahip bir bloktur. Prizmatik bir girintiye sahip bu tür bir blok, farkli çaplara sahip millerin üzerinde kolay bir sekilde monte edilebilir, böylece prizmatik girintinin tepe hatti mil eksenine tamamen paralel olarak uzanir. Gövdenin mile sabit baglantisi, blogun milin üzerinde prizmatik girinti ile kilitlenmesi yoluyla üretilir. Bu kilitleme, mili çevreleyen yaprak yaylar veya kiskaçlar araciligiyla gerçeklesir ve kenetleme veya sikma vidalari ile klasik olarak sabitlenir. Çubuklar veya borular (45, 46) formundaki tutma cihazlari, bu kenetleme cihazlarinin bloklarinin üzerinde millere göre radyal olarak uzanan bir yöne paralel olarak monte edilir. Ölçüm basliklarinin (40, 41) mahfazalari, akabinde bu çubuklarin uzandigi karsilik gelen deliklere sahiptir. Ölçüm basliklari (40, 41) akabinde örnegin sikma vidalari veya hizli etkili kapaklar gibi kenetleme cihazlari ile bu çubuklarin veya borularin (45, 46) üzerine sabitlenir. Çubuklarin (45, 46) üzerindeki ölçüm basliklarinin (40, 41) bu düzenlemesi, mil ekseninden farkli mesafelerde ölçüm basliklarinin monte edilmesine imkan saglar. Bu yüzden, isik demeti iki mili baglayan bir pençe ile bloke edilemez. Bu yüzden, bir ölçüm basligina yönelik tasiyici mile tutturulmasina yönelik kenetleme cihazini ve örnegin, çubuklar, borular gibi ölçüm basligina yönelik bir tutma cihazini veya Alman Patent DE cihazinin gövdesi veya blogu, örnegin, üzerine kenetlendigi mil ile tutma cihazlari, bu karsilik gelen U.S. Patent 4,518,855`in plakalari arasinda stabil bir baglanti saglar.

Sekiller 1a & 1b, paralel bir uzaklik ile düzenlenen millere (34, 35), iki üniversal mafsala (36, 37), iki üniversal mafsali baglayan üçüncü mile (38), kenetleme cihazlarina (47, basliginin birinden yayilan isik demetine (43) sahip iki makine bileseninin (30, 31) perspektif görüntülerini içerir. Ölçüm basliklarinin elektronikleri, benzer bir sekilde bir antene (62) sahip bilgisayar (63) ile antenler (60, 61) araciligiyla kablosuz olarak iletisim kurar. Sekil 1a'da, kenetleme cihazlari, tasiyicilar ve ölçüm basliklari iki milden olusturulan düzlemin içinde yaklasik olarak bulunur. Sekil 1b'de, iki tasiyici dikey olarak yukarida olan pozisyonda gösterilir. Iki mile göre degistirilmis olan bu pozisyonlardaki opoelektronik hizalama cihazinin karsilik gelen bilesenlerinin referans numaralari bir kesme isareti ile saglanmistir. Bu noktada, ölçüm basliginin yönünden dolayi, ilgili mile paralel olarak uzanan isik demeti (43') diger ölçüm basligina çarpacak sekilde pivot mafsalinin (101') ayarlanmasinin gerekli oldugunu anlamak zor degildir.

Sekil 2, ölçüm basliklarinin Sekil 1a`daki ait iki pozisyonda (40, 41) ve Sekil 1b'deki iki pozisyonda (40', 41') gösterilmesi ile Sekiller 1a, 1b'deki düzenlemenin bir plan görüntüsünü içerir. Bir kesme isareti ile belirtilen pozisyonlar, örnegin, 40', 41', dikey olarak yönlendirilir.

Sekil 3, her iki mili (34, 35) içeren bir düzlemde yaklasik olarak ölçüm basliklarinin düzenlemesi ile yandan bir görüntüdür.

Sekiller 4a, 4b iki mil boyunca gösterilen düzenlemenin temsillerini içerir. Burada, Sekil 4a, iki pozisyonda (40, 40') makine bileseninin (30) miline (34) tutturulan optoelektronik ölçüm cihazinin sadece bir kismini gösterir, öte yandan Sekil 4b iki pozisyonda (41, 41') makine bileseninin (31) miline (35) tutturulan optoelektronik ölçüm cihazinin bir kismini gösterir.

