TW201214425A - Tape cassette and method for the manufacture thereof - Google Patents

Description

201214425 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種磁帶匣，具有詳載於 第1項之特點。 【先前技術】 這種類型的磁帶匣係用以測量體液中分 系統的一部分。這種類型的系統爲例如，糖 ，他們每日須測量數次通常爲血液和/或組 樣本的葡萄糖含量。乳酸或血紅蛋白濃度係 類型的系統測量的其他分析物濃度。 此種磁帶匣的載帶可載裝例如具有檢測 域的測試元件，和/或如功能元件的穿刺元 測量裝置而設計之磁帶匣的情況下，載帶僅 元件’亦即測試元件。同樣地，僅單一類型 即穿刺元件配置在用於嚴格說來係穿刺系統 匣的載帶上。在統合測量和穿刺裝置的情況 元件可配置於載帶上，亦即作爲第一類型之 爲第二類型之穿刺元件。而且，在用於統合 置的磁帶匣的情況下，亦可僅配置單一類型 載體上的磁帶類型，亦即具有統合測試元件 【發明內容】 磁帶匣之一優點係相當大量的功能元件 申請專利範圍 析物之濃度之 尿病患者所需 織間液之體液 例如可藉這種 試劑之測試領 件。在爲嚴格 裝載一種功能 的功能元件， 之系統之磁帶 下，兩種功能 測試元件及作 測量和穿刺裝 之功能元件於 之穿刺元件。 ，例如50個甚 201214425 至更多的測試元件可配置在捲繞於磁帶匣中之載帶上。 本發明之目的在於構思一種方法，容許磁帶匣中所含 測試元件的數量增加而不擴大磁帶匣。 該目的藉申請專利範圍第1項所詳載之磁帶匣之特點 的磁帶匣和根據申請專利範圍第1 5項的方法實現。本發明 之有利改進是申請專利範圍次項之標的。 在根據本發明之一磁帶匣中，磁帶方向中從一測試元 件至相同類型之測試元件之距離在空間中以一週期P週期 地變化。 在根據本發明之一磁帶匣中，測試元件不相互隔定距 離配置。反而，磁帶方向中從一測試元件至次一測試元件 之距離週期地變化，俾在既定數目之測試元件，亦即在既 定數目之相同功能元件之後，一測試元件與次一測試元件 間之距離反覆。 捲繞上面定距離配置有功能元件之習知載帶，可能發 生，於捲繞之載帶中，測試元件直接互位於彼此上方。於 此情況下，捲繞載帶可形成不完全圓捲輪，其中，相較於 其他地方，許多測試元件互位於彼此上方。這種不完全圓 捲輪並未充份使用磁帶匣中的可用設計空間。根據本發明 ’磁帶方向中從一測試元件至次一測試元件之距離在空間 中週期地變化容許功能元件沿載帶捲輪之周向獲得更均勻 的分佈》因此，捲繞載帶的橫截面更接近理想圓形，俾可 更妥善使用匣中的可用空間。 因此’本發明例如係有關一種磁帶匣，其具有載裝測 -6- 201214425 試元件之載帶，俾磁帶方向中從一測試元件至次一測試元 件之距離在週期p於空間中週期地變化。此外，載帶亦可 載裝穿刺元件。亦可設置穿刺和測試元件統合的測試元件 〇 而且，本發明係有關有捲繞載帶之磁帶匣，該捲繞載 帶載裝均勻定向之穿刺元件，俾磁帶方向中從一測試元件 至次一測試元件之距離在週期P於空間中週期地變化。均 勻定向之穿刺元件均相對於磁帶指向相同方向。換言之， 均勻定向之穿刺元件均相對於磁帶指向相同方向，例如所 有穿刺元件均指向相同緣，或所有穿刺元件均指向磁帶方 向，例如全部指向磁帶之前端或單部。 本發明之一有利改進提供同類型功能性元件之間的距 離，其在週期P內變化超過沿磁帶方向所測量功能元件之 長度。這意味著從一功能元件至次一同類型功能元件之最 大距離異於二同類型功能元件間之最小距離達超過沿磁帶 方向測得之一功能元件的長度。 本發明另一有利改進提供沿磁帶方向和在週期p內， 從一功能元件至次一同類型功能元件變化至少5% ’較佳至 少有ίο%。因此，在週期p內，從一功能元件至次一同類型 功能元件之最大距離和最小距離間的差爲最小距離之至少 5 %，較佳至少1 〇 %，尤佳至少1 5 %。 