TWI413774B - 光源檢測裝置 - Google Patents
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Description
本發明涉及一種光源檢測裝置，特別涉及一種檢測發光二極體光源的光源檢測裝置。
習知的發光二極體光源檢測裝置通常包括測試臺、旋轉座以及用於檢測發光二極體光源的測試針。旋轉座連接於測試臺底面，該測試臺的頂面開設有一個固定形狀的凹槽，用於放置發光二極體光源。轉動旋轉座可將測試針從測試臺上表面穿設而出並與發光二極體光源的電極接觸，從而進行光源檢測。
然而由於測試臺上用於放置發光二極體光源的凹槽其形狀及尺寸已經固定，故該檢測裝置只適用於檢測一定形狀和尺寸的發光二極體光源。此外由於發光二極體光源裝設於凹槽內，如果測試臺採用的材料不具備良好的熱傳導性，則發光二極體光源產生的熱量不易快速消散，從而對測試結果產生不良影響。
有鑒於此，有必要提供一種能夠檢測多種形狀及尺寸發光二極體的光源檢測裝置。
一種用於檢測發光二極體光源的光源檢測裝置，包括測試臺，所
述測試臺內裝設有測試針，所述發光二極體光源包括發光二極體和電路板，該電路板上設有電路結構，該發光二極體裝設於電路板上並與電路結構形成電性連接，所述發光二極體光源裝設於測試臺上，所述測試臺上裝設有具有彈性的第一壓板和第二壓板，該第一壓板和第二壓板均具有固定端和懸臂端，該固定端固定於測試臺上，該懸臂端夾持電路板，該電路板上的電路結構與測試針電性連接。
採用第一壓板和第二壓板將發光二極體光源壓持固定於測試臺上，對發光二極體的尺寸和形狀不產生限制性作用，故該光源檢測裝置可用於檢測多種形狀和尺寸的發光二極體光源。
下面參照圖式，結合具體實施例對本發明作進一步的描述。
10、20‧‧‧光源檢測裝置
11、21‧‧‧測試臺
111、211‧‧‧頂面
112‧‧‧底面
113、213‧‧‧通孔
114、214‧‧‧測試針
115、215‧‧‧第一壓板
116、216‧‧‧第二壓板
117‧‧‧定位塊
12、22‧‧‧基座
30‧‧‧發光二極體光源
31‧‧‧發光二極體
32、34‧‧‧電路板
321、341‧‧‧上表面
322‧‧‧下表面
323、343‧‧‧電路結構
圖1為本發明第一實施方式的光源檢測裝置的俯視示意圖。
圖2為圖1中的光源檢測裝置裝設有發光二極體光源的俯視示意圖。
圖3為圖2中的光源檢測裝置裝設有發光二極體光源的側視示意圖。
圖4為本發明第二實施方式的光源檢測裝置的俯視示意圖。
圖5為圖4中的光源檢測裝置裝設有發光二極體光源的俯視示意圖。
圖6為圖5中的光源檢測裝置裝設有發光二極體光源的側視示意圖
。
請一併參閱圖1至圖3，本發明第一實施方式提供的一種光源檢測裝置10包括測試臺11和基座12，用於對發光二極體光源30進行檢測。
所述發光二極體光源30包括發光二極體31和電路板32。該發光二極體31裝設於電路板32上。該電路板32具有相對的上表面321和下表面322，以及自上表面321向下延伸至下表面322的電路結構323。該發光二極體31與電路結構323形成電性連接。在本實施例中，該電路結構323分為左右兩塊，兩者間距小於發光二極體31的尺寸，從而保證發光二極體31與電路板32的電性連接。
所述測試臺11用於放置發光二極體光源30。該測試臺11具有相對的頂面111和底面112，以及兩個貫穿該頂面111和底面112的通孔113。該測試臺11大致呈圓柱體。在本實施方式中，該通孔113的數量為兩個，當然在其他實施方式中，可根據需要設置通孔113的數量。該兩通孔113對稱分佈於該頂面111上，並與前述電路結構323的位置相對應。該通孔113用於裝設測試針114。
所述測試針114穿設於該通孔113並露出於頂面111和底面112。在本實施方式中，測試針114的數量為兩個，分別穿設兩個通孔113。當測試臺11上裝設電路板32後，該測試針114藉由通孔113抵靠於與電路板32的電路結構323，從而與該電路板32形成電性連接，進而可對發光二極體31進行檢測。
所述測試臺11的頂面111上裝設有第一壓板115、第二壓板116和定位塊117。所述測試臺11的底面112與基座12的上表面貼合連接，以使所述測試臺11固定於該基座12上。
所述第一壓板115和第二壓板116分別位於兩通孔113的外側，第一壓板115和第二壓板116兩者之間的距離大於所需放入的電路板32的寬度。第一壓板115和第二壓板116的遠離通孔113的一端固定於頂面111上形成固定端，未固定的一端形成懸臂端。該第一壓板115和第二壓板116可採用彈性材料，例如，具有彈性的金屬材料，從而使該懸臂端可上下撥動。當向上拉動懸臂端時，可使第一壓板115、第二壓板116與頂面111之間的間距增大，從而從側面將電路板32推置於第一壓板115和第二壓板116之下；然後鬆開懸臂端，使其將電路板32夾緊，由此限制電路板32沿第一壓板115和第二壓板116的連線方向的位移。在本實施方式中，第一壓板115和第二壓板116的固定方式為螺釘連接固定。在其他實施方式中，還可以採用焊接等方式將第一壓板115和第二壓板116的固定端固定於頂面111上。
