TWD198746S - 導通檢查用探針接腳 - Google Patents
導通檢查用探針接腳Info
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title abstract 3
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- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 1
Abstract
【物品用途】;本案設計之物品係導通檢查用探針接腳，如「顯示使用狀態之參考剖視圖1」所示，為使用於導通檢查器具者，且收納於殼體而使用。該導通檢查器具如「顯示使用狀態之參考剖視圖2」所示，固定於檢查裝置之檢查用基板而使用。檢查裝置使導通檢查器具移動至檢查對象物品(例如，基板對基板接合連接器)之電極部分與本物品之接點接觸為止，從而判定與本物品之接點接觸之檢查對象物品是否與檢查用基板電性連接。;【設計說明】;圖式所揭露之虛線部分，為本案不主張設計之部分。;圖式中一點鏈線所圍繞者，係界定本案所欲主張之範圍，該一點鏈線本身為本案不主張設計之部分。;本案設計係新穎獨特之樣式，藉由獨特地設計導通檢查用探針接腳，可顯現出先前技藝所未有之視覺效果。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JPD2017-29363F JP1613494S (zh) | 2017-12-27 | 2017-12-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWD198746S true TWD198746S (zh) | 2019-07-21 |
Family
ID=63452022
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW107301314D01F TWD198746S (zh) | 2017-12-27 | 2018-03-07 | 導通檢查用探針接腳 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP1613494S (zh) |
| TW (1) | TWD198746S (zh) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWD231829S (zh) | 2023-01-12 | 2024-06-21 | 美商瓊斯科技國際公司 (美國) | 彈簧探針總成之卡件 |
| TWD231830S (zh) | 2023-08-25 | 2024-06-21 | 美商瓊斯科技國際公司 (美國) | 彈簧探針總成之卡件 |
| TWD234469S (zh) | 2023-08-25 | 2024-10-21 | 美商瓊斯科技國際公司 (美國) | 彈簧探針總成之卡件 |
| TWD236511S (zh) | 2023-08-25 | 2025-02-21 | 美商瓊斯科技國際公司 (美國) | 彈簧探針總成之卡件 |
-
2017
- 2017-12-27 JP JPD2017-29363F patent/JP1613494S/ja active Active
-
2018
- 2018-03-07 TW TW107301314D01F patent/TWD198746S/zh unknown
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWD231829S (zh) | 2023-01-12 | 2024-06-21 | 美商瓊斯科技國際公司 (美國) | 彈簧探針總成之卡件 |
| TWD231830S (zh) | 2023-08-25 | 2024-06-21 | 美商瓊斯科技國際公司 (美國) | 彈簧探針總成之卡件 |
| TWD234469S (zh) | 2023-08-25 | 2024-10-21 | 美商瓊斯科技國際公司 (美國) | 彈簧探針總成之卡件 |
| TWD236511S (zh) | 2023-08-25 | 2025-02-21 | 美商瓊斯科技國際公司 (美國) | 彈簧探針總成之卡件 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP1613494S (zh) | 2018-09-10 |
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