Sadece bir pençe araciligiyla baglanan iki mil ölçülürken, bu yüzden esasen es eksenli miller ölçülürken, birlikte dönmek üzere birbirine baglanan iki mile ait birçok istege bagli açisal pozisyona yaklasmak kolay bir sekilde mümkündür. Iki ölçüm basligi birbirine göre hizalandiktan sonra, isik demeti diger açisal pozisyonlarda bile dedektöre çarpacaktir. Düzeltmeler sadece oldukça ciddi yanlis hizalamalara yönelik gereklidir.

Ancak, Iki üniversal mafsal (36, 37) ve üçüncü bir mil (38) araciligiyla birbirine baglanan iki milin (34, 35) açisal uzakligi ölçüldügünde, birbirine baglanan millere sahip ölçüm basliklari döndügünde ve/veya ölçüm basliklari millerin etrafinda döndügünde, isik demetinin genel olarak dedektörü uzak bir mesafede kaçirdigi gösterilir. Bu, iki ölçüm basligi üç milden olusturulan düzlemde, bu yüzden bu düzlemde 180°uzaktan bulunan iki ölçüm pozisyonunda bulundugunda, iki mile ait paralel uzakligin bir sonucudun Geometrik durumlardan dolayi, örnegin, bu pozisyonlarin elde edilmesinin diger makine kisimlari tarafindan engellenmesi nedeniyle bu iki ölçüm pozisyonuna yaklasmak her zaman mümkün degildir. Bulus ile uyumlu olarak herhangi bir ölçüm pozisyonunda bir ölçüm elde etmek üzere, ölçüm basliklarina yönelik iki tasiyicidan en az biri bir pivot mafsali (101) ile donatilir. Bu pivot mafsali (101) milden mümkün oldugunda kisa bir mesafede, yani, mil yüzeyinden sabit bir mesafede, milin üzerine yerlestirmeye yönelik kenetleme cihazlarindan birinin gövdesine kullanisli bir sekilde monte edilir. Bunun mafsalinin döndürme ekseni mil eksenine paralel uzanacak sekilde düzenlenir. Bu , 38) olusturulan düzlemde bulunmasa bile, hizalama cihazinin isik demeti veya demetlerinin (43) dedektör veya dedektörlere çarpmasi mümkün hale gelir. Bunlara bagli olan ölçüm basliginin (40 veya 41) sadece radyal bir sekilde ayarlanmasina izin veren tutma cihazlarina yönelik, ölçüm basliginin sadece üç milin düzleminde monte edilmesi mümkündür. Buna karsilik, tutma cihazinin (45) döner ayarlamasi avantajli bir sekilde üç milin (34, 35, 38) birlikte dönüsü veya kenetleme cihazlarinin hareketi meydana gelse bile diger ayarlama basligi tarafindan alinacak iki ayarlama basliginin birinden yayilan bir isik demeti (43) saglar, böylece ölçüm basliklari artik tutma cihazlarina yönelik düz bir hat boyunca uzanan üç milin düzleminin içinde yer almaz.

Bu yüzden, öte yandan, sekiller ölçüm basliklarinin üç milin düzleminde yer aldigi bir ölçüm pozisyonu gösterir. Burada kullanilan tutma cihazinin çubuklari mile göre radyal bir yönde uzanir. ilaveten, tasiyicilar ikinci bir ölçüm pozisyonunda gösterilir, burada isik demeti ilgili dedektöre çarpabilecek sekilde radyal yönden uzakta pivot mafsalinin ayarlanmasinin degistirilmesi gereklidir. Ikinci ölçüm pozisyonunda, hizalama cihazinin bilesenlerinin referans numaralari bir kesme isareti ile tanimlanir.

Bu yüzden, isik demetinin etki noktalari birçok ölçüm pozisyonunda kaydedilebilir ve her seferinde, ölçüm basliklarinin degistirilmesine ek olarak, pivot mafsalinin pozisyonu ayni zamanda degistirilebilir. Burada, üzerine monte edildigi milin eksenine göre ölçüm basliginin açisal yönü, örnegin, ölçüm basliginin içinde veya üzerine monte edilen bir egim ölçer ile kaydedilebilir. Alternatif olarak, asagidakiler ayni zamanda kaydedilebilir: 1 ölçüm basliginin açisal yönleri, 2 mile ve milin kendisine baglanan gövdenin açisal yönleri, 3 millere baglanan gövdenin açisal yönü ve pivot mafsalinin pozisyonu veya 4 millerin kendilerinin açisal yönü ve pivot mafsalinin pozisyonu.

