TW533112B - System for cleaning heating chamber - Google Patents

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TW533112B
TW533112B TW91105973A TW91105973A TW533112B TW 533112 B TW533112 B TW 533112B TW 91105973 A TW91105973 A TW 91105973A TW 91105973 A TW91105973 A TW 91105973A TW 533112 B TW533112 B TW 533112B
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TW
Taiwan
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heating chamber
heating
gas
scope
purification system
Prior art date
Application number
TW91105973A
Other languages
English (en)
Inventor
Liu-Chung Lee
Yu-Ming Lee
Da-Shuane Kuan
Original Assignee
Au Optronics Corp
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  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

533112 五、發明說明(1) 知:於產業氣私中’須南溫加熱之★舞合多有所見,即以 顯不器之玻璃基板鍍膜作業而言,亦須透過高溫方式以進 行’而在其他產業中亦不乏高溫環境下作業之場合。 若以TFT-LCD產業之製程觀之,其玻璃基板在電漿加 強型化學氣相蒸鍍(PECVD)製程中之鍍膜為例,玻璃基板 於進入處理室(process chamber)為鍍膜前,必須先在一 =熱室(heat chamber)内預熱,該預熱溫度係控制於一定 範圍内,例如為2 5 0〜3 0 0。(:,停留之時間大約為j〜2 〇分鐘 左右。 為了獲致熱源,如圖一所示者,係為習知之加熱室之 斷面圖,其係利用金屬片匣A(ffletai cassette)内之若干 層加熱板(heating sheet)為加熱器,玻璃基板則放置於 金屬片EA内之各層加熱板之間為預熱;由於玻璃基板之 進出加熱室預熱,是靠金屬片匣A之上升或下降,再由機 器手臂(robot)送入或搬出,因此造成玻璃基板振動而產 生微粒問題(particle issue),所以,於預熱並取出玻璃 基板後,必須淨化該加熱室。 習知之加熱室内為淨化之動作,係以氮氣(N2)輸入加 熱室’而氮氣之溫度係遠較加熱室之預熱溫度為低,其溫 度例如為2 0 °C ;因此,若驟然輸入氮氣來淨化加熱室,則 由於溫差太大,會使得加熱板瞬間降溫,致使材料變形, 導致加熱板之壽命受損。因此,為了使其溫差不致太大, 習知之方法係於停機並取出玻璃基板後,等待一段自然降 溫之時間’俾於降溫後再行輸入氮氣淨化之。而該氮氣係
«3112
五、發明說明(2) tm’ ^:侧之輸入口b處輸入,而氮氣被輸 :内量過大時,則必須打開加熱室上罩,清除加熱 置肤ΐ種:^if缺ΐ在於此待機時間使加熱室處於間 夏狀態,自然會降低加熱室之有效利用率。 之缍ί鑑於此猫:請人乃本於長年來從事製程研發與設計 ϊ:::潛心?究,期能克服上述缺失,經再三探索,始 則作出本案之「加熱室淨化系統」。 首先請參閱圖 圖一為本案之加 為進一步揭示本案之具體技術内容 式,其中,圖一為習知之加熱室斷面圖 熱室斷面圖,圖三為本案之淨化示意圖 本案發明係將淨化氣體管路由習知管路接入加埶室 ,形罩(bell jar),管路沿著鐘形罩内壁以例如螺^之方 式上至頂部,此為加溫之入氣管管路;再由頂端接上噴 s路,使其淨化氣體出口位置分別對準金屬片匣之每個枰 (slot)之入口,為提高淨化之效率,出口端之噴嘴數可^ 加為數個,以及將喷嘴之喷出口改良成錐狀,以增加出二 流速,提高淨化粉塵之效果。入口淨化氣體在例如螺旋狀 環繞鐘形罩内壁時,利用加熱板熱源加溫淨化氣體的溫 度,使淨化氣體與加熱板接觸時,溫差不會過大,造成加 熱板的變形’‘因此可使淨化系統於高溫下執行循環淨化 (cycle purge)。本案發明可改良習知技術中加熱室淨化 氣體管路入口只有一個位在加熱室中間立未對準金屬片匣