可藉由上述方案達到者係相同穿刺元件’即同類型穿 刺元件間的距離變化大到足以影響在捲繞載帶中’功能元 件沿圓周方向的更平均分佈。 201214425 本發明的另一有利改進提供在週期p 件至次一同類型功能元件之最大距離和最 最小距離之不超過5 0 % ’較佳不超過4 0 % ’ 。同類型連續功能元件間之距離的不必要 致磁帶的改善捲繞性能’卻主要會造成載 ，以致於不必要的每一單位長度的少數功 帶上。 本發明的另一有利改進提供一週期P 個同類型功能元件，例如至少三個測試另 意味著，同類型連續功能元件間之距離在 型功能元件之後反覆。雖然載帶之改進捲 包括二同類型功能元件間，亦即僅二不同 來達成，該短週期之選擇卻低到在有關載 可能改進方面有所限制。 本發明的另一有利改進提供一週期， ，較佳頂多八個，更佳頂多六個，尤佳頂 若在生產期間，故障功能元件放置在載帶 置在不正確的的位置，即可能從載帶切掉 件的整個週期，並例如藉由膠合或焊接如 ，將其相互連接。於此情況下，功能元件 週期中所含功能元件越多。限制一週期中 數至頂多十個，較佳頂多六個，特別是頂 ，容許防止不必要的生產損失，和仍然實 質。特別有利的是，例如，每一週期三至 內，從一功能元 小距離間的差爲 尤佳不超過30% 大變化雖不會導 帶的更不當使用 能元件配置在載 ，其包括至少三 ：;件之週期P。這 三個或更多同類 繞性質也可藉僅 距離的較短週期 帶之捲繞性質之 其包括頂多十個 多五個。亦即， 上或功能元件配 包括故障測試元 此產生之二帶端 之損失越大，一 的相同功能元件 多五個功能元件 現良好的捲繞性 至五個同類型功 -8- 201214425 能元件。 載體上功能元件之週期配置係指生產程序中之目的之 功能元件的名義位置。顯然’無法在生產程序中完全防止 生產公差，以致於功能元件的實際位置異於名義位置達生 產公差。這些與名義位置的偏差隨機分佈。基於這個原因 ，在磁帶方向，根據本發明的載帶中從一功能元件至次一 同類型功能元件在生產公差內，在週期p，於空間中週期 地變化。 通常，一週期中的週期地變化，即相同功能元件間的 最大距離與相同功能元件間的最小距離間的差等於關於生 產之實際位置與名義位置之偏差的至少5倍，特別是至少 10倍，特別是20倍。 較佳地，載帶包括各個被分配到一功能元件之位置標 記。位置標記可例如爲孔或可印於載帶。位置標記可用於 生產程序以界定功能元件應用於載帶的位置。而且，位置 標記被根據本發明插入磁帶匣的裝置用來停止在一個經界 定之位置的運輸，以精確定位供後續使用之功能元件。接 著’在磁帶方向中從一測試元件之位置標記至一測試元件 之次一位置標記之距離可在週期P於空間中週期地變化。 以下根據例示性實施例並藉由參考附圖，說明本發明 之進一步細節和優點。於本上下文中，相同及均等組件以 相同元件符號標示。 【實施方式】 -9 - 201214425 第1圖顯示磁帶匣的例示性實施例，具有：外殼1，其 包含載帶2，載裝功能元件，亦即具有供分析人或動物體 液樣本之檢測試劑之測試元件3，以及穿刺元件4。載裝未 使用之功能元件之載帶2之部分被捲至捲輪5。具有用過之 功能元件之載帶2部分被捲至第二捲輪7。載帶2是具有例 如0.1 mm (毫米）至0.2 mm (毫米）之厚度之薄膜。測試 領域3可真有相當厚度，使載裝功能元件3、4之區域與自 由區域間之總厚度可相異2或更大之因數。 載帶2可僅以單一類型的功能元件例如配置成，其僅 載裝測試元件3或僅載裝穿刺元件4。第2圖顯示一例示性 實施例，其中，載帶2僅載裝測試元件3作爲功能元件。而 且，亦可用二不同類型的功能元件，亦即測試元件3和穿 刺元件4配置載帶2。這種情況下之一例示性實施例示意顯 示在第3圖中。可看出，所有穿刺元件4在同一方向。換言 之，所有穿刺元件4指向載帶的相同緣》 第2圖清楚地顯示，在磁帶方向中從功能元件3到次一 同類型功能元件3之距離在週期P於空間中週期地變化。在 第2圖所示例示性實施例中，週期P包括三個同類型功能元 件，即三個測試元件3。