Bulus ile uyumlu olarak cihaz ile ölçüm yöntemi, bu yüzden yukarida kisaca açiklanmis olan ve bu noktada detayli olarak açiklanacak olan adimlarda gerçeklestirilir. a) bulus ile uyumlu olarak en az bir cihazin ve istege bagli olarak iki milin üzerinde klasik bir cihazin üzerinde iki ölçüm basliginin monte edilmesi, ilgili milin eksenine göre bir döner pozisyon olarak ölçüm basliklarinin yönünün belirlenmesi ve tutma cihazi boyunca degistirilmesi yoluyla iki ölçüm basliginin yerlestirilmesi ve isik demeti veya demetleri dedektör veya dedektörlere çarpacak sekilde pivot mafsalinin hizalanmasi.

Bir hizalama cihazinin bir ölçüm basligina (40) sahip bir kenetleme cihazii milin (36) üzerinde bulunur. Ölçüm basligi (40), ikinci makine veya makine bileseni (31) yönünde bir isik demeti (43) gönderir. Birinci ölçüm pozisyonu, prensipte, rastgele seçilebilir ve diger makine kisimlari tarafindan kisitlamalar göz önünde bulundurulabilir.

Kenetleme cihazlari ile tasiyiciya veya ilgili milin eksenine göre döner bir pozisyon olarak ölçüm basliklarinin yönünü belirlemek üzere, bir ölçüm basliginin içinde veya üzerinde bulunan bir egim ölçer kullanilabilir. Bir pusula, özellikle jiroskoplu bir pusula veya bir jiroskop ayni zamanda kullanilabilir. Bir jiroskobun kullanimi, özellikle miller yatay olarak uzanmadiginda avantajlidir.

Tutma cihazinin üzerinde ölçüm basliginin yer degistirme yönünün mile göre düz bir hat boyunca ve radyal olarak uzandigi pivot mafsalinin (101) üzerinde bir sifir pozisyonu, pivot mafsalinin üzerinde bir isaretleme veya yakalama pozisyonu ile kullaniciya yönelik avantajli olarak tanimlanir. Bu kolay bir sekilde taninabilen sifir pozisyonu, bu sifir pozisyonuna yaklasarak daha fazla modifikasyona gerek kalmadan paralel bir uzaklik ile düzenlenmeyen millerin üzerinde bile bulus ile uyumlu olarak bir cihazin kullanimina olanak saglar. Esas olarak, öte yandan, kenetleme cihazina sabit bir sekilde baglanan kenetleme cihazi veya pivot mafsalinin bir kisminin üzerinde ilave bir egim ölçer veya pusula veya jiroskoplu bir pusula kullanmak ayni zamanda mümkündür.

Bulus ile uyumlu olarak bir tasiyicinin yönünü elektronik olarak belirlemek üzere, tasiyicinin üzerinde bir egim ölçer veya bir jiroskop olabilir. Alternatif olarak, bulus ile uyumlu olarak döner bir cihazda, ölçüm basliginda mevcut olan bir egim ölçer kullanilabilir ve pivot mafsalinin (101) döner pozisyonu örnegin, elektronik bir açi dönüstürücü kullanilarak ilaveten tespit edilebilir. Klasik tasiyicilar ile, ölçüm basliginda bir egim ölçer iki tasiyicinin ilgili yönlerini belirlemek üzere ayni zamanda yararlidir. Tasiyicilarin ve ölçüm basliklarinin yönlerini ve pivot mafsalinin pozisyonunu hizalamaya yönelik ve bunlari ekranda göstermek üzere kullanilan bir bilgisayara (63) iletmek kullanislidir.

Burada, iki tasiyicinin yönlerinin olusturulabilen bir tolerans dahilinde olup olmadigi ayni zamanda gösterilebilir. Açi degerleri, baglanti kablolari üzerinden veya kablosuz olarak tasiyici veya ölçüm basligindan bilgisayara iletilebilir ve kablosuz iletimin gösterilmesine yönelik, antenler (60, 61) ölçüm basliklarinin gösterilir.