所述定位塊117裝設於頂面111上，並平行於第一壓板115和第二壓板116的連線。在將電路板32從側面推入第一壓板115和第二壓板116之下的過程中，當所述電路板32沿垂直於第一壓板115和第二壓板116連線的方向推動至抵靠於定位塊117後即不能再向前推動，從而對電路板32進行限位。
所述基座12的上表面與測試針114接觸連接並形成電性連接，並通向其他檢測元件(圖未示)。
採用本實施方式提供的光源檢測裝置10對發光二極體光源30進行檢測前，首先拉開第一壓板115和第二壓板116，使第一壓板115和第二壓板116與測試臺11的頂面111保持足以容納電路板32厚度的距離；然後從側面將電路板32推入第一壓板115和第二壓板116之下，並保持電路板32的電路結構323與露出於頂面111的測試針114相接觸；鬆開第一壓板115和第二壓板116，將電路板32固定於測試臺11上。此時測試針114與發光二極體31形成電性連接，操作電源等即可實現對發光二極體31的檢測。
所述測試臺11的頂面111為一個開放的空間，只對電路板32進行卡持和限位，故對裝設於其上的發光二極體31的尺寸和形狀均不會產生限制性影響，因此該光源檢測裝置10可對多種發光二極體光源30進行檢測，更具通用性。此外，為了更加利於散熱的需要，可採用具有高散熱效率的材料製作電路板，從而避免了熱量對發光二極體光源30檢測的影響。
本實施方式提供的光源檢測裝置10直接將電路板32與測試針114接觸，從而實現發光二極體31與基座12的電性連接，從而實現對發光二極體光源30的檢測。
請一併參閱圖4至圖6，本發明第二實施方式提供的一種光源檢測裝置20包括測試臺21和基座22，用於對發光二極體光源30進行檢測。
所述發光二極體光源30包括發光二極體31和電路板34。該電路板34的上表面341形成有電路結構343。
所述測試臺21與第一實施方式中的測試臺11的區別在於，該測試臺21自頂面211向下形成的兩通孔213之間的距離大於所需裝設的電路板34的寬度。所述測試臺21上裝設的第一壓板215和第二壓板216均採用導電材料製成，測試針214穿過頂面211抵靠於第一壓板215和第二壓板216的固定端並形成電性連接。該電路板32的上表面壓持於第一壓板215和第二壓板216的懸臂端之下，並藉由第一壓板215和第二壓板216使得電路結構343與測試針214形成電性連接。
第二實施方式提供的光源檢測裝置20將第一壓板215和第二壓板216作為導通電路板34和測試針214的中間元件，同樣使得發光二極體光源30與下部基座22形成電性連接，從而實現對發光二極體光源30的檢測。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
111‧‧‧頂面
112‧‧‧底面
113‧‧‧通孔
114‧‧‧測試針
115‧‧‧第一壓板
116‧‧‧第二壓板
12‧‧‧基座
30‧‧‧發光二極體光源
31‧‧‧發光二極體
32‧‧‧電路板
321‧‧‧上表面
322‧‧‧下表面
323‧‧‧電路結構
Claims (8)
- 一種光源檢測裝置，用於檢測發光二極體光源，包括測試臺，所述測試臺內裝設有測試針，所述發光二極體光源包括發光二極體和電路板，該電路板上設有電路結構，該發光二極體裝設於電路板上並與電路結構形成電性連接，所述發光二極體光源裝設於測試臺上，其改良在於：所述測試臺上裝設有具有彈性的第一壓板和第二壓板，該第一壓板和第二壓板均具有固定端和懸臂端，該固定端固定於測試臺上，該懸臂端夾持電路板，該電路板上的電路結構與測試針電性連接，所述發光二極體對應兩測試針，每一測試針穿設測試臺與發光二極體電性連接。
- 如申請專利範圍第1項所述的光源檢測裝置，其中，所述測試臺具有相對設置的頂面和底面，以及貫穿該頂面和底面的通孔，每一個測試針穿設於每一個通孔內並露出於頂面和底面。
- 如申請專利範圍第2項所述的光源檢測裝置，其中，所述通孔之間的距離小於電路板的寬度。
- 如申請專利範圍第3項所述的光源檢測裝置，其中，所述電路結構自電路板裝設有發光二極管的上表面延伸至遠離上表面的下表面，所述測試針穿過測試臺的頂面抵靠於電路板的下表面並與電路結構形成電性連接。
- 如申請專利範圍第1項所述的光源檢測裝置，其中，所述第一壓板和第二壓板採用金屬材料製成。
- 如申請專利範圍第2項所述的光源檢測裝置，其中，所述通孔之 間的距離大於電路板的寬度。
- 如申請專利範圍第6項所述的光源檢測裝置，其中，所述電路結構形成於電路板的上表面，所述測試針穿過測試臺的頂面分別抵靠於第一壓板和第二壓板的固定端，所述第一壓板和第二壓板採用導電材料製成，所述該第一壓板和第二壓板的懸臂端壓持於電路板的上表面，並將電路結構與測試針電性連接。
- 如申請專利範圍第1項所述的光源檢測裝置，其中，所述測試臺上還裝設有一個定位塊，該定位塊平行於第一壓板和第二壓板的連線方向，所述電路板抵靠於該定位塊。
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