第3圖顯示另一例示性實施例，其 中，一週期P包括四個同類型功能元件，即四個測試領域3 和四個穿刺元件4。 長度比例不按比例顯示在第2和3圖中。於第2圖所示 例示性實施例中，在磁帶方向中從一功能元件到次一同類 型功能元件之距離可例如爲dl = 129 mm (毫米）、d2=l 10 -10- 201214425 mm (毫米）和d3 = 108 mm (毫米）。一週期P的總長係個 別距離dl、d2和d3的總和，例如，等於347 mm (毫米）。 在第2圖所示的例示性實施例中，沿磁帶方向測量之功能 元件之長度，即測試元件3之長度係10 mm (毫米）。因此 ’如沿磁帶方向所測量，在週期P內距離變化達功能元件 的長度。 第3圖所示例示性實施例中同類型連續功能元件間之 距離例如爲dl = U4 mm (毫米）、d2 = 127 mm (毫米）、 d3 = 100 mm (毫米）及d4 = 98 mm (毫米）。在此例示性實 施例中，穿刺元件4沿磁帶輸送方向，相對於後續測試元 件3定距離配置，俾相同距離dl，d2，d3，和d4適用於連 續擊穿元件之間的距離。 相鄰功能元件間的明定距離包含個別功能元件之長度 。因此，必須在每一情形下測量功能元件的對應中心間或 相鄰功能元件之對應邊緣間，例如相對於磁帶輸送方向之 各後緣或在磁帶輸送方向之各前緣間的距離。 在二例示性實施例中，週期P內的的距離變化超過1 0% 。於第2圖所示例示性實施例中，最大距離和最小距離之 間的差是 dl-d3 = 129 mm (毫米）-108 mm (毫米）=21 mm (毫米）。這是相對於最小距離超過19%的差。於第3圖所 示例示性實施例中，最大距離和最小距離的差爲d2-d4=127 mm (毫米）-98 mm (毫米）=29mm (毫米）。這 是相對於該週期P之從一功能元件至次一功能元件之最小 距離超過29 %的差。一般而言，特別有利的是，在週期P內 -11 - 201214425 ，從一功能元件至次一同類型功能元件之最大距離和最小 距離間的差相對於最小距離，介於10%與3 5 %間。 於第2圖所示例示性實施例中，在週期P內磁帶方向中 從一功能元件到次一同類型功能元件，被計算成所有距離 之算術中間値之平均距離係（dl+d2 + d3 ) /3 = 1 15 mm (毫 米）。最大距離，亦即d2與該値差14 mm (毫米），而最 小距離，亦即d3，相差僅7 mm (毫米）。因此，最大和最 小距離與平均距離之差相差2之因數。 因此，在示意顯示於第3圖中之例示性實施例中，從 一功能元件到次一同類型功能元件之平均距離係（ dl+d2 + d3 + d4 ) /4=110 mm (毫米）。最大距離，亦即d2與 該値差27 mm (毫米），而最小距離，亦即d4，相差1 1 mm (毫米）。因此，最大和最小距離與平均距離之差相 差大於2之因數。 於未圖示之例示性實施例中，週期P包括五個同類型 功能元件，即例如，五個測試領域3。連續測試領域間之 有利距離例如爲dl = 102 mm (毫米）、d2=100 mm (毫米 )、d3 = 105 mm (毫米）、d4 = 104 mm (毫米）、d5 = 121 mm (毫米）。 爲製造，首先，載帶2設有位置標記8，其界定個別功 能元件的名義位置。隨後，應用功能元件於位在位置標記 8的載帶2。功能元件的實際位置偏離名義位置的可能偏差 相較於週期P內之距離變化，小到可忽略。於第2及3圖之 數値例子中，個別位置元件的位置不確定性小於1 mm (毫 -12- 201214425 米）。因此，距離的週期地變化大於位置不確定性的十倍 〇 隨後，將以功能元件配置的載帶捲繞於匣之捲輪，該 捲輪可具有例如4 mm (毫米）之半徑。 同類型功能元件間的最佳距離特別是取決於載帶的厚 度、高度、載帶上功能元件的高度以及捲繞載帶之捲輪之 半徑。在捲繞程序中導致功能元件沿圓周方向之更均勻分 佈的有利距離可由試驗或數値模擬來決定。在此上下文中 ，具體用於例示性用途之週期P內相同功能元件之距離的 上述比例可被用來作爲任一此等情形之有利距離之參考點 【圖式簡單說明】 於圖式中， 第1圖顯示磁帶匣之例示性實施例之示意圖； 第2圖顯示配置在載帶上之功能元件之示意圖； 第3圖顯示配置在載帶上之功能元件之另一例示性實 施例。 【主要元件符號說明】 1 :匣殻 2 :載帶 3 :測試元件 4 :剌穿元件 13- 201214425 5 :捲輪 7 :捲輪 8 :位置標記 P :週期