Tutma cihazi boyunca ölçüm basliginin yer degistirme yönü üç milin düzleminde uzanmadiginda, sadece ölçüm basliklarinin radyal pozisyonunu degil ayni zamanda ölçüm basliklarindan yayilan bir isik demetinin diger bir ölçüm basligi tarafindan kaydedilebilecegi bir ölçüde pivot mafsalini ayarlamak bu noktada mümkündür.

Tasiyicilar ve çubuklarin bunlari ilgili millerine göre ayni yönde yönlendirilmesi ölçüme yönelik kesinlikle gerekli degildir, basit bir sekilde, ilgili milin dönme yönüne göre ölçüm basliginin yönü belirlenmelidir. Öte yandan bu. burada bulunan bir egim ölçer ile ölçüm basliginin kendisinde, ancak ayni zamanda istege bagli olarak mevcut olan bir pivot mafsalinin döner pozisyonuna yönelik tasiyicida bir egim ölçer ve bir açi dönüstürücü kombinasyonu yoluyla veya pivot mafsali ve mil pozisyonlarina yönelik açi dönüstürücülerinin kombinasyonu yoluyla yapilabilir. Bu yön bilgisi, ölçüm basliginin koordinatlarinin makinenin koordinat sistemine dönüstürülmesine yönelik gereklidir. b) Birinci ölçüm pozisyonunda isik demeti veya demetlerinin etki pozisyonunun ölçülmesi.

Bir ölçüm basligindan yayilan bir isik demetinin diger bir ölçüm basligi tarafindan kaydedilebilmesi halinde, dedektör veya dedektörlerin üzerinde isik demetlerinin etki noktalarinin veya isik demetinin etki noktasinin pozisyonu ölçülür. Ilgili mile referans ile ölçüm basliklarinin yönü, ayni zamanda tekrardan kaydedilebilir. Bu degerler, a) adimi altinda açiklandigi üzere, hizalamanin belirlenmesine yönelik kullanilan bilgisayarda elde edilir. 0) Ikinci bir ölçüm pozisyonuna yaklasilmasi.

Bu amaca yönelik, üç mil bir mesafede birlikte çevrilir ve iki kenetleme cihazinin her ikisi de millerin etrafinda belirli bir açi ile itilir. Burada, iki ölçüm pozisyonunun birbirine göre mümkün oldugunda büyük bir mesafeye sahip olmasina dikkat edilmelidir. Iki mil arasinda açinin belirlenmesi, birbirine göre iki ölçüm pozisyonunun mesafesi büyüdükçe daha dogru olur. Iki milin tasiyicilar çevrilecek sekilde çevrilmesi halinde, açisal uzakligi belirleme dogrulugu iyidir. dogruluk farz edilebilir. Ancak, miller sadece bir veya iki “dakika” çevrildikten sonra, bu yüzden, 6° veya 12°, normal olarak açisal uzakligi belirleme dogrulugu elde edilemez. b) Ikinci ölçüm pozisyonunda isik demeti veya demetlerinin etki pozisyonunun ölçülmesi.