IH1 第5頁 533112 五、發明說明(3) 槽(slot)之入口之今斗 <叹计,不但循環淨化(c l η 果差’且浪費淨化氣體之缺點。藉由本 效 可直接利用淨化氣體帶丰^要Ϊ掉加熱板之電源,就 (CyCle P㈣e)主熱室之熱量’執行循環淨化 鈾杆箱防仅美鈿短降溫時間。改良習知技術中,當要 執灯預防保養而要打開加熱室時,須先自 西 要 防保養(PM)時間以及機二 \ '皿,浪費預 太發明之主要目的,係在於利用加執室 本身·、、、源來楗昇淨化氣體之溫度,使自喷嘴喷 體溫度與加熱板之溫度相近,因&,加不:驟 降而發生彎曲,造成使用壽命下降之缺點板不㈢因,皿度驟 自喷月,另:目㈤’係在於入氣管管路之設計,使 可縮4Γ Λη勒淨化氣體溫度可取決於加熱板之溫度,如此 縮短加熱室於預防保養(ΡΜ)時降溫之時間。 ί ί發明之再一㈣’係在於改良淨化氣體之入口管路及 ,增加循環淨化(cycle purge)的效率。 二所示,本案之淨化系統係於加熱室之内壁,設 $萬迴旋之入氣管1,並連結若干噴氣管2而成。其中,入 =二=加熱室中之設置,可為至少繞行加熱室内壁一圈, H碇於其中之至少一内壁上等之適當設計,其繞行長度 ^夠利用加熱室之本身熱源將流動於入氣管内之淨化用 氟體加溫者。 u 其中’入氣管1於進入加熱室前可具一入氣管接頭 ’俾於加熱室内部需維修時,可藉由分離此接頭後打開
IHH
Μ 第6頁 533112 五、發明說明(4) 加熱至上罩,而進行維修工程。而該入氣管丨,前已述及 者,係往上繞行於加熱室上罩之内壁,俾於繞行期間,嗲 ί動:t氣::之淨化用氣體受到加熱室内本身熱源而二 二=ί上,當其繞行至最高處時,流動於該入氣 ^之净化用氣體之溫度業已接近加熱室之溫度,亦即、、备 化用氣體與加熱板之溫度差距,不致於淨化 _ 料產生驟冷效應。 ·、、、敬号對材 喷氣& 2如圖二所示,係為與各層加熱板對應設置, 連結於前述之入氣管i末端,且對應於加熱板各層 間具至少一喷嘴21。為加強噴力’故該喷嘴21得為内徑漸 縮之錐狀,如本案實施例所示者,係為每一 =q 嘴21,唯不以此為限。 -----^ ::參閱圖本案於實施時,當預熱後之玻璃基板 八Τ出而須淨化加熱室或加熱板時,則開始輸入例如 氣,^壓縮乾空氣(CDA)等之淨化氣體;輸入之氣體經由 ί :二1夂之/旋:至加熱室上方後’再經由喷氣管2輸出, 並喷向各層加熱板,以淨化加熱板及加熱室,而後,淨化 使^後之氣體自另端排出ac排出;由於輸入氣體於喷向 力二熱板前,業已為加熱室之本身熱源預熱,因此,於被喷 板時之溫度所差無•,不致使加熱板之材料 產生變形。 1 所Μ,經由本案之實施,其可有效地於玻璃基板取出 f,即可進行淨化,线習知之停機後降溫之等待時間, 並使加熱室之本身熱源可為再利用,誠屬淨化作業之一大
1H 533112
突破,而當須要4 M 用N2或其他淨化翁二:、室做維修調整時,此裝置也可利 室快速降溫,而不UhMf〇rce convection)使加熱 本案所揭示者縮短降溫時間。 更或修飾而源於本宰=”例:-種,舉凡局部之變 p . ^ , y I茶之技術思想而為熟習該項技藝之人所 易於=知者’倶不脫本案之專利權範嘴。 、..不上所陳,本案顯示其迥異於習知之技術特徵,且豆 首先創作合於實用,亦符合發明之專利要件,懇請 ^ 查委員明察’並祈早日賜予專利,俾嘉惠社會,實感德 便0
第8頁 533112

Claims (1)

  1. 533112 六、申請專利範圍 1. 一種加熱室淨化系統,其係於加熱室内設置入氣 管,該入氣管係沿著加熱室内壁設置,以利用加熱室之熱 度將流動於入氣管内之淨化用氣體加溫,並連結喷氣管, 該喷氣管係對應於各層加熱板設置,俾使於入氣管内流動 <淨化用氣體於行進間被加熱室之本身熱源加熱,而使自 喷氣管喷出之淨化氣體不致使被淨化之加熱板因溫差而變 形者。 2. 如申請專利範圍第1項所述之加熱室淨化系統,其 中之入氣管前端具一入氣管接頭,以便加熱室上罩與加熱 室分離者。 3. 如申請專利範圍第1項所述之加熱室淨化系統,其 中之喷氣管為具喷嘴者。 4. 如申請專利範圍第1項所述之加熱室淨化系統,其 中之對應於各層加熱板之噴氣管得為一組多只設置者。 5. 如申請專利範圍第1項所述之加熱室淨化系統,所 述之淨化氣體係為氮氣,或壓縮乾空氣(CDA)。 6. 如申請專利範圍第3項所述之加熱室淨化系統,所 述之喷嘴其孔徑漸縮,而為錐形者。
    第10頁
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