Claims (1)

1. 201214425 七、申請專利範園： 1.一種磁帶匣，具有捲繞之載帶（2)，該載帶（2) 裝載沿磁帶方向彼此隔一距離配置之測試元件（3 )，其 特徵在於，磁帶方向中自測試元件（3)至次一測試元件 (3)之距離在週期P於空間中週期地變化。 2 ·如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中，該週期P內 距離變化超過沿磁帶方向所測出之一測試元件（3 )的長 度。 3. 如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中，該週期P內 距離變化至少5 %，較佳至少1 0 %。 4. 如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中，在該週期P 內磁帶方向中有自測試元件（3 )至次一測試元件（3 )之 最大距離和最小距離間至少最小距離之5%、較佳至少1 〇% 的差。 5·如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中，在該週期P 內磁帶方向中有自測試元件（3 )至次一測試元件（3 )之 最大距離和最小距離間不超過最小距離之50%、較佳爲不 超過40%、尤其是不超過35%的差。 6.如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中，在週期P內 和磁帶方向中，自測試元件（3 )至次一測試元件（3 )之 最大和最小距離與平均距離間的偏差相差至少一半，較佳 至少2之因數，該距離被計算成在週期P和磁帶方向中自測 試元件（3 )至次一測試元件（3 )之所有距離的算術平均 値。 -15- 201214425 7. 如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中’ 一週期P包 括至少三個測試元件（3 )。 8. 如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中’週期P包括 最多八個、較佳爲最多六個、特別是最多五個測試元件（ 3 )。 9. 如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中，該載帶（2 )包括至少十個週期P。 10. 如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中，該載帶（ 2)包括至多三十個週期P。 1 1 .如前述申請專利範圍之任一項之磁帶匣，其中， 該載帶載裝穿刺元件（4 )。 12.如申請專利範圍第11項之磁帶匣，其中，所有穿 刺元件（4 )定向成朝同一方向。 1 3 ·如申請專利範圍第1項之磁帶匣，其中，該等測試 元件（3)各配置在該載帶（2)之一位置標記（8)上。 1 4 .如申請專利範圍第1 3項之磁帶匣，其中，該等位 置標記（8 )間磁帶方向之距離在空間中週期地變化。 15. —種磁帶匣之製造方法，測試元件（3)及/或均一 定向之穿刺元件（4)配置成爲載帶（2)上之功能元件（ 3、4)，隨後捲繞該載帶（2)並導入匣外殻（1)中，其 特徵在於，該等功能元件（3、4)週期地變化距離而配置 於該載帶（2)上。 16. 如申請專利範圍第15項之方法，其中，首先，該 等位置標記（8)設在該載帶（2)上，接著，該等功能元 -16- 201214425 件（3、4)設在該等位置標記（8)所界定之該載帶上的 位置。 -17-