Akabinde, iki ölçüm basligi (40, 41), millere (34, 35) göre radyal olarak ölçüm basliklarinin (40, 41) yer degistirmesinin isik demeti veya demetleri tekrardan dedektör veya dedektörlere tekrar vuracak sekilde gerekli olacagi bir pozisyondadir. ilaveten, bir isik demetinin diger bir ölçüm basligi tarafindan kaydedilecek bir ölçüm basligindan yayilmasini saglayan pivot mafsalinin (101) ayarlanmasi gereklidir. Bu noktada, ölçüm basliklarinin yönleri ilgili mile referans ile kaydedilebilir ve a) adimi altinda açiklandigi üzere hizalamaya yönelik kullanilan bilgisayarlara iletilir. Ölçüm basligi/basliklarinin radyal olarak yer degistirmesi ve pivot mafsalinin ayarlanmasindan sonra, dedektör veya dedektörlerin üzerinde isik demetinin etki noktasi veya isik demetlerinin etki noktalarinin pozisyonu ayni zamanda tekrardan belirlenebilir. e) Istege bagli olarak, üçüncü bir ve olasi diger ölçüm pozisyonlarinda ölçüme yönelik 0) ve d) adimlarinin tekrar edilmesi, Üç veya daha fazla ölçüm noktasinin açisal uzakligi belirlemek üzere kullanilmasi halinde, ölçümün dogrulugu ayrica ayri ölçüm degerleri yoluyla olusturulan ortalama degerler ile arttirilabilir. Bu e) adimi bir veya daha fazla kez gerçeklestirilse bile, dogruluk ayri ölçüm pozisyonlari birbirinden mümkün oldugunca uzak oldugunda ve mil eksenine göre mümkün oldugunca büyük bir açisal aralik üzerinde dagitildiginda yine de özellikle yüksektir. f) Miller (34, 35) arasinda açisal uzakligin ve istege bagli düzeltmenin hesaplanmasi. Baslangiçta belirtilen önceki teknikte, ölçüm basliklari birbirine baglanan millerin birçok farkli döner pozisyonunda monte edildiginde açisal uzakliga yönelik bir belirlemenin mümkün oldugu açiklanir. Üç milin (34, 35, 38) düzleminde açisal uzakligi belirlemek üzere, isik demetlerinin yayilma yönüne dik olan bir yönde ve ilgili mile radyal olan bir yönde isik demeti veya demetlerinin etki noktasi veya noktalarinin koordinatlari kullanilir. Üç milin (34, , 38) düzlemine dik olan bir yönde açisal uzakligi belirlemek üzere, isik demetlerinin yayilma yönüne dik olan ve ilgili mile radyal olan bir yöne dik olan bir yönde isik demeti veya demetlerinin etki noktasi veya noktalarinin koordinatlari kullanilir. Birinci bir adimda, ilgili mile göre ölçüm basliginin benzer bir sekilde belirlenen açisal yönü kullanilarak etki noktalarinin koordinatlari, ilgili mile yönelik makinenin koordinat sistemine dönüstürülür, bu normalde ilgili açi ile koordinat sisteminin basit bir sekilde döndürülmesi yoluyla meydana gelir.

Buna göre, makine sisteminde iki ölçüm pozisyonu arasindaki koordinat farkliliklari belirlenir. Akabinde, bu ölçüm pozisyonlari arasindaki dönme açisi ve ölçüm basliklari arasindaki mesafe göz önüne alindiginda, iki mil (34, 35) arasindaki açisal uzaklik bu farkliliklardan hesaplanir. Ölçüm basliklari arasindaki mesafe, örnegin, bir serit metre ile belirlenebilir. Ölçüm basliklarinin koordinat sistemlerinden makine bilesenlerinin koordinat sistemine dönüstürme, ilgili millere göre ölçüm basliklarinin döner pozisyonlari veya millerin döner pozisyonlari ve egim ölçer, pusula veya jiroskoplu pusula yoluyla belirlenen pivot mafsalinin yönü kullanilarak meydana gelir. Bu sekilde elde edilen açisal uzakliklar ile, bu noktada, hareket ettirilecek makinenin pozisyonu, bu noktada, istege bagli olarak iki mil (34, 35) paralel olarak hizalanacak sekilde yer degistirme yoluyla ve takozlar kullanilarak düzeltilebilir. Burada, "istege bagli olarak düzeltilen” iki boyutta ölçülen açisal uzakliklar öngörülen toleranslari astiginda düzeltme anlamina gelir. Istege bagli olarak gerekli bir düzeltmede, ölçüm basliklari ile hareket edebilen makinelerin tabanlari arasindaki mesafelerin, (örnegin, söz konusu takozlarin alta yerlestirilmesi veya bunlarin çikarilmasi veya yanal yer degistirme yoluyla) gerekli hareketleri hesapladigi düsünülmelidir. Bu, basit geometrik hususlara bagli olarak mümkündür.

Ilgili makine tabanlarina yönelik gerekli düzeltme degerlerine yönelik bu hesaplama, ölçüm basligi/basliklarinin kendisinde, ölçüm cihazina ait bir bilgisayarda veya ölçüm basliklarinda dedektörlerin ölçülen degerlerinin iletildigi diger bir bilgisayarda yapilir. Ölçüm basliklarinin kendisinde bulunabilen bu bilgisayar, normal olarak bir kablo hatti üzerinden dedektörlerin ölçülen degerlerini alir. Özellikle, ölçüm basliklarinda bulunmayan bilgisayarlara yönelik, ölçüm basliklarinda tespit etme elektroniklerinden ölçülen degerlerin iletimi kablosuz olarak gerçeklesebilir. Ölçüm basliklari en son ölçümde kaldiginda, makine tabanlarinin üzerinde bir düzeltmenin etkisi, direkt olarak bilgisayar ekraninda gözlenebilir. Bu, dedektör üzerinde etki noktasinin ölçülen degerinin sürekli bir sekilde elektronik olarak tespit edildigi anlamina gelir. Tespit etme isleminden hemen sonra veya devam eden tespit etme islemi sirasinda, açisal uzaklik akabinde hesaplanir. Açisal uzakligin sonucu ile, akabinde makine tabanlarinin hareketine yönelik yeni ayar noktalari belirlenir ve bilgisayar ekraninda gösterilir. Bu yüzden, takozlari yerlestirme veya yanal yer degistirme gibi bir ölçümün basarisini ekrandan direkt olarak takip etmek mümkündür.

Bu yüzden, yüksek kesinlik ile açisal uzakligi belirlemek üzere birkaç basit adim yeterlidir. Açisal uzakligin belirlenmesi, prensipte, yukarida belirtilen önceki teknikten belirtilen hizalama cihazlarinin her biri ile mümkündür. Burada, mile göre radyal yönde ölçüm basliklarinda bir pozisyon degisikligi mümkün olacak ve bulus ile uyumlu olarak pivot mafsali tasiyicinin üzerinde bulunacak sekilde ölçüm basliklarini millere baglayan tutma cihazlari yapilacak sekilde ölçüm cihazlarinin yapildigi basit bir sekilde dikkate alinmalidir.

Yukarida belirtilen açiklamada, bulus ile uyumlu olarak yöntem hizalanacak iki mili baglayan kurulan üçüncü mil ile açiklanir. Bu çalisma durumudur. Yöntemin, bakim yapmak amaci ile üçüncü mil söküldükten sonra bu sekilde kullanilabilecegi açik bir sekilde anlasilir. Burada, yöntemin tüm adimlari gerçeklestirildikten sonra, iki milin ilgili açisal pozisyonunun çalisma durumundakine karsilik geldigi dikkate alinmalidir.

Claims (1)

1. ISTEMLER Asagidaki unsurlari içeren iki millerden birinin üzerine bir ölçüm basligi (40, 41) monte etmek üzere kullanilan iki milin (34, 35) ilgili hizalanmasinin ölçümünde kullanima yönelik bir optoelektronik hizalama cihazinin bir ölçüm basligina (40, 41) yönelik tasiyici olup: millerden (34, 35) birinin silindir seklinde bir yüzeyinin karsisina yerlestirmeye yönelik adapte edilen bir gövde, milin (34, 35) üzerine gövdenin tutturulmasina yönelik bir kenetleme cihazi (4?, 48), özelligi tasiyicinin ayrica asagidaki unsurlari içermesi ile karakterize edilmesidir: bir ölçüm basliginin (40, 41) yerlestirilmesine yönelik bir tutma cihazi uzunlugu boyunca bir yönde yerlestirilebilir, gövdeye kalici bir sekilde baglanan bir döndürme cihazi, döndürme cihazinin döner bir kismi tutma cihazina (45, 46) bagli pivot mafsalina olarak uzanan bir döndürme eksenine sahiptir, burada ölçüm basliginin (40, 41) tutma cihazinin (45, 46) uzunlugu boyunca yer degistirebildigi yön, pivot mafsalinin (101) döndürme eksenine göre radyaldir. Istem 1 ile uyumlu olarak tasiyici olup, özelligi ayrica gövdenin üzerinde bir egim ölçer, bir pusula ve birjiroskoptan en az birini içermesidir. Istem 1 veya 2 ile uyumlu olarak tasiyici olup, özelligi döndürme cihazinin millerden (34, 35) birinin silindir seklindeki yüzeyinin karsisina yerlestirilen gövdenin bir yüzeyinden sabit bir mesafede gövdeye kalici bir sekilde baglanmasidir. Iki milin (34, 35) ilgili hizalamasinin ölçümüne yönelik ölçüm sistemi olup, özelligi asagidaki unsurlari içermesidir: istem ile göre birinci ve ikinci tasiyicilar ve bir isik kaynagi içeren en az bir ölçüm basligi (40, 41) ve ölçüm basliklarindan (40, 41) birinin üzerinde veya içinde bir egim ölçer, pusula ve jiroskoptan en az biri ile isik kaynagindan yayilan isiga (43) karsi duyarli olan bir konum çözme dedektörü içeren en az bir ölçüm basligi (40, 41 ). En az bir birinci ölçüm basliginda (40) bir lazer isininin (43) yayilmasina yönelik en az bir isik kaynagina ve en az bir ikinci ölçüm basliginda (41) isik demetinin (43) alinmasina yönelik iki-boyutlu olarak okunabilen en az bir dedektöre sahip bir lazer hizalama cihazi kullanilarak iki üniversal mafsal (36, 37) ve üçüncü bir mil (38) araciligiyla birbirine baglanan veya baglanabilen ikinci bir mile (35) göre birinci bir milin (34) hizalanmasina yönelik yöntem olup, en az bir birinci ölçüm basligi (40) en az bir birinci mile (34) monte edilir ve en az bir ikinci ölçüm basligi (41) ilgili bir tutma cihazi (45, 46) ile en azindan ikinci mile (35) monte edilir, söz konusu tutma cihazlarindan en az biri, istemler 1 ila 3'ten herhangi birine göre bir tasiyicinin bir parçasidir, özelligi asagidaki adimlari içermesidir: ilgili tutma cihazi (45, 46) boyunca her bir ölçüm basliginin (40, 41) degistirilmesi yoluyla ölçüm basliklarinin (40, 41) yerlestirilmesi ve pivot mafsalinin (101) döndürülmesi, böylece en az bir isik demeti (43) en az bir etki noktasinda en az bir dedektöre çarpar, bir optik hizalama cihazi ile en az bir dedektörün üzerinde en az bir etki noktasinin ölçülmesi ve birinci ölçüm pozisyonunda ilgili milin (34, 35) eksenine göre döner bir pozisyon olarak ölçüm basliklarinin (40, 41) yönünün belirlenmesi, millerden (34, 35) birinin ve millerin (34, 35) etrafindaki hizalama cihazinin bilesenlerinin ikinci bir ölçüm pozisyonuna çevrilmesi, pivot mafsalinin (101) yeniden hizalanmasi ve tutma cihazinin (45, 46) üzerinde hizalama cihazinin ölçüm basliginin (40, 41) radyal olarak degistirilmesi, akabinde, en az bir dedektörün üzerinde en az bir isik demetinin (43) en az bir etki noktasinin ölçülmesi ve ikinci ölçüm pozisyonunda ilgili mile (34, 35) göre ölçüm basliklarinin (40, 41) yönünün ölçülmesi, b) ve d) adimlarindan ölçümlerin sonuçlari öngörülen toleranslari astiginda en az üçüncü bir ölçüm pozisyonunda ölçüme yönelik 0) ve d) adimlarinin tekrar edilmesi ve en azindan b) ve d) adimlarinin sonuçlarindan birinci ve ikinci milin (34, 35) akslari arasinda bir uzaklik açisinin belirlenmesi ve birinci ve ikinci millerden (34, 35) en az birini tasiyacak sekilde hareket ettirilebilen bir makine veya makine bileseninin (30, 31) pozisyonunun degistirilmesi yoluyla millerin (34, 35) açisal hizalamasinin düzeltilmesi. Istem 5 ile uyumlu olarak yöntem olup, özelligi birinci ve ikinci ölçüm pozisyonunun ilgili bir üç-boyutlu yönlendirmesinin ölçüm basliklarindan (40, 41) en az birine baglanan en az bir egim ölçer ile belirlenmesidir. Istem 5 veya 6 ile uyumlu olarak yöntem olup, özelligi birinci ve ikinci ölçüm pozisyonunun ilgili bir üç-boyutlu yönlendirmesinin, birinci ve ikinci millerden (34, 35) birinin üzerinde en az bir döner açi dönüstürücü ile belirlenmesidir. Istemler 5 ila 7`den herhangi biri ile uyumlu olarak yöntem olup, özelligi en az bir dedektörün üzerinde en az bir isik demetinin (43) etki noktalarinin ölçümünün f) adiminda birinci ve ikinci millerin (34, 35) eksenleri arasindaki açinin belirlenmesi ile es zamanli olarak d) adiminda gerçeklesmesidir. Istemler 5 ila 8`den herhangi biri ile uyumlu olarak yöntem olup, özelligi en az bir dedektörün üzerinde en az bir isik demetinin (43) etki noktalarinin ölçümünün f) adiminda birinci ve ikinci millerin (34, 35) eksenleri arasindaki açinin belirlenmesi ile es zamanli olarak e) adiminda gerçeklesmesidir.